差動位相変調光受信モジュールの製造方法及び差動位相変調光受信モジュール
【課題】バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現できる差動位相変調光受信モジュールの製造方法及び差動位相変調光受信モジュールを提供する。
【解決手段】光受信モジュール１０は、遅延干渉計１２と、バランスドレシーバ１４と、遅延干渉計１２から出射される光をバランスドレシーバ１４に導く一対の光ファイバ２０と、を備える。一対の光ファイバ２０がそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されている。遅延干渉計１２の内部の光路長差及び／又はバランスドレシーバ１４の内部の光路長差と、所定の光路長差と、の差異を吸収する光路長差が、一対の光ファイバ２０の間に設けられている。
【解決手段】光受信モジュール１０は、遅延干渉計１２と、バランスドレシーバ１４と、遅延干渉計１２から出射される光をバランスドレシーバ１４に導く一対の光ファイバ２０と、を備える。一対の光ファイバ２０がそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されている。遅延干渉計１２の内部の光路長差及び／又はバランスドレシーバ１４の内部の光路長差と、所定の光路長差と、の差異を吸収する光路長差が、一対の光ファイバ２０の間に設けられている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、差動位相変調光受信モジュールの製造方法及び差動位相変調光受信モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、波長分割多重（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）光通信システムにおいて、受信感度の向上や伝送距離の長距離化が進んでいる。そのため、ＷＤＭ光通信システムを構成する差動位相変調光受信モジュールを構成する遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することの重要性が高まってきている。
【０００３】
図１５Ａ及び図１５Ｂにバランスドレシーバからの電気信号出力波形の一例を示す。遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性が確保されていないと、例えば、図１５Ａに示す電気信号出力波形のように、図１５Ｂに示す正常な電気信号出力波形よりもアイ開口度が小さくなってしまう。すなわち、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性が確保されていないと、差動位相変調光受信モジュールの受信感度が低下してしまう。
【０００４】
遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保する方法は既にいくつか存在する。例えば、特許文献１には、バランスドレシーバを構成するフォトダイオードから電気アンプまでを一対のフレキシブル基板でつなぎ、それぞれのフレキシブル基板に光路長差を設けることで、差動信号の遅延の整合性を確保する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００７−１３７６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、例えば、特許文献１に示されているような、従来の光受信モジュールでは、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保するための機構を設ける必要があった。そのため、差動位相変調光受信モジュールの低コスト化、小型化が困難であった。
【０００６】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであって、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現できる差動位相変調光受信モジュールの製造方法及び差動位相変調光受信モジュールを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明に係る差動位相変調光受信モジュールの製造方法は、差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通り、当該第１の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、少なくとも前記第２の光路に含まれる光ファイバを切断する切断工程と、前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、入射される光をバランスドレシーバに導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、を含み、前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの一方が前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明に係る差動位相変調光受信モジュールは、差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールであって、遅延干渉計と、バランスドレシーバと、前記遅延干渉計から出射される光を前記バランスドレシーバに導く一対の光ファイバと、を備え、前記一対の光ファイバがそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されており、前記遅延干渉計の内部の光路長差及び／又はバランスドレシーバの内部の光路長差と、所定の光路長差と、の差異を吸収する光路長差が、前記一対の光ファイバの間に設けられていることを特徴とする。
【０００９】
本発明によれば、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現することができる。
【００１０】
また、本発明の一態様では、前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断することを特徴とする。この態様によれば、光ファイバの長さを直接測定することなく、容易に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。
【００１１】
また、本発明の一態様では、前記第１の光路上に反射体を配置する反射体配置工程、をさらに含み、前記時間測定工程が、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路を通り、前記反射体で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の一態様では、入射される光を前記バランスドレシーバに導く前記一対の光ファイバのうちの一方が、前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係る差動位相変調光受信モジュールの製造方法は、差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、光源から光が出射されてから、当該光が、入射される光に基づいて電気信号を生成し出力するバランスドレシーバに光を導く一対の光ファイバのうちの一方が含まれる、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通って、電気信号が出力されるまでの時間、及び、光源から光が出射されてから、当該光が、前記一対の光ファイバのうちの他方が含まれる、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、電気信号が出力されるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、前記第２の光路に含まれる光ファイバを少なくとも切断する切断工程と、前記一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、を含むことを特徴とする。
【００１４】
本発明によれば、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現することができる。
【００１５】
この態様では、前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断するようにしてもよい。こうすれば、光ファイバの長さを直接測定することなく、容易に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について図面に基づき詳細に説明する。
【００１７】
図１は、本発明の一実施形態に係る光受信モジュール１０の一例を示す図である。図１に示すように、本実施形態に係る光受信モジュール１０は、遅延干渉計１２、バランスドレシーバ１４、ＣＤＲ（Clock Data Recovery）１６、Ｄｅｍｕｘ（Demultiplexer）１８を備えている。遅延干渉計１２は２つの光出力を有し、それぞれの光出力は、対応するバランスドレシーバ１４の光入力と、光ファイバ２０（第１光ファイバ２０−１及び第２光ファイバ２０−２）を介して光学的に接続されている。
【００１８】
遅延干渉計１２は、位相信号を強度信号に変換する位相復調器である。遅延干渉計１２に入射される光は、光路長の異なる２つの光路に分岐される。そして、それぞれの光路を通る光は、相手方の光と干渉した後に、２つの光出力から出射される。そして、遅延干渉計１２から出射される２つの光は、一方は第１光ファイバ２０−１を経由して、他方は第２光ファイバ２０−２を経由して、バランスドレシーバ１４に入射される。
【００１９】
バランスドレシーバ１４は、２つのフォトダイオード１４ａ（第１フォトダイオード１４ａ−１及び第２フォトダイオード１４ａ−２）及び電気アンプ１４ｂを備え、バランスドレシーバ１４に入射される２つの光は、フォトダイオード１４ａによって２つの差動電流信号に変換される。その後、２つの差動電流信号は、電気アンプ１４ｂによってトランスインピーダンス電流電圧変換され、１つの電気信号として出力される。その後、バランスドレシーバ１４から出力される電気信号は、ＣＤＲ１６、Ｄｅｍｕｘ１８を経由して、光受信モジュール１０の外部へと出力される。上述のように、本実施形態では、第１フォトダイオード１４ａ−１と第２フォトダイオード１４ａ−２とでバランスドフォトダイオードが構成されている。
【００２０】
