被検査物の外観検査方法及びその外観検査装置
【課題】この発明は、長尺状の被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができ、検査精度の向上を図ることができる被検査物の外観検査方法及びその外観検査装置の提供を目的とする。
【解決手段】搬送路２上の検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周を、拡散反射板３が拡散及び反射する光源４からの光で均一に照光する。エナメル線Ａの上側周面Ａａと、反射部６に映り込ませた左右周面Ａｂ，Ａｃとを撮像カメラ５で撮像する際、光透過部７により反射部６が反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を、上側周面Ａａの光路長Ｌ１と同一又は近似する長さに調整する。これにより、エナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの画像を撮像カメラ５により鮮明に撮像することができ、その画像情報に基づいて、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを外観判定装置９で確実且つ正確に判定することができる。
【解決手段】搬送路２上の検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周を、拡散反射板３が拡散及び反射する光源４からの光で均一に照光する。エナメル線Ａの上側周面Ａａと、反射部６に映り込ませた左右周面Ａｂ，Ａｃとを撮像カメラ５で撮像する際、光透過部７により反射部６が反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を、上側周面Ａａの光路長Ｌ１と同一又は近似する長さに調整する。これにより、エナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの画像を撮像カメラ５により鮮明に撮像することができ、その画像情報に基づいて、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを外観判定装置９で確実且つ正確に判定することができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば線条体、棒条体等の長さ方向に連続する長尺状の被検査物の外面全周に異常が有るか否かを検出する際に用いられる被検査物の検査外観検査方法及びその外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、前記被検査物の外面を検査する方法としては、例えばエナメル線の外面を、該エナメル線毎に配置された複数台の撮像装置（ＣＣＤカメラ）で撮像し、その撮像した画像情報に基づいて、エナメル線の外面全周に異常が有るか否かを判定装置を用いて判定する。このような方法において、検査対象であるエナメル線の本数が多くなれば、撮像装置の設置台数を増やさなければならず、装置全体の構造が複雑化及び大型化することになる。
また、１本のエナメル線の外面を検査する際に掛かるコストが高くなるだけでなく、複数台の撮像装置で撮像した画像情報を一括して画像処理するため、エナメル線の外面検査には、高コストかつ複雑な装置が必要となる。
【０００３】
また別の方法では、エナメル線の外面検査において、レーザー照射装置から投光されるレーザーをエナメル線毎に照射し、該エナメル線毎に反射される反射光を反射光受光装置で受光して、該反射光受光装置で受光された反射光の強度を反射光測定装置にて測定する方式で検査することができる。しかし、エナメル線の外観全周を検査する場合、複数台（２台以上)のレーザー照射装置及び反射光受光装置を設置しなければならず、外面検査に掛かるコストが高くなる。
【０００４】
また、前記レーザー照射装置及び反射光受光装置からなる外観検査装置を、複数本のエナメル線を同時に製造する製造工程に導入する場合、レーザー照射装置及び反射光受光装置の設置場所を確保することが難しく、装置全体の構造が複雑化且つ大型化するという問題があった。
【０００５】
また、反射光の強度に基づいて、エナメル線の外面全周に異常が有るか否かを判定するが、エナメル線の外面全周に変色した部分が存在するか、凹凸した部分が存在する場合、反射光の強度を正確に測定することが困難であり、異常を誤検出するか、検出漏れ等が発生することになる。
【０００６】
他の検査方法としては、例えば検査位置に搬送された電子部品の表面側と、該検査位置の下方に配置された一対の反射鏡に映った電子部品の裏面側とを１台の撮像カメラで同時に撮像するという方法が電子部品の外観検査装置に記載されている（特許文献１参照）。
【０００７】
しかし、このような外観検査装置の場合、電子部品の表面側に照射された光は、撮像カメラに向けて直接反射されるが、電子部品の裏面側に照射された光は、反射鏡によって撮像カメラに向けて反射されるので、反射鏡によって反射された光の光路長が長くなる。このため、撮像カメラが撮像する電子部品の表裏両面の焦点が一致せず、光路長が長い方の裏面側の画像がぼやけて不鮮明となるため、電子部品の裏面側に異常な箇所が存在していても、不鮮明な画像からは異常を検出することが困難であり、検査ミスが発生しやすい。
【０００８】
また、光源からの光を電子部品に対し上方から当てるので、電子部品の表面の明度と、反射鏡に映った像の明度に差異が生じ、表面色の変化が検出できない可能性がある。また、特許文献１に記載されている搬送機構では、エナメル線のような複数本の線条体を長さ方向に連続して製造する工程には導入することができない。
【０００９】
また、その他の検査方法としては、例えば円柱状の製品の外面検査を行うに当たり、ＣＣＤカメラ等の撮像装置を設ける方法が表面検査装置に記載されている（特許文献２参照）。しかし、全周検査を行うにあたり、円柱状の製品を回転させる方法を備えているが、長さ方向に連続して製造される線状或いは棒状の物体を検査するのには適用が不可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特許公開２００１−２０８５１９号公報
【特許文献２】特許公開２００５−６２１０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
この発明は、長尺状の被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができる被検査物の外観検査方法及びその外観検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
この発明は、搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される長尺状の被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査方法であって、前記検査区間に搬送される前記被検査物の下面を、該検査区間の搬送路下方に配置された鏡状の反射部により前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射させ、前記搬送路上の前記被検査物より上方に配置された前記光透過部により前記反射部によって反射する前記被検査物の下面の光路長を、前記被検査物の上面の光路長と同一又は近似する長さに調整する被検査物の外観検査方法であることを特徴とする。
これにより、被検査物の上面及び下面の画像を撮像手段によって鮮明に撮像することができる。したがって、撮像手段で撮像した画像情報に基づいて、被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができる。
【００１３】
この発明の態様として、前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を、前記検査区間の上方に配置された一つの撮像手段により一括して撮像することができる。
