画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラム
【課題】画質検査に要する画像を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムを提供する。
【解決手段】画質検査装置１は、検査対象の画面の外枠を黒の破線模様４０で形成された白色パターンＷＰと、黒の破線と同じ位置に白の破線模様４０で形成された黒色パターンＢＰとを切替表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む取込部２１を有する。更に、画質検査装置１は、取り込まれた複数の画面の内、外枠の破線上辺４０Ａと当該破線上辺に対向する破線下辺４０Ｂとが一致した画面を抽出する抽出部２２を有する。更に、画質検査装置１は、抽出した画面から白色パターンと黒色パターンとを選別する選別部２３と、選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、当該検査対象の画面に対する画質検査を実行する検査部２４とを有する。
【解決手段】画質検査装置１は、検査対象の画面の外枠を黒の破線模様４０で形成された白色パターンＷＰと、黒の破線と同じ位置に白の破線模様４０で形成された黒色パターンＢＰとを切替表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む取込部２１を有する。更に、画質検査装置１は、取り込まれた複数の画面の内、外枠の破線上辺４０Ａと当該破線上辺に対向する破線下辺４０Ｂとが一致した画面を抽出する抽出部２２を有する。更に、画質検査装置１は、抽出した画面から白色パターンと黒色パターンとを選別する選別部２３と、選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、当該検査対象の画面に対する画質検査を実行する検査部２４とを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等のノンインターレース（プログレッシブ）表示方式のディスプレイの画質を検査する方法では、検査対象のディスプレイ上に検査パターンを表示し、検査パターンを画質検査装置と接続されるカメラで撮像する。そして、画質検査装置は、カメラで撮像した検査パターンの画面を用いて、様々な画質検査を実行する。
【０００３】
検査対象のディスプレイが表示する検査パターンには、全面を白色表示した白色パターンと、全面を黒色表示した黒色パターンとの２種類がある。検査対象のディスプレイは、パターン発生器と接続され、パターン発生器の切替指示に応じて、白色パターン及び黒色パターンを所定周期毎に切替えて表示する。
【０００４】
また、画質検査装置のカメラは、外光が遮断された暗所内に検査対象のディスプレイが収容されると、その暗所で、ディスプレイ上に画面表示する白色パターン及び黒色パターンの検査パターンを撮像する。そして、画質検査装置は、白色パターン及び黒色パターンを用いて、ディスプレイの画素単位で、例えば、部分異常表示、暗点（線）、輝点（線）、輝度、色ムラ等の各種の画質検査を実行する。
【０００５】
また、画質検査装置が検査パターンを取得する方式としては、例えば、同期方式及び非同期方式の２種類がある。同期方式の場合、画質検査装置は、検査対象のディスプレイと接続するパターン発生器に切替を指示する。更に、パターン発生器は、画質検査装置からの切替指示に応じてディスプレイに検査パターンを画面表示させる。その結果、画質検査装置は、ディスプレイ上の画面の撮像周期と検査パターンの切替周期とが同一となるため、切替指示に応じて、２種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンを取得できる。
【０００６】
しかしながら、同期方式の場合、画質検査装置とパターン発生器との間に、無線アダプタや通信ケーブル等の通信手段を設ける必要があるため、その通信手段に要する設備コストが嵩む。しかも、一般的に、画質検査装置は、検査対象のディスプレイがベルトコンベア上を流れ、その流れ作業の中でディスプレイに対する画質検査を実行する。従って、例えば、ディスプレイと接続されるパターン発生器に対して、通信手段の接続及び取外しに要する作業負担は大である。
【０００７】
これに対して、非同期方式は、画質検査装置がパターン発生器に対してディスプレイの切替表示の指示を与えるものではなく、ディスプレイ側の検査パターンの切替表示と、画質検査装置側のディスプレイの表示画面に対する撮像とが独立で行われる方式である。図１３は、非同期方式の画質検査装置に関わる検査パターンの取得動作の一例を示す説明図である。
【０００８】
図１３において検査対象のディスプレイは、接続するパターン発生器を使用して一定の切替周期毎に、２種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンを切替表示する。尚、白色パターンと黒色パターンとの切替途中には、白色パターン及び黒色パターンが混合する不要なパターンが生じる。また、画質検査装置のカメラは、ディスプレイの表示画面全面が撮像可能な撮像エリア内にディスプレイが存在した場合に、ディスプレイの表示画面を一定の撮像周期で連続撮像することになる。尚、カメラの撮像周期は、効率よく、２種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンが撮像できるように、検査パターンの切替周期及びディスプレイのリフレッシュレートに基づき算出されるものである。図１３の例では、例えば、パターン発生器によるディスプレイの検査パターンの切替表示周期を０．３８秒とした場合、画質検査装置のカメラの撮像周期は０．３３秒としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００８−１５２１８８号公報
【特許文献２】特開２００９−２１２７５７号公報
【特許文献３】特開平５−１７２７５９号公報
【特許文献４】特開２００２−２５０７０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
画質検査装置では、図１３に示すように、一定の撮像周期でディスプレイ上に画面表示した検査パターンを連続撮像する。そして、画質検査装置は、撮像周期で、白色パターン及び黒色パターンは勿論のこと、白色パターンと黒色パターンとの切替途中の不要な画面が撮像されることを考慮すると、少なくとも３枚の画面を撮像することになる。しかしながら、画質検査装置は、白色パターン及び黒色パターンの画面は勿論のこと、本来、不要な切替途中の画面についても画質検査処理を実行してしまう。
【００１１】
その結果、画質検査装置は、不要な切替途中の画面についても画質検査処理を実行するため、白色パターン及び黒色パターンの２枚の画面に対して画質検査処理を実行する場合に比較して、その処理負担が約１．５倍となり、その検査時間も１．５倍長くなる。
【００１２】
一つの側面では、画質検査に必要な画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
一つの方法では、画質検査装置に、検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む。更に、態様では、取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出する。更に、態様では、抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する、各処理を実行させる。
【発明の効果】
【００１４】
開示の方法では、取り込まれた複数の画面の内、外枠の一辺の破線と対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、これら抽出された画面から白画面及び黒画面を選別し、これら選別された白画面及び黒画面に基づき、検査対象の画面に対する検査を実行する。その結果、画質検査に必要な画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１は、本実施例の画質検査装置の一例を示す説明図である。
【図２】図２は、画質検査装置の検査対象のディスプレイの撮像状況の一例を示す説明図である。
【図３】図３は、画質検査装置で撮像した検査パターンの一例を示す説明図である。
【図４】図４は、画質検査装置の一例を示すブロック図である。
【図５】図５は、画質検査装置が破線上辺を抽出する際の一例を示す説明図である。
【図６】図６は、画質検査装置が破線下辺を抽出する際の一例を示す説明図である。
【図７】図７は、画質検査装置が検査パターンを選別する際の一例を示す説明図である。
【図８】図８は、検査処理に関わる画質検査装置の制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図９】図９は、画面抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、破線抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、破線抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、画質検査プログラムを実行するコンピュータの一例を示すブロック図である。
【図１３】図１３は、非同期方式の画質検査装置に関わる検査パターンの取得動作の一例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面に基づいて、本願の開示する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムの実施例を詳細に説明する。
【実施例】
【００１７】
図１は、本実施例の画質検査装置の一例を示す説明図、図２は、画質検査装置の検査対象のディスプレイの撮像状況の一例を示す説明図である。図１に示す画質検査装置１は、製造ラインの検査工程に設置され、非同期方式が採用され、例えば、ベルトコンベア２で搬送されるノートパソコン等の検査対象のディスプレイ３の表示画面を連続撮像する。更に、画質検査装置１は、撮像された画面で画質検査を実行する。
【００１８】
画質検査装置１は、撮像部１１Ａと、制御部１４とを有する。撮像部１１Ａは、検査対象のディスプレイ３の画面の全領域が撮像可能な撮像エリアＱ内に存在する検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像する。尚、画質検査装置１は、ベルトコンベア２に隣接して配置された撮像センサ４を用いて、検査対象のディスプレイ３の表示画面の全領域が撮像可能な撮像エリアＱ内にディスプレイ３が存在することを認識する。撮像エリアＱは、暗所内に配置される。撮像部１１Ａは、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内に存在する時間や、撮像部１１Ａの撮像速度や撮像周期に依存するが、少なくとも２枚以上の画面を連続的に撮像する。尚、撮像エリアＱは、例えば、４９０ｍｍ×３２５ｍｍとする。また、ディスプレイ３の表示画面の１画素は、例えば、０．０９４ｍｍとする。また、説明の便宜上、ディスプレイ３は、例えば、１５．６インチのＬＣＤ（Liquid Crystal Display）とする。
【００１９】
検査対象のディスプレイ３は、図示せぬパターン発生器と接続され、このパターン発生器を用いて白色パターン及び黒色パターンの２種類の検査パターンを一定周期で切替表示する。尚、画質検査装置１は、例えば、検査対象のディスプレイ３と接続するパターン発生器とは非同期である。図３は、画質検査装置１で撮像した検査パターンの一例を示す説明図である。図３に示す撮像画面は、撮像エリアＱ内の暗所でディスプレイ３の表示画面を撮像したものである。撮像画面は、表示画面の背景が黒色の画面となる。従って、ディスプレイ３に画面表示した検査パターンＰには、その背景Ｒと検査パターンＰとの境界を識別するため、その最外周枠に所定間隔の破線模様４０が描画されている。例えば、検査パターンＰが白色パターンＷＰの場合は、図３の（Ａ）に示すように白地ベースに所定間隔の黒色の破線模様４０が描画される。また、黒色パターンＢＰの場合は、図３の（Ｂ）に示すように黒地ベースに同一の所定間隔の白色の破線模様４０が描画される。尚、破線模様４０は、四角枠とし、その上辺を破線上辺４０Ａとし、その下辺を破線下辺４０Ｂとする。また、白色パターンＷＰは、例えば、ディスプレイ３のＲＧＢの設定値で定義した場合、「Ｒ」、「Ｇ」及び「Ｂ」はそれぞれ最大の「２５５」である。これに対して、黒色パターンＢＰは、「Ｒ」、「Ｇ」及び「Ｂ」はそれぞれ最小の「０」である。
【００２０】
また、ベルトコンベア２が、例えば、１４ｍｍ／秒の一定の速度で検査対象のディスプレイ３を搬送する。ディスプレイ３のパターン発生器によるディスプレイ３の検査パターンＰの切替表示周期を０．３８秒とし、画質検査装置１の撮像部１１Ａの撮像周期を０．３３秒とする。
【００２１】
図４は、画質検査装置１の一例を示すブロック図である。図４に示す画質検査装置１は、入力部１１と、表示部１２と、記憶部１３と、制御部１４とを有する。入力部１１は、前述した撮像部１１Ａの他に、キーボード１１Ｂと、マウス１１Ｃとを有する。キーボード１１Ｂ及びマウス１１Ｃは、各種指令等の入力を受け付けるものである。表示部１２は、各種情報を画面表示するものである。
【００２２】
記憶部１３は、各種情報を記憶するものである。記憶部１３は、パラメータ格納領域１３Ａと、輝度格納領域１３Ｂと、白色画素格納領域１３Ｃと、破線候補格納領域１３Ｄと、破線格納領域１３Ｅとを有する。パラメータ格納領域１３Ａは、例えば、検査対象のディスプレイ３の幅寸法、縦寸法や画素数と、撮像部１１Ａの画素分解能（ｍｍ／画素）と、画面上の破線模様４０の所定間隔等の各種パラメータを格納する。尚、パラメータ格納領域１３Ａには、１種類のディスプレイ３だけでなく、複数種のディスプレイ３のパラメータを格納しても良い。
【００２３】
輝度格納領域１３Ｂは、撮像画面毎に、後述する各画素の輝度値を格納するものである。白色画素格納領域１３Ｃは、撮像画面上で抽出した、後述する白色画素の画素座標を格納するものである。破線候補格納領域１３Ｄは、撮像画面上で抽出した、後述する破線候補の白色画素の画素座標を格納するものである。破線格納領域１３Ｅは、撮像画面上で抽出した、後述する破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの白色画素の画素座標を格納するものである。
【００２４】
制御部１４は、画面処理部２０と、演算部３０とを有する。画面処理部２０は、撮像部１１Ａによって撮像された検査対象のディスプレイ３の画面に各種処理を施すものである。画面処理部２０は、取込部２１と、抽出部２２と、選別部２３と、検査部２４とを有する。取込部２１は、撮像部１１Ａによって連続的に撮像された検査対象の撮像画面を取り込む。抽出部２２は、取込部２１によって取り込まれた撮像画面から破線模様４０を抽出する破線抽出部２２Ａを有する。抽出部２２は、取込部２１で取り込まれた撮像画面をグレイスケールに変換し、各画素の輝度値（０〜２５５）を記憶部１３内の輝度格納領域１３Ｂに格納する。更に、抽出部２２は、撮像画面内の各画素の輝度値に二値化処理を施し、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出する。そして、抽出部２２は、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出すると、白色画素の画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納する。