本実施形態に係る光受信モジュール１０が備える、第１光ファイバ２０−１と第２光ファイバ２０−２との間には、遅延干渉計１２やバランスドレシーバ１４の内部光路長差と、所定の光路長差（具体的には、例えば、１ビット周期に対応する光路長差）との差異を吸収する光路長差が設けられている。
【００２１】
次に、本実施形態に係る光受信モジュール１０の製造方法の一例を図２〜図４に示すフロー図を参照しながら説明する。
【００２２】
図２に示すように、本実施形態に係る光受信モジュール１０の製造方法は、光受信前部１０ａを製造する工程と（Ｓ１０１）、光受信後部１０ｂを製造する工程と（Ｓ１０２）、光受信前部１０ａと光受信後部１０ｂとを融着接続して、光受信後部１０ｂとＣＤＲ１６との間、及び、ＣＤＲ１６とＤｅｍｕｘ１８との間を電気的に接続する工程と（Ｓ１０３）、を含む。
【００２３】
次に、Ｓ１０１に示す製造方法の詳細の一例について説明する。まず、図５に示すように、２つの光出力のうちの一方が前部第１光ファイバ部材２０ａ−１に、他方が前部第２光ファイバ部材２０ａ−２に接続された遅延干渉計１２と、リフレクトメータ（本実施形態では、プリシジョンリフレクトメータ）２２と、を接続する（Ｓ２０１）。なお、この製造方法例では、図５に示すように、マッハツェンダ型の遅延干渉計１２を用いる製造方法を示すが、この製造方法例を図６に示すようなマイケルソン型の遅延干渉計１２を用いる製造方法に適用してももちろん構わない。なお、図５や図６に示すミラー２４の詳細については後述する。
【００２４】
そして、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、いずれかの前部光ファイバ部材２０ａの端面で反射して戻ってくるまでの光路長を測定する（Ｓ２０２）。なお、このとき、光路長の代わりに時間を測定するようにしても構わない。リフレクトメータ２２から出射され、リフレクトメータ２２と遅延干渉計１２との間の光路（光路Ａ）を通って、遅延干渉計１２に入射される光が、遅延干渉計１２の内部で、長光路（光路Ｂ）と短光路（光路Ｃ）とに分岐される。そして、これら２つの光はそれぞれ出力時に相手方の光と干渉される。そして、その後、遅延干渉計１２の光出力から出射される光は、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１により形成される光路（光路Ｄ）、又は、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２により形成される光路（光路Ｅ）を通って反射して戻ってくる。本実施形態では、光路Ｅの光路長が、光路Ｄの光路長より長い。
【００２５】
図７に、リフレクトメータ２２により測定される光路長の一例を示す。リフレクトメータ２２から出射される白色光は予めリフレクトメータ２２内部で分岐されている。そして、分岐された一方の光と、リフレクトメータ２２から出射されて戻ってくる他方の光とが干渉される。そして、これら２つの光の遅延量が一致した際に強い信号が得られるので、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから戻ってくるまでの光路長を測定することができる。すなわち、図７に示す、６つの信号強度のピーク２６に対応する横軸の値は、それぞれ、リフレクトメータ２２から光が出射されてから反射して戻ってくるまでの光路長に対応している。
【００２６】
６つのピーク２６のうち、第１のピーク２６−１に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｃ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。第２のピーク２６−２に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｃ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。
【００２７】
第３のピーク２６−３に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｃ→光路Ａ（あるいは、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｂ→光路Ａ）を通って戻ってくるまでの光路長に対応する。第４のピーク２６−４に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｃ→光路Ａ（あるいは、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｂ→光路Ａ）を通って戻ってくるまでの光路長に対応する。
【００２８】
第５のピーク２６−５に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｂ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。第６のピーク２６−６に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｂ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。
【００２９】
第１のピーク２６−１に対応する横軸の値と第３のピーク２６−３に対応する横軸の値との間の光路長や、第２のピーク２６−２に対応する横軸の値と第４のピーク２６−３に対応する横軸の値との間の光路長や、第３のピーク２６−３に対応する横軸の値と第５のピーク２６−５に対応する横軸の値との間の光路長や、第４のピーク２６−４に対応する横軸の値と第６のピーク２６−６に対応する横軸の値との間の光路長は、ｎΔＬ（ｎ：光ファイバの屈折率，ΔＬ：光路Ｂと光路Ｃとの光路長差）の値に相当する。遅延干渉計１２のＦＳＲ（Free Spectral Range）とｎΔＬの値とは、ＦＳＲ＝Ｃ／ｎΔＬ（Ｃ：真空の屈折率）の関係にある。
【００３０】
そして、光路Ｄと光路Ｅのうち、短い方の光路（本実施形態では、光路Ｄ）に含まれる前部光ファイバ部材２０ａ（本実施形態では前部第１光ファイバ部材２０ａ−１）の端面の前方に反射体（本実施形態ではミラー２４）を配置する（Ｓ２０３）。図８Ａに、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面の前方にミラー２４が配置されている様子を示す側面図の一例を示す。図８Ｂに、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面の前方にミラー２４が配置されている様子を示す平面図の一例を示す。
【００３１】
本実施形態では、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１が、Ｖ溝を有するファイバ固定台２８（本実施形態では第１ファイバ固定台２８−１及び第２ファイバ固定台２８−２）にはさんで固定されている。このとき、２つのファイバ固定台２８の間で前部第１光ファイバ部材２０ａ−１がたるまないよう伸ばして固定されている。
【００３２】
そして、可動式のミラー２４の位置（例えば、ミラー２４の表面と前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面との距離ｄ１）を変えながら、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面からその光が出射され、その光がミラー２４で反射され、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１に入射されて戻ってくるまでの光路長（前部第１測定光路長）、及び、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２の端面で反射して戻ってくるまでの光路長（前部第２測定光路長）を測定する（Ｓ２０４）。なお、このとき、光路長の代わりに時間を測定するようにしても構わない。
【００３３】
なお、図８Ａ及び図８Ｂに示すように、本実施形態では、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面とミラー２４との間にレンズ３０が設けられているが、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面から出射される光がミラー２４で結合されるのであれば、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面とミラー２４との間にレンズ３０を設ける必要はない。なお、本実施形態では、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面からミラー２４までの光ファイバ外空間３２は、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質（具体的には、例えば、光ファイバの屈折率と等しい屈折率の物質）で満たされている。
【００３４】
そして、前部第１測定光路長と前部第２測定光路長とが対応する際の、ミラー２４の位置を決定する（Ｓ２０５）。なお、Ｓ２０４に示す処理で、光路長の代わりに時間を測定する場合は、測定される２つの時間が対応する際の、ミラー２４の位置を決定する。
【００３５】
そして、図９に示すように、このときのミラー２４の表面に前部第２光ファイバ部材２０ａ−２の端面を接触させて、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２を２つのファイバ固定台２８（第１ファイバ固定台２８−１及び第３ファイバ固定台２８−３）にはさんで固定する（Ｓ２０６）。このとき、２つのファイバ固定台２８の間で前部第２光ファイバ部材２０ａ−２がたるまないよう伸ばして固定する。そして、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とは、並行に配置されるようにする。
【００３６】
そして、図９に示すように、２つの光路の末端からの距離が対応する切断位置で、２つの前部光ファイバ部材２０ａを切断する。具体的には、例えば、それぞれの前部光ファイバ部材２０ａの、ミラー２４の表面からの距離が対応する切断位置で（例えば、ミラー２４の表面からの距離ｄ２が等しい切断線Ｌ１で）ファイバカッタを使用して、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とを切断する（Ｓ２０７）。このとき、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とを同時に切断するようにしてもよい。なお、このとき、前部光ファイバ部材２０ａのうちの一方を切断するようにしてもよい。