これにより、複数の被検査物を一つの撮像手段により一括して撮像することができる。したがって、撮像手段の設置台数が少なくて済み、検査コストの低減を図ることができる。
【００１４】
また、この発明の態様として、前記被検査物の下面を、該被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜された前記反射部の上面に形成されたＶ字状の鏡面に映り込ませることができる。
これにより、被検査部の左右下面が反射部の鏡面に対し均等に映り込むので、撮像手段により鏡面に映り込ませた被検査物の左右下面を同時に撮像することができる。
【００１５】
また、この発明の態様として、前記被検査物の上面を、該上面の撮像が許容される間隔を隔てて配置された前記光透過部の間から撮像することができる。
これにより、被検査物の上面を撮像手段により直接撮像することができ、鮮明な画像が得られる。
【００１６】
また、この発明の態様として、前記被検査物の外面全周に向けて、前記検査区間の上方に配置された拡散反射板により光源から投光される光を拡散して反射することができる。
これにより、拡散反射板により拡散された光源からの光が、被検査物の外面全周に向けて照射されるので、被検査物の外面全周をむらなく均一に照光することができる。
【００１７】
また、この発明は、搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査装置であって、前記検査区間の搬送路下方に、前記被検査物の下面を前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射する鏡状の反射部を配置し、前記搬送路上の前記被検査物より上方に、前記反射部が反射する前記被検査物の下面の光路長を調整する光透過部を配置した被検査物の外観検査装置であることを特徴とする。
【００１８】
これにより、被検査物の上面及び下面の画像を撮像手段によって鮮明に撮像することができる。したがって、撮像手段で撮像した画像情報に基づいて、被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができる。
【００１９】
この発明の態様として、前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、前記検査区間の上方に、前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を一括して撮像する一つの撮像手段を配置することができる。
【００２０】
これにより、複数の被検査物を一つの撮像手段により一括して撮像することができる。したがって、撮像手段の設置台数が少なくて済み、検査コストの低減を図ることができる。
【００２１】
また、この発明の態様として、前記反射部の上面に、前記被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜されたＶ字状の鏡面を形成することができる。
これにより、被検査部の左右下面が反射部の鏡面に対し均等に映り込むので、撮像手段により鏡面に映り込ませた被検査物の左右下面を同時に撮像することができる。
【００２２】
また、この発明の態様として、前記光透過部を、前記撮像手段により前記被検査物の上面の撮像が許容される間隔を隔てて複数配置することができる。
これにより、被検査物の上面を撮像手段により直接撮像することができ、鮮明な画像が得られる。
【００２３】
また、この発明の態様として、前記搬送路上の検査区間に、前記被検査物の外面全周に向けて光源から投光される光を拡散して反射する拡散反射板を配置することができる。
これにより、拡散反射板により拡散された光源からの光が、被検査物の外面全周に向けて照射されるので、被検査物の外面全周をむらなく均一に照光することができる。
【００２４】
前記被検査物は、例えばエナメル線、銅線等の導電性を有する金属で形成された長尺状の線条導体、或いは、その他の金属や合成樹脂等の材質で形成された長尺状の線条体又は棒条体で構成することができる。また、被検査物の長さ方向と直交する面の断面形状は、例えば断面丸形状、断面楕円形状、断面矩形状等に形成することができる。
【００２５】
また、撮像手段は、例えば撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）、ビデオカメラ、デジタルカメラ等で構成することができる。
また、外観判定手段は、例えばパーソナルコンピューターやＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭを備えた制御装置等で構成することができる。
また、光源は、例えばＬＥＤ発光素子、ハロゲンランプ、キセノンランプ、蛍光灯、白熱灯等の照明で構成することができる。
また、拡散反射板は、例えばポリエチレン−テレフタレート等の微細発泡樹脂で形成されたシートやプレート、或いは、ガラス、金属、合成樹脂等を主たる材質で形成された鏡面体で構成することができる。
なお、光源から投光される光の反射率、拡散率が高いものであれば、実施形態の拡散反射板以外の鏡面体を使用してもよい。
【発明の効果】
【００２６】
この発明によれば、光透過部により反射部が反射する被検査物の下面の光路長を、被検査物の上面の光路長と同一又は近似する長さに調整し、被検査物の上面を撮像する際の焦点と、反射部に映り込ませた被検査物の下面を撮像する際の焦点とを合わせる。これにより、被検査物の上面及び下面の画像を撮像手段によって鮮明に撮像することができる。したがって、その画像情報に基づいて、被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができ、検査精度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】外観検査装置によるエナメル線の外観検査方法を示す斜視図。
【図２】外観検査装置を搬送方向と直交する方向から見た状態を示す側面図。
【図３】外観検査装置を搬送方向の下流側から見た状態を示す正面図。
【図４】反射部による光の反射方向、反射部に映り込ませた像を示す説明図。
【図５】外観検査装置のブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
この発明の一実施形態を、以下図面を用いて説明する。
図１は外観検査装置１によるエナメル線Ａの外観検査方法を示す斜視図、図２は外観検査装置１を搬送方向Ｂ１と直交する方向から見た状態を示す側面図、図３は外観検査装置１を搬送方向Ｂ１の下流側から見た状態を示す正面図、図４は反射部６による光の反射方向及びエナメル線Ａの像を示す説明図、図５は外観検査装置１のブロック図である。
【００２９】
本実施形態のエナメル線Ａの外観検査方法は、断面丸形状に形成された５本のエナメル線Ａを、搬送方向Ｂ１と平行して並列に配置された５本の搬送路２上に１本ずつ配列して、該搬送路２上に設定された検査区間Ｃに連続して搬送する。
【００３０】
検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周に、該検査区間Ｃに配置されたトンネル状の拡散反射板３により反射される光源４からの光を照射して、エナメル線Ａの外面全周をむらなく均一に照光する。
【００３１】
検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの上側周面Ａａと、搬送路２の下方に配置された反射部６に映し出されるエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃとを撮像する際、エナメル線Ａの上側周面Ａａを撮像カメラ５で撮像する際の焦点と、反射部６に映し出されたエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃを撮像カメラ５で撮像する際の焦点とが同一となるように、撮像カメラ５に向けて反射部６が反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長を搬送路２の上方に配置された光透過部７により調整する。
