記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法
【課題】ホスト機器との間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、データ転送モードの確認による劣化を低減可能な記憶装置等を提供すること。
【解決手段】データを記憶する不揮発性メモリであるＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５と、データを一時的に保存するデータバッファ１２と、を有し、ホスト機器２０と記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのテスト開始要求がホスト機器２０により発行され、不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データがホスト機器２０から入力された場合に、テスト用データをデータバッファ１２に保存するとともに、データバッファ１２に保存されたテスト用データをホスト機器２０による読み出し要求に応じて出力する。
【解決手段】データを記憶する不揮発性メモリであるＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５と、データを一時的に保存するデータバッファ１２と、を有し、ホスト機器２０と記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのテスト開始要求がホスト機器２０により発行され、不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データがホスト機器２０から入力された場合に、テスト用データをデータバッファ１２に保存するとともに、データバッファ１２に保存されたテスト用データをホスト機器２０による読み出し要求に応じて出力する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法、特に、ホスト機器と記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのバステスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、機器間において大容量のデータを円滑に伝送するため、バスを通じたデータ転送の高速化が求められている。従来、バスを伝送するパケットのエラー状況など、バスを通じたデータの転送状況をチェックする技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
ホスト機器に装着して使用される記憶装置、例えばメモリカードとホスト機器とを接続するバスについて、テスト用データを用いたバステストにより、接続状況のチェックが行われている。例えば、マルチメディアカード（以下、ＭＭＣと称す）は、バス幅が１ビット、４ビット、８ビットのものがあり、ホスト機器のスロットに挿入されたＭＭＣがいずれのビット幅でアクセス可能であるかが、バステストにより調査される。バステストは、テスト開始コマンドを発行した後、所定のパターンのテスト用データをＭＭＣからホスト機器へ送出することにより行う。ＭＭＣについてアクセス可能なビット幅の調査には、８クロックのパターンからなるテスト用データが用いられている。例えば、８ビットまでのバス幅を調査する場合、ＢＵＳ０〜ＢＵＳ７の８本のバスを使用して、ＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルになるタイミング、ＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルになるタイミングが受信した信号と送信した信号とで一致するか否かを各バスについて確認する。
【０００４】
このようなバステストは、端子の接続状況によりバス幅を確認可能である一方、バスにおけるデータ転送を高速化させることに対しての挙動、ノイズの影響やクロック信号のジッタの影響について、８クロック程度のデータパタンから状況を判断することは困難である。データ転送を高速化させる場合、ホスト機器における信号のドライバ、レシーバと、メモリカードにおける信号のドライバ、レシーバとの相性に関する問題も起き易くなる。相性に関する問題として、信号の反射による影響が挙げられる。特に、バスのクロック信号の反射については、若干のずれが大きく影響を及ぼす場合があることから、問題が生じている場合であっても、８クロック程度のバステストでは正常であると判断されることが多くなる。
【０００５】
また、メモリカードは、あらゆる機器のスロットでの挿抜を繰り返して使用される。エンドユーザがメモリカードに直接触れながら挿抜を行うため、静電気の影響を受け易く、ゴミ、手の油などの汚れが端子に付着することによる接触不良が生じる可能性も高い。このようなことから、ホスト機器及びメモリカードの間でデータを安定して伝送可能か否かを的確に把握できることが望ましい。さらに、メモリカードは、データの書き込み及び消去を繰り返すことにより劣化するため、バステストにおいて通常のデータと同様にテスト用データを書き込み及び読み出しを行うことで、ユーザが実際にメモリカードを使用可能である期間を短くすることにもなる。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−１９８９７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、ホスト機器との間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、バステストによる劣化を低減可能な記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本願発明の一態様によれば、ホスト機器に装着して使用される記憶装置であって、データを記憶する不揮発性メモリと、ホスト機器から入力されたデータ、及びホスト機器へ出力するため不揮発性メモリから取り出されたデータを一時的に保存するデータバッファと、を有し、ホスト機器と記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのテスト開始要求がホスト機器により発行され、不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データがホスト機器から入力された場合に、テスト用データをデータバッファに保存するとともに、データバッファに保存されたテスト用データをホスト機器による読み出し要求に応じて出力することを特徴とする記憶装置が提供される。