【００３７】
なお、光ファイバ外空間３２が、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質で満たされていない場合は、光ファイバ外空間３２を満たす物質の屈折率に応じて、少なくとも一方の前部光ファイバ部材２０ａを切断する前に、少なくとも一方の前部光ファイバ部材２０ａの位置を補正する必要がある。また、少なくとも一方の前部光ファイバ部材２０ａの切断後に、再度上述の流れで、リフレクトメータ２２を用いて、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、それぞれの前部光ファイバ部材２０ａの端面で反射して戻ってくるまでの光路長が対応していることを確認するようにしてもよい。
【００３８】
このようにして、遅延干渉計１２と、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とを含む光受信前部１０ａが製造される。なお、上記の製造方法例において、例えば、予め、光路長が短い方の前部光ファイバ部材２０ａが判明している場合などには、Ｓ２０２に示す工程を省略するようにしても構わない。また、図１０に示すように、リフレクトメータ２２の代わりに、光源３４と、方向性カプラ３６と、入射される光の強度を測定するパワーメータ３８とを用いることで、上述の製造方法例と同様の製造方法を適用して、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保するようにしてもよい。具体的には、例えば、Ｓ２０２やＳ２０４に示す処理において、光源３４から出射される光が方向性カプラ３６を経由して、光路の末端で反射して戻ってきて、方向性カプラ３６を経由して、その光がパワーメータ３８に入射されるまでの時間を測定するようにしてもよい。なお、このとき、パワーメータ３８の代わりに、ＯＳＡ（Optical Spectrum Analyzer）を用いても構わない。
【００３９】
次に、Ｓ１０２に示す製造方法の詳細の一例を説明する。図１１に示すように、バランスドレシーバ１４の１つの電気信号出力と電気パルス測定用のオシロスコープ４０とを接続する（Ｓ３０１）。このバランスドレシーバ１４は、２つの光入力のうちの一方が後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１に、他方が後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２に接続されている。
【００４０】
そして、図１２Ａ及び図１２Ｂに示すように、Ｖ溝を有する２つのファイバ固定台２８（本実施形態では第１ファイバ固定台２８−１及び第２ファイバ固定台２８−２）で後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２がたるまないように伸ばして固定する（Ｓ３０２）。図１２Ａは、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２が固定されている様子を示す側面図である。図１２Ｂは、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２が固定されている様子を示す平面図である。
【００４１】
このとき、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１は、Ｖ溝を有するスライド式ファイバ固定台４２でも固定される。そして、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１は、後述するパルス光源４６から出射されるパルス光の光軸方向に移動可能になっている。そして、このとき、導波路４４の一方の端面は、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２の端面に接続されている。そして、導波路４４の他方の端面は２つの導入光ファイバ部材４８の端面に接続されている。また、このとき、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とは、並行に配置されるようにする。
【００４２】
そして、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との距離ｄ３を変えながら、パルス光源４６からパルス光が出射されてから、導入光ファイバ部材４８、導波路４４、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１を経由して、バランスドレシーバ１４に入射される第１の光路を通って、バランスドレシーバ１４から電気信号が出力されるまでの時間（後部第１測定時間）を測定する。そして、パルス光源４６からパルス光が出射されてから、導入光ファイバ部材４８、導波路４４、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２を経由して、バランスドレシーバ１４に入射される第２の光路を通って、バランスドレシーバ１４から電気信号が出力されるまでの時間（後部第２測定時間）を測定する（Ｓ３０３）。このとき、第１の光路には、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面から導波路４４の端面までの光ファイバ外空間３２が含まれるが、第２の光路には、光ファイバ外空間３２が含まれないようにする。また、第１の光路に含まれる導波路４４の光路長と、第２の光路に含まれる導波路４４の光路長とが等しくなるようにする。
【００４３】
なお、本実施形態では、光ファイバ外空間３２は、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質（具体的には、例えば、光ファイバの屈折率と等しい屈折率の物質）で満たされている。
【００４４】
なお、本実施形態のように、光路長が対応する２つの導入光ファイバ部材４８を用いるようにしてもよい。また、後部第１測定時間を測定する際と後部第２測定時間を測定する際とで、パルス光源４６及び導入光ファイバ部材４８を使い回すようにしてもよい。
【００４５】
なお、伝送レートが４０Ｇｂｐｓ以上である場合は、ビットスロットが２５ｐｓ以下になる。そのため、本実施形態におけるパルス光源４６は、十数ｐｓ以下のＦＷＨＭ（Full Width at Half Maximum）を有するパルスを発生させることができることが望ましい。また、本実施形態におけるオシロスコープ４０は、数ｐｓ以下の分解能をもつ高速オシロスコープであることが望ましい。
【００４６】
図１３に、後部第１測定時間及び後部第２測定時間の測定結果を重ね合わせたグラフの一例を示す。図１３に示すように、正電圧のピークに対応する後部第１測定時間（ｔ１で示す）が負電圧のピークに対応する後部第２測定時間（ｔ２で示す）より短い。なお、第１フォトダイオード１４ａ−１と第２フォトダイオード１４ａ−２とは逆向きの電流が出力される。そのため、図１３に示すように、後部第１測定時間を測定する際と、後部第２測定時間を測定する際とでは、極性が逆の電気信号がバランスドレシーバ１４から出力されている。
【００４７】
そして、後部第１測定時間と後部第２測定時間とが対応する際の、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との距離ｄ３を決定する（Ｓ３０４）。
【００４８】
そして、図１２Ａ及び図１２Ｂに示すように、２つの光路の末端からの距離が対応する切断位置で、２つの後部光ファイバ部材２０ｂを切断する。具体的には、例えば、それぞれの後部光ファイバ部材２０ｂの、導波路４４の端面からの距離が対応する切断位置で（例えば、導波路４４の端面から距離ｄ４が等しい切断線Ｌ２で）ファイバカッタを使用して、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とを切断する（Ｓ３０５）。このとき、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とを同時に切断するようにしてもよい。なお、このとき、後部光ファイバ部材２０ｂのうちの一方を切断するようにしてもよい。
【００４９】
なお、光ファイバ外空間３２が、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質で満たされていない場合は、光ファイバ外空間３２を満たす物質の屈折率に応じて、少なくとも一方の後部光ファイバ部材２０ｂを切断する前に、少なくとも一方の後部光ファイバ部材２０ｂの位置を補正する必要がある。
【００５０】
このようにして、バランスドレシーバ１４と、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とを含む光受信後部１０ｂが製造される。なお、上記の処理例では、後部第１測定時間や後部第２測定時間を測定しているが、時間の代わりに光路長を測定するようにしても構わない。
【００５１】
そして、光受信前部１０ａと光受信後部１０ｂとを融着接続（例えば、スプライス接続）して、光受信後部１０ｂとＣＤＲ１６との間、及び、ＣＤＲ１６とＤｅｍｕｘ１８との間を電気的に接続する（Ｓ１０３）。このように、本実施形態に係る光受信モジュール１０は、一対の光ファイバ２０がそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されている。
【００５２】
このようにすれば、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１や前部第２光ファイバ部材２０ａ−２の長さを直接測定することなく、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。また、遅延干渉計１２やバランスドレシーバ１４の組み立て後でも、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。
【００５３】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
【００５４】
例えば、遅延干渉計１２に光が入射されてから、この光が、光ファイバ外空間３２を経由する第１の光路を通り、第１の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間、及び、遅延干渉計１２に光が入射されてから、この光が、第１の光路とは異なる、光ファイバ外空間３２を経由しない第２の光路を通り、第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、第１の光路に含まれる、光ファイバ外空間３２の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定するようにしてもよい。