【００３２】
撮像カメラ５から出力されるエナメル線Ａの外面全周の画像情報を画像処理装置８で画像処理して、該画像処理装置８により処理された画像情報に基づいて、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを外観判定装置９で個々に判定する。
【００３３】
前記外観検査方法によりエナメル線Ａの外面を検査する外観検査装置１は、エナメル線Ａを搬送する５本の搬送路２と、拡散反射板３と、一対の光源４と、一つの撮像カメラ５と、反射部６と、光透過部７と、画像処理装置８と、外観判定装置９とで構成している。
【００３４】
搬送路２は、エナメル線Ａの搬送方向Ｂ１と平行して、該搬送方向Ｂ１と直交する方向に対し等ピッチ間隔を隔てて５本配置している。また、搬送路２上の同一位置を検査区間Ｃに設定している。
【００３５】
また、搬送路２上に設定された検査区間Ｃの上流側及び下流側には、エナメル線Ａの長さ方向に対し適度なテンションを付与するとともに、該エナメル線Ａを搬送方向Ｂ１と直交する方向に対し等ピッチ間隔に規制するための図示しないガイドロールが配置されている。
これにより、エナメル線Ａの位置及び間隔が変位することがなく、撮像カメラ５によるエナメル線Ａの撮像が安定して行える。
【００３６】
拡散反射板３は、微細発泡樹脂製のシートで構成され、５本分の搬送路２を跨ぐようにして搬送方向Ｂ１と直交する方向に配置している。また、拡散反射板３は、搬送方向Ｂ１から見てトンネル状（或いはアーチ状、半円形状）に形成され、５本分の搬送路２の全体が幅方向Ｂ２に覆われる曲率半径に形成されている。
つまり、拡散反射板３の内側反射面により光源４から投光される光を拡散して、検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周に対し均一に照光する。
【００３７】
なお、拡散反射板３の内側反射面は、光源４から投光される光が均一に拡散されるように表面加工され、エナメル線Ａの外面に存在する異常が発見しやすい乳白色等の所望する色に着色されている。
【００３８】
また、拡散反射板３の上流側及び下流側は、エナメル線Ａの搬送が許容される大きさに開口されている。
なお、拡散反射板３の上流側及び下流側に、エナメル線Ａの通過が許容される程度の大きさの出入口を有する遮光壁を配置すれば、検査時において、外光による影響を少なくすることができる。
【００３９】
光源４は、ＬＥＤ発光素子４ａで構成され、搬送方向Ｂ１から見て右端及び左端の搬送路２よりも外側にそれぞれ配置している。また、ＬＥＤ発光素子４ａは、拡散反射板３の両側下縁部に沿って搬送方向Ｂ１と平行する方向に対し等間隔に複数配列され、拡散反射板３の内側反射面に向けて光が投光される方向に向けて配置されている。
【００４０】
撮像カメラ５は、ＣＣＤカメラで構成され、拡散反射板３の上面側中央部に開口された開口部３ａの上方に一つ配置している。また、撮像カメラ５は、開口部３ａを介して、搬送路２上の検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａを５本同時に連続して撮像する。
【００４１】
反射部６は、エナメル線Ａの像を映り込ませるための鏡面６ａが加工された部材で構成され、エナメル線Ａの映り込みが許容される間隔を隔てて検査区間Ｃの搬送路２の下方に配置している。また、鏡面６ａは、エナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃと対向して反射部６の上面に形成されている。
【００４２】
鏡面６ａ，６ａは、搬送方向Ｂ１から見てＶ字状に形成され、エナメル線Ａの軸芯より垂下された中心線を中心として左右均等となる角度に傾斜している。また、鏡面６ａ，６ａの傾斜角度θは、図４に示すように、エナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃの像が撮像カメラ５の撮像領域内に映り込むような角度に設定されている。
【００４３】
つまり、鏡面６ａ，６ａには、撮像カメラ５によって撮像されるエナメル線Ａの軸芯より上側周面Ａａと、エナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃとを部分的にラップさせて映り込ませる（図４のａ参照）。
【００４４】
また、撮像カメラ５により上方から撮像する際、エナメル線Ａの軸芯より上側周面Ａａと、鏡面６ａ，６ａに反転して映し出されるエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃとの像が重ならず、エナメル線Ａの円周上の左右周面Ａｂ，Ａｃが同一に映し出される角度に設定されている（図４のｂ参照）。例えば１本のエナメル線Ａを検査する場合、１２０度に傾斜した角度θが望ましい。
光透過部７は、透光性を有する透過板７ａで構成され、反射部６の鏡面６ａと対向して搬送路２上のエナメル線Ａより上方に配置している。
【００４５】
透過板７ａは、エナメル線Ａの軸芯を通る中心線を中心として幅方向Ｂ２に配置され、撮像カメラ５によりエナメル線Ａの上側周面Ａａの撮像が許容される間隔に隔てて左右に配置されている。
【００４６】
搬送方向Ｃから見て左右両端に配置された透過板７ａは、反射部６の左右両端に形成された鏡面６ａの上方に配置されている。また、反射部６の左右両端より内側に配置された透過板７ａは、隣り合う鏡面６ａ，６ａを跨ぐようにして上方に配置されている。
【００４７】
また、透過板７ａは、撮像カメラ５が撮像するエナメル線Ａの上側周面Ａａの光路長Ｌ１と対応して、撮像カメラ５の撮像領域内に向けて鏡面６ａ，６ａが反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を同一又は近似する長さに調整する（図４のａ参照）。
【００４８】
なお、幅方向Ｂ２の中央部から両端部に配置された透過板７ａを、撮像カメラ５に向けて鏡面６ａに映り込ませた左右周面Ａｂ，Ａｃの像が屈折される角度に傾斜するか、厚み及び形状に形成してもよい。
【００４９】
また、幅方向Ｂ２の中央部から両端部に配置された鏡面６ａを、撮像カメラ５に向けて鏡面６ａに映り込ませた左右周面Ａｂ，Ａｃの像が反射される反射角度に傾斜してもよい。
【００５０】
図５は、外観検査装置１のブロック図を示している。
外観判定装置９に内蔵されたＣＰＵ１０は、ＲＯＭ１１に格納されたプログラムに沿って、光源４と、撮像カメラ５と、画像処理装置８とを制御する。また、ＲＡＭ１２には、所定の判定基準に基づいて判定された判定結果をエナメル線Ａ毎に記録する。
【００５１】
ＣＰＵ１０は、光源４から投光される光の明るさを、エナメル線Ａの外面全周がむらなく均一に照光される照度に調整する。
【００５２】
画像処理装置８は、撮像カメラ５から出力される画像情報を、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを判定するのに適した情報形態に変換処理（例えば２値化処理）して、外観判定装置９に出力する。
【００５３】
外観判定装置９は、画像処理装置８から出力される画像情報と、予め記憶された基準情報とを比較及び演算して、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを個々に判定する。
【００５４】
前記外観検査装置１によりエナメル線Ａの外面を検査する外観検査方法を詳述する。
先ず、図１〜図３に示すように、５本のエナメル線Ａを、搬送路２上に設定された検査区間Ｃに連続して搬送する。
【００５５】
次に、検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周に、拡散反射板３により拡散及び反射された光源４から投光される光を連続して照射し、５本のエナメル線Ａの外面全周をむらなく均一に照光する。
【００５６】