【０００９】
また、本願発明の一態様によれば、ホスト機器と、ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのバステスト方法であって、記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データをホスト機器から記憶装置へ送出する送出工程と、ホスト機器から送出されたテスト用データを、記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、データバッファに保存されているテスト用データを記憶装置からホスト機器へ返送する返送工程と、送出工程においてホスト機器から送出したテスト用データと、返送工程において記憶装置から返送されたテスト用データとを比較する工程と、を含むことを特徴とするバステスト方法が提供される。
【００１０】
また、本願発明の一態様によれば、ホスト機器と、ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを切り替えるデータ転送モード切替方法であって、データ転送モードの切り替え要求に対して、記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データをホスト機器から記憶装置へ送出する送出工程と、ホスト機器から送出されたテスト用データを、記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、データバッファに保存されたテスト用データを記憶装置からホスト機器へ返送する返送工程と、を含み、送出工程においてホスト機器から送出したテスト用データと、返送工程において記憶装置から返送されたテスト用データとが一致する場合に、データ転送モードを切り替えることを特徴とするデータ転送モード切替方法が提供される。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、ホスト機器及び記憶装置の間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、バステストによる記憶装置の劣化を低減可能であるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に添付図面を参照して、この発明に係る記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法の最良な実施の形態を詳細に説明する。
【００１３】
（実施の形態）
図１は、本発明の実施の形態に係る記憶装置であるＳＤメモリカード１０の構成を示すブロック図である。ＳＤメモリカード１０は、デジタルビデオカメラ等のホスト機器２０に装着して使用される。ＳＤメモリカード１０は、本発明が属する分野の技術者によって、以下の説明要綱に基づき、適宜変形可能である。従って、以下の説明は、当該分野に対して開示される内容として広く理解されるべきであり、本発明を限定するものではない。
【００１４】
ＳＤメモリカード１０のインターフェース１１と、ホスト機器２０のインターフェース２１とは、ＳＤバス３０により電気的に接続されている。ＳＤバス３０は、１本のクロックライン（ＳＤＣＬＫ）、１本のコマンドライン（ＳＤＣＭＤ）、及び４本のデータライン（ＳＤＤＡＴ）を備える。クロックラインは、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０へ、ＳＤバス３０の動作クロックを供給する。コマンドラインは、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０への命令、命令に対してＳＤメモリカード１０がホスト機器２０へ出力する結果（レスポンス）を伝送する。データラインは、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０へ書き込まれるデータと、ＳＤメモリカード１０からホスト機器２０へ読み出されるデータとを伝送する。ＳＤバス３０のバス幅、及びデータ転送モードは、レジスタの値を参照することにより確認される。
【００１５】
ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５は、データや管理データを記憶する不揮発性メモリである。データバッファ１２は、ホスト機器２０から入力されたデータ、及びホスト機器２０へ出力するためＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５から取り出されたデータを一時的に保存する。ＮＡＮＤ型フラッシュメモリインターフェース１４は、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５を制御するとともに、データバッファ１２に保存されたデータをＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５に保存させる。また、ホスト機器２０からのデータの読み出し要求に対して、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリインターフェース１４は、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５からデータを読み出し、データバッファ１２に保存させる。マイクロプロセッサ１３は、インターフェース１１、データバッファ１２、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリインターフェース１４を制御する。ＳＤメモリカード１０は、５１２バイトのパケットを単位として、データの読み出し、書き込みを行う。
