画像処理によるワーク欠陥検査方法
【課題】検査対象のワークが、形状の変化が大きい柔軟な製品であっても、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができるようにする。
【解決手段】ワークを撮像した画像を表示する画面上を移動する走査要素によって画素照度をサンプリングし、サンプリングされた照度値から、画面内のワーク画像を認識するワーク画像認識処理(S2〜S4)と、認識されたワーク画像上の任意の位置座標を法線検出点として前記ワーク画像の法線を検出し、この法線上の特定の点でこの法線と直交する直線上にあって前記特定の点から所定距離離れた位置座標を次の法線検出点として前記法線の検出を繰り返す循環検出処理(S5〜S8)と、前記法線上の特定の点でこの法線と直交する直線に沿って前記ワーク画像を直線化する画像直線化処理(S9)と、直線化処理された画像から欠陥部を検出して良否を判定する欠陥検出処理(S10)とを備える。
【解決手段】ワークを撮像した画像を表示する画面上を移動する走査要素によって画素照度をサンプリングし、サンプリングされた照度値から、画面内のワーク画像を認識するワーク画像認識処理(S2〜S4)と、認識されたワーク画像上の任意の位置座標を法線検出点として前記ワーク画像の法線を検出し、この法線上の特定の点でこの法線と直交する直線上にあって前記特定の点から所定距離離れた位置座標を次の法線検出点として前記法線の検出を繰り返す循環検出処理(S5〜S8)と、前記法線上の特定の点でこの法線と直交する直線に沿って前記ワーク画像を直線化する画像直線化処理(S9)と、直線化処理された画像から欠陥部を検出して良否を判定する欠陥検出処理(S10)とを備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ワークを撮像した画像を処理してワーク表面の欠陥を検出する欠陥検査方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
一般に、画像処理による物品検出方法のひとつとして、例えば特許文献1に開示されたようなパターンマッチングによる方法がある。パターンマッチングは、検出対象の物品の特徴的形状や大きさ等を予め登録しておき、登録されたデータと実際にカメラなどにより物品を撮像した画像データとを比較することによって、撮像された物品が登録されたものと同一であるかを判定するものであるため、ワークの欠陥を検出する方法としても有用である。しかしながら、検査対象のワークが、例えば自らの重量などによる形状の変化が大きい大型のゴム製品であるような場合は、登録すべきマスター形状が定まらないので、パターンマッチングによる方法は採用することができない。
【0003】
これに対し、例えば特許文献2に開示された画像処理装置及び画像形成装置は、画像の輪郭を検出して、この輪郭データに基づいて、画像データを原画像のオブジェクトの種類に拘わらず同一にし、データの取り扱いを一元化するものである。また、例えば特許文献3に開示された画像解析装置は、輪郭データの精度の悪い画像であっても、これを補正して高精度な輪郭データを検出する画像解析装置に関する。しかし、例えば成形不良などによってワークの輪郭の一部又は全部が欠損しているような欠陥については、特許文献2又は特許文献3に開示された技術では対応できないといった問題がある。
【0004】
【特許文献1】特開平7−65170号公報
【特許文献2】特開2001−243480号公報
【特許文献3】特開2004−272313号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、以上のような点に鑑みてなされたものであって、その技術的課題とするところは、検査対象のワークが、例えば自らの重量などによる形状の変化が大きい、長尺で柔軟な製品であっても、また、ワークに存在する欠陥が、成形不良などによってワークの輪郭の一部又は全部が欠損したものである場合でも、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上述した技術的課題を有効に解決するための手段として、請求項1の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、ワークを撮像した画像を表示する画面上を移動する走査要素によって画素照度をサンプリングし、サンプリングされた照度値から画面内のワーク画像を認識するワーク画像認識処理と、認識されたワーク画像上の任意の位置座標を法線検出点として前記ワーク画像の法線を検出し、この法線上の特定の点でこの法線と直交する直線上にあって前記特定の点から所定距離離れた位置座標を次の法線検出点として前記法線の検出を繰り返す循環検出処理と、前記法線上の特定の点でこの法線と直交する直線に沿って前記ワーク画像を直線化する画像直線化処理と、直線化処理された画像から欠陥部を検出してその良否を判定する欠陥検出処理とを備えるものである。なお、ここで検査対象のワークは、長手方向各部の断面が同形同大の連続形状のものであり、前記法線は、ワークの連続方向に対する法線のことである。
【0007】
請求項2の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載されたワーク画像認識処理において、画素照度のサンプリングを、経路上の点の周囲における複数箇所で行い、サンプリングされた照度値の平均値を所定のしきい値と比較するものである。
【0008】
請求項3の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載された方法において、法線検出循環処理において、法線検出点を通る直線でワーク画像を折り返したときに、折り返された画像が互いに重合するように、前記直線の角度を変化させることによって行われるものである。
【0009】
請求項4の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載されたワークの断面形状が、幅方向中央を対称軸とする対称形状であり、循環検出処理において、法線上の特定の点が、この法線上の画素照度をサンプリングして照度プロファイルを生成し、前記法線上の任意の点で前記照度プロファイルを折り返すことによって互いに重合した照度プロファイルの差が最小となる点として決定されるものである。
【0010】
請求項5の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載された方法において、ワーク画像をMedianフィルタにより平滑化し、入力されたワーク画像と平滑化された画像との差分によりノイズを除去するノイズ除去ステップを備え、欠陥検出ステップでは、前記ノイズ除去ステップによるノイズ除去後の画像データから欠陥部の良否を判定するものである。
【発明の効果】
【0011】