【００５５】
より具体的には、例えば、図１４に示すように、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との間の距離ｄ５を変えながら、リフレクトメータ２２から出射される光が、遅延干渉計１２に光が入射されて、その光が、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１、導波路４４、光ファイバ外空間３２、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１を経由する第１の光路を通って、バランスドレシーバ１４で反射して戻ってくるまでの光路長（全体第１測定光路長）あるいは、時間（全体第１測定時間）と、リフレクトメータ２２から出射される光が、遅延干渉計に光が入射されて、その光が、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２、導波路４４、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２を経由する第２の光路を通って、バランスドレシーバ１４で反射して戻ってくるまでの光路長（全体第１測定光路長）あるいは、時間（全体第２測定時間）を測定するようにしてもよい。このとき、第１の光路に含まれる導波路４４の光路長と、第２の光路に含まれる導波路４４の光路長とが等しいようにする。
【００５６】
そして、全体第１測定光路長（全体第１測定時間）と全体第２測定光路長（全体第２測定時間）が対応する際の、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との間の距離ｄ５を決定する。そして、距離ｄ５に基づく位置で、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２、のうちの少なくとも１つを切断する。そして、光受信前部１０ａと光受信後部１０ｂとを融着接続（例えば、スプライス接続）して、光受信後部１０ｂとＣＤＲ１６との間、及び、ＣＤＲ１６とＤｅｍｕｘ１８との間を電気的に接続する。このようにして、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保してもよい。
【００５７】
なお、以上の説明において示した具体的な数値は例示であり、示された数値に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの構成図の一例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図５】光受信前部の製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図６】光受信前部の製造方法において用いられる装置群の別の構成の一例を示す図である。
【図７】リフレクトメータにより測定される時間の一例を示す図である。
【図８Ａ】前部第１光ファイバ部材の端面の前方にミラーが配置されている様子の一例を示す側面図である。
【図８Ｂ】前部第１光ファイバ部材の端面の前方にミラーが配置されている様子の一例を示す平面図である。
【図９】前部第１光ファイバ部材及び前部第２光ファイバ部材が固定されている様子の一例を示す平面図である。
【図１０】光受信前部の別の製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図１１】光受信後部の製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図１２Ａ】後部光ファイバ部材が固定されている様子の一例を示す側面図である。
【図１２Ｂ】後部光ファイバ部材が固定されている様子の一例を示す平面図である。
【図１３】後部第１測定時間と後部第２測定時間との一例を示す図である。
【図１４】本発明の別の一実施形態に係る光モジュールの製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図１５Ａ】バランスドレシーバからの電気信号出力波形の一例を示す図である。
【図１５Ｂ】バランスドレシーバからの電気信号出力波形の別の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１０ 光受信モジュール、１０ａ 光受信前部、１０ｂ 光受信後部、１２ 遅延干渉計、１４ バランスドレシーバ、１４ａ フォトダイオード、１４ｂ 電気アンプ、１６ ＣＤＲ、１８ Ｄｅｍｕｘ、２０ 光ファイバ、２０ａ 前部光ファイバ部材、２０ｂ 後部光ファイバ部材、２２ リフレクトメータ、２４ ミラー、２６ ピーク、２８ ファイバ固定台、３０ レンズ、３２ 光ファイバ外空間、３４ 光源、３６ 方向性カプラ、３８ パワーメータ、４０ オシロスコープ、４２ スライド式ファイバ固定台、４４ 導波路、４６ パルス光源、４８ 導入光ファイバ部材、Ｌ１ 切断線、Ｌ２ 切断線。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、差動位相変調光受信モジュールの製造方法及び差動位相変調光受信モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、波長分割多重（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）光通信システムにおいて、受信感度の向上や伝送距離の長距離化が進んでいる。そのため、ＷＤＭ光通信システムを構成する差動位相変調光受信モジュールを構成する遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することの重要性が高まってきている。
【０００３】
図１５Ａ及び図１５Ｂにバランスドレシーバからの電気信号出力波形の一例を示す。遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性が確保されていないと、例えば、図１５Ａに示す電気信号出力波形のように、図１５Ｂに示す正常な電気信号出力波形よりもアイ開口度が小さくなってしまう。すなわち、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性が確保されていないと、差動位相変調光受信モジュールの受信感度が低下してしまう。
【０００４】
遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保する方法は既にいくつか存在する。例えば、特許文献１には、バランスドレシーバを構成するフォトダイオードから電気アンプまでを一対のフレキシブル基板でつなぎ、それぞれのフレキシブル基板に光路長差を設けることで、差動信号の遅延の整合性を確保する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００７−１３７６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、例えば、特許文献１に示されているような、従来の光受信モジュールでは、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保するための機構を設ける必要があった。そのため、差動位相変調光受信モジュールの低コスト化、小型化が困難であった。
【０００６】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであって、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現できる差動位相変調光受信モジュールの製造方法及び差動位相変調光受信モジュールを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明に係る差動位相変調光受信モジュールの製造方法は、差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通り、当該第１の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、少なくとも前記第２の光路に含まれる光ファイバを切断する切断工程と、前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、入射される光をバランスドレシーバに導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、を含み、前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの一方が前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明に係る差動位相変調光受信モジュールは、差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールであって、遅延干渉計と、バランスドレシーバと、前記遅延干渉計から出射される光を前記バランスドレシーバに導く一対の光ファイバと、を備え、前記一対の光ファイバがそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されており、前記遅延干渉計の内部の光路長差及び／又はバランスドレシーバの内部の光路長差と、所定の光路長差と、の差異を吸収する光路長差が、前記一対の光ファイバの間に設けられていることを特徴とする。
【０００９】
本発明によれば、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現することができる。
【００１０】
また、本発明の一態様では、前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断することを特徴とする。この態様によれば、光ファイバの長さを直接測定することなく、容易に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。
【００１１】