【００１６】
図２は、ホスト機器２０の電源投入から、ＳＤメモリカード１０のデータの読み出し、書き込みまでの手順の概要を説明するフローチャートである。ここでは、ＳＤメモリカード１０の初期化を行う際にデータ転送モードを切り替える場合を例として説明する。ホスト機器２０の電源を投入する（ステップＳ１）と、ホスト機器２０は、初期化コマンドを発行する（ステップＳ２）。ホスト機器２０からの初期化コマンドに応じて、ＳＤメモリカード１０の初期化が開始される。初期化処理中において、ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０との間で切り替え可能なデータ転送モードを確認する（ステップＳ３）。
【００１７】
ＳＤメモリカード１０には、ＳＰＩモード、ＳＤ１ビットモード、ＳＤ４ビットモードがあり、さらに、ＳＤバス３０の動作周波数を高くしてアクセス可能なハイスピードモードがある。切り替え可能なデータ転送モードは、レジスタの値を参照することにより確認される。初期化開始時はＳＤメモリカード１０のデータ転送モードが確認される前であることから、初期化の際のアクセスは、ＳＤメモリカード１０のインターフェース１１が動作可能な最高周波数より低い周波数、例えば４００ｋＨｚとする。例えば、ＳＤメモリカード１０がハイスピードモードに対応していないものである場合、ＳＤバス３０の最大動作周波数は２５ＭＨｚと規定される。ＳＤメモリカード１０がハイスピードモードに対応しているものである場合、ＳＤバス３０の最大動作周波数は５０ＭＨｚと規定される。
【００１８】
ＳＤメモリカード１０の初期化が終了（ステップＳ４）した後、ＳＤバス３０におけるデータ転送モードを切り替える（ステップＳ５）。その後、ＳＤメモリカード１０のデータの読み出し、書き込み処理を行う（ステップＳ６）。従来の技術では、データ転送モードの確認によりハイスピードモードに対応しているものと確認された場合、これに応じてデータ転送モードをハイスピードモードに切り替える。本発明は、データ転送モードがハイスピードモードに対応するものであっても、以下に説明するバステストをパスした場合に限り、データ転送モードをハイスピードモードに切り替えることを特徴とする。
【００１９】
図３は、ＳＤメモリカード１０の初期化を行う際にバステストを実施し、データ転送モードを選択する手順を説明するフローチャートである。ここでは、データ転送モードの確認（ステップＳ３）により、ＳＤメモリカード１０がハイスピードモードに対応することが確認された場合に、高速モード（５０ＭＨｚ）、低速モード（２５ＭＨｚ）のいずれかを選択する場合について説明する。ステップＳ１からステップＳ４の工程は、図２を用いた説明と同様である。
【００２０】
ホスト機器２０は、初期化終了（ステップＳ４）の後、データ転送モード切り替えコマンド（切り替え要求）を発行する（ステップＳ１１）。データ転送モード切り替えコマンドにより、テスト用としてデータ転送モードを高速モードに設定する。さらに、ホスト機器２０がテスト開始コマンド（テスト開始要求）を発行（ステップＳ１２）することにより、バステストが実施される（ステップＳ１３）。
【００２１】
図４は、バステストにおけるホスト機器２０の動作の手順を説明するものである。図５は、バステストにおけるＳＤメモリカード１０の動作の手順を説明するものである。ホスト機器２０がテスト開始コマンドを発行する（ステップＳ１２）と、ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０からのテスト開始コマンドを受信する（ステップＳ３１）。マイクロプロセッサ１３は、テスト開始コマンドの受信により、制御をバステストモードに切り替える。次に、ホスト機器２０はデータ書き込みコマンドを発行する（ステップＳ２１）と、ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０からのデータ書き込みコマンドを受信する（ステップＳ３２）。
【００２２】
ホスト機器２０は、テスト用データを準備し、ＳＤメモリカード１０へ送出する（ステップＳ２２、送出工程）。テスト用データとしては、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５へのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズである５１２バイトのパケットが用いられる。テスト用データには、検査符号であるＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check；巡回冗長検査）符号が付加される。ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０から送出されたテスト用データをデータバッファ１２に一時的に保存する（ステップＳ３３）。マイクロプロセッサ１３は、バステスト以外の通常における書き込みコマンドに対しては、データバッファ１２を通じてＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５にデータを書き込む制御を行う。バステストモードにおいては、マイクロプロセッサ１３は、テスト用データの保存をデータバッファ１２にとどめ、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５への書き込みを行わない。