請求項1の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、自重により容易に形状が変化してしまうような柔軟で長尺のワークでも、画像を直線化により一元化することによって、欠陥の検出が可能であり、また、ワークに存在する欠陥が、成形不良などによってワークの輪郭の一部又は全部が欠損したものである場合でも、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができる。
【0012】
請求項2の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、請求項1の発明において、複数箇所のサンプリング照度の平均値を用いることで、汚れや塵埃などによるノイズを受けにくくして、ワーク画像を高精度で検出することができる。
【0013】
請求項3及び請求項4の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、請求項1の発明において、検出されたワーク画像の法線を高精度に設定することができる。
【0014】
請求項5の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、請求項1の発明において、ワーク画像から、ワーク上の塵埃や表面性状、照明ムラ等に起因する種々のノイズを除去するので、欠陥検出を高精度で行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0015】
以下、本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法の好ましい実施の形態について、図面を参照しながら説明する。まず図1は、本発明の方法により検査されるワークを示す断面斜視図、図2は、本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法を実施するために用いられるシステムの概略構成を示すブロック図である。
【0016】
図1に示されるように、この実施の形態の方法による検査対象のワークWは、断面形状が幅方向中心を対称軸とする対称形状をなし、かつ長手方向各部の断面が同形同大の長尺物で、しかも自重などによる形状の変化が大きいために検査ステージ1上に置いたときの形状が一定しない製品であって、典型的には、例えばゴム状弾性材料で成形された大型のガスケット又はパッキンが挙げられる。
【0017】
次に、図2に示されるワーク欠陥検査システムにおいて、参照符号1は、ワークWを載置するXYテーブルからなる検査ステージ、参照符号2は検査ステージ1上を照明する照明装置、参照符号3は、ワークWを撮像する画像入力装置である。
【0018】
検査ステージ1は、XYテーブルからなるものであって、すなわち不図示の駆動装置によって水平方向(XY方向)へ変位し、画像入力装置3によるワークWの撮影部位を任意に移動するものである。また、画像入力装置3は、対物レンズによるワークWの光学像をCCDやCMOS等の撮像素子によって画像信号に変換するカメラであって、ワークWの幅方向全体及び長手方向の一部を含むエリアを撮影視野とするように、対物レンズを下方へ向けて検査ステージ1の上側にセットされている。
【0019】
参照符号4は、画像入力装置3により取り込まれた画像データを処理する画像処理装置、参照符号5は、画像処理部4により画像処理された画像データを順次格納する入力画像メモリ、参照符号6は、本方法の処理プログラムが格納されたプログラムメモリ、参照符号7は、前記処理プログラムによって動作し、入力画像メモリ5から画像データを順次読み出して各種の演算処理を行うCPU(中央演算処理装置)、参照符号8は、CPU7において算出された法線データを格納する法線データ格納メモリ、参照符号9は、CPU7において算出された中心座標データを格納する中心座標データ格納メモリ、参照符号10は、CPU7において直線化処理された画像データを格納する直線化画像格納メモリ、参照符号11は、CPU7において判定された検査結果データを格納する検査結果データ格納メモリ、参照符号12は、欠陥検出の前処理において画像データからノイズを除去するためのMedianフィルタである。
【0020】
図3は、この実施の形態による処理フローを示すフローチャートである。すなわち、まず、入力画像メモリ5に格納された画像データが、CPU7に読み出される(ステップS1)。この画像データは、図2に示される画像入力装置3によって検査ステージ1上のワークWが撮像され画像処理装置4によって画像処理されたものである。
【0021】
図4は、ワーク画像認識処理画面を示す説明図、図5は、画素照度サンプリング処理を示す説明図である。すなわち、入力画像メモリ5から読み出された画像データは、図4に示されるように、始点Aから画面を一周する経路Lを移動しながら所定のサンプリング周期で画素照度をサンプリングする走査要素Vを有し、この走査要素Vが、経路L上を所定の距離だけ移動して停止する(ステップS2)。なお、図4における参照符号P0はワークWの一部が撮影されたワーク画像、参照符号Qは、ワークWのバリ等による欠陥部の画像、RはワークWの表面に付着した塵埃等によるノイズ画像である。なお、経路Lは必ずしも画面を一周するものでなくても良く、例えば画面内をジグザグに進むものなど、有端の経路であっても良い。
【0022】
次に、画面上における走査要素Vの位置座標が検出され(ステップS3)、走査要素Vが始点A(経路Lが有端である場合は終点)に到達したことが検出された場合は(ステップS3=YES)、画面上にワーク画像が認識されなかったものとして、処理はステップS1にリターンし、入力画像メモリ5から次の画像データの読み出しが行われる。
【0023】
走査要素Vが始点A(経路Lが有端である場合は終点)に未到達であることが検出された場合は(ステップS3=NO)、図5に示されるように、この走査要素Vを中心とする所定範囲における複数のサンプリング点S1〜Snで画素照度をサンプリングする。そして、サンプリングされた各サンプリング点S1〜Snの画素照度を加重平均し、予め設定されたしきい値と比較することにより、走査要素Vがワーク画像P上に到達したかを判定し、言い換えればワーク画像P0の有無を認識する(ステップS4)。なお、画素照度のサンプリングを走査要素Vの位置をサンプリング点として1点のみで行う場合は、検査ステージ1上の汚れや埃等によってワーク画像P0を誤認識するおそれがあるのに対し、複数のサンプリング点S1〜Snでサンプリングした画素照度の平均値は安定した統計量となるので、前記汚れや埃等に起因するノイズ等の影響を受けにくくなり、ワーク画像P0の認識の信頼性を高めることができる。
【0024】
そして、上述のサンプリング結果、走査要素Vがワーク画像P0上に未到達であると判定された場合は(ステップS4=NO)、処理はステップS2へリターンする。
【0025】
また、走査要素Vがワーク画像P0上に達したものと判定すなわちワーク画像P0が認識された場合は(ステップS4=YES)、走査要素Vによる画素照度サンプリングを終了し、ステップS5〜S8の循環検出処理へ移行する。
【0026】