【００２５】
図５は、画質検査装置１が破線上辺４０Ａを抽出する際の一例を示す説明図である。撮像画面の縦軸をＹ、横軸をＸとする。そして、破線模様４０は、例えば、同一Ｙ座標上を連続するＸ座標上の白色画素５個及び黒色画素５個の所定間隔の１ペアの破線が構成され、これら複数のペアで構成される。破線抽出部２２Ａは、取り込まれた撮像画面内の画素から白色の画素を順次抽出する。例えば、破線抽出部２２Ａは、図５の（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、原点座標（Ｘ＝０，Ｙ＝０）を対象画素４１の開始座標に設定し、設定された対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。
【００２６】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない、例えば、黒色画素４１Ｂの場合、その対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントし、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。更に、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合、その対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントする。つまり、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで継続して対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントする。そして、破線抽出部２２Ａは、図５の（Ｂ）に示すように、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合、当該白色画素４１Ａを破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を記憶部１３の破線候補格納領域１３Ｄに格納する。
【００２７】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍに到達した場合、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントし、Ｙ座標を“０”に設定して、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。そして、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントし、Ｙ座標が最大座標Ｍに到達した場合、Ｘ座標を＋１インクリメントするといった一連の動作を繰り返す。
【００２８】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標に対して、破線模様４０の少なくとも１ペア分の白色画素を得るまでＸ座標の＋１インクリメントを継続する。破線抽出部２２Ａは、同一Ｙ座標上のＸ座標上で連続する５個の黒色画素４１Ｂ及び５個の白色画素４１Ａを経て次のペアの白色画素４１Ａを得る設定最大座標までＸ座標のインクリメントを継続する。つまり、破線抽出部２２Ａは、少なくとも１ペア分の５個の白色画素＋１個の白色画素の破線候補が認識できる、Ｘ座標の設定最大座標までのインクリメントを継続する。尚、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が白色パターンの場合、破線模様４０が５個の黒色画素４１Ｂ＋５個の白色画素４１Ａのペアを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。また、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が黒色パターンの場合、破線模様４０が５個の白色画素４１Ａ＋５個の黒色画素４１Ｂのペアを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。
【００２９】
破線抽出部２２Ａは、図５の（Ｃ）に示すように、記憶部１３の破線候補格納領域１３Ｄに格納された破線上辺４０Ａの白色画素４１Ｃの画素座標の内、そのＹ座標が原点座標に最も近接する白色画素４２を抽出する。そして、破線抽出部２２Ａは、これら抽出された白色画素４２で破線上辺４０Ａを特定する。そして、破線抽出部２２Ａは、破線上辺４０Ａを特定すると、その破線上辺４０Ａの白色画素４２を含む１ペア分の画素座標を破線格納領域１３Ｅに格納する。
【００３０】
図６は、画質検査装置１が破線下辺４０Ｂを抽出する際の一例を示す説明図である。破線抽出部２２Ａは、図６の（Ａ）に示すように、所定座標（Ｘ＝０、Ｙ＝Ｍ）を対象画素４１の開始座標に設定し、設定された対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合、その対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントし、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。更に、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合、その対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントする。つまり、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで継続して対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントする。そして、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合、当該白色画素４１Ａを破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する。
【００３１】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標０に到達した場合、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメント、Ｙ座標を最大座標Ｍに設定して、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。そして、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメント、Ｙ座標が最大座標Ｍに到達した場合、Ｘ座標を＋１インクリメントといった一連の動作を繰り返す。
【００３２】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標は破線模様４０の少なくとも１ペア分の５個の白色画素＋次のペアの１個の白色画素を得るまでＸ座標の＋１インクリメントを継続する。破線抽出部２２Ａは、同一Ｙ座標上のＸ座標上で連続する５個の黒色画素４１Ｂ及び５個の白色画素４１Ａを経て次のペアの白色画素４１Ａを得る設定最大座標までＸ座標のインクリメントを継続する。つまり、破線抽出部２２Ａは、少なくとも１ペア＋１個の白色画素の破線候補が認識されるまで、Ｘ座標の設定最大座標までのインクリメントを継続する。尚、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が白色パターンの場合、破線模様４０が５個の黒色画素４１Ｂ＋５個の白色画素４１Ａを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。また、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が黒色パターンの場合、破線模様４０が５個の白色画素４１Ａ＋黒色画素４１Ｂを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。
【００３３】
破線抽出部２２Ａは、図６の（Ｂ）に示すように、破線候補格納領域１３Ｄに格納された破線下辺４０Ｂの白色画素４１Ｃの画素座標の内、そのＹ座標が原点座標に最も遠い白色画素４２を抽出し、これら抽出された白色画素４２で破線下辺４０Ｂを特定する。そして、破線抽出部２２Ａは、破線下辺４０Ｂが特定されると、その破線下辺４０Ｂの白色画素４２を含む１ペア分の画素座標を破線格納領域１３Ｅに格納する。
【００３４】
選別部２３は、抽出部２２によって抽出された破線模様４０を用いて、複数の撮像画面から検査パターンＰを選別する。図７は、画質検査装置１が検査パターンＰを選別する際の一例を示す説明図である。選別部２３は、破線抽出部２２Ａにて特定された破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの同一Ｘ座標同士の画素が一致するか否かを判定する。選別部２３は、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致した場合、図７の（Ａ）に示すように、この撮像画面が検査対象の検査パターンＰと判定する。尚、選別部２３は、破線上辺４０Ａの（Ｘｕｎ，Ｙｕｎ）の画素と、破線下辺４０Ｂの（Ｘｕｎ，Ｙｄｎ）の画素とを比較して一致するか否かを判定する。更に、選別部２３は、破線上辺４０Ａの（Ｘｕｎ＋１，Ｙｕｎ）の画素と、破線下辺４０Ｂの（Ｘｕｎ＋１，Ｙｄｎ）の画素とを比較して一致するか否かを判定する。そして、選別部２３は、破線上辺４０Ａの１ペア分の白色画素４１Ａ及び破線下辺４０Ｂの１ペア分の白色画素４１Ａの内、同一Ｘ座標の画素が全て一致した場合、この撮像画面が検査対象の検査パターンＰと判定する。尚、選別部２３は、破線上辺４０Ａの１ペア分の画素及び破線下辺４０Ｂの１ペア分の画素の内、同一Ｘ座標の画素同士を比較して判定しても良い。
【００３５】
また、選別部２３は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの同一Ｘ座標同士の画素が全て一致しなかった場合、図７の（Ｂ）に示すように、切替途中や障害パターン等の検査対象の検査パターンＰでないと判定する。更に、選別部２３は、複数の撮像画面の内、検査パターンＰが選別されると、これら選別された検査パターンＰ内の中央範囲の画素が白色であるか否かを判定する。選別部２３は、検査パターンＰ内の中央範囲の画素が白色の場合、検査パターンＰを白色パターンＷＰと選別する。更に、選別部２３は、検査パターンＰ内の中央範囲の画素が白色でない場合、検査パターンＰを黒色パターンＢＰと選別する。
【００３６】
検査部２４は、選別部２３によって選別された白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画質検査を実行する。検査部２４は、白色パターンＷＰを使用して、例えば、部分的な表示の異常を示す部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常や左右の歪みの検査を実行する。また、検査部２４は、黒色パターンＢＰを使用して、輝点（輝線）の異常の検査を実行する。また、検査部２４は、白色パターンＷＰの破線模様４０の黒部分につき、黒色パターンＢＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。また、検査部２４は、黒色パターンＢＰの破線模様４０の黒部分につき、白色パターンＷＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。
【００３７】
次に本実施例の画質検査装置１の動作について説明する。図８は、検査処理に関わる画質検査装置１の制御部１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。図８に示す検査処理は、撮像エリアＱ内で検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像し、撮像した画面から２種類の検査パターンＰを選別し、選別された２種類の検査パターンＰを用いて検査対象のディスプレイ３の画質検査を実行する処理である。
【００３８】
図８において制御部１４は、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内にあるか否かを判定する（ステップＳ１１）。制御部１４は、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内にある場合（ステップＳ１１肯定）、撮像部１１Ａを使用して検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像する（ステップＳ１２）。尚、撮像部１１Ａは、撮像エリアＱ内に存在する検査対象のディスプレイ３の画面を所定枚数連続的に撮像する。
【００３９】
制御部１４の抽出部２２は、検査対象の画面を連続撮像すると、後述の図９に示す画面抽出処理を実行する（ステップＳ１３）。制御部１４の選別部２３は、画面抽出処理を実行した後、白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰの２種類の検査パターンＰを取得したか否かを判定する（ステップＳ１４）。制御部１４の検査部２４は、２種類の検査パターンＰを取得した場合（ステップＳ１４肯定）、白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて当該ディスプレイ３の画面を検査する画質検査処理を実行し（ステップＳ１５）、図８に示す処理動作を終了する。
【００４０】
制御部１４は、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内にない場合（ステップＳ１１否定）、図８に示す処理動作を終了する。抽出部２２は、２種類の検査パターンを取得しなかった場合（ステップＳ１４否定）、撮像された検査対象のディスプレイ３の複数の撮像画面の内、画面抽出処理が未処理の撮像画面があるか否かを判定する（ステップＳ１６）。抽出部２２は、画面抽出処理が未処理の撮像画面がある場合（ステップＳ１６肯定）、未処理の撮像画面に対する画面抽出処理を実行すべく、ステップＳ１３に移行する。
【００４１】
また、制御部１４は、画面抽出処理が未処理の撮像画面がない場合（ステップＳ１６否定）、当該検査対象のディスプレイ３の画質検査が不可である旨の画質検査不可を報知し（ステップＳ１７）、図８に示す処理動作を終了する。尚、制御部１４は、例えば表示部１２に画質検査不可の報知内容を画面表示する。その結果、画質検査装置１の管理者は、その報知内容を見て、検査対象のディスプレイ３の画質検査不可を認識できる。
