眼科検査装置
【課題】加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する情報が得られる。
【解決手段】被検者眼Ｅを加圧する加圧手段１０と、加圧手段によって加圧された眼の眼底Ｅｆに関連する第１信号を検出するための眼底信号検出手段１００と、を備える。制御部は、眼底信号検出手段１００によって検出された第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する。眼底信号検出手段には、例えば、光干渉計が用いられる。
【解決手段】被検者眼Ｅを加圧する加圧手段１０と、加圧手段によって加圧された眼の眼底Ｅｆに関連する第１信号を検出するための眼底信号検出手段１００と、を備える。制御部は、眼底信号検出手段１００によって検出された第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する。眼底信号検出手段には、例えば、光干渉計が用いられる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検者眼を検査する眼科検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
眼科検査装置の一つである眼圧計は、眼圧を検査する。そして、測定された眼圧は、緑内障の診断などに用いられる。
【０００３】
非接触式眼圧計は、ノズルから角膜に向けて流体を噴射したときの角膜の変形状態を検出することにより眼圧を非接触にて測定する。特許文献１の眼圧計は、角膜の変形状態を観察及び記録する観察システムを有し、変形していない及び/又は変形している角膜の画像を記録する。ただし、このような装置であっても、眼内の状態を観察するという点では改善の余地がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−２３１０５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記点を改善する新規の眼科検査装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
被検者眼を加圧する加圧手段と、
加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する第１信号を検出するための眼底信号検出手段と、を備える。さらに、前記眼底信号検出手段によって検出された前記第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する計測手段を備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する情報が得られる。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る眼科検査装置の具体例を示す概略図である。図２は角膜の変形状態を検出する光学系の具体例を示す図であって、ノズル付近の光学系を上方より見た図である。図３は制御系の具体例を示すブロック図である。なお、図１中におけるＸ方向は左右方向、Ｙ方向は上下方向、Ｚ方向は前後方向を表す。以下の測定系及び光学系は、図示無き筐体に内蔵されている。また、その筐体は、周知のアライメント用移動機構により、被検者眼Ｅに対して三次元的に移動されてもよい。また、手持ちタイプ（ハンディタイプ）であってもよい。
【００１０】
本実施形態に係る眼科検査装置の概略について説明する。本装置は、例えば、加圧ユニット１０、眼底検出系１００、角膜検出系２００（図２参照）、を含む。
【００１１】
加圧ユニット１０は、眼Ｅを加圧する。加圧ユニット１０として、例えば、図１に図示された空気圧縮機構の他、超音波を角膜Ｅｃに向けて発するトランスデューサ、など加圧ユニットが用いられる。加圧する方向は、例えば、眼軸方向、眼軸に対して傾斜する方向である。なお、加圧ユニット１０は、角膜Ｅｃを変形させる程度の圧力を眼Ｅに対して加える構成が好ましい。その他、角膜Ｅｃがわずかに振動する程度に微弱な圧力を眼Ｅに対して加える構成であってもよい。
【００１２】
眼底検出系１００は、加圧ユニット１０によって加圧された眼の眼底に関連する第１信号を検出するために設けられている。眼底検出系１００は、例えば、第１信号を経時的に検出する。眼底検出系１００として、好ましくは、図１に図示されるように、眼底から反射された光と他の光との干渉状態を検出する干渉光学系１００ａが用いられる。
【００１３】
干渉光学系（光干渉計）１００ａは、光源１０２、光分割器（例えば、図示されたカップラー１０４）、検出器１２０を含む。干渉光学系１００ａは、光源１０２から出射された光を光分割器によって分割し、分割された光の少なくとも一方を眼Ｅに照射する。そして、眼底から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器１２０にて検出する。検出器１２０から出力信号に基づいて眼底Ｅｆの状態が検出される。
【００１４】
例えば、深さ方向における眼底の位置が検出される。これにより、角膜に力が加えられるとき、眼底の位置が検出される。また、高い精度にて眼底の状態が検出される。なお、ドップラー干渉計として眼底の位置変化に関する速度（例えば、眼底の変形の応答速度）を検出しても良い。
【００１５】
干渉光学系１００ａは、例えば、眼によって反射された光と，装置内で形成された参照光と、の間の干渉状態を検出する。干渉光学系１００ａは、眼によって反射された２つの光（例えば、角膜反射と眼底反射）の間の干渉状態を検出する構成であってもよい。
【００１６】
干渉光学系１００ａは、眼底Ｅｆのある一点上に関する干渉信号を検出する干渉計であってもよいし、眼底の横断方向に関する複数の干渉信号を検出する干渉計であってもよい。また、干渉光学系１００ａは、眼底の検出に加えて、角膜の状態を検出するようにしてもよい。さらに、干渉光学系１００ａは、眼Ｅの眼軸長を計測する干渉光学系であってもよい。
【００１７】
なお、眼底検出系１００には、光検出器に限定されず、Ｘ線、磁気などの検出波を送受信することにより眼底Ｅｆの情報を得る構成が用いられる。角膜が加圧されるとき、眼の深さ方向に関して力が働くので、眼底検出系１００は、深さ方向に関する眼底の変化（例えば、位置の変化、変化の速度）を検出できるデバイスであることが好ましい。
【００１８】
角膜検出系２００は、加圧ユニット１０によって加圧された眼Ｅの角膜Ｅｃに関連する第２信号を検出するために設けられている。角膜検出系２００として、例えば、図２に図示された光学系の他、角膜断面像を撮像する撮像ユニット（例えば、シャインプルーフカメラ、ＯＣＴ、スリットランプ）などの光検出器が用いられる。そして、光検出器からの検出信号に基づいて、加圧される角膜Ｅｃの状態が検出される。なお、角膜検出系２００には、光検出器に限定されず、Ｘ線、磁気エネルギーなどの放射体を送受信することにより角膜Ｅｃの情報を得る構成が用いられる。
【００１９】
なお、第１信号の検出と第２信号の検出は、同じ検出系によって実行されてもよい。例えば、干渉光学系１００ａは、第１信号の検出と第２信号の検出を兼用してもよい。干渉光学系１００ａは、角膜から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する。
【００２０】