図6は、循環検出処理における法線検出処理を示す説明図である。すなわち、この法線検出処理(ステップS5)においては、図6(イ)に示されるように、ワーク画像P0上で停止した走査要素Vの位置座標を法線検出点B1として、前記法線検出点B1を通る任意の直線Cを中心とする所定幅でワーク画像ΔP0を切り取って、これを前記直線Cで折り返し、図6(ロ)に示されるように、折り返された画像ΔP0が互いに重合しなければ、前記直線の角度Cを変更して再び折り返し、図6(ハ)に示されるように、折り返された画像ΔP0が互いに重合した場合に、このときの直線Cを法線Nとする。この法線Nのデータは、図2に示される法線データ格納メモリ8に格納し、処理は次の中心検出ステップへ移行する。
【0027】
なお、ワーク画像P0は、経路L上での走査要素Vによる走査が終了した後で、走査データ列によって認識することもできる。したがってこのような場合は、走査要素Vはワーク画像P0上で停止しないから、法線検出点B1は、ワーク画像P0内の経路L上における任意の点を選択する。
【0028】
図7は、中心検出処理を示す説明図、図8は、この中心検出過程での照度プロファイルの処理を示す説明図である。すなわち、中心検出(ステップS6)においては、まず図7に示される法線N上に沿って、ワーク画像P0の画素照度を所定のサンプリング間隔でサンプリングすることによって、図8(イ)に示されるような照度プロファイルを生成する。先の図1で説明したように、検査対象のワークWは、断面形状が幅方向中心を対称軸とする対称形状であるため、照度プロファイルも、基本的に、前記法線Nの中点に対してほぼ対称となるような画素照度変化を示す。
【0029】
次に、図7に示される法線N上の任意の点Dで照度プロファイルを折り返して重合する。折り返し点Dがワーク画像P0の幅の中心点でない場合は、図8(ロ)に示されるように、重合された照度プロファイルの差が大きくなるので、図8(ハ)に示されるように、重合した照度プロファイルの差が最小となる折り返し点Dを検出し、これを中心点Eとして、その座標データを図2に示される中心座標データ格納メモリ9に格納する。
【0030】
なお、中心点Eは、請求項1に記載された「法線上の特定の点」に相当するものであるが、この「特定の点」は、必ずしも中心点Eでなくても良く、例えば検査対象のワークWの断面形状が、幅方向中心を対称軸とする対称形状ではない場合、すなわち法線Nの中点に対してほぼ対称となるような照度プロファイルが得られないようなものである場合は、法線Nとワーク画像P0の輪郭線あるいは連続模様との交点等を用いることができる。
【0031】
図9は、次候補決定処理を示す説明図である。すなわち、上述のようにして中心点Eが検出されたら、図9に示されるように、法線Nに対して垂直で中心点Eを通る直線(中心線)F上で、前記中心点Eから所定距離だけ離れた点を次候補点B2とする(ステップS7)。
【0032】
次に、画面上における次候補点B2の位置座標が検出され(ステップS8)、この次候補点B2が画面データにおけるワーク画像P0の端部に到達していないことが判定された場合は(ステップS8=NO)、処理はステップS5にリターンし、点B2を通る法線検出処理及びその中心点の検出処理が繰り返され、すなわちステップS5〜S8の循環検出処理が行われる。また、次候補点B2が画面データにおけるワーク画像P0の端部に到達したことが判定された場合は(ステップS8=YES)、処理は次の画像直線化ステップへ移行する。
【0033】
図10は、直線化処理されたワーク画像P1を示すものである。すなわち、先に説明した図4のように曲がりくねったワーク画像P0は、ステップS5〜S7の処理によって繰り返し得られた中心点E及び中心線Fによって、図10のように直線化し(ステップS9)、図2に示される直線化画像格納メモリ10に格納する。
【0034】
次に、直線化処理されたワーク画像P1における欠陥部の画像Qの画素数(面積)、長さ、周辺長、照度などの特徴量を、後述の処理ステップで計測することにより、良否を判定し(ステップS10)、図2に示される検査結果データ格納メモリ11に格納する。そして、本発明によれば、本来不規則に曲がりくねったワーク画像P0が、上述の画像直線化処理によって、直線化された二次元画像P1に規格化されるので、画像Qの特徴量を容易に計測することができる。
【0035】
ここで、図10に示される直線化されたワーク画像P1には、図1に示されるワークWの表面性状による画素照度のムラ、図2に示される照明装置2による照明のムラ、ワークWの表面に付着した塵埃に起因するノイズ画像R等、種々のノイズが含まれているため、誤判定を防止して欠陥部の画像Qの判定の信頼性を高めるには、これらのノイズの除去が重要である。
【0036】
図11は、ノイズの除去処理を含む欠陥検出ステップS10の詳細な処理フローを示すフローチャートである。すなわち、まず、上述の画像直線化処理(ステップS9)によって直線化されたワーク画像P1を入力し(ステップS11)、このワーク画像P1を、図2に示されるMedianフィルタ12を用いて平滑化する(ステップS12)。
【0037】
図12は、図11における平滑化処理(ステップS12)の詳細な処理フローを示すフローチャート、図13及び図14は、平滑化のためのフィルタリング処理を模式的に示す説明図である。
【0038】
図13(イ)において、PX1,PX2,PX3,・・・は入力されたワーク画像P1を構成する画素であり、各画素PX1,PX2,PX3,・・・に表示された数字は、照度(濃淡)レベルを示している。Medianフィルタ12によるフィルタリング(平滑化)においては、まずこの入力画像P1における連続した複数の画素を指定する窓Mが設定され、この窓M内の画素(図示の例では画素PX1〜PX5)を、図13(ロ)のように照度(濃淡)レベル順に並べ替え、その中央値の画素(図示の例では照度“3”の画素PX1)を検索して、図13(ハ)のように、画像P2へ出力する(ステップS121)。
【0039】
次いで、図14(イ)に示されるように、ワーク画像P1において窓Mを1画素分だけ移動させ、移動によってこの窓Mから出される画素PX1と、新しく窓M内に入る画素PX6を調べ(ステップS122)、図13(ロ)のように照度(濃淡)レベル順に並べ替えられた画素のうち、窓Mの移動によって出て行く画素PX1を、図14(ロ)に示されるように、新しく窓M内に入る画素PX6と入れ替える(ステップS123)。
【0040】
そして、画素PX1と入れ替わった画素PX6の照度(濃淡)レベルを、隣接する画素と比較し、図14(ハ)に示されるように、照度(濃淡)レベル順となるように並べ替える(ステップS124)。詳しくは、窓M内における新入画素の照度が、その低レベル側に隣接する画素の照度より低レベルの場合は(ステップS124a=YES)、低レベル側に隣接する画素を新入画素と入れ替え(ステップS124b)、逆に新入画素の照度がそれより高レベル側に隣接する画素の照度より高レベルの場合は(ステップS124c=YES)、高レベル側に隣接する画素を新入画素と入れ替える(ステップS124d)といった循環処理を行う。
【0041】