また、本発明の一態様では、前記第１の光路上に反射体を配置する反射体配置工程、をさらに含み、前記時間測定工程が、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路を通り、前記反射体で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の一態様では、入射される光を前記バランスドレシーバに導く前記一対の光ファイバのうちの一方が、前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係る差動位相変調光受信モジュールの製造方法は、差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、光源から光が出射されてから、当該光が、入射される光に基づいて電気信号を生成し出力するバランスドレシーバに光を導く一対の光ファイバのうちの一方が含まれる、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通って、電気信号が出力されるまでの時間、及び、光源から光が出射されてから、当該光が、前記一対の光ファイバのうちの他方が含まれる、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、電気信号が出力されるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、前記第２の光路に含まれる光ファイバを少なくとも切断する切断工程と、前記一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、を含むことを特徴とする。
【００１４】
本発明によれば、バランスドレシーバの内部に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を保ちつつ、低コスト化、小型化を実現することができる。
【００１５】
この態様では、前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断するようにしてもよい。こうすれば、光ファイバの長さを直接測定することなく、容易に遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について図面に基づき詳細に説明する。
【００１７】
図１は、本発明の一実施形態に係る光受信モジュール１０の一例を示す図である。図１に示すように、本実施形態に係る光受信モジュール１０は、遅延干渉計１２、バランスドレシーバ１４、ＣＤＲ（Clock Data Recovery）１６、Ｄｅｍｕｘ（Demultiplexer）１８を備えている。遅延干渉計１２は２つの光出力を有し、それぞれの光出力は、対応するバランスドレシーバ１４の光入力と、光ファイバ２０（第１光ファイバ２０−１及び第２光ファイバ２０−２）を介して光学的に接続されている。
【００１８】
遅延干渉計１２は、位相信号を強度信号に変換する位相復調器である。遅延干渉計１２に入射される光は、光路長の異なる２つの光路に分岐される。そして、それぞれの光路を通る光は、相手方の光と干渉した後に、２つの光出力から出射される。そして、遅延干渉計１２から出射される２つの光は、一方は第１光ファイバ２０−１を経由して、他方は第２光ファイバ２０−２を経由して、バランスドレシーバ１４に入射される。
【００１９】
バランスドレシーバ１４は、２つのフォトダイオード１４ａ（第１フォトダイオード１４ａ−１及び第２フォトダイオード１４ａ−２）及び電気アンプ１４ｂを備え、バランスドレシーバ１４に入射される２つの光は、フォトダイオード１４ａによって２つの差動電流信号に変換される。その後、２つの差動電流信号は、電気アンプ１４ｂによってトランスインピーダンス電流電圧変換され、１つの電気信号として出力される。その後、バランスドレシーバ１４から出力される電気信号は、ＣＤＲ１６、Ｄｅｍｕｘ１８を経由して、光受信モジュール１０の外部へと出力される。上述のように、本実施形態では、第１フォトダイオード１４ａ−１と第２フォトダイオード１４ａ−２とでバランスドフォトダイオードが構成されている。
【００２０】
本実施形態に係る光受信モジュール１０が備える、第１光ファイバ２０−１と第２光ファイバ２０−２との間には、遅延干渉計１２やバランスドレシーバ１４の内部光路長差と、所定の光路長差（具体的には、例えば、１ビット周期に対応する光路長差）との差異を吸収する光路長差が設けられている。
【００２１】
次に、本実施形態に係る光受信モジュール１０の製造方法の一例を図２〜図４に示すフロー図を参照しながら説明する。
【００２２】
図２に示すように、本実施形態に係る光受信モジュール１０の製造方法は、光受信前部１０ａを製造する工程と（Ｓ１０１）、光受信後部１０ｂを製造する工程と（Ｓ１０２）、光受信前部１０ａと光受信後部１０ｂとを融着接続して、光受信後部１０ｂとＣＤＲ１６との間、及び、ＣＤＲ１６とＤｅｍｕｘ１８との間を電気的に接続する工程と（Ｓ１０３）、を含む。
【００２３】
次に、Ｓ１０１に示す製造方法の詳細の一例について説明する。まず、図５に示すように、２つの光出力のうちの一方が前部第１光ファイバ部材２０ａ−１に、他方が前部第２光ファイバ部材２０ａ−２に接続された遅延干渉計１２と、リフレクトメータ（本実施形態では、プリシジョンリフレクトメータ）２２と、を接続する（Ｓ２０１）。なお、この製造方法例では、図５に示すように、マッハツェンダ型の遅延干渉計１２を用いる製造方法を示すが、この製造方法例を図６に示すようなマイケルソン型の遅延干渉計１２を用いる製造方法に適用してももちろん構わない。なお、図５や図６に示すミラー２４の詳細については後述する。
【００２４】
そして、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、いずれかの前部光ファイバ部材２０ａの端面で反射して戻ってくるまでの光路長を測定する（Ｓ２０２）。なお、このとき、光路長の代わりに時間を測定するようにしても構わない。リフレクトメータ２２から出射され、リフレクトメータ２２と遅延干渉計１２との間の光路（光路Ａ）を通って、遅延干渉計１２に入射される光が、遅延干渉計１２の内部で、長光路（光路Ｂ）と短光路（光路Ｃ）とに分岐される。そして、これら２つの光はそれぞれ出力時に相手方の光と干渉される。そして、その後、遅延干渉計１２の光出力から出射される光は、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１により形成される光路（光路Ｄ）、又は、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２により形成される光路（光路Ｅ）を通って反射して戻ってくる。本実施形態では、光路Ｅの光路長が、光路Ｄの光路長より長い。
【００２５】
図７に、リフレクトメータ２２により測定される光路長の一例を示す。リフレクトメータ２２から出射される白色光は予めリフレクトメータ２２内部で分岐されている。そして、分岐された一方の光と、リフレクトメータ２２から出射されて戻ってくる他方の光とが干渉される。そして、これら２つの光の遅延量が一致した際に強い信号が得られるので、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから戻ってくるまでの光路長を測定することができる。すなわち、図７に示す、６つの信号強度のピーク２６に対応する横軸の値は、それぞれ、リフレクトメータ２２から光が出射されてから反射して戻ってくるまでの光路長に対応している。
【００２６】
６つのピーク２６のうち、第１のピーク２６−１に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｃ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。第２のピーク２６−２に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｃ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。
【００２７】
第３のピーク２６−３に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｃ→光路Ａ（あるいは、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｂ→光路Ａ）を通って戻ってくるまでの光路長に対応する。第４のピーク２６−４に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｃ→光路Ａ（あるいは、光路Ａ→光路Ｃ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｂ→光路Ａ）を通って戻ってくるまでの光路長に対応する。
【００２８】
第５のピーク２６−５に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｄ→端面で反射→光路Ｄ→光路Ｂ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。第６のピーク２６−６に対応する横軸の値は、リフレクトメータ２２から光が出射されてから、光路Ａ→光路Ｂ→光路Ｅ→端面で反射→光路Ｅ→光路Ｂ→光路Ａを通って戻ってくるまでの光路長に対応する。
【００２９】
第１のピーク２６−１に対応する横軸の値と第３のピーク２６−３に対応する横軸の値との間の光路長や、第２のピーク２６−２に対応する横軸の値と第４のピーク２６−３に対応する横軸の値との間の光路長や、第３のピーク２６−３に対応する横軸の値と第５のピーク２６−５に対応する横軸の値との間の光路長や、第４のピーク２６−４に対応する横軸の値と第６のピーク２６−６に対応する横軸の値との間の光路長は、ｎΔＬ（ｎ：光ファイバの屈折率，ΔＬ：光路Ｂと光路Ｃとの光路長差）の値に相当する。遅延干渉計１２のＦＳＲ（Free Spectral Range）とｎΔＬの値とは、ＦＳＲ＝Ｃ／ｎΔＬ（Ｃ：真空の屈折率）の関係にある。
【００３０】
そして、光路Ｄと光路Ｅのうち、短い方の光路（本実施形態では、光路Ｄ）に含まれる前部光ファイバ部材２０ａ（本実施形態では前部第１光ファイバ部材２０ａ−１）の端面の前方に反射体（本実施形態ではミラー２４）を配置する（Ｓ２０３）。図８Ａに、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面の前方にミラー２４が配置されている様子を示す側面図の一例を示す。図８Ｂに、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面の前方にミラー２４が配置されている様子を示す平面図の一例を示す。
【００３１】
本実施形態では、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１が、Ｖ溝を有するファイバ固定台２８（本実施形態では第１ファイバ固定台２８−１及び第２ファイバ固定台２８−２）にはさんで固定されている。このとき、２つのファイバ固定台２８の間で前部第１光ファイバ部材２０ａ−１がたるまないよう伸ばして固定されている。