【００２３】
ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０から入力されたテスト用データについて、インターフェース１１でのＣＲＣ計算により、エラーの有無を検査する（ステップＳ３４）。かかる検査により、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０へデータを正確に伝送可能か否かが確認される。ＳＤメモリカード１０は、ＣＲＣ計算の結果であるＣＲＣステータスをホスト機器２０へ送出する（ステップＳ３５）。ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０から送出されたＣＲＣステータスを受信する（ステップＳ２３）。
【００２４】
次に、ホスト機器２０は、データ読み出しコマンド（読み出し要求）を発行する（ステップＳ２４）。ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０からのデータ読み出しコマンドを受信する（ステップＳ３６）と、データバッファ１２に保存されているテスト用データをＳＤメモリカード１０からホスト機器２０へ返送する（ステップＳ３７、返送工程）。ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０から返送されたテスト用データを受信する（ステップＳ２５）。ステップＳ２６において、ホスト機器２０は、送出工程においてホスト機器２０から送出したテスト用データと、返送工程においてＳＤメモリカード１０から返送されたテスト用データとを比較する。かかる比較により、ホスト機器２０及びＳＤメモリカード１０の間を往復する間におけるデータ化けの有無が確認される。さらに、ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０から返送されたテスト用データについて、ＣＲＣ計算によりエラーの有無を検査する。かかる検査により、ＳＤメモリカード１０からホスト機器２０へデータを正確に伝送可能か否かが確認される。
【００２５】
図３に戻って、バステストが終了した後、ホスト機器２０は、テスト結果読み出しコマンドを発行し（ステップＳ１４）、上述のステップＳ２３で受信したＳＤメモリカード１０のＣＲＣステータス、ステップＳ２６におけるテスト用データの比較結果、ホスト機器２０のＣＲＣステータスを読み出す。これらの結果から、ホスト機器２０は、バステストをパスしたか否かを判断する（ステップＳ１５）。ＳＤメモリカード１０、ホスト機器２０のいずれにおいてもテスト用データのエラーが検出されず、ホスト機器２０において比較したテスト用データが一致した場合、バステストをパスしたものとして、ステップＳ１６において高速モードを選択し、高速モードに切り替えられる。ステップＳ６では、高速モードで読み出し、書き込み処理を行う。
【００２６】
ＳＤメモリカード１０でのエラー検出、ホスト機器２０でのエラー検出、ホスト機器２０におけるテスト用データの比較結果の不一致の少なくとも一つがあった場合、バステストをパスしなかったものとして、ステップＳ１７において低速モードを選択する。ステップＳ６では、低速モードで読み出し、書き込み処理を行う。
【００２７】
通常のアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのテスト用データを使用することで、例えば、データ転送モードを高速モードに切り替えることによりノイズ、クロック信号のジッタ、信号の反射等がデータへ影響を及ぼすような場合、バステストに結果として反映されることになる。本発明によると、切り替え可能なデータ転送モードを確認した後にバステストを実施することで、安定してＳＤメモリカード１０を使用可能であることを確認した上でデータ転送モードを高速モードに切り替える。
【００２８】
また、バステストのテスト用データはデータバッファ１２に保存することとし、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５への書き込みを行わないことで、バステストによるＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５の劣化を抑制できる。これにより、ホスト機器および記憶装置の間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、バステストによる記憶装置の劣化を低減可能であるという効果を奏する。
【００２９】
なお、ＳＤメモリカード１０は、最大動作周波数が５０ＭＨｚ及び２５ＭＨｚの二段階に切り替え可能であるものに限られず、互いに異なる最大動作周波数の複数のデータ転送モードに切り替え可能であれば良く、適宜変形可能である。本発明は、ＳＤメモリカード１０に限られず、例えば他のメモリカードや他の記憶媒体に適用しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施の形態に係る記憶装置であるＳＤメモリカードの構成を示すブロック図。
【図２】ホスト機器の電源投入から、ＳＤメモリカードのデータの読み出し、書き込みまでの手順の概要を説明するフローチャート。
【図３】ＳＤメモリカードの初期化を行う際にバステストを実施し、データ転送モードを選択する手順を説明するフローチャート。
【図４】バステストにおけるホスト機器の動作の手順を説明する図。
【図５】バステストにおけるＳＤメモリカードの動作の手順を説明する図。
【符号の説明】
【００３１】