エナメル線Ａの上側周面Ａａを、一つの撮像カメラ５により光透過部７の透過板７ａ…の間から連続して撮像するとともに、該撮像カメラ５により反射部６の鏡面６ａ，６ａに映り込ませたエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃを連続して撮像する。
【００５７】
この時、光透過部７の透過板７ａにより撮像カメラ５の撮像領域内に向けて反射部６の鏡面６ａ，６ａが反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を、上側周面Ａａの光路長Ｌ１に対応して同一又は近似する長さに調整する（図４のａ参照）。
【００５８】
つまり、エナメル線Ａの上側周面Ａａを撮像カメラ５で直接撮像する際の焦点と、鏡面６ａ，６ａに映り込ませたエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃを撮像カメラ５で撮像する際の焦点とを合わせる。
これにより、エナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの画像を撮像カメラ５により鮮明に撮像することができる（図４のｂ参照）。
【００５９】
次に、撮像カメラ５により撮像されるエナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの鮮明な画像情報を画像処理装置８に出力して、画像処理装置８によりエナメル線Ａの外面全周の画像情報を画像処理する。
【００６０】
次に、画像処理装置８により画像処理されたエナメル線Ａの外面全周の画像情報を外観判定装置９に出力して、その画像情報に基づいて、外観判定装置９により５本のエナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを、エナメル線Ａ毎に同時判定する。
【００６１】
つまり、エナメル線Ａの外面全周に変色した部分が存在するか、凹凸した部分が存在する場合、異常が有りと判定する。
また、異常が有りと判定された場合、その異常が存在する箇所及び該箇所の面積を算出するとともに、その判定結果を、ＲＡＭ１２に対してエナメル線Ａ毎に記録及び随時更新する。
【００６２】
以上のように、外観検査装置１を用いてエナメル線Ａの外面全周を検査する際、搬送路２上の検査区間Ｃにおいて、光透過部７により反射部６が反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を、上側周面Ａａの光路長Ｌ１に対応して同一又は近似する長さに調整する。
これにより、エナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの画像を撮像カメラ５により鮮明に撮像することができ、その撮像された画像情報に基づいて、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができ、検査精度の向上を図ることができる。また、５本のエナメル線Ａの外面全周を同時に検査することができるので、検査作業の能率アップを図ることができる。
【００６３】
この発明の構成と、前記実施形態との対応において、
この発明の被検査物は、エナメル線Ａに対応し、
以下同様に、
被検査物の上面と下面は、エナメル線Ａの上側周面Ａａと、左右周面Ａｂ，Ａｃとに対応し、
撮像手段は、撮像カメラ５に対応するも、
この発明は、上述の実施形態の構成のみに限定されるものではなく、請求項に示される技術思想に基づいて応用することができ、多くの実施の形態を得ることができる。
【００６４】
前記反射部６の鏡面６ａに、例えばゴミ、埃等の異物が付着するのを防止するエアブロー機構、或いは、反射部６の鏡面６ａに付着した異物を払拭体により払拭・除去する払拭機構等を設けてもよい。
これにより、反射部６の鏡面６ａに映り込ませるエナメル線Ａの像が鮮明な状態に保たれ、撮像カメラ５により同一条件で常時撮像することができるので、安定した撮像が可能となる。
また、反射部６を、エナメル線Ａを製造する製造装置の製造ラインの長さに応じて、複数個連続して設置してもよい。
また、撮像カメラ５を、搬送方向Ｂ１と平行して並列に配置された５本の搬送路２上にそれぞれ配置してもよい。
また、外観検査装置１によりエナメル線Ａを検査する本数は、実施形態の５本のみに限定されるものではなく、５本以上の多数本のエナメル線Ａを同時に検査する際にも利用することができる。
【符号の説明】
【００６５】
Ａ…エナメル線
Ａａ…上側周面
Ａｂ，Ａｃ…左右周面
Ｂ…搬送方向
Ｃ…検査区間
Ｌ１，Ｌ２…光路長
１…外観検査装置
２…搬送路
３…拡散反射板
４…光源
５…撮像カメラ
６…反射部
６ａ…鏡面
７…光透過部
７ａ…透過板
８…画像処理装置
９…外観判定装置
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば線条体、棒条体等の長さ方向に連続する長尺状の被検査物の外面全周に異常が有るか否かを検出する際に用いられる被検査物の検査外観検査方法及びその外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、前記被検査物の外面を検査する方法としては、例えばエナメル線の外面を、該エナメル線毎に配置された複数台の撮像装置（ＣＣＤカメラ）で撮像し、その撮像した画像情報に基づいて、エナメル線の外面全周に異常が有るか否かを判定装置を用いて判定する。このような方法において、検査対象であるエナメル線の本数が多くなれば、撮像装置の設置台数を増やさなければならず、装置全体の構造が複雑化及び大型化することになる。
また、１本のエナメル線の外面を検査する際に掛かるコストが高くなるだけでなく、複数台の撮像装置で撮像した画像情報を一括して画像処理するため、エナメル線の外面検査には、高コストかつ複雑な装置が必要となる。
【０００３】
また別の方法では、エナメル線の外面検査において、レーザー照射装置から投光されるレーザーをエナメル線毎に照射し、該エナメル線毎に反射される反射光を反射光受光装置で受光して、該反射光受光装置で受光された反射光の強度を反射光測定装置にて測定する方式で検査することができる。しかし、エナメル線の外観全周を検査する場合、複数台（２台以上)のレーザー照射装置及び反射光受光装置を設置しなければならず、外面検査に掛かるコストが高くなる。
【０００４】
また、前記レーザー照射装置及び反射光受光装置からなる外観検査装置を、複数本のエナメル線を同時に製造する製造工程に導入する場合、レーザー照射装置及び反射光受光装置の設置場所を確保することが難しく、装置全体の構造が複雑化且つ大型化するという問題があった。
【０００５】
また、反射光の強度に基づいて、エナメル線の外面全周に異常が有るか否かを判定するが、エナメル線の外面全周に変色した部分が存在するか、凹凸した部分が存在する場合、反射光の強度を正確に測定することが困難であり、異常を誤検出するか、検出漏れ等が発生することになる。
【０００６】
他の検査方法としては、例えば検査位置に搬送された電子部品の表面側と、該検査位置の下方に配置された一対の反射鏡に映った電子部品の裏面側とを１台の撮像カメラで同時に撮像するという方法が電子部品の外観検査装置に記載されている（特許文献１参照）。
【０００７】
しかし、このような外観検査装置の場合、電子部品の表面側に照射された光は、撮像カメラに向けて直接反射されるが、電子部品の裏面側に照射された光は、反射鏡によって撮像カメラに向けて反射されるので、反射鏡によって反射された光の光路長が長くなる。このため、撮像カメラが撮像する電子部品の表裏両面の焦点が一致せず、光路長が長い方の裏面側の画像がぼやけて不鮮明となるため、電子部品の裏面側に異常な箇所が存在していても、不鮮明な画像からは異常を検出することが困難であり、検査ミスが発生しやすい。
【０００８】
また、光源からの光を電子部品に対し上方から当てるので、電子部品の表面の明度と、反射鏡に映った像の明度に差異が生じ、表面色の変化が検出できない可能性がある。また、特許文献１に記載されている搬送機構では、エナメル線のような複数本の線条体を長さ方向に連続して製造する工程には導入することができない。