【００３２】
そして、可動式のミラー２４の位置（例えば、ミラー２４の表面と前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面との距離ｄ１）を変えながら、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面からその光が出射され、その光がミラー２４で反射され、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１に入射されて戻ってくるまでの光路長（前部第１測定光路長）、及び、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２の端面で反射して戻ってくるまでの光路長（前部第２測定光路長）を測定する（Ｓ２０４）。なお、このとき、光路長の代わりに時間を測定するようにしても構わない。
【００３３】
なお、図８Ａ及び図８Ｂに示すように、本実施形態では、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面とミラー２４との間にレンズ３０が設けられているが、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面から出射される光がミラー２４で結合されるのであれば、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面とミラー２４との間にレンズ３０を設ける必要はない。なお、本実施形態では、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１の端面からミラー２４までの光ファイバ外空間３２は、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質（具体的には、例えば、光ファイバの屈折率と等しい屈折率の物質）で満たされている。
【００３４】
そして、前部第１測定光路長と前部第２測定光路長とが対応する際の、ミラー２４の位置を決定する（Ｓ２０５）。なお、Ｓ２０４に示す処理で、光路長の代わりに時間を測定する場合は、測定される２つの時間が対応する際の、ミラー２４の位置を決定する。
【００３５】
そして、図９に示すように、このときのミラー２４の表面に前部第２光ファイバ部材２０ａ−２の端面を接触させて、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２を２つのファイバ固定台２８（第１ファイバ固定台２８−１及び第３ファイバ固定台２８−３）にはさんで固定する（Ｓ２０６）。このとき、２つのファイバ固定台２８の間で前部第２光ファイバ部材２０ａ−２がたるまないよう伸ばして固定する。そして、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とは、並行に配置されるようにする。
【００３６】
そして、図９に示すように、２つの光路の末端からの距離が対応する切断位置で、２つの前部光ファイバ部材２０ａを切断する。具体的には、例えば、それぞれの前部光ファイバ部材２０ａの、ミラー２４の表面からの距離が対応する切断位置で（例えば、ミラー２４の表面からの距離ｄ２が等しい切断線Ｌ１で）ファイバカッタを使用して、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とを切断する（Ｓ２０７）。このとき、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とを同時に切断するようにしてもよい。なお、このとき、前部光ファイバ部材２０ａのうちの一方を切断するようにしてもよい。
【００３７】
なお、光ファイバ外空間３２が、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質で満たされていない場合は、光ファイバ外空間３２を満たす物質の屈折率に応じて、少なくとも一方の前部光ファイバ部材２０ａを切断する前に、少なくとも一方の前部光ファイバ部材２０ａの位置を補正する必要がある。また、少なくとも一方の前部光ファイバ部材２０ａの切断後に、再度上述の流れで、リフレクトメータ２２を用いて、リフレクトメータ２２から白色光が出射されてから、それぞれの前部光ファイバ部材２０ａの端面で反射して戻ってくるまでの光路長が対応していることを確認するようにしてもよい。
【００３８】
このようにして、遅延干渉計１２と、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１と、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２とを含む光受信前部１０ａが製造される。なお、上記の製造方法例において、例えば、予め、光路長が短い方の前部光ファイバ部材２０ａが判明している場合などには、Ｓ２０２に示す工程を省略するようにしても構わない。また、図１０に示すように、リフレクトメータ２２の代わりに、光源３４と、方向性カプラ３６と、入射される光の強度を測定するパワーメータ３８とを用いることで、上述の製造方法例と同様の製造方法を適用して、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保するようにしてもよい。具体的には、例えば、Ｓ２０２やＳ２０４に示す処理において、光源３４から出射される光が方向性カプラ３６を経由して、光路の末端で反射して戻ってきて、方向性カプラ３６を経由して、その光がパワーメータ３８に入射されるまでの時間を測定するようにしてもよい。なお、このとき、パワーメータ３８の代わりに、ＯＳＡ（Optical Spectrum Analyzer）を用いても構わない。
【００３９】
次に、Ｓ１０２に示す製造方法の詳細の一例を説明する。図１１に示すように、バランスドレシーバ１４の１つの電気信号出力と電気パルス測定用のオシロスコープ４０とを接続する（Ｓ３０１）。このバランスドレシーバ１４は、２つの光入力のうちの一方が後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１に、他方が後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２に接続されている。
【００４０】
そして、図１２Ａ及び図１２Ｂに示すように、Ｖ溝を有する２つのファイバ固定台２８（本実施形態では第１ファイバ固定台２８−１及び第２ファイバ固定台２８−２）で後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２がたるまないように伸ばして固定する（Ｓ３０２）。図１２Ａは、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２が固定されている様子を示す側面図である。図１２Ｂは、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２が固定されている様子を示す平面図である。
【００４１】
このとき、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１は、Ｖ溝を有するスライド式ファイバ固定台４２でも固定される。そして、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１は、後述するパルス光源４６から出射されるパルス光の光軸方向に移動可能になっている。そして、このとき、導波路４４の一方の端面は、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１及び後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２の端面に接続されている。そして、導波路４４の他方の端面は２つの導入光ファイバ部材４８の端面に接続されている。また、このとき、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とは、並行に配置されるようにする。
【００４２】
そして、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との距離ｄ３を変えながら、パルス光源４６からパルス光が出射されてから、導入光ファイバ部材４８、導波路４４、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１を経由して、バランスドレシーバ１４に入射される第１の光路を通って、バランスドレシーバ１４から電気信号が出力されるまでの時間（後部第１測定時間）を測定する。そして、パルス光源４６からパルス光が出射されてから、導入光ファイバ部材４８、導波路４４、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２を経由して、バランスドレシーバ１４に入射される第２の光路を通って、バランスドレシーバ１４から電気信号が出力されるまでの時間（後部第２測定時間）を測定する（Ｓ３０３）。このとき、第１の光路には、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面から導波路４４の端面までの光ファイバ外空間３２が含まれるが、第２の光路には、光ファイバ外空間３２が含まれないようにする。また、第１の光路に含まれる導波路４４の光路長と、第２の光路に含まれる導波路４４の光路長とが等しくなるようにする。
【００４３】
なお、本実施形態では、光ファイバ外空間３２は、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質（具体的には、例えば、光ファイバの屈折率と等しい屈折率の物質）で満たされている。
【００４４】
なお、本実施形態のように、光路長が対応する２つの導入光ファイバ部材４８を用いるようにしてもよい。また、後部第１測定時間を測定する際と後部第２測定時間を測定する際とで、パルス光源４６及び導入光ファイバ部材４８を使い回すようにしてもよい。
【００４５】
なお、伝送レートが４０Ｇｂｐｓ以上である場合は、ビットスロットが２５ｐｓ以下になる。そのため、本実施形態におけるパルス光源４６は、十数ｐｓ以下のＦＷＨＭ（Full Width at Half Maximum）を有するパルスを発生させることができることが望ましい。また、本実施形態におけるオシロスコープ４０は、数ｐｓ以下の分解能をもつ高速オシロスコープであることが望ましい。
【００４６】