制御部８０（図３参照）は、加圧ユニット１０、眼底検出系１００、角膜検出系２００を制御する。制御部８０は、眼底検出系１００によって検出された第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する。制御部８０は、眼底検出系１００によって検出された第１信号と角膜検出系２００によって検出された第２信号とを用いて、眼内圧、眼全体の硬さの少なくともいずれかを計測しても良い。制御部８０は、加圧された眼の応答結果を用いて眼の特性を検査する。本装置は、例えば、眼圧計、眼の硬さ計、眼底の硬さ計、眼軸長測定器の少なくともいずれかの装置として利用される。
【００２１】
例えば、眼底検出系１００は、角膜が加圧されている間の眼底Ｅｆの状態を観察できる。また、眼底検出系１００は、角膜が加圧される前、又は角膜が加圧された後の眼底の状態を観察できる。眼底検出系１００は、角膜への加圧に関連した眼底の評価に利用される。
【００２２】
角膜が加圧されたときに生じる波は、前房、水晶体、硝子体などの眼内媒質を伝搬した後、眼底に到達する。したがって、眼底検出系１００は、このような波を受けた眼底の状態を観察できる。
【００２３】
これによれば、角膜が加圧されたときに生じる波を受けた眼底の状態と，眼内圧との関係が評価される。また、眼内圧に起因する眼内物質の硬さをより考慮した評価が可能となる。例えば、眼内圧が高い場合、圧縮によって眼内物質が硬くなり、波は眼底に伝達やすい。このため、眼底の変形量が大きい。一方、眼内圧が低い場合、眼内物質は柔らかく、波は眼底に伝達されにくい。このため、眼底の変形量が小さくなる。ここで、角膜に圧力が加えられたときの眼底の変化は、眼内圧が影響するから、眼底の状態を観察することによって、眼全体の圧力を考慮した眼圧測定が可能となる。
【００２４】
また、加圧された眼の眼底の状態を観察することによって、眼底の硬さ（例えば、眼底側強膜の硬さ）に関する評価が可能となる。例えば、眼底側強膜が硬い場合、眼底の変形量が小さい。一方、眼底側強膜が柔らかい場合、眼底の変形量が大きい。なお、眼内圧と眼底の硬さに関する評価を総合的に行うことも可能である。
【００２５】
上記のような眼内圧、眼底の硬さに関する評価は、強度近視や緑内障などの症例に関する診断に利用できる可能性がある。例えば、眼底が柔らかければ、長眼軸長化しやすく、緑内障になりやすい可能性がある。
【００２６】
また、眼底検出系１００は、力が加えられた眼Ｅの眼球の位置を観察できる。眼底検出系１００は、角膜への加圧に関連した眼球の移動を評価するために利用される。例えば、角膜Ｅｃへ力が加えられたとき、深さ方向における眼球の移動は、前述のように角膜Ｅｃの状態を検出する際に影響を及ぼす可能性がある。また、角膜が振動していなくても、眼球の振動を角膜の振動と誤る可能性がある。したがって、眼底検出系１００は、これらの問題の克服に利用される。
【００２７】
以下に、例えば、加圧ユニット１０として空気圧縮機構、角膜検出系２００として斜入射検出光学系及び干渉光学系１００ａ、眼底検出系として干渉光学系１００ａを適用させた場合の実施形態の一例について説明する。
【００２８】
＜非接触式角膜加圧ユニット＞ １は空気圧縮用のシリンダ部、２はピストンであり、これらは被検眼に噴出する空気を圧縮する空気圧縮機構として用いられる。３はロータリソレノイドであり、ロータリソレノイド３（以下、ソレノイド３として説明する）は駆動電流が付与されると、アーム４、コネクティングロッド（ピストンロッド）５を介してピストン２を圧縮方向（矢印Ａ方向）に移動させる。ピストン２の移動によりシリンダ部１内の空気圧縮室３４で圧縮された空気は、シリンダ１の先端に連結されるチューブ（パイプでもよい）７０、圧縮された空気を収容する気密室７１を介して、ノズル６から被検者眼Ｅの角膜に向けて噴出される。なお、シリンダ部１は水平面（ＸＺ面）に対して平行に配置されており、ソレノイド３の駆動によってピストン２がシリンダ部１内で水平に移動されることにより空気の圧縮が行われる。
【００２９】
例えば、シリンダ部１はその長手方向が水平方向と平行に配置され、シリンダ部１の内面はピストン２をガイドする。このため、ピストン２の移動方向（圧縮方向）は、水平方向となる。なお、上記各構成部材は、装置本体の筐体内に設けられたステージ上にそれぞれ配置されている（図示省略）。
【００３０】
また、ソレノイド３には図示なきコイルバネが備えられており、付与される電流がカット又は減じられると、コイルバネの戻り方向への付勢力により、圧縮方向に移動されたピストン２が戻り方向（矢印Ａの反対方向）に移動されて初期位置に戻される。また、本実施形態では、ノズル６の軸線の上方に空気圧縮機構が配置された構成（ノズル６の軸線を外した構成）となっているため、シリンダ部１まで涙等が吸込まれる可能性は少ない。
【００３１】
８は透明なガラス板であり、ノズル６を保持するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。また、ガラス板８は気密室７１を構成する壁の一部として用いられる。９はノズル６の背面に設けられた透明なガラス板であり、気密室７１の後壁を構成するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。ガラス板９の背後には、観察・アライメント光学系１１がその観察光軸及びアライメント光軸と、ノズル６の軸線が同軸になるように配置されているが、本発明とは関連が少ないため、説明は省略する。
【００３２】
１２は気密室７１の圧力を検出する圧力センサ、１３はエア抜き穴である。エア抜き穴１３により、ピストン２に初速が付くまでの間の抵抗が減少され、時間に比例的な立ち上がりの圧力変化を得ることができる。
【００３３】
＜角膜検出系＞ １４は角膜変形検出用の赤外ＬＥＤ（図２参照）であり、ＬＥＤ１４を出射した光はコリメ−タレンズ１５により平行光束とされて被検眼の角膜に投光される。角膜で反射した光は受光レンズ１６、ピンホ−ル板１７を通過して受光素子である光検出器１８に受光される。なお、角膜変形検出用の光学系は、被検眼が所定の変形状態（例えば、圧平状態）のときに光検出器１８の受光量が最大となるように配置されている。すなわち、本角膜検出系は、角膜に指標を投光し、その反射光を受光することによって角膜の変形状態を検出する。
【００３４】
＜干渉光学系＞ 図１に戻る。干渉光学系１００ａは、眼底に測定光を照射する。干渉光学系１００ａは、眼底によって反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子（検出器１２０）によって検出する。干渉光学系１００ａは、光源１０２から出射された光束をカップラー（ビームスプリッタ）１０４によって測定光と参照光に分割する。そして、干渉光学系１００ａは、測定光学系（例えば、ダイクロイックミラー３０）によって測定光を眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系１１０ａに導く。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光とが合成された光（干渉光）を検出器（受光素子）１２０に受光させる。
【００３５】
また、干渉光学系１００ａは、角膜に測定光を照射する。干渉光学系１００ａは、角膜によって反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器１２０によって検出する。そして、干渉光学系１００ａは、測定光学系（例えば、ダイクロイックミラー３０）によって測定光を角膜Ｅｃに導き，また、参照光を参照光学系１１０ｂに導く。その後、角膜Ｅｃによって反射された測定光束と，参照光とが合成された光（干渉光）を検出器１２０に受光させる。
【００３６】