【０００９】
また、その他の検査方法としては、例えば円柱状の製品の外面検査を行うに当たり、ＣＣＤカメラ等の撮像装置を設ける方法が表面検査装置に記載されている（特許文献２参照）。しかし、全周検査を行うにあたり、円柱状の製品を回転させる方法を備えているが、長さ方向に連続して製造される線状或いは棒状の物体を検査するのには適用が不可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特許公開２００１−２０８５１９号公報
【特許文献２】特許公開２００５−６２１０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
この発明は、長尺状の被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができる被検査物の外観検査方法及びその外観検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
この発明は、搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される長尺状の被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査方法であって、前記検査区間に搬送される前記被検査物の下面を、該検査区間の搬送路下方に配置された鏡状の反射部により前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射させ、前記搬送路上の前記被検査物より上方に配置された前記光透過部により前記反射部によって反射する前記被検査物の下面の光路長を、前記被検査物の上面の光路長と同一又は近似する長さに調整する被検査物の外観検査方法であることを特徴とする。
これにより、被検査物の上面及び下面の画像を撮像手段によって鮮明に撮像することができる。したがって、撮像手段で撮像した画像情報に基づいて、被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができる。
【００１３】
この発明の態様として、前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を、前記検査区間の上方に配置された一つの撮像手段により一括して撮像することができる。
これにより、複数の被検査物を一つの撮像手段により一括して撮像することができる。したがって、撮像手段の設置台数が少なくて済み、検査コストの低減を図ることができる。
【００１４】
また、この発明の態様として、前記被検査物の下面を、該被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜された前記反射部の上面に形成されたＶ字状の鏡面に映り込ませることができる。
これにより、被検査部の左右下面が反射部の鏡面に対し均等に映り込むので、撮像手段により鏡面に映り込ませた被検査物の左右下面を同時に撮像することができる。
【００１５】
また、この発明の態様として、前記被検査物の上面を、該上面の撮像が許容される間隔を隔てて配置された前記光透過部の間から撮像することができる。
これにより、被検査物の上面を撮像手段により直接撮像することができ、鮮明な画像が得られる。
【００１６】
また、この発明の態様として、前記被検査物の外面全周に向けて、前記検査区間の上方に配置された拡散反射板により光源から投光される光を拡散して反射することができる。
これにより、拡散反射板により拡散された光源からの光が、被検査物の外面全周に向けて照射されるので、被検査物の外面全周をむらなく均一に照光することができる。
【００１７】
また、この発明は、搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査装置であって、前記検査区間の搬送路下方に、前記被検査物の下面を前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射する鏡状の反射部を配置し、前記搬送路上の前記被検査物より上方に、前記反射部が反射する前記被検査物の下面の光路長を調整する光透過部を配置した被検査物の外観検査装置であることを特徴とする。
【００１８】
これにより、被検査物の上面及び下面の画像を撮像手段によって鮮明に撮像することができる。したがって、撮像手段で撮像した画像情報に基づいて、被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができる。
【００１９】
この発明の態様として、前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、前記検査区間の上方に、前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を一括して撮像する一つの撮像手段を配置することができる。
【００２０】
これにより、複数の被検査物を一つの撮像手段により一括して撮像することができる。したがって、撮像手段の設置台数が少なくて済み、検査コストの低減を図ることができる。
【００２１】
また、この発明の態様として、前記反射部の上面に、前記被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜されたＶ字状の鏡面を形成することができる。
これにより、被検査部の左右下面が反射部の鏡面に対し均等に映り込むので、撮像手段により鏡面に映り込ませた被検査物の左右下面を同時に撮像することができる。
【００２２】
また、この発明の態様として、前記光透過部を、前記撮像手段により前記被検査物の上面の撮像が許容される間隔を隔てて複数配置することができる。
これにより、被検査物の上面を撮像手段により直接撮像することができ、鮮明な画像が得られる。
【００２３】
また、この発明の態様として、前記搬送路上の検査区間に、前記被検査物の外面全周に向けて光源から投光される光を拡散して反射する拡散反射板を配置することができる。
これにより、拡散反射板により拡散された光源からの光が、被検査物の外面全周に向けて照射されるので、被検査物の外面全周をむらなく均一に照光することができる。
【００２４】
前記被検査物は、例えばエナメル線、銅線等の導電性を有する金属で形成された長尺状の線条導体、或いは、その他の金属や合成樹脂等の材質で形成された長尺状の線条体又は棒条体で構成することができる。また、被検査物の長さ方向と直交する面の断面形状は、例えば断面丸形状、断面楕円形状、断面矩形状等に形成することができる。
【００２５】
また、撮像手段は、例えば撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）、ビデオカメラ、デジタルカメラ等で構成することができる。
また、外観判定手段は、例えばパーソナルコンピューターやＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭを備えた制御装置等で構成することができる。
また、光源は、例えばＬＥＤ発光素子、ハロゲンランプ、キセノンランプ、蛍光灯、白熱灯等の照明で構成することができる。
また、拡散反射板は、例えばポリエチレン−テレフタレート等の微細発泡樹脂で形成されたシートやプレート、或いは、ガラス、金属、合成樹脂等を主たる材質で形成された鏡面体で構成することができる。
なお、光源から投光される光の反射率、拡散率が高いものであれば、実施形態の拡散反射板以外の鏡面体を使用してもよい。
【発明の効果】
【００２６】