図１３に、後部第１測定時間及び後部第２測定時間の測定結果を重ね合わせたグラフの一例を示す。図１３に示すように、正電圧のピークに対応する後部第１測定時間（ｔ１で示す）が負電圧のピークに対応する後部第２測定時間（ｔ２で示す）より短い。なお、第１フォトダイオード１４ａ−１と第２フォトダイオード１４ａ−２とは逆向きの電流が出力される。そのため、図１３に示すように、後部第１測定時間を測定する際と、後部第２測定時間を測定する際とでは、極性が逆の電気信号がバランスドレシーバ１４から出力されている。
【００４７】
そして、後部第１測定時間と後部第２測定時間とが対応する際の、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との距離ｄ３を決定する（Ｓ３０４）。
【００４８】
そして、図１２Ａ及び図１２Ｂに示すように、２つの光路の末端からの距離が対応する切断位置で、２つの後部光ファイバ部材２０ｂを切断する。具体的には、例えば、それぞれの後部光ファイバ部材２０ｂの、導波路４４の端面からの距離が対応する切断位置で（例えば、導波路４４の端面から距離ｄ４が等しい切断線Ｌ２で）ファイバカッタを使用して、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とを切断する（Ｓ３０５）。このとき、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とを同時に切断するようにしてもよい。なお、このとき、後部光ファイバ部材２０ｂのうちの一方を切断するようにしてもよい。
【００４９】
なお、光ファイバ外空間３２が、光ファイバの屈折率に応じて定められる物質で満たされていない場合は、光ファイバ外空間３２を満たす物質の屈折率に応じて、少なくとも一方の後部光ファイバ部材２０ｂを切断する前に、少なくとも一方の後部光ファイバ部材２０ｂの位置を補正する必要がある。
【００５０】
このようにして、バランスドレシーバ１４と、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１と、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２とを含む光受信後部１０ｂが製造される。なお、上記の処理例では、後部第１測定時間や後部第２測定時間を測定しているが、時間の代わりに光路長を測定するようにしても構わない。
【００５１】
そして、光受信前部１０ａと光受信後部１０ｂとを融着接続（例えば、スプライス接続）して、光受信後部１０ｂとＣＤＲ１６との間、及び、ＣＤＲ１６とＤｅｍｕｘ１８との間を電気的に接続する（Ｓ１０３）。このように、本実施形態に係る光受信モジュール１０は、一対の光ファイバ２０がそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されている。
【００５２】
このようにすれば、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１や前部第２光ファイバ部材２０ａ−２の長さを直接測定することなく、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。また、遅延干渉計１２やバランスドレシーバ１４の組み立て後でも、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保することができる。
【００５３】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
【００５４】
例えば、遅延干渉計１２に光が入射されてから、この光が、光ファイバ外空間３２を経由する第１の光路を通り、第１の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間、及び、遅延干渉計１２に光が入射されてから、この光が、第１の光路とは異なる、光ファイバ外空間３２を経由しない第２の光路を通り、第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、第１の光路に含まれる、光ファイバ外空間３２の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定するようにしてもよい。
【００５５】
より具体的には、例えば、図１４に示すように、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との間の距離ｄ５を変えながら、リフレクトメータ２２から出射される光が、遅延干渉計１２に光が入射されて、その光が、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１、導波路４４、光ファイバ外空間３２、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１を経由する第１の光路を通って、バランスドレシーバ１４で反射して戻ってくるまでの光路長（全体第１測定光路長）あるいは、時間（全体第１測定時間）と、リフレクトメータ２２から出射される光が、遅延干渉計に光が入射されて、その光が、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２、導波路４４、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２を経由する第２の光路を通って、バランスドレシーバ１４で反射して戻ってくるまでの光路長（全体第１測定光路長）あるいは、時間（全体第２測定時間）を測定するようにしてもよい。このとき、第１の光路に含まれる導波路４４の光路長と、第２の光路に含まれる導波路４４の光路長とが等しいようにする。
【００５６】
そして、全体第１測定光路長（全体第１測定時間）と全体第２測定光路長（全体第２測定時間）が対応する際の、導波路４４の端面と後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１の端面との間の距離ｄ５を決定する。そして、距離ｄ５に基づく位置で、前部第１光ファイバ部材２０ａ−１、前部第２光ファイバ部材２０ａ−２、後部第１光ファイバ部材２０ｂ−１、後部第２光ファイバ部材２０ｂ−２、のうちの少なくとも１つを切断する。そして、光受信前部１０ａと光受信後部１０ｂとを融着接続（例えば、スプライス接続）して、光受信後部１０ｂとＣＤＲ１６との間、及び、ＣＤＲ１６とＤｅｍｕｘ１８との間を電気的に接続する。このようにして、遅延干渉計とバランスドレシーバとの間を流れる差動信号の遅延の整合性を確保してもよい。
【００５７】
なお、以上の説明において示した具体的な数値は例示であり、示された数値に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの構成図の一例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る光受信モジュールの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図５】光受信前部の製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図６】光受信前部の製造方法において用いられる装置群の別の構成の一例を示す図である。
【図７】リフレクトメータにより測定される時間の一例を示す図である。
【図８Ａ】前部第１光ファイバ部材の端面の前方にミラーが配置されている様子の一例を示す側面図である。
【図８Ｂ】前部第１光ファイバ部材の端面の前方にミラーが配置されている様子の一例を示す平面図である。
【図９】前部第１光ファイバ部材及び前部第２光ファイバ部材が固定されている様子の一例を示す平面図である。
【図１０】光受信前部の別の製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図１１】光受信後部の製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図１２Ａ】後部光ファイバ部材が固定されている様子の一例を示す側面図である。
【図１２Ｂ】後部光ファイバ部材が固定されている様子の一例を示す平面図である。
【図１３】後部第１測定時間と後部第２測定時間との一例を示す図である。
【図１４】本発明の別の一実施形態に係る光モジュールの製造方法において用いられる装置群の構成の一例を示す図である。
【図１５Ａ】バランスドレシーバからの電気信号出力波形の一例を示す図である。
【図１５Ｂ】バランスドレシーバからの電気信号出力波形の別の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１０ 光受信モジュール、１０ａ 光受信前部、１０ｂ 光受信後部、１２ 遅延干渉計、１４ バランスドレシーバ、１４ａ フォトダイオード、１４ｂ 電気アンプ、１６ ＣＤＲ、１８ Ｄｅｍｕｘ、２０ 光ファイバ、２０ａ 前部光ファイバ部材、２０ｂ 後部光ファイバ部材、２２ リフレクトメータ、２４ ミラー、２６ ピーク、２８ ファイバ固定台、３０ レンズ、３２ 光ファイバ外空間、３４ 光源、３６ 方向性カプラ、３８ パワーメータ、４０ オシロスコープ、４２ スライド式ファイバ固定台、４４ 導波路、４６ パルス光源、４８ 導入光ファイバ部材、Ｌ１ 切断線、Ｌ２ 切断線。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、
遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通り、当該第１の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、
測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、少なくとも前記第２の光路に含まれる光ファイバを切断する切断工程と、
前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、入射される光をバランスドレシーバに導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、
を含み、
前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの一方が前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれる、
ことを特徴とする差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項２】