【００４２】
図８において画質検査装置１は、撮像エリアＱ内の検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像し、これら連続した複数の撮像画面の内、白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰの２種類の検査対象となる検査パターンＰを取得する。そして、画質検査装置１は、取得された２種類の検査対象となる検査パターンＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画面の画質検査を実行する。
【００４３】
また、画質検査装置１は、複数の撮像画面の内、２枚の撮像画面で白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを取得できた場合、３枚目以降の未処理の撮像画面に対する検査パターンＰの取得を停止する。その結果、画質検査装置１は、画質検査に要する必要最小限である２枚の撮像画面に対する処理で済むため、その検査に要する処理負担を軽減し、その検査に要する時間を短縮化できる。
【００４４】
また、画質検査装置１は、複数の撮像画面の内、２種類の検査パターンＰを取得できない場合、画質検査不可を報知するため、管理者は、検査対象のディスプレイ３の画質検査不可を認識できる。
【００４５】
図９は、画面抽出処理に関わる制御部１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。図９に示す画面抽出処理は、複数の撮像画面から検査対象となる検査パターンＰの撮像画面を抽出する処理である。図９に示す制御部１４の抽出部２２は、取込部２１で取り込まれた検査対象の撮像画面をグレイスケール（８ビット：０〜２５５）に変換する（ステップＳ２１）。抽出部２２は、撮像画面をグレイスケールに変換した後、撮像画面上の各画素の輝度値を記憶部１３内の輝度格納領域１３Ｂに格納する（ステップＳ２２）。抽出部２２は、撮像画面内の各画素の輝度値を二値化する（ステップＳ２３）。
【００４６】
抽出部２２は、撮像画面内の各画素の輝度値を二値化した後、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出する（ステップＳ２４）。抽出部２２は、抽出した白色の画素の座標を記憶部１３の白色画素格納領域１３Ｃに格納する（ステップＳ２５）。尚、白色画素格納領域１３Ｃには、白色画素の座標（画素座標）を格納するものである。
【００４７】
抽出部２２は、白色画素４１Ａの画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納した後、白色画素４１Ａの座標に基づき、破線模様４０を抽出する破線抽出処理を実行する（ステップＳ２６）。尚、破線抽出処理は、図１０及び図１１を参照して後述する。抽出部２２は、破線抽出処理を実行した後、撮像画面内から破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出したか否かを判定する（ステップＳ２７）。
【００４８】
制御部１４の選別部２３は、撮像画面から破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出した場合（ステップＳ２７肯定）、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致したか否かを判定する（ステップＳ２８）。選別部２３は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致した場合（ステップＳ２８肯定）、検査対象となる検査パターンＰと判定する。選別部２３は、検査対象となる検査パターンＰと判定すると、撮像画面の中央範囲の画素４１が白色であるか否かを判定する（ステップＳ２９）。
【００４９】
選別部２３は、撮像画面の中央範囲の画素４１が白色である場合（ステップＳ２９肯定）、当該撮像画面の検査パターンＰを白色パターンＷＰと判定し（ステップＳ３０）、図９に示す処理動作を終了する。選別部２３は、撮像画面の中央範囲の画素４１が白色でない場合（ステップＳ２９否定）、当該撮像画面の検査パターンＰを黒色パターンＢＰと判定し（ステップＳ３１）、図９に示す処理動作を終了する。
【００５０】
また、抽出部２２は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出しなかった場合（ステップＳ２７否定）、未処理の画面があるか否かを判定すべく、図８に示すＭ１のステップＳ１６に移行する。また、選別部２３は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致しなかった場合（ステップＳ２８否定）、図８に示すＭ１に移行する。
【００５１】
図９において画質検査装置１は、撮像画面の白色画素４１Ａで破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出し、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致した場合、撮像画面が検査対象となる検査パターンＰと判定する。その結果、画質検査装置１は、複数の撮像画面から検査対象となる検査パターンＰを取得できる。
【００５２】
更に、画質検査装置１は、検査パターンＰの中央範囲が白色の場合、検査パターンＰが白色パターンＷＰと判定する。その結果、画質検査装置１は、検査対象となる検査パターンＰから白色パターンＷＰを選別できる。
【００５３】
更に、画質検査装置１は、検査パターンＰの中央範囲が白色でない場合、検査パターンＰが黒色パターンＢＰと判定する。その結果、画質検査装置１は、検査対象となる検査パターンＰから黒色パターンＢＰを選別できる。
【００５４】
画質検査装置１は、抽出された破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致しなかった場合、撮像画面が検査に不要な画面（障害画面や切替途中の画面）と判定する。その結果、画質検査装置１は、複数の撮像画面から検査に不要な画面を識別できる。
【００５５】
図１０及び図１１は、破線抽出処理に関わる制御部１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。破線抽出処理は、撮像画面内の破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定する処理である。図１０において制御部１４の破線抽出部２２Ａは、撮像画面内の検査対象の画素、すなわち原点座標（Ｘ０，Ｙ０）を対象画素４１の開始座標に設定し（ステップＳ４１）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ４２）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ４２否定）、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントし（ステップＳ４３）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ４４）。
【００５６】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ４４否定）、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍであるか否かを判定する（ステップＳ４５）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍでない場合（ステップＳ４５否定）、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４３に移行する。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍの場合（ステップＳ４５肯定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントする（ステップＳ４６）。更に、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標を最小座標（Ｙ＝０）に設定し（ステップＳ４７）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定すべく、ステップＳ４２に移行する。
【００５７】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ４２肯定）、当該白色画素４１Ａを破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する（ステップＳ４８）。破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納すると、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標であるか否かを判定する（ステップＳ４９）。尚、設定最大座標は、パラメータ格納領域１３Ａで格納された検査対象のディスプレイ３の寸法や破線模様４０の設定内容（１ペアを構成する白色画素及び黒色画素の個数及び配列画素順序）に基づいて設定されるものである。設定最大座標は、少なくとも１ペア分の白色画素及び黒色画素、次のペアの白色画素が抽出される予定のＸ座標の幅である。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ４９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４６に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ４４肯定）、破線上辺４０Ａ候補の画面座標を格納すべく、ステップＳ４８に移行する。
【００５８】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標である場合（ステップＳ４９肯定）、破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃの画素座標の内、Ｙ座標が原点座標（Ｙ＝０）に最も近い画素座標を収集する（ステップＳ５０）。破線抽出部２２Ａは、Ｙ座標が原点座標に最も近い破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を収集すると、収集された破線上辺４０Ａ候補の白色画素４２の画素座標で破線上辺４０Ａを特定し（ステップＳ５１）、図１１に示すＭ２に移行する。
【００５９】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍでない場合（ステップＳ４５否定）、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４３に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ４９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４６に移行する。
【００６０】
また、図１１に示すＭ２において破線抽出部２２Ａは、撮像画面内の所定座標（Ｘ＝０，Ｙ＝Ｍ）を対象画素４１の開始座標に設定し（ステップＳ６１）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ６２）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ６２否定）、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントし（ステップＳ６３）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ６４）。
【００６１】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ６４否定）、対象画素４１のＹ座標が最小座標（Ｙ＝０）であるか否かを判定する（ステップＳ６５）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標でない場合（ステップＳ６５否定）、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントすべく、ステップＳ６３に移行する。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標（Ｙ＝０）の場合（ステップＳ６５肯定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントする（ステップＳ６６）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントした後、対象画素４１のＹ座標を最大座標Ｍに設定し（ステップＳ６７）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定すべく、ステップＳ６２に移行する。
【００６２】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ６２肯定）、当該白色画素４１Ａを破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する（ステップＳ６８）。破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納すると、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標であるか否かを判定する（ステップＳ６９）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ６９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ６６に移行する。
【００６３】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標である場合（ステップＳ６９肯定）、破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃの画素座標の内、Ｙ座標が原点座標（Ｙ＝０）に最も遠い画素座標を収集する（ステップＳ７０）。破線抽出部２２Ａは、Ｙ座標が原点座標から最も遠い破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を収集すると、収集された破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４２の画素座標で破線下辺４０Ｂを特定し（ステップＳ７１）、図１１に示す処理動作を終了する。