この発明によれば、光透過部により反射部が反射する被検査物の下面の光路長を、被検査物の上面の光路長と同一又は近似する長さに調整し、被検査物の上面を撮像する際の焦点と、反射部に映り込ませた被検査物の下面を撮像する際の焦点とを合わせる。これにより、被検査物の上面及び下面の画像を撮像手段によって鮮明に撮像することができる。したがって、その画像情報に基づいて、被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができ、検査精度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】外観検査装置によるエナメル線の外観検査方法を示す斜視図。
【図２】外観検査装置を搬送方向と直交する方向から見た状態を示す側面図。
【図３】外観検査装置を搬送方向の下流側から見た状態を示す正面図。
【図４】反射部による光の反射方向、反射部に映り込ませた像を示す説明図。
【図５】外観検査装置のブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
この発明の一実施形態を、以下図面を用いて説明する。
図１は外観検査装置１によるエナメル線Ａの外観検査方法を示す斜視図、図２は外観検査装置１を搬送方向Ｂ１と直交する方向から見た状態を示す側面図、図３は外観検査装置１を搬送方向Ｂ１の下流側から見た状態を示す正面図、図４は反射部６による光の反射方向及びエナメル線Ａの像を示す説明図、図５は外観検査装置１のブロック図である。
【００２９】
本実施形態のエナメル線Ａの外観検査方法は、断面丸形状に形成された５本のエナメル線Ａを、搬送方向Ｂ１と平行して並列に配置された５本の搬送路２上に１本ずつ配列して、該搬送路２上に設定された検査区間Ｃに連続して搬送する。
【００３０】
検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周に、該検査区間Ｃに配置されたトンネル状の拡散反射板３により反射される光源４からの光を照射して、エナメル線Ａの外面全周をむらなく均一に照光する。
【００３１】
検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの上側周面Ａａと、搬送路２の下方に配置された反射部６に映し出されるエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃとを撮像する際、エナメル線Ａの上側周面Ａａを撮像カメラ５で撮像する際の焦点と、反射部６に映し出されたエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃを撮像カメラ５で撮像する際の焦点とが同一となるように、撮像カメラ５に向けて反射部６が反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長を搬送路２の上方に配置された光透過部７により調整する。
【００３２】
撮像カメラ５から出力されるエナメル線Ａの外面全周の画像情報を画像処理装置８で画像処理して、該画像処理装置８により処理された画像情報に基づいて、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを外観判定装置９で個々に判定する。
【００３３】
前記外観検査方法によりエナメル線Ａの外面を検査する外観検査装置１は、エナメル線Ａを搬送する５本の搬送路２と、拡散反射板３と、一対の光源４と、一つの撮像カメラ５と、反射部６と、光透過部７と、画像処理装置８と、外観判定装置９とで構成している。
【００３４】
搬送路２は、エナメル線Ａの搬送方向Ｂ１と平行して、該搬送方向Ｂ１と直交する方向に対し等ピッチ間隔を隔てて５本配置している。また、搬送路２上の同一位置を検査区間Ｃに設定している。
【００３５】
また、搬送路２上に設定された検査区間Ｃの上流側及び下流側には、エナメル線Ａの長さ方向に対し適度なテンションを付与するとともに、該エナメル線Ａを搬送方向Ｂ１と直交する方向に対し等ピッチ間隔に規制するための図示しないガイドロールが配置されている。
これにより、エナメル線Ａの位置及び間隔が変位することがなく、撮像カメラ５によるエナメル線Ａの撮像が安定して行える。
【００３６】
拡散反射板３は、微細発泡樹脂製のシートで構成され、５本分の搬送路２を跨ぐようにして搬送方向Ｂ１と直交する方向に配置している。また、拡散反射板３は、搬送方向Ｂ１から見てトンネル状（或いはアーチ状、半円形状）に形成され、５本分の搬送路２の全体が幅方向Ｂ２に覆われる曲率半径に形成されている。
つまり、拡散反射板３の内側反射面により光源４から投光される光を拡散して、検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周に対し均一に照光する。
【００３７】
なお、拡散反射板３の内側反射面は、光源４から投光される光が均一に拡散されるように表面加工され、エナメル線Ａの外面に存在する異常が発見しやすい乳白色等の所望する色に着色されている。
【００３８】
また、拡散反射板３の上流側及び下流側は、エナメル線Ａの搬送が許容される大きさに開口されている。
なお、拡散反射板３の上流側及び下流側に、エナメル線Ａの通過が許容される程度の大きさの出入口を有する遮光壁を配置すれば、検査時において、外光による影響を少なくすることができる。
【００３９】
光源４は、ＬＥＤ発光素子４ａで構成され、搬送方向Ｂ１から見て右端及び左端の搬送路２よりも外側にそれぞれ配置している。また、ＬＥＤ発光素子４ａは、拡散反射板３の両側下縁部に沿って搬送方向Ｂ１と平行する方向に対し等間隔に複数配列され、拡散反射板３の内側反射面に向けて光が投光される方向に向けて配置されている。
【００４０】
撮像カメラ５は、ＣＣＤカメラで構成され、拡散反射板３の上面側中央部に開口された開口部３ａの上方に一つ配置している。また、撮像カメラ５は、開口部３ａを介して、搬送路２上の検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａを５本同時に連続して撮像する。
【００４１】
反射部６は、エナメル線Ａの像を映り込ませるための鏡面６ａが加工された部材で構成され、エナメル線Ａの映り込みが許容される間隔を隔てて検査区間Ｃの搬送路２の下方に配置している。また、鏡面６ａは、エナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃと対向して反射部６の上面に形成されている。
【００４２】
鏡面６ａ，６ａは、搬送方向Ｂ１から見てＶ字状に形成され、エナメル線Ａの軸芯より垂下された中心線を中心として左右均等となる角度に傾斜している。また、鏡面６ａ，６ａの傾斜角度θは、図４に示すように、エナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃの像が撮像カメラ５の撮像領域内に映り込むような角度に設定されている。
【００４３】
つまり、鏡面６ａ，６ａには、撮像カメラ５によって撮像されるエナメル線Ａの軸芯より上側周面Ａａと、エナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃとを部分的にラップさせて映り込ませる（図４のａ参照）。
【００４４】
また、撮像カメラ５により上方から撮像する際、エナメル線Ａの軸芯より上側周面Ａａと、鏡面６ａ，６ａに反転して映し出されるエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃとの像が重ならず、エナメル線Ａの円周上の左右周面Ａｂ，Ａｃが同一に映し出される角度に設定されている（図４のｂ参照）。例えば１本のエナメル線Ａを検査する場合、１２０度に傾斜した角度θが望ましい。
光透過部７は、透光性を有する透過板７ａで構成され、反射部６の鏡面６ａと対向して搬送路２上のエナメル線Ａより上方に配置している。
【００４５】
透過板７ａは、エナメル線Ａの軸芯を通る中心線を中心として幅方向Ｂ２に配置され、撮像カメラ５によりエナメル線Ａの上側周面Ａａの撮像が許容される間隔に隔てて左右に配置されている。
【００４６】
搬送方向Ｃから見て左右両端に配置された透過板７ａは、反射部６の左右両端に形成された鏡面６ａの上方に配置されている。また、反射部６の左右両端より内側に配置された透過板７ａは、隣り合う鏡面６ａ，６ａを跨ぐようにして上方に配置されている。