フーリエドメインタイプの場合では、光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度に関するデータをフーリエ変換することによって深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。干渉光学系１００ａとしては、例えば、Spectral-domain （ＳＤ方式）、Swept-source（ＳＳ方式）が挙げられる。また、Time-domain（ＴＤ方式）であってもよい。この場合、光コヒーレンストモグラフィーの技術が利用されうる。
【００３７】
ＳＤ方式の場合、光源１０２として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器１２０には、ある波長幅を持つ光を各波長（周波数）成分に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。
【００３８】
ＳＳ方式の場合、光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器１２０として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１０２は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。
【００３９】
参照光学系１１０は、第１参照光学系１１０ａと、第２参照光学系１１０ｂと、を備える。第１参照光学系１１０ａは、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される光と合成される第１参照光を生成する。第２参照光学系１１０ｂは、角膜での測定光の反射によって取得される光と合成される第２参照光を生成する。光分割手段としてのビームスプリッタ１１１は、カップラー１０４から送られた参照光を分割し、第１参照光と第２参照光を生成する。
【００４０】
参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、図１に図示された反射光学系（例えば、参照ミラー）によって構成される。そして、参照光学系１１０は、カップラー１０４から送られた光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０へ導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって構成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へ導く。
【００４１】
参照光学系１１０ａは、参照光路中に配置された光学部材を移動させることにより、測定光と第１参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、駆動機構５５の駆動によって第１参照ミラー１１２が光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
【００４２】
眼底の状態を検出する場合、眼底に照射された光の光路長と、第１参照光の光路長とがほぼ一致されるように光路差が調整される。そして、検出器１２０によって検出されたスペクトルデータが制御部８０（図３参照）へ入力され、フーリエ変換を用いてスペクトルデータの周波数が解析される。これにより、眼Ｅの深さ方向における情報が取得される（図４のピークＡＲ、ＰＲ参照）。
【００４３】
第２参照光学系１１０ｂは、アライメント完了時において、干渉信号の検出可能範囲（深さプロファイルを取得できる範囲）に角膜Ｅｃが含まれるように光路長を固定している。フーリエドメイン干渉計の場合、測定光と第２参照光との光路長が一致する位置から所定の距離までの範囲内における干渉信号が得られる。
【００４４】
そこで、Ｚ方向のアライメントが適正に調整されると、角膜によって反射された測定光と第２参照光との干渉が生じ、その干渉光による干渉信号がＡスキャン信号として検出されるようになる（図４のピークＡＣ，ＰＣ参照）。
【００４５】
＜制御系＞ 図３にて制御系を説明する。制御部８０は、装置全体の制御、眼圧の測定などを行う。制御部８０には、検出回路２１、処理回路２２、駆動回路２３、赤外光源１４、光検出器１８、光源１０２、検出器１２０、メモリ８１、が接続されている。
【００４６】
検出回路２１は、圧力センサ１２から出力される検出信号を処理する。処理回路２２は、光検出器１８から出力される受光信号を処理する。駆動回路２３は、ソレノイド３を駆動させる。
【００４７】
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。制御部８０は、測定を開始するトリガ信号が入力されると、駆動回路２３を介してソレノイド３に電流を付与する。ソレノイド３が動作され、その駆動力がアーム４及びロッド５を介してピストン２に伝達されると、ピストン２が移動される。シリンダ部１内で圧縮された空気は、チューブ７０を介して気密室７１内の空気を圧縮する。そして、ノズル６を介して，圧縮された空気が角膜Ｅｃに対して吹き付けられる。これにより、角膜Ｅｃが徐々に変形される。
【００４８】
ＬＥＤ１４から投光された光は角膜に照射され、角膜で反射された光は、光検出器１８へ入射する。そして、光検出器１８から出力される検出信号を用いて、角膜の状態が検出される。処理回路２２は、光検出器１８からの信号を処理し、受光光量が所定のピ−クを示したことを検知することにより、角膜Ｅｃが圧平状態に達したことを検知する。
【００４９】
制御部８０は、検出回路２１を用いて、圧力センサ１２から出力される検出信号を処理し、圧力値をモニタリングする。そして、制御部８０は、圧平状態が検知されたときの圧力値を得て、これに基づいて眼圧値を算出する。
【００５０】
＜眼底観察＞
制御部８０は、干渉光学系１００ａを制御し、空気圧縮機構によって角膜が変形されているときの眼底の状態を検出する。さらに、制御部８０は、角膜の変形前後における眼底の状態を検出してもよい。
【００５１】
制御部８０は、光源１０２から光を出射させる。そして、光源１０２からの光（測定光）は、眼Ｅの眼底、角膜に向けて出射され、その反射光が検出器１２０に導光される。また、参照光は、第１参照光学系１１０ａ及び第２参照光学系１１０ｂの光路を介して検出器１０２に導光される。
【００５２】
アライメントが完了されると、角膜反射光と第２参照光との間の干渉信号は、Ａスキャン信号として検出される（図４参照）。干渉信号ＡＣは角膜前面に対応し、干渉信号ＰＣは角膜後面に対応する。
【００５３】
眼底反射光と第１参照光との間の干渉信号が検出される位置は、眼Ｅの眼軸長によって異なる。制御部８０は、駆動機構５５の駆動を制御し、第１参照ミラー１１２を連続的又は段階的に移動させる。そして、制御部８０は、検出器１２０によってスペクトルデータを逐次取得し、各位置でのＡスキャン信号を得る。制御部８０は、眼底反射光と第１参照光に関連する干渉信号がＡスキャン信号として検出されるように駆動機構５５の駆動を制御する。
【００５４】
そして、測定光と第１参照光との光路差が少なくなり、検出範囲内に眼底Ｅｆが含まれるようになると、眼底に対応する干渉信号が検出される（図４（ｂ）参照）。ＡＲは網膜表面に対応する干渉信号であり、ＰＲは網膜後面に対応する干渉信号である。
【００５５】
制御部８０は、各Ａスキャン信号の中で、眼底に対応する干渉信号が取得されたＡスキャン信号を特定する。この場合、制御部８０は、干渉信号の輝度値などを利用して眼底反射を含む干渉信号の有無を判定する。そして、制御部８０は、駆動機構５５を制御し、眼底信号を含むＡスキャン信号が取得される位置に、第１参照ミラー１１２を配置する。