次に図14(ニ)に示されるように、その中央値の画素(図示の例では照度“4”の画素PX3)を検索して、画像P2へ出力するといった、ステップS121と同様の処理を行う(ステップS125)。
【0042】
次に、窓部Mがワーク画像P1の端部にあるかどうかを判定し(ステップS126)、端部にある場合は(ステップS126=YES)、フィルタリング処理を終了し、端部に未到達の場合は(ステップS126=NO)、処理はステップS122へリターンする。そしてこのような循環処理によって、図14(ホ)のように、画素照度の変化の緩やかな画像P2が再構築されて行くのである。
【0043】
図15は、上述したMedianフィルタ12による平滑化処理で得られる平滑化画像を示すものである。すなわちこの平滑化画像P2は、空間周波数成分が低いものとなるので、ワークWの表面性状による画素照度のムラ、照明のムラなど、照度が緩やかに変化するノイズは残るが、ワークWの表面に付着した塵埃等による、照度が急激に変化する細かいノイズは除去されている。
【0044】
説明を図11に戻すと、上述したMedianフィルタ12による平滑化処理後は、入力されたワーク画像P1(図10)から欠陥部の画像Qを抽出するために、この背景処理は、このワーク画像P1から図15に示される平滑化処理画像P2を減算する画像差分処理を行う(ステップS13)。
【0045】
図16は、この画像差分処理(P1−P2=P3)によって得られる画像P3を示すものである。すなわちこの画像P3は、ワークWの表面性状による画素照度のムラや照明ムラによる画素照度のムラなど、照度が緩やかに変化するノイズが除去され、ワークWの表面に付着した塵埃等による、照度が急激に変化するノイズ画像Rや、欠陥部の画像Qが抽出されたものである。
【0046】
次に、画像P3の照度データの二値化を行うことによって(ステップS14)、周辺との照度差が所定のしきい値以上となる特徴部分のみを抽出した後、抽出された特徴部分の周辺長を計測し、計測された長さが所定のしきい値未満のものは、ノイズとしてこれを除去する処理を行う(ステップS15)。図17は、このノイズ除去処理によって得られる画像P4を示すもので、この画像P4には、欠陥部の画像Qが残っている。
【0047】
そして、この画像P4における欠陥部の画像Qの特徴量、すなわち例えば画像Qの画素数(面積)、長さ、周辺長、照度などを計測し(ステップS16)、良否の判定を行う(ステップS17)。そして、これらの計測値のうちいずれかが、予め設定されたしきい値以上であった場合は(ステップS17=NG)、図2に示される検査ステージ1上のワークWが不良品として排出される(ステップS18)。
【0048】
また、これらの計測値が、いずれも予め設定されたしきい値未満であれば(ステップS17=OK)、不良が存在しなかったものと判定され(図3のステップS10=NO)、処理は図3のステップS1へリターンして、入力画像メモリ5から次の画像データの読み出しが行われる。
【図面の簡単な説明】
【0049】
【図1】本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法で検査されるワークの一例を示す断面斜視図である。
【図2】本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法を実施するために用いられるシステムの概略構成を示すブロック図である。
【図3】本発明による処理フローを示すフローチャートである。
【図4】本発明によるワーク画像認識処理画面を示す説明図である。
【図5】本発明による画素照度サンプリング処理を示す説明図である。
【図6】本発明による法線検出処理を示す説明図である。
【図7】本発明による中心検出処理を示す説明図である。
【図8】本発明による中心検出過程での照度プロファイルの処理を示す説明図である。
【図9】本発明による次候補決定処理を示す説明図である。
【図10】本発明により直線化処理されたワーク画像を示す説明図である。
【図11】本発明におけるノイズの除去処理を含む欠陥検出処理フローを示すフローチャートである。
【図12】図11のフローチャートにおける平滑化処理の詳細な処理フローを示すフローチャートである。
【図13】Medianフィルタによるフィルタリング処理を模式的に示す説明図である。
【図14】Medianフィルタによるフィルタリング処理を模式的に示す説明図である。
【図15】平滑化処理によって得られる平滑化画像を示す説明図である。
【図16】入力されたワーク画像から、上述の平滑化処理画像を減算処理することによって得られる画像を示す説明図である。
【図17】ノイズ除去処理によって得られる画像を示す説明図である。
【符号の説明】
【0050】
1 検査ステージ
2 照明装置
3 画像入力装置
4 画像処理装置
5 入力画像メモリ
6 プログラムメモリ
7 CPU
8 法線データ格納メモリ
9 中心座標データ格納メモリ
10 直線化画像格納メモリ
11 検査結果データ格納メモリ
12 Medianフィルタ
E 中心点(特定の点)
F 中心線
N 法線
S1〜Sn サンプリング点
P ワーク画像
Q 欠陥部の画像
R ノイズ画像
V 走査要素
W ワーク
【技術分野】
【0001】
本発明は、ワークを撮像した画像を処理してワーク表面の欠陥を検出する欠陥検査方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
一般に、画像処理による物品検出方法のひとつとして、例えば特許文献1に開示されたようなパターンマッチングによる方法がある。パターンマッチングは、検出対象の物品の特徴的形状や大きさ等を予め登録しておき、登録されたデータと実際にカメラなどにより物品を撮像した画像データとを比較することによって、撮像された物品が登録されたものと同一であるかを判定するものであるため、ワークの欠陥を検出する方法としても有用である。しかしながら、検査対象のワークが、例えば自らの重量などによる形状の変化が大きい大型のゴム製品であるような場合は、登録すべきマスター形状が定まらないので、パターンマッチングによる方法は採用することができない。
【0003】
これに対し、例えば特許文献2に開示された画像処理装置及び画像形成装置は、画像の輪郭を検出して、この輪郭データに基づいて、画像データを原画像のオブジェクトの種類に拘わらず同一にし、データの取り扱いを一元化するものである。また、例えば特許文献3に開示された画像解析装置は、輪郭データの精度の悪い画像であっても、これを補正して高精度な輪郭データを検出する画像解析装置に関する。しかし、例えば成形不良などによってワークの輪郭の一部又は全部が欠損しているような欠陥については、特許文献2又は特許文献3に開示された技術では対応できないといった問題がある。
【0004】
【特許文献1】特開平7−65170号公報
【特許文献2】特開2001−243480号公報