前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、
前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、
前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断する、
ことを特徴とする請求項１に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項３】
前記第１の光路上に反射体を配置する反射体配置工程、をさらに含み、
前記時間測定工程が、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路を通り、前記反射体で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項４】
入射される光を前記バランスドレシーバに導く前記一対の光ファイバのうちの一方が、前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれる、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項５】
差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、
光源から光が出射されてから、当該光が、入射される光に基づいて電気信号を生成し出力するバランスドレシーバに光を導く一対の光ファイバのうちの一方が含まれる、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通って、電気信号が出力されるまでの時間、及び、光源から光が出射されてから、当該光が、前記一対の光ファイバのうちの他方が含まれる、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、電気信号が出力されるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、
測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、前記第２の光路に含まれる光ファイバを少なくとも切断する切断工程と、
前記一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、
を含むことを特徴とする差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項６】
前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、
前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、
前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断する、
ことを特徴とする請求項５に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項７】
差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールであって、
遅延干渉計と、バランスドレシーバと、前記遅延干渉計から出射される光を前記バランスドレシーバに導く一対の光ファイバと、を備え、
前記一対の光ファイバがそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されており、
前記遅延干渉計の内部の光路長差及び／又はバランスドレシーバの内部の光路長差と、所定の光路長差と、の差異を吸収する光路長差が、前記一対の光ファイバの間に設けられている、
ことを特徴とする差動位相変調光受信モジュール。
【請求項１】
差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、
遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通り、当該第１の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、
測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、少なくとも前記第２の光路に含まれる光ファイバを切断する切断工程と、
前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、入射される光をバランスドレシーバに導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、
を含み、
前記遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの一方が前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれる、
ことを特徴とする差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項２】
前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、
前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、
前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断する、
ことを特徴とする請求項１に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項３】
前記第１の光路上に反射体を配置する反射体配置工程、をさらに含み、
前記時間測定工程が、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第１の光路を通り、前記反射体で反射して戻ってくるまでの時間、及び、前記遅延干渉計に光が入射されてから、当該光が、前記第２の光路を通り、当該第２の光路の末端で反射して戻ってくるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項４】
入射される光を前記バランスドレシーバに導く前記一対の光ファイバのうちの一方が、前記第１の光路に含まれ、当該一対の光ファイバのうちの他方が前記第２の光路に含まれる、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項５】
差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールの製造方法であって、
光源から光が出射されてから、当該光が、入射される光に基づいて電気信号を生成し出力するバランスドレシーバに光を導く一対の光ファイバのうちの一方が含まれる、光ファイバ外の空間を経由する第１の光路を通って、電気信号が出力されるまでの時間、及び、光源から光が出射されてから、当該光が、前記一対の光ファイバのうちの他方が含まれる、前記第１の光路とは異なる、光ファイバ外の空間を経由しない第２の光路を通り、電気信号が出力されるまでの時間が対応するよう、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長を変えつつ、それぞれの前記時間を測定する時間測定工程と、
測定されるそれぞれの前記時間が対応する際の、前記第１の光路に含まれる前記空間の光路長に基づく切断位置で、前記第２の光路に含まれる光ファイバを少なくとも切断する切断工程と、
前記一対の光ファイバのそれぞれを、当該光ファイバに対応する、遅延干渉計から出射される光を導く一対の光ファイバのうちの１つと、融着接続により光学的に接続する融着接続工程と、
を含むことを特徴とする差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項６】
前記第１の光路に含まれる前記空間を満たす物質の屈折率が、光ファイバの屈折率に応じて定められ、
前記第１の光路に含まれる光ファイバと、前記第２の光路に含まれる光ファイバと、を並行に配置する並行配置工程、をさらに含み、
前記切断工程が、前記第１の光路の前記末端からの距離と、前記第２の光路の前記末端からの距離と、が対応する前記切断位置で、前記並行配置工程により並行に配置された２つの光ファイバを切断する、
ことを特徴とする請求項５に記載の差動位相変調光受信モジュールの製造方法。
【請求項７】
差分位相変調された光信号を復調する差動位相変調光受信モジュールであって、
遅延干渉計と、バランスドレシーバと、前記遅延干渉計から出射される光を前記バランスドレシーバに導く一対の光ファイバと、を備え、
前記一対の光ファイバがそれぞれ、複数の光ファイバ部材同士が融着接続されることにより形成されており、
前記遅延干渉計の内部の光路長差及び／又はバランスドレシーバの内部の光路長差と、所定の光路長差と、の差異を吸収する光路長差が、前記一対の光ファイバの間に設けられている、
ことを特徴とする差動位相変調光受信モジュール。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８Ａ】
【図８Ｂ】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２Ａ】
【図１２Ｂ】
【図１３】
【図１４】
【図１５Ａ】
【図１５Ｂ】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８Ａ】
【図８Ｂ】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２Ａ】
【図１２Ｂ】
【図１３】
【図１４】
【図１５Ａ】
【図１５Ｂ】
【公開番号】特開２０１０−３９３１５（Ｐ２０１０−３９３１５Ａ）
【公開日】平成２２年２月１８日（２０１０．２．１８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２０３６３９（Ｐ２００８−２０３６３９）
【出願日】平成２０年８月６日（２００８．８．６）
【出願人】（３０１００５３７１）日本オプネクスト株式会社 (311)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年２月１８日（２０１０．２．１８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年８月６日（２００８．８．６）
【出願人】（３０１００５３７１）日本オプネクスト株式会社 (311)
【Ｆターム（参考）】
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