【００５６】
＜角膜変形に関する眼底の状態の観察＞
眼底に対応する信号が取得されるようになると、制御部８０は、Ａスキャン信号を随時メモリ８１に記憶していく。制御部８０は、メモリ８１に記憶された各Ａスキャン信号を解析し、角膜変形に関連する眼底の経時的な変化を求める。Ａスキャン信号は、連続的、又は段階的に記録され、角膜変形に関連した眼底の評価に利用される。
【００５７】
例えば、制御部８０は、Ａスキャン信号に基づいて深さ方向における眼底の変化を検出する。角膜変形中、変形前、変形後での眼底の位置が比較されると、圧縮空気に影響された眼底の変形度（例えば、変形量（変位量）、変形速度、等）が求められる。眼底の位置は、眼底に対応する干渉信号（例えば、干渉信号ＡＲ、干渉信号ＰＲ）から求められる。なお、制御部８０は、眼底の位置に関する時間的変化を求めても良い。制御部８０は、ドップラーＯＣＴの解析を適用して、眼底の位置変化に関する速度を定量化してもよい。
【００５８】
制御部８０は、眼底の変形度を用いて眼圧を測定する。その一例を挙げると、制御部８０は、眼底の変形度と眼圧との関係を利用して、眼圧を測定する。その他、眼底の変形度は、公知の測定方式（図２参照）によって算出される眼圧値を変動させるためのパラメータの一つとして用いられてもよい。なお、制御部８０は、眼底の変形量がある量に達したときにおける圧力センサ１２の検出結果を，眼圧値の算出に利用しても良い。
【００５９】
＜角膜変形に関する角膜の状態の観察＞
制御部８０は、Ａスキャン信号に基づいて深さ方向における角膜の変化を検出する。角膜変形中、変形前、変形後での角膜の位置が比較されると、圧縮空気に影響された角膜の変形度（例えば、変形量（変位量）、変形速度、等）が求められる。角膜の位置は、角膜に対応する干渉信号（例えば、干渉信号ＡＣ、干渉信号ＰＣ）から求められる。なお、制御部８０は、角膜の位置に関する時間的変化を求めても良い。制御部８０は、ドップラーＯＣＴの解析を適用して、角膜の位置変化に関する速度を定量化してもよい。
【００６０】
制御部８０は、変形された角膜の状態に基づいて眼圧を測定する。その一例を挙げると、制御部８０は、角膜の変形度と眼圧との関係を利用して、眼圧を測定する。その他、角膜の変形度は、公知の測定方式（図２参照）によって算出される眼圧値を変動させるためのパラメータの一つとして用いられてもよい。なお、図２のような構成を設けず、干渉光学系１００ａを用いて角膜の状態を検出するようにしてもよい。
【００６１】
上記構成によれば、干渉信号によって角膜と眼底の状態が観察されるので、眼底と角膜の両方の変形状態が求められる。したがって、角膜変形に関連した眼底の評価と、角膜自体の評価と、が適正に関連付けられる。
【００６２】
なお、制御部８０は、角膜と眼底の両方の位置を検出することによって、放射エネルギーが角膜に加えられたときに眼球の位置を取得できる。角膜変形に関連した眼球の移動情報は、眼圧測定の評価に利用される。
【００６３】
なお、上記実施形態において、制御部８０は、角膜変形に関連した眼軸長の変化を取得するようにしてもよい。例えば、制御部８０は、角膜と眼底に対応する干渉信号を含むＡスキャン信号を取得できるときの第１参照ミラー１１２の位置情報と、そのＡスキャン信号における干渉信号ＡＣと干渉信号ＰＲとの位置情報に基づいて眼軸長を演算する（眼軸長の測定手法については、例えば、特開２００７−３１３２０８号公報参照）。眼軸長の経時的な変化は、角膜と眼底の両方の変化に起因する情報であるから、角膜変形に関する眼球の評価に有用と考えられる。
【００６４】
なお、上記実施形態において、制御部８０は、Ａスキャン信号に対する信号処理によって眼底の各層の情報を取得し、層の変化を検出するようにしてもよい。例えば、角膜変形に関連した層厚の変化が眼圧測定に利用される。
【００６５】
なお、上記干渉光学系１００ａにおいて、光スキャナが測定光路中に設けられた構成であってもよい。例えば、制御部８０は、光スキャナを駆動して横断方向に関して眼底上で測定光を走査させる。制御部８０は、各走査位置にて取得されるＡスキャン信号に基づいて角膜変形に関連する眼底断層像を得る。得られた断層像は、画像処理によって解析され、測定に利用される。例えば、角膜変形時における眼底形状の変化が測定に利用される。また、眼底の表面の一部がある形状（例えば、凹形状）になったときの圧力センサ１２の検出結果が測定に利用されてもよい。
【００６６】
なお、図１に図示された干渉光学系は、装置内で生成された参照光と、被検眼の各部位における反射によって取得される測定光と、を干渉させて干渉信号を得る構成としたが、これに限定されない。例えば、干渉光学系は、角膜での反射によって取得される光と、眼底での反射によって取得される光とを干渉させ、干渉された光を受光素子に受光させることにより干渉信号を得る構成（いわゆるデュアルビームタイプ）であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本実施形態に係る眼科検査装置の具体例を示す概略図である。
【図２】角膜の変形状態を検出する光学系の具体例を示す図であって、ノズル付近の光学系を上方より見た図である。
【図３】制御系の具体例を示すブロック図である。
【図４】深さ方向に関する干渉信号の分布を示す一例である。
【符号の説明】
【００６８】
１０ 加圧ユニット
１００ 眼底検出系
１０２ 光源
１０４ 光分割器（カップラー）
１２０ 検出器
２００ 角膜検出系
１００ａ 干渉光学系
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検者眼を検査する眼科検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
眼科検査装置の一つである眼圧計は、眼圧を検査する。そして、測定された眼圧は、緑内障の診断などに用いられる。
【０００３】
非接触式眼圧計は、ノズルから角膜に向けて流体を噴射したときの角膜の変形状態を検出することにより眼圧を非接触にて測定する。特許文献１の眼圧計は、角膜の変形状態を観察及び記録する観察システムを有し、変形していない及び/又は変形している角膜の画像を記録する。ただし、このような装置であっても、眼内の状態を観察するという点では改善の余地がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−２３１０５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記点を改善する新規の眼科検査装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
被検者眼を加圧する加圧手段と、
加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する第１信号を検出するための眼底信号検出手段と、を備える。さらに、前記眼底信号検出手段によって検出された前記第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する計測手段を備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する情報が得られる。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る眼科検査装置の具体例を示す概略図である。図２は角膜の変形状態を検出する光学系の具体例を示す図であって、ノズル付近の光学系を上方より見た図である。図３は制御系の具体例を示すブロック図である。なお、図１中におけるＸ方向は左右方向、Ｙ方向は上下方向、Ｚ方向は前後方向を表す。以下の測定系及び光学系は、図示無き筐体に内蔵されている。また、その筐体は、周知のアライメント用移動機構により、被検者眼Ｅに対して三次元的に移動されてもよい。また、手持ちタイプ（ハンディタイプ）であってもよい。