【特許文献3】特開2004−272313号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、以上のような点に鑑みてなされたものであって、その技術的課題とするところは、検査対象のワークが、例えば自らの重量などによる形状の変化が大きい、長尺で柔軟な製品であっても、また、ワークに存在する欠陥が、成形不良などによってワークの輪郭の一部又は全部が欠損したものである場合でも、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上述した技術的課題を有効に解決するための手段として、請求項1の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、ワークを撮像した画像を表示する画面上を移動する走査要素によって画素照度をサンプリングし、サンプリングされた照度値から画面内のワーク画像を認識するワーク画像認識処理と、認識されたワーク画像上の任意の位置座標を法線検出点として前記ワーク画像の法線を検出し、この法線上の特定の点でこの法線と直交する直線上にあって前記特定の点から所定距離離れた位置座標を次の法線検出点として前記法線の検出を繰り返す循環検出処理と、前記法線上の特定の点でこの法線と直交する直線に沿って前記ワーク画像を直線化する画像直線化処理と、直線化処理された画像から欠陥部を検出してその良否を判定する欠陥検出処理とを備えるものである。なお、ここで検査対象のワークは、長手方向各部の断面が同形同大の連続形状のものであり、前記法線は、ワークの連続方向に対する法線のことである。
【0007】
請求項2の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載されたワーク画像認識処理において、画素照度のサンプリングを、経路上の点の周囲における複数箇所で行い、サンプリングされた照度値の平均値を所定のしきい値と比較するものである。
【0008】
請求項3の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載された方法において、法線検出循環処理において、法線検出点を通る直線でワーク画像を折り返したときに、折り返された画像が互いに重合するように、前記直線の角度を変化させることによって行われるものである。
【0009】
請求項4の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載されたワークの断面形状が、幅方向中央を対称軸とする対称形状であり、循環検出処理において、法線上の特定の点が、この法線上の画素照度をサンプリングして照度プロファイルを生成し、前記法線上の任意の点で前記照度プロファイルを折り返すことによって互いに重合した照度プロファイルの差が最小となる点として決定されるものである。
【0010】
請求項5の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法は、請求項1に記載された方法において、ワーク画像をMedianフィルタにより平滑化し、入力されたワーク画像と平滑化された画像との差分によりノイズを除去するノイズ除去ステップを備え、欠陥検出ステップでは、前記ノイズ除去ステップによるノイズ除去後の画像データから欠陥部の良否を判定するものである。
【発明の効果】
【0011】
請求項1の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、自重により容易に形状が変化してしまうような柔軟で長尺のワークでも、画像を直線化により一元化することによって、欠陥の検出が可能であり、また、ワークに存在する欠陥が、成形不良などによってワークの輪郭の一部又は全部が欠損したものである場合でも、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができる。
【0012】
請求項2の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、請求項1の発明において、複数箇所のサンプリング照度の平均値を用いることで、汚れや塵埃などによるノイズを受けにくくして、ワーク画像を高精度で検出することができる。
【0013】
請求項3及び請求項4の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、請求項1の発明において、検出されたワーク画像の法線を高精度に設定することができる。
【0014】
請求項5の発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法によれば、請求項1の発明において、ワーク画像から、ワーク上の塵埃や表面性状、照明ムラ等に起因する種々のノイズを除去するので、欠陥検出を高精度で行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0015】
以下、本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法の好ましい実施の形態について、図面を参照しながら説明する。まず図1は、本発明の方法により検査されるワークを示す断面斜視図、図2は、本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法を実施するために用いられるシステムの概略構成を示すブロック図である。
【0016】
図1に示されるように、この実施の形態の方法による検査対象のワークWは、断面形状が幅方向中心を対称軸とする対称形状をなし、かつ長手方向各部の断面が同形同大の長尺物で、しかも自重などによる形状の変化が大きいために検査ステージ1上に置いたときの形状が一定しない製品であって、典型的には、例えばゴム状弾性材料で成形された大型のガスケット又はパッキンが挙げられる。
【0017】
次に、図2に示されるワーク欠陥検査システムにおいて、参照符号1は、ワークWを載置するXYテーブルからなる検査ステージ、参照符号2は検査ステージ1上を照明する照明装置、参照符号3は、ワークWを撮像する画像入力装置である。
【0018】
検査ステージ1は、XYテーブルからなるものであって、すなわち不図示の駆動装置によって水平方向(XY方向)へ変位し、画像入力装置3によるワークWの撮影部位を任意に移動するものである。また、画像入力装置3は、対物レンズによるワークWの光学像をCCDやCMOS等の撮像素子によって画像信号に変換するカメラであって、ワークWの幅方向全体及び長手方向の一部を含むエリアを撮影視野とするように、対物レンズを下方へ向けて検査ステージ1の上側にセットされている。
【0019】
参照符号4は、画像入力装置3により取り込まれた画像データを処理する画像処理装置、参照符号5は、画像処理部4により画像処理された画像データを順次格納する入力画像メモリ、参照符号6は、本方法の処理プログラムが格納されたプログラムメモリ、参照符号7は、前記処理プログラムによって動作し、入力画像メモリ5から画像データを順次読み出して各種の演算処理を行うCPU(中央演算処理装置)、参照符号8は、CPU7において算出された法線データを格納する法線データ格納メモリ、参照符号9は、CPU7において算出された中心座標データを格納する中心座標データ格納メモリ、参照符号10は、CPU7において直線化処理された画像データを格納する直線化画像格納メモリ、参照符号11は、CPU7において判定された検査結果データを格納する検査結果データ格納メモリ、参照符号12は、欠陥検出の前処理において画像データからノイズを除去するためのMedianフィルタである。