【００６４】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標（Ｙ＝０）でない場合（ステップＳ６５否定）、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントすべく、ステップＳ６３に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ６９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ６６に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ６４肯定）、破線下辺４０Ｂ候補の画面座標を格納すべく、ステップＳ６８に移行する。
【００６５】
画質検査装置１は、撮像画面内の各画素４１の白色画素４１Ａを順次探索して破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納すると共に、破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する。更に、画質検査装置１は、破線候補格納領域１３Ｄの破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１ＣのＹ座標が原点座標（０，０）から最も近い画素座標の白色画素４２で破線上辺４０Ａを特定する。更に、画質検査装置１は、破線候補格納領域１３Ｄの破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１ＣのＹ座標が原点座標（０，０）から最も遠い画素座標の白色画素４２で破線下辺４０Ｂを特定する。その結果、画質検査装置１は、撮像画面上で破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定できる。
【００６６】
上記実施例では、画質検査装置１が、取り込まれた複数の撮像画面から、外枠の破線上辺４０Ａと破線下辺４０Ｂとが一致した検査パターンＰの撮像画面を抽出し、これら抽出された撮像画面から白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを選別する。更に、画質検査装置１は、これら選別された白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画面に対する画質検査を実行する。その結果、画質検査装置１は、画質検査に要する撮像画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。例えば、３枚の撮像画面を読み込んだとしても、画質検査に必要な白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰの２枚の撮像画面を選別し、２枚の検査パターンＰに対してのみ、画質検査を実行するため、従来の非同期方式に比較して処理負担を約２／３に軽減できる。しかも、従来の非同期方式に比較して処理負担を約２／３に軽減することで、その画質検査に要する時間を約２／３に短縮化できる。
【００６７】
上記実施例の画質検査装置１は、選別された白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画質検査を実行する。画質検査装置１は、白色パターンＷＰを使用して、例えば、部分的な表示の異常を示す部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常や左右の歪みの検査を実行する。また、画質検査装置１は、黒色パターンＢＰを使用して、輝点（輝線）の異常の検査を実行する。更に、画質検査装置１は、白色パターンＷＰの破線模様４０の黒部分につき、黒色パターンＢＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。その結果、画質検査装置１は、白色パターンＷＰの破線模様４０の黒部分に関わる、部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の画質検査を実行できる。
【００６８】
また、画質検査装置１は、黒色パターンＢＰの破線模様４０の黒部分につき、白色パターンＷＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。その結果、画質検査装置１は、黒色パターンＢＰの破線の黒部分に関わる、部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の画質検査を実行できる。
【００６９】
尚、上記実施例では、画質検査装置１と、検査対象のディスプレイ３と外部接続するパターン発生器とが非同期の非同期方式を例に挙げて説明したが、同期方式にも適用可能である。
【００７０】
また、上記実施例では、破線抽出部２２Ａにて撮像画面の各画素の内、原点座標（０，０）や所定座標（０，Ｍ）を開始座標に設定し、白色画素４１Ａを探索して破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定した。しかし、パラメータ格納領域１３Ａに格納されたディスプレイ３の寸法や破線模様４０の白色及び黒色の破線ピッチに基づき、撮像画面の破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを含む画素領域を特定できるため、特定された画素領域内で白色画素を順次探索しても良い。この場合、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定する白色画素４１Ａの抽出に要する時間を短縮化できる。
【００７１】
また、上記実施例では、破線抽出部２２Ａにて破線上辺４０Ａを特定した後、破線下辺４０Ｂを特定したが、破線下辺４０Ｂから特定しても良い。
【００７２】
また、上記実施例では、撮像画面上の画素から白色画素４１Ａを抽出し、白色画素４１Ａの画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納した。しかし、各画素の輝度差が所定閾値、すなわち最大輝度値の５０％以上の場合に、当該画素が破線模様４０の画素候補として画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納しても良い。そして、破線抽出部２２Ａは、破線模様４０の画素候補から白色画素４１を抽出し、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納しても良い。
【００７３】
また、上記実施例では、撮像画面上の破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃ及び破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃを用いて破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定した。しかし、破線模様４０の右辺及び左辺の白色画素４１Ｃを抽出し、これら白色画素４１Ｃを用いて破線模様４０の左辺及び右辺を特定する。更に、特定された破線模様４０の左辺及び右辺に対して９０度の直線で破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定しても良い。
【００７４】
また、上記実施例では、特定された破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを用いて検査対象となる検査パターンＰを選別したが、破線模様４０の右辺及び下辺を特定し、これら特定された破線模様４０の右辺及び左辺を用いて検査パターンＰを選別しても良い。
【００７５】
また、上記実施例では、検査パターンＰの所定の中央範囲が白色画素の場合、白色パターンＷＰと判定した。しかし、検査パターンＰの全画面領域が白色画素の場合、白色パターンＷＰと判定しても良い。また、検査パターンＰの全画面領域の輝度値の平均値を算出し、平均値が所定閾値以上の場合に、検査パターンＰが白色パターンＷＰと判定し、平均値が所定閾値未満の場合に、検査パターンＰが黒色パターンＢＰと判定しても良い。
【００７６】
また、上記実施例の画質検査装置１は、撮像部１１Ａを内蔵したが、撮像部１１Ａを別体とし、外部インタフェースで撮像部１１Ａと接続するようにしても良い。
【００７７】
また、図示した各部の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。
【００７８】
更に、各装置で行われる各種処理機能は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）（又はＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＭＣＵ（Micro Controller Unit）等のマイクロ・コンピュータ）上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良い。また、各種処理機能は、ＣＰＵ（又はＭＰＵ、ＭＣＵ等のマイクロ・コンピュータ）で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。
【００７９】
ところで、本実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、上記実施例と同様の機能を有するプログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図１２は、画質検査プログラムを実行するコンピュータを示す説明図である。
【００８０】
図１２に示す画質検査プログラムを実行するコンピュータ１００では、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）１１０、ＲＡＭ(Random Access Memory)１２０、ＲＯＭ（Read Only Memory）１３０及びＣＰＵ１４０を有する。更に、コンピュータ１００は、操作部１５０、表示部１６０及び通信部１７０を有する。そして、コンピュータ１００は、ＨＤＤ１１０、ＲＡＭ１２０、ＲＯＭ１３０、ＣＰＵ１４０、操作部１５０、表示部１６０及び通信部１７０がバス１８０を介して接続される。
【００８１】
そして、ＨＤＤ１１０には、上記実施例と同様の機能を発揮する画質検査プログラムが予め記憶されている。尚、ＨＤＤ１１０ではなく、ＲＯＭ１３０や、図示せぬドライブでコンピュータ読取可能な記録媒体に画質検査プログラムが記録されていても良い。また、記録媒体としては、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤディスク、ＵＳＢメモリ等の可搬型記録媒体、フラッシュメモリ等の半導体メモリ等でも良い。画質検査プログラムとしては、図１２に示すように、取込プログラム１１０Ａ、抽出プログラム１１０Ｂ、選別プログラム１１０Ｃ及び検査プログラム１１０Ｄである。尚、プログラム１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ及び１１０Ｄについては、図４に示した画質検査装置１の各構成要素と同様、適宜統合又は分散してもよい。
【００８２】
そして、ＣＰＵ１４０が、これらのプログラム１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ及び１１０ＤをＨＤＤ１１０から読み出してＲＡＭ１２０上で実行する。そして、図１２に示すように、各プログラム１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ及び１１０Ｄは、ＲＡＭ１２０上で取込プロセス１２０Ａ、抽出プロセス１２０Ｂ、選別プロセス１２０Ｃ及び検査プロセス１２０Ｄとして機能するようになる。
【００８３】
図示せぬカメラは、検査対象のディスプレイの画面の外枠を黒破線で形成された白色パターンと黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒色パターンとを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像する。そして、ＣＰＵ１４０は、図示せぬ外部インタフェースを用いてカメラから検査対象の複数の画面を取り込む。ＣＰＵ１４０は、取り込まれた複数の画面の内、破線で形成する外枠の破線上辺と当該破線上辺に対向する破線下辺とが一致した画面を抽出する。更に、ＣＰＵ１４０は、抽出した画面から白色パターンと黒色パターンとを選別する。更に、ＣＰＵ１４０は、これら選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、当該検査対象の画面に対する画質検査を実行する。
【００８４】
ＣＰＵ１４０は、取り込まれた複数の画面の内、外枠の破線上辺と破線下辺とが一致した画面を抽出し、これら抽出された画面から白色パターン及び黒色パターンを選別する。更に、ＣＰＵ１４０は、これら選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、検査対象の画面に対する画質検査を実行する。その結果、画質検査に要する画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。
【符号の説明】
【００８５】
１ 画質検査装置
３ ディスプレイ
１１Ａ 撮像部
２１ 取込部
２２ 抽出部
２２Ａ 破線抽出部
２３ 選別部
２４ 検査部
４０ 破線模様
４０Ａ 破線上辺
４０Ｂ 破線下辺
Ｐ 検査パターン
ＷＰ 白色パターン
ＢＰ 黒色パターン
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等のノンインターレース（プログレッシブ）表示方式のディスプレイの画質を検査する方法では、検査対象のディスプレイ上に検査パターンを表示し、検査パターンを画質検査装置と接続されるカメラで撮像する。そして、画質検査装置は、カメラで撮像した検査パターンの画面を用いて、様々な画質検査を実行する。
【０００３】
検査対象のディスプレイが表示する検査パターンには、全面を白色表示した白色パターンと、全面を黒色表示した黒色パターンとの２種類がある。検査対象のディスプレイは、パターン発生器と接続され、パターン発生器の切替指示に応じて、白色パターン及び黒色パターンを所定周期毎に切替えて表示する。
【０００４】
また、画質検査装置のカメラは、外光が遮断された暗所内に検査対象のディスプレイが収容されると、その暗所で、ディスプレイ上に画面表示する白色パターン及び黒色パターンの検査パターンを撮像する。そして、画質検査装置は、白色パターン及び黒色パターンを用いて、ディスプレイの画素単位で、例えば、部分異常表示、暗点（線）、輝点（線）、輝度、色ムラ等の各種の画質検査を実行する。
【０００５】
また、画質検査装置が検査パターンを取得する方式としては、例えば、同期方式及び非同期方式の２種類がある。同期方式の場合、画質検査装置は、検査対象のディスプレイと接続するパターン発生器に切替を指示する。更に、パターン発生器は、画質検査装置からの切替指示に応じてディスプレイに検査パターンを画面表示させる。その結果、画質検査装置は、ディスプレイ上の画面の撮像周期と検査パターンの切替周期とが同一となるため、切替指示に応じて、２種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンを取得できる。