【００１０】
本実施形態に係る眼科検査装置の概略について説明する。本装置は、例えば、加圧ユニット１０、眼底検出系１００、角膜検出系２００（図２参照）、を含む。
【００１１】
加圧ユニット１０は、眼Ｅを加圧する。加圧ユニット１０として、例えば、図１に図示された空気圧縮機構の他、超音波を角膜Ｅｃに向けて発するトランスデューサ、など加圧ユニットが用いられる。加圧する方向は、例えば、眼軸方向、眼軸に対して傾斜する方向である。なお、加圧ユニット１０は、角膜Ｅｃを変形させる程度の圧力を眼Ｅに対して加える構成が好ましい。その他、角膜Ｅｃがわずかに振動する程度に微弱な圧力を眼Ｅに対して加える構成であってもよい。
【００１２】
眼底検出系１００は、加圧ユニット１０によって加圧された眼の眼底に関連する第１信号を検出するために設けられている。眼底検出系１００は、例えば、第１信号を経時的に検出する。眼底検出系１００として、好ましくは、図１に図示されるように、眼底から反射された光と他の光との干渉状態を検出する干渉光学系１００ａが用いられる。
【００１３】
干渉光学系（光干渉計）１００ａは、光源１０２、光分割器（例えば、図示されたカップラー１０４）、検出器１２０を含む。干渉光学系１００ａは、光源１０２から出射された光を光分割器によって分割し、分割された光の少なくとも一方を眼Ｅに照射する。そして、眼底から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器１２０にて検出する。検出器１２０から出力信号に基づいて眼底Ｅｆの状態が検出される。
【００１４】
例えば、深さ方向における眼底の位置が検出される。これにより、角膜に力が加えられるとき、眼底の位置が検出される。また、高い精度にて眼底の状態が検出される。なお、ドップラー干渉計として眼底の位置変化に関する速度（例えば、眼底の変形の応答速度）を検出しても良い。
【００１５】
干渉光学系１００ａは、例えば、眼によって反射された光と，装置内で形成された参照光と、の間の干渉状態を検出する。干渉光学系１００ａは、眼によって反射された２つの光（例えば、角膜反射と眼底反射）の間の干渉状態を検出する構成であってもよい。
【００１６】
干渉光学系１００ａは、眼底Ｅｆのある一点上に関する干渉信号を検出する干渉計であってもよいし、眼底の横断方向に関する複数の干渉信号を検出する干渉計であってもよい。また、干渉光学系１００ａは、眼底の検出に加えて、角膜の状態を検出するようにしてもよい。さらに、干渉光学系１００ａは、眼Ｅの眼軸長を計測する干渉光学系であってもよい。
【００１７】
なお、眼底検出系１００には、光検出器に限定されず、Ｘ線、磁気などの検出波を送受信することにより眼底Ｅｆの情報を得る構成が用いられる。角膜が加圧されるとき、眼の深さ方向に関して力が働くので、眼底検出系１００は、深さ方向に関する眼底の変化（例えば、位置の変化、変化の速度）を検出できるデバイスであることが好ましい。
【００１８】
角膜検出系２００は、加圧ユニット１０によって加圧された眼Ｅの角膜Ｅｃに関連する第２信号を検出するために設けられている。角膜検出系２００として、例えば、図２に図示された光学系の他、角膜断面像を撮像する撮像ユニット（例えば、シャインプルーフカメラ、ＯＣＴ、スリットランプ）などの光検出器が用いられる。そして、光検出器からの検出信号に基づいて、加圧される角膜Ｅｃの状態が検出される。なお、角膜検出系２００には、光検出器に限定されず、Ｘ線、磁気エネルギーなどの放射体を送受信することにより角膜Ｅｃの情報を得る構成が用いられる。
【００１９】
なお、第１信号の検出と第２信号の検出は、同じ検出系によって実行されてもよい。例えば、干渉光学系１００ａは、第１信号の検出と第２信号の検出を兼用してもよい。干渉光学系１００ａは、角膜から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する。
【００２０】
制御部８０（図３参照）は、加圧ユニット１０、眼底検出系１００、角膜検出系２００を制御する。制御部８０は、眼底検出系１００によって検出された第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する。制御部８０は、眼底検出系１００によって検出された第１信号と角膜検出系２００によって検出された第２信号とを用いて、眼内圧、眼全体の硬さの少なくともいずれかを計測しても良い。制御部８０は、加圧された眼の応答結果を用いて眼の特性を検査する。本装置は、例えば、眼圧計、眼の硬さ計、眼底の硬さ計、眼軸長測定器の少なくともいずれかの装置として利用される。
【００２１】
例えば、眼底検出系１００は、角膜が加圧されている間の眼底Ｅｆの状態を観察できる。また、眼底検出系１００は、角膜が加圧される前、又は角膜が加圧された後の眼底の状態を観察できる。眼底検出系１００は、角膜への加圧に関連した眼底の評価に利用される。
【００２２】
角膜が加圧されたときに生じる波は、前房、水晶体、硝子体などの眼内媒質を伝搬した後、眼底に到達する。したがって、眼底検出系１００は、このような波を受けた眼底の状態を観察できる。
【００２３】
これによれば、角膜が加圧されたときに生じる波を受けた眼底の状態と，眼内圧との関係が評価される。また、眼内圧に起因する眼内物質の硬さをより考慮した評価が可能となる。例えば、眼内圧が高い場合、圧縮によって眼内物質が硬くなり、波は眼底に伝達やすい。このため、眼底の変形量が大きい。一方、眼内圧が低い場合、眼内物質は柔らかく、波は眼底に伝達されにくい。このため、眼底の変形量が小さくなる。ここで、角膜に圧力が加えられたときの眼底の変化は、眼内圧が影響するから、眼底の状態を観察することによって、眼全体の圧力を考慮した眼圧測定が可能となる。
【００２４】
また、加圧された眼の眼底の状態を観察することによって、眼底の硬さ（例えば、眼底側強膜の硬さ）に関する評価が可能となる。例えば、眼底側強膜が硬い場合、眼底の変形量が小さい。一方、眼底側強膜が柔らかい場合、眼底の変形量が大きい。なお、眼内圧と眼底の硬さに関する評価を総合的に行うことも可能である。
【００２５】
上記のような眼内圧、眼底の硬さに関する評価は、強度近視や緑内障などの症例に関する診断に利用できる可能性がある。例えば、眼底が柔らかければ、長眼軸長化しやすく、緑内障になりやすい可能性がある。
【００２６】
また、眼底検出系１００は、力が加えられた眼Ｅの眼球の位置を観察できる。眼底検出系１００は、角膜への加圧に関連した眼球の移動を評価するために利用される。例えば、角膜Ｅｃへ力が加えられたとき、深さ方向における眼球の移動は、前述のように角膜Ｅｃの状態を検出する際に影響を及ぼす可能性がある。また、角膜が振動していなくても、眼球の振動を角膜の振動と誤る可能性がある。したがって、眼底検出系１００は、これらの問題の克服に利用される。
【００２７】
以下に、例えば、加圧ユニット１０として空気圧縮機構、角膜検出系２００として斜入射検出光学系及び干渉光学系１００ａ、眼底検出系として干渉光学系１００ａを適用させた場合の実施形態の一例について説明する。
【００２８】