【0020】
図3は、この実施の形態による処理フローを示すフローチャートである。すなわち、まず、入力画像メモリ5に格納された画像データが、CPU7に読み出される(ステップS1)。この画像データは、図2に示される画像入力装置3によって検査ステージ1上のワークWが撮像され画像処理装置4によって画像処理されたものである。
【0021】
図4は、ワーク画像認識処理画面を示す説明図、図5は、画素照度サンプリング処理を示す説明図である。すなわち、入力画像メモリ5から読み出された画像データは、図4に示されるように、始点Aから画面を一周する経路Lを移動しながら所定のサンプリング周期で画素照度をサンプリングする走査要素Vを有し、この走査要素Vが、経路L上を所定の距離だけ移動して停止する(ステップS2)。なお、図4における参照符号P0はワークWの一部が撮影されたワーク画像、参照符号Qは、ワークWのバリ等による欠陥部の画像、RはワークWの表面に付着した塵埃等によるノイズ画像である。なお、経路Lは必ずしも画面を一周するものでなくても良く、例えば画面内をジグザグに進むものなど、有端の経路であっても良い。
【0022】
次に、画面上における走査要素Vの位置座標が検出され(ステップS3)、走査要素Vが始点A(経路Lが有端である場合は終点)に到達したことが検出された場合は(ステップS3=YES)、画面上にワーク画像が認識されなかったものとして、処理はステップS1にリターンし、入力画像メモリ5から次の画像データの読み出しが行われる。
【0023】
走査要素Vが始点A(経路Lが有端である場合は終点)に未到達であることが検出された場合は(ステップS3=NO)、図5に示されるように、この走査要素Vを中心とする所定範囲における複数のサンプリング点S1〜Snで画素照度をサンプリングする。そして、サンプリングされた各サンプリング点S1〜Snの画素照度を加重平均し、予め設定されたしきい値と比較することにより、走査要素Vがワーク画像P上に到達したかを判定し、言い換えればワーク画像P0の有無を認識する(ステップS4)。なお、画素照度のサンプリングを走査要素Vの位置をサンプリング点として1点のみで行う場合は、検査ステージ1上の汚れや埃等によってワーク画像P0を誤認識するおそれがあるのに対し、複数のサンプリング点S1〜Snでサンプリングした画素照度の平均値は安定した統計量となるので、前記汚れや埃等に起因するノイズ等の影響を受けにくくなり、ワーク画像P0の認識の信頼性を高めることができる。
【0024】
そして、上述のサンプリング結果、走査要素Vがワーク画像P0上に未到達であると判定された場合は(ステップS4=NO)、処理はステップS2へリターンする。
【0025】
また、走査要素Vがワーク画像P0上に達したものと判定すなわちワーク画像P0が認識された場合は(ステップS4=YES)、走査要素Vによる画素照度サンプリングを終了し、ステップS5〜S8の循環検出処理へ移行する。
【0026】
図6は、循環検出処理における法線検出処理を示す説明図である。すなわち、この法線検出処理(ステップS5)においては、図6(イ)に示されるように、ワーク画像P0上で停止した走査要素Vの位置座標を法線検出点B1として、前記法線検出点B1を通る任意の直線Cを中心とする所定幅でワーク画像ΔP0を切り取って、これを前記直線Cで折り返し、図6(ロ)に示されるように、折り返された画像ΔP0が互いに重合しなければ、前記直線の角度Cを変更して再び折り返し、図6(ハ)に示されるように、折り返された画像ΔP0が互いに重合した場合に、このときの直線Cを法線Nとする。この法線Nのデータは、図2に示される法線データ格納メモリ8に格納し、処理は次の中心検出ステップへ移行する。
【0027】
なお、ワーク画像P0は、経路L上での走査要素Vによる走査が終了した後で、走査データ列によって認識することもできる。したがってこのような場合は、走査要素Vはワーク画像P0上で停止しないから、法線検出点B1は、ワーク画像P0内の経路L上における任意の点を選択する。
【0028】
図7は、中心検出処理を示す説明図、図8は、この中心検出過程での照度プロファイルの処理を示す説明図である。すなわち、中心検出(ステップS6)においては、まず図7に示される法線N上に沿って、ワーク画像P0の画素照度を所定のサンプリング間隔でサンプリングすることによって、図8(イ)に示されるような照度プロファイルを生成する。先の図1で説明したように、検査対象のワークWは、断面形状が幅方向中心を対称軸とする対称形状であるため、照度プロファイルも、基本的に、前記法線Nの中点に対してほぼ対称となるような画素照度変化を示す。
【0029】
次に、図7に示される法線N上の任意の点Dで照度プロファイルを折り返して重合する。折り返し点Dがワーク画像P0の幅の中心点でない場合は、図8(ロ)に示されるように、重合された照度プロファイルの差が大きくなるので、図8(ハ)に示されるように、重合した照度プロファイルの差が最小となる折り返し点Dを検出し、これを中心点Eとして、その座標データを図2に示される中心座標データ格納メモリ9に格納する。
【0030】
なお、中心点Eは、請求項1に記載された「法線上の特定の点」に相当するものであるが、この「特定の点」は、必ずしも中心点Eでなくても良く、例えば検査対象のワークWの断面形状が、幅方向中心を対称軸とする対称形状ではない場合、すなわち法線Nの中点に対してほぼ対称となるような照度プロファイルが得られないようなものである場合は、法線Nとワーク画像P0の輪郭線あるいは連続模様との交点等を用いることができる。
【0031】
図9は、次候補決定処理を示す説明図である。すなわち、上述のようにして中心点Eが検出されたら、図9に示されるように、法線Nに対して垂直で中心点Eを通る直線(中心線)F上で、前記中心点Eから所定距離だけ離れた点を次候補点B2とする(ステップS7)。
【0032】
次に、画面上における次候補点B2の位置座標が検出され(ステップS8)、この次候補点B2が画面データにおけるワーク画像P0の端部に到達していないことが判定された場合は(ステップS8=NO)、処理はステップS5にリターンし、点B2を通る法線検出処理及びその中心点の検出処理が繰り返され、すなわちステップS5〜S8の循環検出処理が行われる。また、次候補点B2が画面データにおけるワーク画像P0の端部に到達したことが判定された場合は(ステップS8=YES)、処理は次の画像直線化ステップへ移行する。
【0033】
図10は、直線化処理されたワーク画像P1を示すものである。すなわち、先に説明した図4のように曲がりくねったワーク画像P0は、ステップS5〜S7の処理によって繰り返し得られた中心点E及び中心線Fによって、図10のように直線化し(ステップS9)、図2に示される直線化画像格納メモリ10に格納する。
【0034】