【００４７】
また、透過板７ａは、撮像カメラ５が撮像するエナメル線Ａの上側周面Ａａの光路長Ｌ１と対応して、撮像カメラ５の撮像領域内に向けて鏡面６ａ，６ａが反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を同一又は近似する長さに調整する（図４のａ参照）。
【００４８】
なお、幅方向Ｂ２の中央部から両端部に配置された透過板７ａを、撮像カメラ５に向けて鏡面６ａに映り込ませた左右周面Ａｂ，Ａｃの像が屈折される角度に傾斜するか、厚み及び形状に形成してもよい。
【００４９】
また、幅方向Ｂ２の中央部から両端部に配置された鏡面６ａを、撮像カメラ５に向けて鏡面６ａに映り込ませた左右周面Ａｂ，Ａｃの像が反射される反射角度に傾斜してもよい。
【００５０】
図５は、外観検査装置１のブロック図を示している。
外観判定装置９に内蔵されたＣＰＵ１０は、ＲＯＭ１１に格納されたプログラムに沿って、光源４と、撮像カメラ５と、画像処理装置８とを制御する。また、ＲＡＭ１２には、所定の判定基準に基づいて判定された判定結果をエナメル線Ａ毎に記録する。
【００５１】
ＣＰＵ１０は、光源４から投光される光の明るさを、エナメル線Ａの外面全周がむらなく均一に照光される照度に調整する。
【００５２】
画像処理装置８は、撮像カメラ５から出力される画像情報を、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを判定するのに適した情報形態に変換処理（例えば２値化処理）して、外観判定装置９に出力する。
【００５３】
外観判定装置９は、画像処理装置８から出力される画像情報と、予め記憶された基準情報とを比較及び演算して、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを個々に判定する。
【００５４】
前記外観検査装置１によりエナメル線Ａの外面を検査する外観検査方法を詳述する。
先ず、図１〜図３に示すように、５本のエナメル線Ａを、搬送路２上に設定された検査区間Ｃに連続して搬送する。
【００５５】
次に、検査区間Ｃに搬送されるエナメル線Ａの外面全周に、拡散反射板３により拡散及び反射された光源４から投光される光を連続して照射し、５本のエナメル線Ａの外面全周をむらなく均一に照光する。
【００５６】
エナメル線Ａの上側周面Ａａを、一つの撮像カメラ５により光透過部７の透過板７ａ…の間から連続して撮像するとともに、該撮像カメラ５により反射部６の鏡面６ａ，６ａに映り込ませたエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃを連続して撮像する。
【００５７】
この時、光透過部７の透過板７ａにより撮像カメラ５の撮像領域内に向けて反射部６の鏡面６ａ，６ａが反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を、上側周面Ａａの光路長Ｌ１に対応して同一又は近似する長さに調整する（図４のａ参照）。
【００５８】
つまり、エナメル線Ａの上側周面Ａａを撮像カメラ５で直接撮像する際の焦点と、鏡面６ａ，６ａに映り込ませたエナメル線Ａの左右周面Ａｂ，Ａｃを撮像カメラ５で撮像する際の焦点とを合わせる。
これにより、エナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの画像を撮像カメラ５により鮮明に撮像することができる（図４のｂ参照）。
【００５９】
次に、撮像カメラ５により撮像されるエナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの鮮明な画像情報を画像処理装置８に出力して、画像処理装置８によりエナメル線Ａの外面全周の画像情報を画像処理する。
【００６０】
次に、画像処理装置８により画像処理されたエナメル線Ａの外面全周の画像情報を外観判定装置９に出力して、その画像情報に基づいて、外観判定装置９により５本のエナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを、エナメル線Ａ毎に同時判定する。
【００６１】
つまり、エナメル線Ａの外面全周に変色した部分が存在するか、凹凸した部分が存在する場合、異常が有りと判定する。
また、異常が有りと判定された場合、その異常が存在する箇所及び該箇所の面積を算出するとともに、その判定結果を、ＲＡＭ１２に対してエナメル線Ａ毎に記録及び随時更新する。
【００６２】
以上のように、外観検査装置１を用いてエナメル線Ａの外面全周を検査する際、搬送路２上の検査区間Ｃにおいて、光透過部７により反射部６が反射する左右周面Ａｂ，Ａｃの光路長Ｌ２を、上側周面Ａａの光路長Ｌ１に対応して同一又は近似する長さに調整する。
これにより、エナメル線Ａの上側周面Ａａ及び左右周面Ａｂ，Ａｃの画像を撮像カメラ５により鮮明に撮像することができ、その撮像された画像情報に基づいて、エナメル線Ａの外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができ、検査精度の向上を図ることができる。また、５本のエナメル線Ａの外面全周を同時に検査することができるので、検査作業の能率アップを図ることができる。
【００６３】
この発明の構成と、前記実施形態との対応において、
この発明の被検査物は、エナメル線Ａに対応し、
以下同様に、
被検査物の上面と下面は、エナメル線Ａの上側周面Ａａと、左右周面Ａｂ，Ａｃとに対応し、
撮像手段は、撮像カメラ５に対応するも、
この発明は、上述の実施形態の構成のみに限定されるものではなく、請求項に示される技術思想に基づいて応用することができ、多くの実施の形態を得ることができる。
【００６４】
前記反射部６の鏡面６ａに、例えばゴミ、埃等の異物が付着するのを防止するエアブロー機構、或いは、反射部６の鏡面６ａに付着した異物を払拭体により払拭・除去する払拭機構等を設けてもよい。
これにより、反射部６の鏡面６ａに映り込ませるエナメル線Ａの像が鮮明な状態に保たれ、撮像カメラ５により同一条件で常時撮像することができるので、安定した撮像が可能となる。
また、反射部６を、エナメル線Ａを製造する製造装置の製造ラインの長さに応じて、複数個連続して設置してもよい。
また、撮像カメラ５を、搬送方向Ｂ１と平行して並列に配置された５本の搬送路２上にそれぞれ配置してもよい。
また、外観検査装置１によりエナメル線Ａを検査する本数は、実施形態の５本のみに限定されるものではなく、５本以上の多数本のエナメル線Ａを同時に検査する際にも利用することができる。
【符号の説明】
【００６５】
Ａ…エナメル線
Ａａ…上側周面
Ａｂ，Ａｃ…左右周面
Ｂ…搬送方向
Ｃ…検査区間
Ｌ１，Ｌ２…光路長
１…外観検査装置
２…搬送路
３…拡散反射板
４…光源
５…撮像カメラ
６…反射部
６ａ…鏡面
７…光透過部
７ａ…透過板
８…画像処理装置
９…外観判定装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される長尺状の被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査方法であって、
前記検査区間に搬送される前記被検査物の下面を、該検査区間の搬送路下方に配置された鏡状の反射部により前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射させ、
前記搬送路上の前記被検査物より上方に配置された前記光透過部により前記反射部によって反射する前記被検査物の下面の光路長を、前記被検査物の上面の光路長と同一又は近似する長さに調整する
被検査物の外観検査方法。
【請求項２】
前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、
前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を、前記検査区間の上方に配置された一つの撮像手段により一括して撮像する