＜非接触式角膜加圧ユニット＞ １は空気圧縮用のシリンダ部、２はピストンであり、これらは被検眼に噴出する空気を圧縮する空気圧縮機構として用いられる。３はロータリソレノイドであり、ロータリソレノイド３（以下、ソレノイド３として説明する）は駆動電流が付与されると、アーム４、コネクティングロッド（ピストンロッド）５を介してピストン２を圧縮方向（矢印Ａ方向）に移動させる。ピストン２の移動によりシリンダ部１内の空気圧縮室３４で圧縮された空気は、シリンダ１の先端に連結されるチューブ（パイプでもよい）７０、圧縮された空気を収容する気密室７１を介して、ノズル６から被検者眼Ｅの角膜に向けて噴出される。なお、シリンダ部１は水平面（ＸＺ面）に対して平行に配置されており、ソレノイド３の駆動によってピストン２がシリンダ部１内で水平に移動されることにより空気の圧縮が行われる。
【００２９】
例えば、シリンダ部１はその長手方向が水平方向と平行に配置され、シリンダ部１の内面はピストン２をガイドする。このため、ピストン２の移動方向（圧縮方向）は、水平方向となる。なお、上記各構成部材は、装置本体の筐体内に設けられたステージ上にそれぞれ配置されている（図示省略）。
【００３０】
また、ソレノイド３には図示なきコイルバネが備えられており、付与される電流がカット又は減じられると、コイルバネの戻り方向への付勢力により、圧縮方向に移動されたピストン２が戻り方向（矢印Ａの反対方向）に移動されて初期位置に戻される。また、本実施形態では、ノズル６の軸線の上方に空気圧縮機構が配置された構成（ノズル６の軸線を外した構成）となっているため、シリンダ部１まで涙等が吸込まれる可能性は少ない。
【００３１】
８は透明なガラス板であり、ノズル６を保持するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。また、ガラス板８は気密室７１を構成する壁の一部として用いられる。９はノズル６の背面に設けられた透明なガラス板であり、気密室７１の後壁を構成するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。ガラス板９の背後には、観察・アライメント光学系１１がその観察光軸及びアライメント光軸と、ノズル６の軸線が同軸になるように配置されているが、本発明とは関連が少ないため、説明は省略する。
【００３２】
１２は気密室７１の圧力を検出する圧力センサ、１３はエア抜き穴である。エア抜き穴１３により、ピストン２に初速が付くまでの間の抵抗が減少され、時間に比例的な立ち上がりの圧力変化を得ることができる。
【００３３】
＜角膜検出系＞ １４は角膜変形検出用の赤外ＬＥＤ（図２参照）であり、ＬＥＤ１４を出射した光はコリメ−タレンズ１５により平行光束とされて被検眼の角膜に投光される。角膜で反射した光は受光レンズ１６、ピンホ−ル板１７を通過して受光素子である光検出器１８に受光される。なお、角膜変形検出用の光学系は、被検眼が所定の変形状態（例えば、圧平状態）のときに光検出器１８の受光量が最大となるように配置されている。すなわち、本角膜検出系は、角膜に指標を投光し、その反射光を受光することによって角膜の変形状態を検出する。
【００３４】
＜干渉光学系＞ 図１に戻る。干渉光学系１００ａは、眼底に測定光を照射する。干渉光学系１００ａは、眼底によって反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子（検出器１２０）によって検出する。干渉光学系１００ａは、光源１０２から出射された光束をカップラー（ビームスプリッタ）１０４によって測定光と参照光に分割する。そして、干渉光学系１００ａは、測定光学系（例えば、ダイクロイックミラー３０）によって測定光を眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系１１０ａに導く。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光とが合成された光（干渉光）を検出器（受光素子）１２０に受光させる。
【００３５】
また、干渉光学系１００ａは、角膜に測定光を照射する。干渉光学系１００ａは、角膜によって反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器１２０によって検出する。そして、干渉光学系１００ａは、測定光学系（例えば、ダイクロイックミラー３０）によって測定光を角膜Ｅｃに導き，また、参照光を参照光学系１１０ｂに導く。その後、角膜Ｅｃによって反射された測定光束と，参照光とが合成された光（干渉光）を検出器１２０に受光させる。
【００３６】
フーリエドメインタイプの場合では、光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度に関するデータをフーリエ変換することによって深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。干渉光学系１００ａとしては、例えば、Spectral-domain （ＳＤ方式）、Swept-source（ＳＳ方式）が挙げられる。また、Time-domain（ＴＤ方式）であってもよい。この場合、光コヒーレンストモグラフィーの技術が利用されうる。
【００３７】
ＳＤ方式の場合、光源１０２として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器１２０には、ある波長幅を持つ光を各波長（周波数）成分に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。
【００３８】
ＳＳ方式の場合、光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器１２０として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１０２は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。
【００３９】
参照光学系１１０は、第１参照光学系１１０ａと、第２参照光学系１１０ｂと、を備える。第１参照光学系１１０ａは、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される光と合成される第１参照光を生成する。第２参照光学系１１０ｂは、角膜での測定光の反射によって取得される光と合成される第２参照光を生成する。光分割手段としてのビームスプリッタ１１１は、カップラー１０４から送られた参照光を分割し、第１参照光と第２参照光を生成する。
【００４０】
参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、図１に図示された反射光学系（例えば、参照ミラー）によって構成される。そして、参照光学系１１０は、カップラー１０４から送られた光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０へ導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって構成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へ導く。
【００４１】
参照光学系１１０ａは、参照光路中に配置された光学部材を移動させることにより、測定光と第１参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、駆動機構５５の駆動によって第１参照ミラー１１２が光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
【００４２】