【０００６】
しかしながら、同期方式の場合、画質検査装置とパターン発生器との間に、無線アダプタや通信ケーブル等の通信手段を設ける必要があるため、その通信手段に要する設備コストが嵩む。しかも、一般的に、画質検査装置は、検査対象のディスプレイがベルトコンベア上を流れ、その流れ作業の中でディスプレイに対する画質検査を実行する。従って、例えば、ディスプレイと接続されるパターン発生器に対して、通信手段の接続及び取外しに要する作業負担は大である。
【０００７】
これに対して、非同期方式は、画質検査装置がパターン発生器に対してディスプレイの切替表示の指示を与えるものではなく、ディスプレイ側の検査パターンの切替表示と、画質検査装置側のディスプレイの表示画面に対する撮像とが独立で行われる方式である。図１３は、非同期方式の画質検査装置に関わる検査パターンの取得動作の一例を示す説明図である。
【０００８】
図１３において検査対象のディスプレイは、接続するパターン発生器を使用して一定の切替周期毎に、２種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンを切替表示する。尚、白色パターンと黒色パターンとの切替途中には、白色パターン及び黒色パターンが混合する不要なパターンが生じる。また、画質検査装置のカメラは、ディスプレイの表示画面全面が撮像可能な撮像エリア内にディスプレイが存在した場合に、ディスプレイの表示画面を一定の撮像周期で連続撮像することになる。尚、カメラの撮像周期は、効率よく、２種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンが撮像できるように、検査パターンの切替周期及びディスプレイのリフレッシュレートに基づき算出されるものである。図１３の例では、例えば、パターン発生器によるディスプレイの検査パターンの切替表示周期を０．３８秒とした場合、画質検査装置のカメラの撮像周期は０．３３秒としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００８−１５２１８８号公報
【特許文献２】特開２００９−２１２７５７号公報
【特許文献３】特開平５−１７２７５９号公報
【特許文献４】特開２００２−２５０７０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
画質検査装置では、図１３に示すように、一定の撮像周期でディスプレイ上に画面表示した検査パターンを連続撮像する。そして、画質検査装置は、撮像周期で、白色パターン及び黒色パターンは勿論のこと、白色パターンと黒色パターンとの切替途中の不要な画面が撮像されることを考慮すると、少なくとも３枚の画面を撮像することになる。しかしながら、画質検査装置は、白色パターン及び黒色パターンの画面は勿論のこと、本来、不要な切替途中の画面についても画質検査処理を実行してしまう。
【００１１】
その結果、画質検査装置は、不要な切替途中の画面についても画質検査処理を実行するため、白色パターン及び黒色パターンの２枚の画面に対して画質検査処理を実行する場合に比較して、その処理負担が約１．５倍となり、その検査時間も１．５倍長くなる。
【００１２】
一つの側面では、画質検査に必要な画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
一つの方法では、画質検査装置に、検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む。更に、態様では、取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出する。更に、態様では、抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する、各処理を実行させる。
【発明の効果】
【００１４】
開示の方法では、取り込まれた複数の画面の内、外枠の一辺の破線と対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、これら抽出された画面から白画面及び黒画面を選別し、これら選別された白画面及び黒画面に基づき、検査対象の画面に対する検査を実行する。その結果、画質検査に必要な画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１は、本実施例の画質検査装置の一例を示す説明図である。
【図２】図２は、画質検査装置の検査対象のディスプレイの撮像状況の一例を示す説明図である。
【図３】図３は、画質検査装置で撮像した検査パターンの一例を示す説明図である。
【図４】図４は、画質検査装置の一例を示すブロック図である。
【図５】図５は、画質検査装置が破線上辺を抽出する際の一例を示す説明図である。
【図６】図６は、画質検査装置が破線下辺を抽出する際の一例を示す説明図である。
【図７】図７は、画質検査装置が検査パターンを選別する際の一例を示す説明図である。
【図８】図８は、検査処理に関わる画質検査装置の制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図９】図９は、画面抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、破線抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、破線抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、画質検査プログラムを実行するコンピュータの一例を示すブロック図である。
【図１３】図１３は、非同期方式の画質検査装置に関わる検査パターンの取得動作の一例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面に基づいて、本願の開示する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムの実施例を詳細に説明する。
【実施例】
【００１７】
図１は、本実施例の画質検査装置の一例を示す説明図、図２は、画質検査装置の検査対象のディスプレイの撮像状況の一例を示す説明図である。図１に示す画質検査装置１は、製造ラインの検査工程に設置され、非同期方式が採用され、例えば、ベルトコンベア２で搬送されるノートパソコン等の検査対象のディスプレイ３の表示画面を連続撮像する。更に、画質検査装置１は、撮像された画面で画質検査を実行する。
【００１８】
画質検査装置１は、撮像部１１Ａと、制御部１４とを有する。撮像部１１Ａは、検査対象のディスプレイ３の画面の全領域が撮像可能な撮像エリアＱ内に存在する検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像する。尚、画質検査装置１は、ベルトコンベア２に隣接して配置された撮像センサ４を用いて、検査対象のディスプレイ３の表示画面の全領域が撮像可能な撮像エリアＱ内にディスプレイ３が存在することを認識する。撮像エリアＱは、暗所内に配置される。撮像部１１Ａは、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内に存在する時間や、撮像部１１Ａの撮像速度や撮像周期に依存するが、少なくとも２枚以上の画面を連続的に撮像する。尚、撮像エリアＱは、例えば、４９０ｍｍ×３２５ｍｍとする。また、ディスプレイ３の表示画面の１画素は、例えば、０．０９４ｍｍとする。また、説明の便宜上、ディスプレイ３は、例えば、１５．６インチのＬＣＤ（Liquid Crystal Display）とする。
【００１９】
検査対象のディスプレイ３は、図示せぬパターン発生器と接続され、このパターン発生器を用いて白色パターン及び黒色パターンの２種類の検査パターンを一定周期で切替表示する。尚、画質検査装置１は、例えば、検査対象のディスプレイ３と接続するパターン発生器とは非同期である。図３は、画質検査装置１で撮像した検査パターンの一例を示す説明図である。図３に示す撮像画面は、撮像エリアＱ内の暗所でディスプレイ３の表示画面を撮像したものである。撮像画面は、表示画面の背景が黒色の画面となる。従って、ディスプレイ３に画面表示した検査パターンＰには、その背景Ｒと検査パターンＰとの境界を識別するため、その最外周枠に所定間隔の破線模様４０が描画されている。例えば、検査パターンＰが白色パターンＷＰの場合は、図３の（Ａ）に示すように白地ベースに所定間隔の黒色の破線模様４０が描画される。また、黒色パターンＢＰの場合は、図３の（Ｂ）に示すように黒地ベースに同一の所定間隔の白色の破線模様４０が描画される。尚、破線模様４０は、四角枠とし、その上辺を破線上辺４０Ａとし、その下辺を破線下辺４０Ｂとする。また、白色パターンＷＰは、例えば、ディスプレイ３のＲＧＢの設定値で定義した場合、「Ｒ」、「Ｇ」及び「Ｂ」はそれぞれ最大の「２５５」である。これに対して、黒色パターンＢＰは、「Ｒ」、「Ｇ」及び「Ｂ」はそれぞれ最小の「０」である。
【００２０】
また、ベルトコンベア２が、例えば、１４ｍｍ／秒の一定の速度で検査対象のディスプレイ３を搬送する。ディスプレイ３のパターン発生器によるディスプレイ３の検査パターンＰの切替表示周期を０．３８秒とし、画質検査装置１の撮像部１１Ａの撮像周期を０．３３秒とする。
【００２１】
図４は、画質検査装置１の一例を示すブロック図である。図４に示す画質検査装置１は、入力部１１と、表示部１２と、記憶部１３と、制御部１４とを有する。入力部１１は、前述した撮像部１１Ａの他に、キーボード１１Ｂと、マウス１１Ｃとを有する。キーボード１１Ｂ及びマウス１１Ｃは、各種指令等の入力を受け付けるものである。表示部１２は、各種情報を画面表示するものである。
【００２２】
記憶部１３は、各種情報を記憶するものである。記憶部１３は、パラメータ格納領域１３Ａと、輝度格納領域１３Ｂと、白色画素格納領域１３Ｃと、破線候補格納領域１３Ｄと、破線格納領域１３Ｅとを有する。パラメータ格納領域１３Ａは、例えば、検査対象のディスプレイ３の幅寸法、縦寸法や画素数と、撮像部１１Ａの画素分解能（ｍｍ／画素）と、画面上の破線模様４０の所定間隔等の各種パラメータを格納する。尚、パラメータ格納領域１３Ａには、１種類のディスプレイ３だけでなく、複数種のディスプレイ３のパラメータを格納しても良い。
【００２３】
輝度格納領域１３Ｂは、撮像画面毎に、後述する各画素の輝度値を格納するものである。白色画素格納領域１３Ｃは、撮像画面上で抽出した、後述する白色画素の画素座標を格納するものである。破線候補格納領域１３Ｄは、撮像画面上で抽出した、後述する破線候補の白色画素の画素座標を格納するものである。破線格納領域１３Ｅは、撮像画面上で抽出した、後述する破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの白色画素の画素座標を格納するものである。
【００２４】
制御部１４は、画面処理部２０と、演算部３０とを有する。画面処理部２０は、撮像部１１Ａによって撮像された検査対象のディスプレイ３の画面に各種処理を施すものである。画面処理部２０は、取込部２１と、抽出部２２と、選別部２３と、検査部２４とを有する。取込部２１は、撮像部１１Ａによって連続的に撮像された検査対象の撮像画面を取り込む。抽出部２２は、取込部２１によって取り込まれた撮像画面から破線模様４０を抽出する破線抽出部２２Ａを有する。抽出部２２は、取込部２１で取り込まれた撮像画面をグレイスケールに変換し、各画素の輝度値（０〜２５５）を記憶部１３内の輝度格納領域１３Ｂに格納する。更に、抽出部２２は、撮像画面内の各画素の輝度値に二値化処理を施し、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出する。そして、抽出部２２は、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出すると、白色画素の画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納する。
【００２５】
図５は、画質検査装置１が破線上辺４０Ａを抽出する際の一例を示す説明図である。撮像画面の縦軸をＹ、横軸をＸとする。そして、破線模様４０は、例えば、同一Ｙ座標上を連続するＸ座標上の白色画素５個及び黒色画素５個の所定間隔の１ペアの破線が構成され、これら複数のペアで構成される。破線抽出部２２Ａは、取り込まれた撮像画面内の画素から白色の画素を順次抽出する。例えば、破線抽出部２２Ａは、図５の（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、原点座標（Ｘ＝０，Ｙ＝０）を対象画素４１の開始座標に設定し、設定された対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。
【００２６】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない、例えば、黒色画素４１Ｂの場合、その対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントし、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。更に、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合、その対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントする。つまり、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで継続して対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントする。そして、破線抽出部２２Ａは、図５の（Ｂ）に示すように、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合、当該白色画素４１Ａを破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を記憶部１３の破線候補格納領域１３Ｄに格納する。
【００２７】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍに到達した場合、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントし、Ｙ座標を“０”に設定して、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。そして、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントし、Ｙ座標が最大座標Ｍに到達した場合、Ｘ座標を＋１インクリメントするといった一連の動作を繰り返す。