次に、直線化処理されたワーク画像P1における欠陥部の画像Qの画素数(面積)、長さ、周辺長、照度などの特徴量を、後述の処理ステップで計測することにより、良否を判定し(ステップS10)、図2に示される検査結果データ格納メモリ11に格納する。そして、本発明によれば、本来不規則に曲がりくねったワーク画像P0が、上述の画像直線化処理によって、直線化された二次元画像P1に規格化されるので、画像Qの特徴量を容易に計測することができる。
【0035】
ここで、図10に示される直線化されたワーク画像P1には、図1に示されるワークWの表面性状による画素照度のムラ、図2に示される照明装置2による照明のムラ、ワークWの表面に付着した塵埃に起因するノイズ画像R等、種々のノイズが含まれているため、誤判定を防止して欠陥部の画像Qの判定の信頼性を高めるには、これらのノイズの除去が重要である。
【0036】
図11は、ノイズの除去処理を含む欠陥検出ステップS10の詳細な処理フローを示すフローチャートである。すなわち、まず、上述の画像直線化処理(ステップS9)によって直線化されたワーク画像P1を入力し(ステップS11)、このワーク画像P1を、図2に示されるMedianフィルタ12を用いて平滑化する(ステップS12)。
【0037】
図12は、図11における平滑化処理(ステップS12)の詳細な処理フローを示すフローチャート、図13及び図14は、平滑化のためのフィルタリング処理を模式的に示す説明図である。
【0038】
図13(イ)において、PX1,PX2,PX3,・・・は入力されたワーク画像P1を構成する画素であり、各画素PX1,PX2,PX3,・・・に表示された数字は、照度(濃淡)レベルを示している。Medianフィルタ12によるフィルタリング(平滑化)においては、まずこの入力画像P1における連続した複数の画素を指定する窓Mが設定され、この窓M内の画素(図示の例では画素PX1〜PX5)を、図13(ロ)のように照度(濃淡)レベル順に並べ替え、その中央値の画素(図示の例では照度“3”の画素PX1)を検索して、図13(ハ)のように、画像P2へ出力する(ステップS121)。
【0039】
次いで、図14(イ)に示されるように、ワーク画像P1において窓Mを1画素分だけ移動させ、移動によってこの窓Mから出される画素PX1と、新しく窓M内に入る画素PX6を調べ(ステップS122)、図13(ロ)のように照度(濃淡)レベル順に並べ替えられた画素のうち、窓Mの移動によって出て行く画素PX1を、図14(ロ)に示されるように、新しく窓M内に入る画素PX6と入れ替える(ステップS123)。
【0040】
そして、画素PX1と入れ替わった画素PX6の照度(濃淡)レベルを、隣接する画素と比較し、図14(ハ)に示されるように、照度(濃淡)レベル順となるように並べ替える(ステップS124)。詳しくは、窓M内における新入画素の照度が、その低レベル側に隣接する画素の照度より低レベルの場合は(ステップS124a=YES)、低レベル側に隣接する画素を新入画素と入れ替え(ステップS124b)、逆に新入画素の照度がそれより高レベル側に隣接する画素の照度より高レベルの場合は(ステップS124c=YES)、高レベル側に隣接する画素を新入画素と入れ替える(ステップS124d)といった循環処理を行う。
【0041】
次に図14(ニ)に示されるように、その中央値の画素(図示の例では照度“4”の画素PX3)を検索して、画像P2へ出力するといった、ステップS121と同様の処理を行う(ステップS125)。
【0042】
次に、窓部Mがワーク画像P1の端部にあるかどうかを判定し(ステップS126)、端部にある場合は(ステップS126=YES)、フィルタリング処理を終了し、端部に未到達の場合は(ステップS126=NO)、処理はステップS122へリターンする。そしてこのような循環処理によって、図14(ホ)のように、画素照度の変化の緩やかな画像P2が再構築されて行くのである。
【0043】
図15は、上述したMedianフィルタ12による平滑化処理で得られる平滑化画像を示すものである。すなわちこの平滑化画像P2は、空間周波数成分が低いものとなるので、ワークWの表面性状による画素照度のムラ、照明のムラなど、照度が緩やかに変化するノイズは残るが、ワークWの表面に付着した塵埃等による、照度が急激に変化する細かいノイズは除去されている。
【0044】
説明を図11に戻すと、上述したMedianフィルタ12による平滑化処理後は、入力されたワーク画像P1(図10)から欠陥部の画像Qを抽出するために、この背景処理は、このワーク画像P1から図15に示される平滑化処理画像P2を減算する画像差分処理を行う(ステップS13)。
【0045】
図16は、この画像差分処理(P1−P2=P3)によって得られる画像P3を示すものである。すなわちこの画像P3は、ワークWの表面性状による画素照度のムラや照明ムラによる画素照度のムラなど、照度が緩やかに変化するノイズが除去され、ワークWの表面に付着した塵埃等による、照度が急激に変化するノイズ画像Rや、欠陥部の画像Qが抽出されたものである。
【0046】
次に、画像P3の照度データの二値化を行うことによって(ステップS14)、周辺との照度差が所定のしきい値以上となる特徴部分のみを抽出した後、抽出された特徴部分の周辺長を計測し、計測された長さが所定のしきい値未満のものは、ノイズとしてこれを除去する処理を行う(ステップS15)。図17は、このノイズ除去処理によって得られる画像P4を示すもので、この画像P4には、欠陥部の画像Qが残っている。
【0047】
そして、この画像P4における欠陥部の画像Qの特徴量、すなわち例えば画像Qの画素数(面積)、長さ、周辺長、照度などを計測し(ステップS16)、良否の判定を行う(ステップS17)。そして、これらの計測値のうちいずれかが、予め設定されたしきい値以上であった場合は(ステップS17=NG)、図2に示される検査ステージ1上のワークWが不良品として排出される(ステップS18)。
【0048】
また、これらの計測値が、いずれも予め設定されたしきい値未満であれば(ステップS17=OK)、不良が存在しなかったものと判定され(図3のステップS10=NO)、処理は図3のステップS1へリターンして、入力画像メモリ5から次の画像データの読み出しが行われる。
【図面の簡単な説明】
【0049】
【図1】本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法で検査されるワークの一例を示す断面斜視図である。
【図2】本発明に係る画像処理によるワーク欠陥検査方法を実施するために用いられるシステムの概略構成を示すブロック図である。
【図3】本発明による処理フローを示すフローチャートである。
【図4】本発明によるワーク画像認識処理画面を示す説明図である。
【図5】本発明による画素照度サンプリング処理を示す説明図である。
【図6】本発明による法線検出処理を示す説明図である。
【図7】本発明による中心検出処理を示す説明図である。
【図8】本発明による中心検出過程での照度プロファイルの処理を示す説明図である。
【図9】本発明による次候補決定処理を示す説明図である。