眼底の状態を検出する場合、眼底に照射された光の光路長と、第１参照光の光路長とがほぼ一致されるように光路差が調整される。そして、検出器１２０によって検出されたスペクトルデータが制御部８０（図３参照）へ入力され、フーリエ変換を用いてスペクトルデータの周波数が解析される。これにより、眼Ｅの深さ方向における情報が取得される（図４のピークＡＲ、ＰＲ参照）。
【００４３】
第２参照光学系１１０ｂは、アライメント完了時において、干渉信号の検出可能範囲（深さプロファイルを取得できる範囲）に角膜Ｅｃが含まれるように光路長を固定している。フーリエドメイン干渉計の場合、測定光と第２参照光との光路長が一致する位置から所定の距離までの範囲内における干渉信号が得られる。
【００４４】
そこで、Ｚ方向のアライメントが適正に調整されると、角膜によって反射された測定光と第２参照光との干渉が生じ、その干渉光による干渉信号がＡスキャン信号として検出されるようになる（図４のピークＡＣ，ＰＣ参照）。
【００４５】
＜制御系＞ 図３にて制御系を説明する。制御部８０は、装置全体の制御、眼圧の測定などを行う。制御部８０には、検出回路２１、処理回路２２、駆動回路２３、赤外光源１４、光検出器１８、光源１０２、検出器１２０、メモリ８１、が接続されている。
【００４６】
検出回路２１は、圧力センサ１２から出力される検出信号を処理する。処理回路２２は、光検出器１８から出力される受光信号を処理する。駆動回路２３は、ソレノイド３を駆動させる。
【００４７】
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。制御部８０は、測定を開始するトリガ信号が入力されると、駆動回路２３を介してソレノイド３に電流を付与する。ソレノイド３が動作され、その駆動力がアーム４及びロッド５を介してピストン２に伝達されると、ピストン２が移動される。シリンダ部１内で圧縮された空気は、チューブ７０を介して気密室７１内の空気を圧縮する。そして、ノズル６を介して，圧縮された空気が角膜Ｅｃに対して吹き付けられる。これにより、角膜Ｅｃが徐々に変形される。
【００４８】
ＬＥＤ１４から投光された光は角膜に照射され、角膜で反射された光は、光検出器１８へ入射する。そして、光検出器１８から出力される検出信号を用いて、角膜の状態が検出される。処理回路２２は、光検出器１８からの信号を処理し、受光光量が所定のピ−クを示したことを検知することにより、角膜Ｅｃが圧平状態に達したことを検知する。
【００４９】
制御部８０は、検出回路２１を用いて、圧力センサ１２から出力される検出信号を処理し、圧力値をモニタリングする。そして、制御部８０は、圧平状態が検知されたときの圧力値を得て、これに基づいて眼圧値を算出する。
【００５０】
＜眼底観察＞
制御部８０は、干渉光学系１００ａを制御し、空気圧縮機構によって角膜が変形されているときの眼底の状態を検出する。さらに、制御部８０は、角膜の変形前後における眼底の状態を検出してもよい。
【００５１】
制御部８０は、光源１０２から光を出射させる。そして、光源１０２からの光（測定光）は、眼Ｅの眼底、角膜に向けて出射され、その反射光が検出器１２０に導光される。また、参照光は、第１参照光学系１１０ａ及び第２参照光学系１１０ｂの光路を介して検出器１０２に導光される。
【００５２】
アライメントが完了されると、角膜反射光と第２参照光との間の干渉信号は、Ａスキャン信号として検出される（図４参照）。干渉信号ＡＣは角膜前面に対応し、干渉信号ＰＣは角膜後面に対応する。
【００５３】
眼底反射光と第１参照光との間の干渉信号が検出される位置は、眼Ｅの眼軸長によって異なる。制御部８０は、駆動機構５５の駆動を制御し、第１参照ミラー１１２を連続的又は段階的に移動させる。そして、制御部８０は、検出器１２０によってスペクトルデータを逐次取得し、各位置でのＡスキャン信号を得る。制御部８０は、眼底反射光と第１参照光に関連する干渉信号がＡスキャン信号として検出されるように駆動機構５５の駆動を制御する。
【００５４】
そして、測定光と第１参照光との光路差が少なくなり、検出範囲内に眼底Ｅｆが含まれるようになると、眼底に対応する干渉信号が検出される（図４（ｂ）参照）。ＡＲは網膜表面に対応する干渉信号であり、ＰＲは網膜後面に対応する干渉信号である。
【００５５】
制御部８０は、各Ａスキャン信号の中で、眼底に対応する干渉信号が取得されたＡスキャン信号を特定する。この場合、制御部８０は、干渉信号の輝度値などを利用して眼底反射を含む干渉信号の有無を判定する。そして、制御部８０は、駆動機構５５を制御し、眼底信号を含むＡスキャン信号が取得される位置に、第１参照ミラー１１２を配置する。
【００５６】
＜角膜変形に関する眼底の状態の観察＞
眼底に対応する信号が取得されるようになると、制御部８０は、Ａスキャン信号を随時メモリ８１に記憶していく。制御部８０は、メモリ８１に記憶された各Ａスキャン信号を解析し、角膜変形に関連する眼底の経時的な変化を求める。Ａスキャン信号は、連続的、又は段階的に記録され、角膜変形に関連した眼底の評価に利用される。
【００５７】
例えば、制御部８０は、Ａスキャン信号に基づいて深さ方向における眼底の変化を検出する。角膜変形中、変形前、変形後での眼底の位置が比較されると、圧縮空気に影響された眼底の変形度（例えば、変形量（変位量）、変形速度、等）が求められる。眼底の位置は、眼底に対応する干渉信号（例えば、干渉信号ＡＲ、干渉信号ＰＲ）から求められる。なお、制御部８０は、眼底の位置に関する時間的変化を求めても良い。制御部８０は、ドップラーＯＣＴの解析を適用して、眼底の位置変化に関する速度を定量化してもよい。
【００５８】
制御部８０は、眼底の変形度を用いて眼圧を測定する。その一例を挙げると、制御部８０は、眼底の変形度と眼圧との関係を利用して、眼圧を測定する。その他、眼底の変形度は、公知の測定方式（図２参照）によって算出される眼圧値を変動させるためのパラメータの一つとして用いられてもよい。なお、制御部８０は、眼底の変形量がある量に達したときにおける圧力センサ１２の検出結果を，眼圧値の算出に利用しても良い。
【００５９】
＜角膜変形に関する角膜の状態の観察＞
制御部８０は、Ａスキャン信号に基づいて深さ方向における角膜の変化を検出する。角膜変形中、変形前、変形後での角膜の位置が比較されると、圧縮空気に影響された角膜の変形度（例えば、変形量（変位量）、変形速度、等）が求められる。角膜の位置は、角膜に対応する干渉信号（例えば、干渉信号ＡＣ、干渉信号ＰＣ）から求められる。なお、制御部８０は、角膜の位置に関する時間的変化を求めても良い。制御部８０は、ドップラーＯＣＴの解析を適用して、角膜の位置変化に関する速度を定量化してもよい。
【００６０】
制御部８０は、変形された角膜の状態に基づいて眼圧を測定する。その一例を挙げると、制御部８０は、角膜の変形度と眼圧との関係を利用して、眼圧を測定する。その他、角膜の変形度は、公知の測定方式（図２参照）によって算出される眼圧値を変動させるためのパラメータの一つとして用いられてもよい。なお、図２のような構成を設けず、干渉光学系１００ａを用いて角膜の状態を検出するようにしてもよい。
【００６１】
上記構成によれば、干渉信号によって角膜と眼底の状態が観察されるので、眼底と角膜の両方の変形状態が求められる。したがって、角膜変形に関連した眼底の評価と、角膜自体の評価と、が適正に関連付けられる。
【００６２】
なお、制御部８０は、角膜と眼底の両方の位置を検出することによって、放射エネルギーが角膜に加えられたときに眼球の位置を取得できる。角膜変形に関連した眼球の移動情報は、眼圧測定の評価に利用される。
【００６３】