【００２８】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標に対して、破線模様４０の少なくとも１ペア分の白色画素を得るまでＸ座標の＋１インクリメントを継続する。破線抽出部２２Ａは、同一Ｙ座標上のＸ座標上で連続する５個の黒色画素４１Ｂ及び５個の白色画素４１Ａを経て次のペアの白色画素４１Ａを得る設定最大座標までＸ座標のインクリメントを継続する。つまり、破線抽出部２２Ａは、少なくとも１ペア分の５個の白色画素＋１個の白色画素の破線候補が認識できる、Ｘ座標の設定最大座標までのインクリメントを継続する。尚、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が白色パターンの場合、破線模様４０が５個の黒色画素４１Ｂ＋５個の白色画素４１Ａのペアを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。また、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が黒色パターンの場合、破線模様４０が５個の白色画素４１Ａ＋５個の黒色画素４１Ｂのペアを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。
【００２９】
破線抽出部２２Ａは、図５の（Ｃ）に示すように、記憶部１３の破線候補格納領域１３Ｄに格納された破線上辺４０Ａの白色画素４１Ｃの画素座標の内、そのＹ座標が原点座標に最も近接する白色画素４２を抽出する。そして、破線抽出部２２Ａは、これら抽出された白色画素４２で破線上辺４０Ａを特定する。そして、破線抽出部２２Ａは、破線上辺４０Ａを特定すると、その破線上辺４０Ａの白色画素４２を含む１ペア分の画素座標を破線格納領域１３Ｅに格納する。
【００３０】
図６は、画質検査装置１が破線下辺４０Ｂを抽出する際の一例を示す説明図である。破線抽出部２２Ａは、図６の（Ａ）に示すように、所定座標（Ｘ＝０、Ｙ＝Ｍ）を対象画素４１の開始座標に設定し、設定された対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合、その対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントし、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。更に、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合、その対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントする。つまり、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで継続して対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントする。そして、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合、当該白色画素４１Ａを破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する。
【００３１】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標０に到達した場合、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメント、Ｙ座標を最大座標Ｍに設定して、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する。そして、破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ａが抽出されるまで、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメント、Ｙ座標が最大座標Ｍに到達した場合、Ｘ座標を＋１インクリメントといった一連の動作を繰り返す。
【００３２】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標は破線模様４０の少なくとも１ペア分の５個の白色画素＋次のペアの１個の白色画素を得るまでＸ座標の＋１インクリメントを継続する。破線抽出部２２Ａは、同一Ｙ座標上のＸ座標上で連続する５個の黒色画素４１Ｂ及び５個の白色画素４１Ａを経て次のペアの白色画素４１Ａを得る設定最大座標までＸ座標のインクリメントを継続する。つまり、破線抽出部２２Ａは、少なくとも１ペア＋１個の白色画素の破線候補が認識されるまで、Ｘ座標の設定最大座標までのインクリメントを継続する。尚、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が白色パターンの場合、破線模様４０が５個の黒色画素４１Ｂ＋５個の白色画素４１Ａを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。また、破線抽出部２２Ａは、撮像画面が黒色パターンの場合、破線模様４０が５個の白色画素４１Ａ＋黒色画素４１Ｂを経て次のペアの白色画素４１Ａを得るまでＸ座標のインクリメントを実行する。
【００３３】
破線抽出部２２Ａは、図６の（Ｂ）に示すように、破線候補格納領域１３Ｄに格納された破線下辺４０Ｂの白色画素４１Ｃの画素座標の内、そのＹ座標が原点座標に最も遠い白色画素４２を抽出し、これら抽出された白色画素４２で破線下辺４０Ｂを特定する。そして、破線抽出部２２Ａは、破線下辺４０Ｂが特定されると、その破線下辺４０Ｂの白色画素４２を含む１ペア分の画素座標を破線格納領域１３Ｅに格納する。
【００３４】
選別部２３は、抽出部２２によって抽出された破線模様４０を用いて、複数の撮像画面から検査パターンＰを選別する。図７は、画質検査装置１が検査パターンＰを選別する際の一例を示す説明図である。選別部２３は、破線抽出部２２Ａにて特定された破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの同一Ｘ座標同士の画素が一致するか否かを判定する。選別部２３は、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致した場合、図７の（Ａ）に示すように、この撮像画面が検査対象の検査パターンＰと判定する。尚、選別部２３は、破線上辺４０Ａの（Ｘｕｎ，Ｙｕｎ）の画素と、破線下辺４０Ｂの（Ｘｕｎ，Ｙｄｎ）の画素とを比較して一致するか否かを判定する。更に、選別部２３は、破線上辺４０Ａの（Ｘｕｎ＋１，Ｙｕｎ）の画素と、破線下辺４０Ｂの（Ｘｕｎ＋１，Ｙｄｎ）の画素とを比較して一致するか否かを判定する。そして、選別部２３は、破線上辺４０Ａの１ペア分の白色画素４１Ａ及び破線下辺４０Ｂの１ペア分の白色画素４１Ａの内、同一Ｘ座標の画素が全て一致した場合、この撮像画面が検査対象の検査パターンＰと判定する。尚、選別部２３は、破線上辺４０Ａの１ペア分の画素及び破線下辺４０Ｂの１ペア分の画素の内、同一Ｘ座標の画素同士を比較して判定しても良い。
【００３５】
また、選別部２３は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの同一Ｘ座標同士の画素が全て一致しなかった場合、図７の（Ｂ）に示すように、切替途中や障害パターン等の検査対象の検査パターンＰでないと判定する。更に、選別部２３は、複数の撮像画面の内、検査パターンＰが選別されると、これら選別された検査パターンＰ内の中央範囲の画素が白色であるか否かを判定する。選別部２３は、検査パターンＰ内の中央範囲の画素が白色の場合、検査パターンＰを白色パターンＷＰと選別する。更に、選別部２３は、検査パターンＰ内の中央範囲の画素が白色でない場合、検査パターンＰを黒色パターンＢＰと選別する。
【００３６】
検査部２４は、選別部２３によって選別された白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画質検査を実行する。検査部２４は、白色パターンＷＰを使用して、例えば、部分的な表示の異常を示す部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常や左右の歪みの検査を実行する。また、検査部２４は、黒色パターンＢＰを使用して、輝点（輝線）の異常の検査を実行する。また、検査部２４は、白色パターンＷＰの破線模様４０の黒部分につき、黒色パターンＢＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。また、検査部２４は、黒色パターンＢＰの破線模様４０の黒部分につき、白色パターンＷＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。
【００３７】
次に本実施例の画質検査装置１の動作について説明する。図８は、検査処理に関わる画質検査装置１の制御部１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。図８に示す検査処理は、撮像エリアＱ内で検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像し、撮像した画面から２種類の検査パターンＰを選別し、選別された２種類の検査パターンＰを用いて検査対象のディスプレイ３の画質検査を実行する処理である。
【００３８】
図８において制御部１４は、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内にあるか否かを判定する（ステップＳ１１）。制御部１４は、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内にある場合（ステップＳ１１肯定）、撮像部１１Ａを使用して検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像する（ステップＳ１２）。尚、撮像部１１Ａは、撮像エリアＱ内に存在する検査対象のディスプレイ３の画面を所定枚数連続的に撮像する。
【００３９】
制御部１４の抽出部２２は、検査対象の画面を連続撮像すると、後述の図９に示す画面抽出処理を実行する（ステップＳ１３）。制御部１４の選別部２３は、画面抽出処理を実行した後、白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰの２種類の検査パターンＰを取得したか否かを判定する（ステップＳ１４）。制御部１４の検査部２４は、２種類の検査パターンＰを取得した場合（ステップＳ１４肯定）、白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて当該ディスプレイ３の画面を検査する画質検査処理を実行し（ステップＳ１５）、図８に示す処理動作を終了する。
【００４０】
制御部１４は、検査対象のディスプレイ３が撮像エリアＱ内にない場合（ステップＳ１１否定）、図８に示す処理動作を終了する。抽出部２２は、２種類の検査パターンを取得しなかった場合（ステップＳ１４否定）、撮像された検査対象のディスプレイ３の複数の撮像画面の内、画面抽出処理が未処理の撮像画面があるか否かを判定する（ステップＳ１６）。抽出部２２は、画面抽出処理が未処理の撮像画面がある場合（ステップＳ１６肯定）、未処理の撮像画面に対する画面抽出処理を実行すべく、ステップＳ１３に移行する。
【００４１】
また、制御部１４は、画面抽出処理が未処理の撮像画面がない場合（ステップＳ１６否定）、当該検査対象のディスプレイ３の画質検査が不可である旨の画質検査不可を報知し（ステップＳ１７）、図８に示す処理動作を終了する。尚、制御部１４は、例えば表示部１２に画質検査不可の報知内容を画面表示する。その結果、画質検査装置１の管理者は、その報知内容を見て、検査対象のディスプレイ３の画質検査不可を認識できる。
【００４２】
図８において画質検査装置１は、撮像エリアＱ内の検査対象のディスプレイ３の画面を連続撮像し、これら連続した複数の撮像画面の内、白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰの２種類の検査対象となる検査パターンＰを取得する。そして、画質検査装置１は、取得された２種類の検査対象となる検査パターンＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画面の画質検査を実行する。
【００４３】
また、画質検査装置１は、複数の撮像画面の内、２枚の撮像画面で白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを取得できた場合、３枚目以降の未処理の撮像画面に対する検査パターンＰの取得を停止する。その結果、画質検査装置１は、画質検査に要する必要最小限である２枚の撮像画面に対する処理で済むため、その検査に要する処理負担を軽減し、その検査に要する時間を短縮化できる。
【００４４】
また、画質検査装置１は、複数の撮像画面の内、２種類の検査パターンＰを取得できない場合、画質検査不可を報知するため、管理者は、検査対象のディスプレイ３の画質検査不可を認識できる。
【００４５】
図９は、画面抽出処理に関わる制御部１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。図９に示す画面抽出処理は、複数の撮像画面から検査対象となる検査パターンＰの撮像画面を抽出する処理である。図９に示す制御部１４の抽出部２２は、取込部２１で取り込まれた検査対象の撮像画面をグレイスケール（８ビット：０〜２５５）に変換する（ステップＳ２１）。抽出部２２は、撮像画面をグレイスケールに変換した後、撮像画面上の各画素の輝度値を記憶部１３内の輝度格納領域１３Ｂに格納する（ステップＳ２２）。抽出部２２は、撮像画面内の各画素の輝度値を二値化する（ステップＳ２３）。
【００４６】
抽出部２２は、撮像画面内の各画素の輝度値を二値化した後、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出する（ステップＳ２４）。抽出部２２は、抽出した白色の画素の座標を記憶部１３の白色画素格納領域１３Ｃに格納する（ステップＳ２５）。尚、白色画素格納領域１３Ｃには、白色画素の座標（画素座標）を格納するものである。
【００４７】
抽出部２２は、白色画素４１Ａの画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納した後、白色画素４１Ａの座標に基づき、破線模様４０を抽出する破線抽出処理を実行する（ステップＳ２６）。尚、破線抽出処理は、図１０及び図１１を参照して後述する。抽出部２２は、破線抽出処理を実行した後、撮像画面内から破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出したか否かを判定する（ステップＳ２７）。
【００４８】
制御部１４の選別部２３は、撮像画面から破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出した場合（ステップＳ２７肯定）、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致したか否かを判定する（ステップＳ２８）。選別部２３は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致した場合（ステップＳ２８肯定）、検査対象となる検査パターンＰと判定する。選別部２３は、検査対象となる検査パターンＰと判定すると、撮像画面の中央範囲の画素４１が白色であるか否かを判定する（ステップＳ２９）。