１０ ＳＤメモリカード、１２ データバッファ、１５ ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ、２０ ホスト機器。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法、特に、ホスト機器と記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのバステスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、機器間において大容量のデータを円滑に伝送するため、バスを通じたデータ転送の高速化が求められている。従来、バスを伝送するパケットのエラー状況など、バスを通じたデータの転送状況をチェックする技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
ホスト機器に装着して使用される記憶装置、例えばメモリカードとホスト機器とを接続するバスについて、テスト用データを用いたバステストにより、接続状況のチェックが行われている。例えば、マルチメディアカード（以下、ＭＭＣと称す）は、バス幅が１ビット、４ビット、８ビットのものがあり、ホスト機器のスロットに挿入されたＭＭＣがいずれのビット幅でアクセス可能であるかが、バステストにより調査される。バステストは、テスト開始コマンドを発行した後、所定のパターンのテスト用データをＭＭＣからホスト機器へ送出することにより行う。ＭＭＣについてアクセス可能なビット幅の調査には、８クロックのパターンからなるテスト用データが用いられている。例えば、８ビットまでのバス幅を調査する場合、ＢＵＳ０〜ＢＵＳ７の８本のバスを使用して、ＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルになるタイミング、ＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルになるタイミングが受信した信号と送信した信号とで一致するか否かを各バスについて確認する。
【０００４】
このようなバステストは、端子の接続状況によりバス幅を確認可能である一方、バスにおけるデータ転送を高速化させることに対しての挙動、ノイズの影響やクロック信号のジッタの影響について、８クロック程度のデータパタンから状況を判断することは困難である。データ転送を高速化させる場合、ホスト機器における信号のドライバ、レシーバと、メモリカードにおける信号のドライバ、レシーバとの相性に関する問題も起き易くなる。相性に関する問題として、信号の反射による影響が挙げられる。特に、バスのクロック信号の反射については、若干のずれが大きく影響を及ぼす場合があることから、問題が生じている場合であっても、８クロック程度のバステストでは正常であると判断されることが多くなる。
【０００５】
また、メモリカードは、あらゆる機器のスロットでの挿抜を繰り返して使用される。エンドユーザがメモリカードに直接触れながら挿抜を行うため、静電気の影響を受け易く、ゴミ、手の油などの汚れが端子に付着することによる接触不良が生じる可能性も高い。このようなことから、ホスト機器及びメモリカードの間でデータを安定して伝送可能か否かを的確に把握できることが望ましい。さらに、メモリカードは、データの書き込み及び消去を繰り返すことにより劣化するため、バステストにおいて通常のデータと同様にテスト用データを書き込み及び読み出しを行うことで、ユーザが実際にメモリカードを使用可能である期間を短くすることにもなる。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−１９８９７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、ホスト機器との間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、バステストによる劣化を低減可能な記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本願発明の一態様によれば、ホスト機器に装着して使用される記憶装置であって、データを記憶する不揮発性メモリと、ホスト機器から入力されたデータ、及びホスト機器へ出力するため不揮発性メモリから取り出されたデータを一時的に保存するデータバッファと、を有し、ホスト機器と記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのテスト開始要求がホスト機器により発行され、不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データがホスト機器から入力された場合に、テスト用データをデータバッファに保存するとともに、データバッファに保存されたテスト用データをホスト機器による読み出し要求に応じて出力することを特徴とする記憶装置が提供される。
【０００９】
また、本願発明の一態様によれば、ホスト機器と、ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのバステスト方法であって、記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データをホスト機器から記憶装置へ送出する送出工程と、ホスト機器から送出されたテスト用データを、記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、データバッファに保存されているテスト用データを記憶装置からホスト機器へ返送する返送工程と、送出工程においてホスト機器から送出したテスト用データと、返送工程において記憶装置から返送されたテスト用データとを比較する工程と、を含むことを特徴とするバステスト方法が提供される。
【００１０】