なお、上記実施形態において、制御部８０は、角膜変形に関連した眼軸長の変化を取得するようにしてもよい。例えば、制御部８０は、角膜と眼底に対応する干渉信号を含むＡスキャン信号を取得できるときの第１参照ミラー１１２の位置情報と、そのＡスキャン信号における干渉信号ＡＣと干渉信号ＰＲとの位置情報に基づいて眼軸長を演算する（眼軸長の測定手法については、例えば、特開２００７−３１３２０８号公報参照）。眼軸長の経時的な変化は、角膜と眼底の両方の変化に起因する情報であるから、角膜変形に関する眼球の評価に有用と考えられる。
【００６４】
なお、上記実施形態において、制御部８０は、Ａスキャン信号に対する信号処理によって眼底の各層の情報を取得し、層の変化を検出するようにしてもよい。例えば、角膜変形に関連した層厚の変化が眼圧測定に利用される。
【００６５】
なお、上記干渉光学系１００ａにおいて、光スキャナが測定光路中に設けられた構成であってもよい。例えば、制御部８０は、光スキャナを駆動して横断方向に関して眼底上で測定光を走査させる。制御部８０は、各走査位置にて取得されるＡスキャン信号に基づいて角膜変形に関連する眼底断層像を得る。得られた断層像は、画像処理によって解析され、測定に利用される。例えば、角膜変形時における眼底形状の変化が測定に利用される。また、眼底の表面の一部がある形状（例えば、凹形状）になったときの圧力センサ１２の検出結果が測定に利用されてもよい。
【００６６】
なお、図１に図示された干渉光学系は、装置内で生成された参照光と、被検眼の各部位における反射によって取得される測定光と、を干渉させて干渉信号を得る構成としたが、これに限定されない。例えば、干渉光学系は、角膜での反射によって取得される光と、眼底での反射によって取得される光とを干渉させ、干渉された光を受光素子に受光させることにより干渉信号を得る構成（いわゆるデュアルビームタイプ）であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本実施形態に係る眼科検査装置の具体例を示す概略図である。
【図２】角膜の変形状態を検出する光学系の具体例を示す図であって、ノズル付近の光学系を上方より見た図である。
【図３】制御系の具体例を示すブロック図である。
【図４】深さ方向に関する干渉信号の分布を示す一例である。
【符号の説明】
【００６８】
１０ 加圧ユニット
１００ 眼底検出系
１０２ 光源
１０４ 光分割器（カップラー）
１２０ 検出器
２００ 角膜検出系
１００ａ 干渉光学系
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検者眼を加圧する加圧手段と、
加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する第１信号を検出するための眼底信号検出手段と、
を備える眼科検査装置。
【請求項２】
前記眼底信号検出手段は、光源から出射された光を分割し、分割された光の少なくとも一方を被検者眼に照射した後、眼底から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する干渉光学系を備え、検出器から出力信号に基づいて前記第１信号を検出することを特徴とする請求項１記載の眼科検査装置。
【請求項３】
前記眼底信号検出手段は、前記第１信号を経時的に検出することを特徴とする請求項２記載の眼科検査装置。
【請求項４】
前記眼底信号検出手段によって検出された前記第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する計測手段を備えることを特徴とする請求項３記載の眼科検査装置。
【請求項５】
前記加圧手段は、眼の角膜を変形させる角膜変形手段であることを特徴とする請求項４記載の眼科検査装置。
【請求項６】
前記眼底信号検出手段は、前記第１信号として、検出器から出力信号に基づいて深さ方向における眼底の位置又は位置変化の速度を検出することを特徴とする請求項５記載の眼科検査装置。
【請求項７】
さらに、加圧手段によって加圧された眼の角膜に関連する第２信号を検出する角膜信号検出手段と、
前記計測手段であって、前記眼底信号検出手段によって検出された前記第１信号と前記角膜信号検出手段によって検出された前記第２信号とを用いて眼の計測を行う計測手段と、
を備えることを特徴とする請求項６記載の眼科検査装置。
【請求項８】
前記干渉光学系は、角膜信号検出手段を兼用し、角膜から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する干渉光学系であることを特徴とする請求項７記載の眼科検査装置。
【請求項１】
被検者眼を加圧する加圧手段と、
加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する第１信号を検出するための眼底信号検出手段と、
を備える眼科検査装置。
【請求項２】
前記眼底信号検出手段は、光源から出射された光を分割し、分割された光の少なくとも一方を被検者眼に照射した後、眼底から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する干渉光学系を備え、検出器から出力信号に基づいて前記第１信号を検出することを特徴とする請求項１記載の眼科検査装置。
【請求項３】
前記眼底信号検出手段は、前記第１信号を経時的に検出することを特徴とする請求項２記載の眼科検査装置。
【請求項４】
前記眼底信号検出手段によって検出された前記第１信号を用いて，眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する計測手段を備えることを特徴とする請求項３記載の眼科検査装置。
【請求項５】
前記加圧手段は、眼の角膜を変形させる角膜変形手段であることを特徴とする請求項４記載の眼科検査装置。
【請求項６】
前記眼底信号検出手段は、前記第１信号として、検出器から出力信号に基づいて深さ方向における眼底の位置又は位置変化の速度を検出することを特徴とする請求項５記載の眼科検査装置。
【請求項７】
さらに、加圧手段によって加圧された眼の角膜に関連する第２信号を検出する角膜信号検出手段と、
前記計測手段であって、前記眼底信号検出手段によって検出された前記第１信号と前記角膜信号検出手段によって検出された前記第２信号とを用いて眼の計測を行う計測手段と、
を備えることを特徴とする請求項６記載の眼科検査装置。
【請求項８】
前記干渉光学系は、角膜信号検出手段を兼用し、角膜から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する干渉光学系であることを特徴とする請求項７記載の眼科検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図２】
【図３】
【図４】
【公開番号】特開２０１２−１２５２６５（Ｐ２０１２−１２５２６５Ａ）
【公開日】平成２４年７月５日（２０１２．７．５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２７６４２７（Ｐ２０１０−２７６４２７）
【出願日】平成２２年１２月１０日（２０１０．１２．１０）
【出願人】（０００１３５１８４）株式会社ニデック (745)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年７月５日（２０１２．７．５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１２月１０日（２０１０．１２．１０）
【出願人】（０００１３５１８４）株式会社ニデック (745)
【Ｆターム（参考）】
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