【００４９】
選別部２３は、撮像画面の中央範囲の画素４１が白色である場合（ステップＳ２９肯定）、当該撮像画面の検査パターンＰを白色パターンＷＰと判定し（ステップＳ３０）、図９に示す処理動作を終了する。選別部２３は、撮像画面の中央範囲の画素４１が白色でない場合（ステップＳ２９否定）、当該撮像画面の検査パターンＰを黒色パターンＢＰと判定し（ステップＳ３１）、図９に示す処理動作を終了する。
【００５０】
また、抽出部２２は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出しなかった場合（ステップＳ２７否定）、未処理の画面があるか否かを判定すべく、図８に示すＭ１のステップＳ１６に移行する。また、選別部２３は、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致しなかった場合（ステップＳ２８否定）、図８に示すＭ１に移行する。
【００５１】
図９において画質検査装置１は、撮像画面の白色画素４１Ａで破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを抽出し、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致した場合、撮像画面が検査対象となる検査パターンＰと判定する。その結果、画質検査装置１は、複数の撮像画面から検査対象となる検査パターンＰを取得できる。
【００５２】
更に、画質検査装置１は、検査パターンＰの中央範囲が白色の場合、検査パターンＰが白色パターンＷＰと判定する。その結果、画質検査装置１は、検査対象となる検査パターンＰから白色パターンＷＰを選別できる。
【００５３】
更に、画質検査装置１は、検査パターンＰの中央範囲が白色でない場合、検査パターンＰが黒色パターンＢＰと判定する。その結果、画質検査装置１は、検査対象となる検査パターンＰから黒色パターンＢＰを選別できる。
【００５４】
画質検査装置１は、抽出された破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素の内、同一Ｘ座標同士の画素が全て一致しなかった場合、撮像画面が検査に不要な画面（障害画面や切替途中の画面）と判定する。その結果、画質検査装置１は、複数の撮像画面から検査に不要な画面を識別できる。
【００５５】
図１０及び図１１は、破線抽出処理に関わる制御部１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。破線抽出処理は、撮像画面内の破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定する処理である。図１０において制御部１４の破線抽出部２２Ａは、撮像画面内の検査対象の画素、すなわち原点座標（Ｘ０，Ｙ０）を対象画素４１の開始座標に設定し（ステップＳ４１）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ４２）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ４２否定）、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントし（ステップＳ４３）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ４４）。
【００５６】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ４４否定）、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍであるか否かを判定する（ステップＳ４５）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍでない場合（ステップＳ４５否定）、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４３に移行する。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍの場合（ステップＳ４５肯定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントする（ステップＳ４６）。更に、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標を最小座標（Ｙ＝０）に設定し（ステップＳ４７）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定すべく、ステップＳ４２に移行する。
【００５７】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ４２肯定）、当該白色画素４１Ａを破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する（ステップＳ４８）。破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納すると、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標であるか否かを判定する（ステップＳ４９）。尚、設定最大座標は、パラメータ格納領域１３Ａで格納された検査対象のディスプレイ３の寸法や破線模様４０の設定内容（１ペアを構成する白色画素及び黒色画素の個数及び配列画素順序）に基づいて設定されるものである。設定最大座標は、少なくとも１ペア分の白色画素及び黒色画素、次のペアの白色画素が抽出される予定のＸ座標の幅である。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ４９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４６に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ４４肯定）、破線上辺４０Ａ候補の画面座標を格納すべく、ステップＳ４８に移行する。
【００５８】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標である場合（ステップＳ４９肯定）、破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃの画素座標の内、Ｙ座標が原点座標（Ｙ＝０）に最も近い画素座標を収集する（ステップＳ５０）。破線抽出部２２Ａは、Ｙ座標が原点座標に最も近い破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を収集すると、収集された破線上辺４０Ａ候補の白色画素４２の画素座標で破線上辺４０Ａを特定し（ステップＳ５１）、図１１に示すＭ２に移行する。
【００５９】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最大座標Ｍでない場合（ステップＳ４５否定）、対象画素４１のＹ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４３に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ４９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ４６に移行する。
【００６０】
また、図１１に示すＭ２において破線抽出部２２Ａは、撮像画面内の所定座標（Ｘ＝０，Ｙ＝Ｍ）を対象画素４１の開始座標に設定し（ステップＳ６１）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ６２）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ６２否定）、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントし（ステップＳ６３）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定する（ステップＳ６４）。
【００６１】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａでない場合（ステップＳ６４否定）、対象画素４１のＹ座標が最小座標（Ｙ＝０）であるか否かを判定する（ステップＳ６５）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標でない場合（ステップＳ６５否定）、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントすべく、ステップＳ６３に移行する。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標（Ｙ＝０）の場合（ステップＳ６５肯定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントする（ステップＳ６６）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントした後、対象画素４１のＹ座標を最大座標Ｍに設定し（ステップＳ６７）、対象画素４１が白色画素４１Ａであるか否かを判定すべく、ステップＳ６２に移行する。
【００６２】
破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ６２肯定）、当該白色画素４１Ａを破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃとして、その画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する（ステップＳ６８）。破線抽出部２２Ａは、白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納すると、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標であるか否かを判定する（ステップＳ６９）。破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ６９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ６６に移行する。
【００６３】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標である場合（ステップＳ６９肯定）、破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃの画素座標の内、Ｙ座標が原点座標（Ｙ＝０）に最も遠い画素座標を収集する（ステップＳ７０）。破線抽出部２２Ａは、Ｙ座標が原点座標から最も遠い破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を収集すると、収集された破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４２の画素座標で破線下辺４０Ｂを特定し（ステップＳ７１）、図１１に示す処理動作を終了する。
【００６４】
また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＹ座標が最小座標（Ｙ＝０）でない場合（ステップＳ６５否定）、対象画素４１のＹ座標を−１デクリメントすべく、ステップＳ６３に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１のＸ座標が設定最大座標でない場合（ステップＳ６９否定）、対象画素４１のＸ座標を＋１インクリメントすべく、ステップＳ６６に移行する。また、破線抽出部２２Ａは、対象画素４１が白色画素４１Ａの場合（ステップＳ６４肯定）、破線下辺４０Ｂ候補の画面座標を格納すべく、ステップＳ６８に移行する。
【００６５】
画質検査装置１は、撮像画面内の各画素４１の白色画素４１Ａを順次探索して破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納すると共に、破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納する。更に、画質検査装置１は、破線候補格納領域１３Ｄの破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１ＣのＹ座標が原点座標（０，０）から最も近い画素座標の白色画素４２で破線上辺４０Ａを特定する。更に、画質検査装置１は、破線候補格納領域１３Ｄの破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１ＣのＹ座標が原点座標（０，０）から最も遠い画素座標の白色画素４２で破線下辺４０Ｂを特定する。その結果、画質検査装置１は、撮像画面上で破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定できる。
【００６６】
上記実施例では、画質検査装置１が、取り込まれた複数の撮像画面から、外枠の破線上辺４０Ａと破線下辺４０Ｂとが一致した検査パターンＰの撮像画面を抽出し、これら抽出された撮像画面から白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを選別する。更に、画質検査装置１は、これら選別された白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画面に対する画質検査を実行する。その結果、画質検査装置１は、画質検査に要する撮像画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。例えば、３枚の撮像画面を読み込んだとしても、画質検査に必要な白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰの２枚の撮像画面を選別し、２枚の検査パターンＰに対してのみ、画質検査を実行するため、従来の非同期方式に比較して処理負担を約２／３に軽減できる。しかも、従来の非同期方式に比較して処理負担を約２／３に軽減することで、その画質検査に要する時間を約２／３に短縮化できる。
【００６７】
上記実施例の画質検査装置１は、選別された白色パターンＷＰ及び黒色パターンＢＰを用いて、検査対象のディスプレイ３の画質検査を実行する。画質検査装置１は、白色パターンＷＰを使用して、例えば、部分的な表示の異常を示す部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常や左右の歪みの検査を実行する。また、画質検査装置１は、黒色パターンＢＰを使用して、輝点（輝線）の異常の検査を実行する。更に、画質検査装置１は、白色パターンＷＰの破線模様４０の黒部分につき、黒色パターンＢＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。その結果、画質検査装置１は、白色パターンＷＰの破線模様４０の黒部分に関わる、部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の画質検査を実行できる。