【図10】本発明により直線化処理されたワーク画像を示す説明図である。
【図11】本発明におけるノイズの除去処理を含む欠陥検出処理フローを示すフローチャートである。
【図12】図11のフローチャートにおける平滑化処理の詳細な処理フローを示すフローチャートである。
【図13】Medianフィルタによるフィルタリング処理を模式的に示す説明図である。
【図14】Medianフィルタによるフィルタリング処理を模式的に示す説明図である。
【図15】平滑化処理によって得られる平滑化画像を示す説明図である。
【図16】入力されたワーク画像から、上述の平滑化処理画像を減算処理することによって得られる画像を示す説明図である。
【図17】ノイズ除去処理によって得られる画像を示す説明図である。
【符号の説明】
【0050】
1 検査ステージ
2 照明装置
3 画像入力装置
4 画像処理装置
5 入力画像メモリ
6 プログラムメモリ
7 CPU
8 法線データ格納メモリ
9 中心座標データ格納メモリ
10 直線化画像格納メモリ
11 検査結果データ格納メモリ
12 Medianフィルタ
E 中心点(特定の点)
F 中心線
N 法線
S1〜Sn サンプリング点
P ワーク画像
Q 欠陥部の画像
R ノイズ画像
V 走査要素
W ワーク
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ワークを撮像した画像を表示する画面上を移動する走査要素によって画素照度をサンプリングし、サンプリングされた照度値から画面内のワーク画像を認識するワーク画像認識処理と、
認識されたワーク画像上の任意の位置座標を法線検出点として前記ワーク画像の法線を検出し、この法線上の特定の点でこの法線と直交する直線上にあって前記特定の点から所定距離離れた位置座標を次の法線検出点として前記法線の検出を繰り返す循環検出処理と、
前記法線上の特定の点でこの法線と直交する直線に沿って前記ワーク画像を直線化する画像直線化処理と、
直線化処理された画像から欠陥部を検出してその良否を判定する欠陥検出処理と、
を備えることを特徴とする画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項2】
ワークの断面形状が、幅方向中央を対称軸とする対称形状であり、ワーク画像認識処理において、画素照度のサンプリングを、経路上の点における周囲の複数箇所で行い、サンプリングされた照度値の平均値を所定のしきい値と比較することを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項3】
法線検出が、法線検出点を通る直線でワーク画像を折り返したときに、折り返された画像が互いに重合するように、前記直線の角度を変化させることによって行われることを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項4】
循環検出処理において、法線上の特定の点が、この法線上の画素照度をサンプリングして照度プロファイルを生成し、前記法線上の任意の点で前記照度プロファイルを折り返すことによって互いに重合した照度プロファイルの差が最小となる点として決定されることを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項5】
ワーク画像をMedianフィルタにより平滑化し、入力されたワーク画像と平滑化された画像との差分によりノイズを除去するノイズ除去ステップを備え、欠陥検出処理では、前記ノイズ除去ステップによるノイズ除去後の画像データから欠陥部の良否を判定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項1】
ワークを撮像した画像を表示する画面上を移動する走査要素によって画素照度をサンプリングし、サンプリングされた照度値から画面内のワーク画像を認識するワーク画像認識処理と、
認識されたワーク画像上の任意の位置座標を法線検出点として前記ワーク画像の法線を検出し、この法線上の特定の点でこの法線と直交する直線上にあって前記特定の点から所定距離離れた位置座標を次の法線検出点として前記法線の検出を繰り返す循環検出処理と、
前記法線上の特定の点でこの法線と直交する直線に沿って前記ワーク画像を直線化する画像直線化処理と、
直線化処理された画像から欠陥部を検出してその良否を判定する欠陥検出処理と、
を備えることを特徴とする画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項2】
ワークの断面形状が、幅方向中央を対称軸とする対称形状であり、ワーク画像認識処理において、画素照度のサンプリングを、経路上の点における周囲の複数箇所で行い、サンプリングされた照度値の平均値を所定のしきい値と比較することを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項3】
法線検出が、法線検出点を通る直線でワーク画像を折り返したときに、折り返された画像が互いに重合するように、前記直線の角度を変化させることによって行われることを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項4】
循環検出処理において、法線上の特定の点が、この法線上の画素照度をサンプリングして照度プロファイルを生成し、前記法線上の任意の点で前記照度プロファイルを折り返すことによって互いに重合した照度プロファイルの差が最小となる点として決定されることを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【請求項5】
ワーク画像をMedianフィルタにより平滑化し、入力されたワーク画像と平滑化された画像との差分によりノイズを除去するノイズ除去ステップを備え、欠陥検出処理では、前記ノイズ除去ステップによるノイズ除去後の画像データから欠陥部の良否を判定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理によるワーク欠陥検査方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【公開番号】特開2008−304958(P2008−304958A)
【公開日】平成20年12月18日(2008.12.18)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−148710(P2007−148710)
【出願日】平成19年6月5日(2007.6.5)
【出願人】(000004385)NOK株式会社 (1,527)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成20年12月18日(2008.12.18)
【国際特許分類】
【出願日】平成19年6月5日(2007.6.5)
【出願人】(000004385)NOK株式会社 (1,527)
【Fターム(参考)】
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