請求項１に記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項３】
前記被検査物の下面を、該被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜された前記反射部の上面に形成されたＶ字状の鏡面に映り込ませる
請求項１又は２に記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項４】
前記被検査物の上面を、該上面の撮像が許容される間隔を隔てて配置された前記光透過部の間から撮像する
請求項１〜３のいずれか一つに記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項５】
前記被検査物の外面全周に向けて、前記検査区間の上方に配置された拡散反射板により光源から投光される光を拡散して反射する
請求項１〜４のいずれか一つに記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項６】
搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される長尺状の被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査装置であって、
前記検査区間の搬送路下方に、前記被検査物の下面を前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射させる鏡状の反射部を配置し、
前記搬送路上の前記被検査物より上方に、前記反射部によって反射する前記被検査物の下面の光路長を調整する光透過部を配置した
被検査物の外観検査装置。
【請求項７】
前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、
前記検査区間の上方に、前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を一括して撮像する一つの撮像手段を配置した
請求項６に記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項８】
前記反射部の上面に、前記被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜されたＶ字状の鏡面を形成した
請求項６又は７に記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項９】
前記光透過部を、前記撮像手段により前記被検査物の上面の撮像が許容される間隔を隔てて複数配置した
請求項６〜８のいずれか一つ記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項１０】
前記搬送路上の検査区間に、前記被検査物の外面全周に向けて光源から投光される光を拡散して反射する拡散反射板を配置した
請求項６〜９のいずれか一つに記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項１】
搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される長尺状の被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査方法であって、
前記検査区間に搬送される前記被検査物の下面を、該検査区間の搬送路下方に配置された鏡状の反射部により前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射させ、
前記搬送路上の前記被検査物より上方に配置された前記光透過部により前記反射部によって反射する前記被検査物の下面の光路長を、前記被検査物の上面の光路長と同一又は近似する長さに調整する
被検査物の外観検査方法。
【請求項２】
前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、
前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を、前記検査区間の上方に配置された一つの撮像手段により一括して撮像する
請求項１に記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項３】
前記被検査物の下面を、該被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜された前記反射部の上面に形成されたＶ字状の鏡面に映り込ませる
請求項１又は２に記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項４】
前記被検査物の上面を、該上面の撮像が許容される間隔を隔てて配置された前記光透過部の間から撮像する
請求項１〜３のいずれか一つに記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項５】
前記被検査物の外面全周に向けて、前記検査区間の上方に配置された拡散反射板により光源から投光される光を拡散して反射する
請求項１〜４のいずれか一つに記載の被検査物の外観検査方法。
【請求項６】
搬送路上に設定された検査区間において、該搬送路に沿って長さ方向に連続して搬送される長尺状の被検査物の外面を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像情報に基づいて、該被検査物の外面全周に異常が有るか否かを外観判定手段で判定する被検査物の外観検査装置であって、
前記検査区間の搬送路下方に、前記被検査物の下面を前記撮像手段の撮像領域内に向けて反射させる鏡状の反射部を配置し、
前記搬送路上の前記被検査物より上方に、前記反射部によって反射する前記被検査物の下面の光路長を調整する光透過部を配置した
被検査物の外観検査装置。
【請求項７】
前記搬送路を、該搬送路の搬送方向と平行して並列に複数配置し、
前記検査区間の上方に、前記全搬送路に沿って搬送される前記被検査物を一括して撮像する一つの撮像手段を配置した
請求項６に記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項８】
前記反射部の上面に、前記被検査物を中心として左右均等となる角度に傾斜されたＶ字状の鏡面を形成した
請求項６又は７に記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項９】
前記光透過部を、前記撮像手段により前記被検査物の上面の撮像が許容される間隔を隔てて複数配置した
請求項６〜８のいずれか一つ記載の被検査物の外観検査装置。
【請求項１０】
前記搬送路上の検査区間に、前記被検査物の外面全周に向けて光源から投光される光を拡散して反射する拡散反射板を配置した
請求項６〜９のいずれか一つに記載の被検査物の外観検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１１−２０９１１２（Ｐ２０１１−２０９１１２Ａ）
【公開日】平成２３年１０月２０日（２０１１．１０．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−７７１０２（Ｐ２０１０−７７１０２）
【出願日】平成２２年３月３０日（２０１０．３．３０）
【出願人】（０００００５２９０）古河電気工業株式会社 (4,457)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１０月２０日（２０１１．１０．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年３月３０日（２０１０．３．３０）
【出願人】（０００００５２９０）古河電気工業株式会社 (4,457)
【Ｆターム（参考）】
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