【００６８】
また、画質検査装置１は、黒色パターンＢＰの破線模様４０の黒部分につき、白色パターンＷＰの破線模様４０の白部分を使用して部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。その結果、画質検査装置１は、黒色パターンＢＰの破線の黒部分に関わる、部分表示異常、暗点（暗線）の異常、輝度の異常、色ムラの異常の画質検査を実行できる。
【００６９】
尚、上記実施例では、画質検査装置１と、検査対象のディスプレイ３と外部接続するパターン発生器とが非同期の非同期方式を例に挙げて説明したが、同期方式にも適用可能である。
【００７０】
また、上記実施例では、破線抽出部２２Ａにて撮像画面の各画素の内、原点座標（０，０）や所定座標（０，Ｍ）を開始座標に設定し、白色画素４１Ａを探索して破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定した。しかし、パラメータ格納領域１３Ａに格納されたディスプレイ３の寸法や破線模様４０の白色及び黒色の破線ピッチに基づき、撮像画面の破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを含む画素領域を特定できるため、特定された画素領域内で白色画素を順次探索しても良い。この場合、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定する白色画素４１Ａの抽出に要する時間を短縮化できる。
【００７１】
また、上記実施例では、破線抽出部２２Ａにて破線上辺４０Ａを特定した後、破線下辺４０Ｂを特定したが、破線下辺４０Ｂから特定しても良い。
【００７２】
また、上記実施例では、撮像画面上の画素から白色画素４１Ａを抽出し、白色画素４１Ａの画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納した。しかし、各画素の輝度差が所定閾値、すなわち最大輝度値の５０％以上の場合に、当該画素が破線模様４０の画素候補として画素座標を白色画素格納領域１３Ｃに格納しても良い。そして、破線抽出部２２Ａは、破線模様４０の画素候補から白色画素４１を抽出し、破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂの画素座標を破線候補格納領域１３Ｄに格納しても良い。
【００７３】
また、上記実施例では、撮像画面上の破線上辺４０Ａ候補の白色画素４１Ｃ及び破線下辺４０Ｂ候補の白色画素４１Ｃを用いて破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定した。しかし、破線模様４０の右辺及び左辺の白色画素４１Ｃを抽出し、これら白色画素４１Ｃを用いて破線模様４０の左辺及び右辺を特定する。更に、特定された破線模様４０の左辺及び右辺に対して９０度の直線で破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを特定しても良い。
【００７４】
また、上記実施例では、特定された破線上辺４０Ａ及び破線下辺４０Ｂを用いて検査対象となる検査パターンＰを選別したが、破線模様４０の右辺及び下辺を特定し、これら特定された破線模様４０の右辺及び左辺を用いて検査パターンＰを選別しても良い。
【００７５】
また、上記実施例では、検査パターンＰの所定の中央範囲が白色画素の場合、白色パターンＷＰと判定した。しかし、検査パターンＰの全画面領域が白色画素の場合、白色パターンＷＰと判定しても良い。また、検査パターンＰの全画面領域の輝度値の平均値を算出し、平均値が所定閾値以上の場合に、検査パターンＰが白色パターンＷＰと判定し、平均値が所定閾値未満の場合に、検査パターンＰが黒色パターンＢＰと判定しても良い。
【００７６】
また、上記実施例の画質検査装置１は、撮像部１１Ａを内蔵したが、撮像部１１Ａを別体とし、外部インタフェースで撮像部１１Ａと接続するようにしても良い。
【００７７】
また、図示した各部の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。
【００７８】
更に、各装置で行われる各種処理機能は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）（又はＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＭＣＵ（Micro Controller Unit）等のマイクロ・コンピュータ）上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良い。また、各種処理機能は、ＣＰＵ（又はＭＰＵ、ＭＣＵ等のマイクロ・コンピュータ）で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。
【００７９】
ところで、本実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、上記実施例と同様の機能を有するプログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図１２は、画質検査プログラムを実行するコンピュータを示す説明図である。
【００８０】
図１２に示す画質検査プログラムを実行するコンピュータ１００では、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）１１０、ＲＡＭ(Random Access Memory)１２０、ＲＯＭ（Read Only Memory）１３０及びＣＰＵ１４０を有する。更に、コンピュータ１００は、操作部１５０、表示部１６０及び通信部１７０を有する。そして、コンピュータ１００は、ＨＤＤ１１０、ＲＡＭ１２０、ＲＯＭ１３０、ＣＰＵ１４０、操作部１５０、表示部１６０及び通信部１７０がバス１８０を介して接続される。
【００８１】
そして、ＨＤＤ１１０には、上記実施例と同様の機能を発揮する画質検査プログラムが予め記憶されている。尚、ＨＤＤ１１０ではなく、ＲＯＭ１３０や、図示せぬドライブでコンピュータ読取可能な記録媒体に画質検査プログラムが記録されていても良い。また、記録媒体としては、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤディスク、ＵＳＢメモリ等の可搬型記録媒体、フラッシュメモリ等の半導体メモリ等でも良い。画質検査プログラムとしては、図１２に示すように、取込プログラム１１０Ａ、抽出プログラム１１０Ｂ、選別プログラム１１０Ｃ及び検査プログラム１１０Ｄである。尚、プログラム１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ及び１１０Ｄについては、図４に示した画質検査装置１の各構成要素と同様、適宜統合又は分散してもよい。
【００８２】
そして、ＣＰＵ１４０が、これらのプログラム１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ及び１１０ＤをＨＤＤ１１０から読み出してＲＡＭ１２０上で実行する。そして、図１２に示すように、各プログラム１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ及び１１０Ｄは、ＲＡＭ１２０上で取込プロセス１２０Ａ、抽出プロセス１２０Ｂ、選別プロセス１２０Ｃ及び検査プロセス１２０Ｄとして機能するようになる。
【００８３】
図示せぬカメラは、検査対象のディスプレイの画面の外枠を黒破線で形成された白色パターンと黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒色パターンとを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像する。そして、ＣＰＵ１４０は、図示せぬ外部インタフェースを用いてカメラから検査対象の複数の画面を取り込む。ＣＰＵ１４０は、取り込まれた複数の画面の内、破線で形成する外枠の破線上辺と当該破線上辺に対向する破線下辺とが一致した画面を抽出する。更に、ＣＰＵ１４０は、抽出した画面から白色パターンと黒色パターンとを選別する。更に、ＣＰＵ１４０は、これら選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、当該検査対象の画面に対する画質検査を実行する。
【００８４】
ＣＰＵ１４０は、取り込まれた複数の画面の内、外枠の破線上辺と破線下辺とが一致した画面を抽出し、これら抽出された画面から白色パターン及び黒色パターンを選別する。更に、ＣＰＵ１４０は、これら選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、検査対象の画面に対する画質検査を実行する。その結果、画質検査に要する画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。
【符号の説明】
【００８５】
１ 画質検査装置
３ ディスプレイ
１１Ａ 撮像部
２１ 取込部
２２ 抽出部
２２Ａ 破線抽出部
２３ 選別部
２４ 検査部
４０ 破線模様
４０Ａ 破線上辺
４０Ｂ 破線下辺
Ｐ 検査パターン
ＷＰ 白色パターン
ＢＰ 黒色パターン
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画質検査装置に、
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込み、
取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、
抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、
これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する
各処理を実行させることを特徴とする画質検査方法。
【請求項２】
前記検査対象の画面に対する検査を実行する処理は、
前記黒画面の前記白破線の白部分の画素に基づき、前記白画面の前記黒破線の黒部分に対する検査を実行すると共に、前記白画面の前記黒破線の白部分の画素に基づき、前記黒画面の前記白破線の黒部分に対する検査を実行することを特徴とする請求項１に記載の画質検査方法。
【請求項３】
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む取込部と、
前記取込部によって取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出する抽出部と、
前記抽出部によって抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別する選別部と、
前記選別部によって選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する検査部と
を有することを特徴とする画質検査装置。
【請求項４】
検査対象の画面に対する検査をコンピュータに実行させる画質検査プログラムであって、
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込み、
取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、
抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、
これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する
各処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする画質検査プログラム。
【請求項１】
画質検査装置に、
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込み、
取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、
抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、
これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する
各処理を実行させることを特徴とする画質検査方法。
【請求項２】
前記検査対象の画面に対する検査を実行する処理は、
前記黒画面の前記白破線の白部分の画素に基づき、前記白画面の前記黒破線の黒部分に対する検査を実行すると共に、前記白画面の前記黒破線の白部分の画素に基づき、前記黒画面の前記白破線の黒部分に対する検査を実行することを特徴とする請求項１に記載の画質検査方法。
【請求項３】
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む取込部と、
前記取込部によって取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出する抽出部と、
前記抽出部によって抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別する選別部と、
前記選別部によって選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する検査部と
を有することを特徴とする画質検査装置。
【請求項４】
検査対象の画面に対する検査をコンピュータに実行させる画質検査プログラムであって、
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込み、
取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、
抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、
これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する
各処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする画質検査プログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２０１３−７２７２５（Ｐ２０１３−７２７２５Ａ）
【公開日】平成２５年４月２２日（２０１３．４．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２１１３８５（Ｐ２０１１−２１１３８５）
【出願日】平成２３年９月２７日（２０１１．９．２７）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月２２日（２０１３．４．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月２７日（２０１１．９．２７）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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