また、本願発明の一態様によれば、ホスト機器と、ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを切り替えるデータ転送モード切替方法であって、データ転送モードの切り替え要求に対して、記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データをホスト機器から記憶装置へ送出する送出工程と、ホスト機器から送出されたテスト用データを、記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、データバッファに保存されたテスト用データを記憶装置からホスト機器へ返送する返送工程と、を含み、送出工程においてホスト機器から送出したテスト用データと、返送工程において記憶装置から返送されたテスト用データとが一致する場合に、データ転送モードを切り替えることを特徴とするデータ転送モード切替方法が提供される。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、ホスト機器及び記憶装置の間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、バステストによる記憶装置の劣化を低減可能であるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に添付図面を参照して、この発明に係る記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法の最良な実施の形態を詳細に説明する。
【００１３】
（実施の形態）
図１は、本発明の実施の形態に係る記憶装置であるＳＤメモリカード１０の構成を示すブロック図である。ＳＤメモリカード１０は、デジタルビデオカメラ等のホスト機器２０に装着して使用される。ＳＤメモリカード１０は、本発明が属する分野の技術者によって、以下の説明要綱に基づき、適宜変形可能である。従って、以下の説明は、当該分野に対して開示される内容として広く理解されるべきであり、本発明を限定するものではない。
【００１４】
ＳＤメモリカード１０のインターフェース１１と、ホスト機器２０のインターフェース２１とは、ＳＤバス３０により電気的に接続されている。ＳＤバス３０は、１本のクロックライン（ＳＤＣＬＫ）、１本のコマンドライン（ＳＤＣＭＤ）、及び４本のデータライン（ＳＤＤＡＴ）を備える。クロックラインは、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０へ、ＳＤバス３０の動作クロックを供給する。コマンドラインは、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０への命令、命令に対してＳＤメモリカード１０がホスト機器２０へ出力する結果（レスポンス）を伝送する。データラインは、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０へ書き込まれるデータと、ＳＤメモリカード１０からホスト機器２０へ読み出されるデータとを伝送する。ＳＤバス３０のバス幅、及びデータ転送モードは、レジスタの値を参照することにより確認される。
【００１５】
ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５は、データや管理データを記憶する不揮発性メモリである。データバッファ１２は、ホスト機器２０から入力されたデータ、及びホスト機器２０へ出力するためＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５から取り出されたデータを一時的に保存する。ＮＡＮＤ型フラッシュメモリインターフェース１４は、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５を制御するとともに、データバッファ１２に保存されたデータをＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５に保存させる。また、ホスト機器２０からのデータの読み出し要求に対して、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリインターフェース１４は、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５からデータを読み出し、データバッファ１２に保存させる。マイクロプロセッサ１３は、インターフェース１１、データバッファ１２、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリインターフェース１４を制御する。ＳＤメモリカード１０は、５１２バイトのパケットを単位として、データの読み出し、書き込みを行う。
【００１６】
図２は、ホスト機器２０の電源投入から、ＳＤメモリカード１０のデータの読み出し、書き込みまでの手順の概要を説明するフローチャートである。ここでは、ＳＤメモリカード１０の初期化を行う際にデータ転送モードを切り替える場合を例として説明する。ホスト機器２０の電源を投入する（ステップＳ１）と、ホスト機器２０は、初期化コマンドを発行する（ステップＳ２）。ホスト機器２０からの初期化コマンドに応じて、ＳＤメモリカード１０の初期化が開始される。初期化処理中において、ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０との間で切り替え可能なデータ転送モードを確認する（ステップＳ３）。
【００１７】
ＳＤメモリカード１０には、ＳＰＩモード、ＳＤ１ビットモード、ＳＤ４ビットモードがあり、さらに、ＳＤバス３０の動作周波数を高くしてアクセス可能なハイスピードモードがある。切り替え可能なデータ転送モードは、レジスタの値を参照することにより確認される。初期化開始時はＳＤメモリカード１０のデータ転送モードが確認される前であることから、初期化の際のアクセスは、ＳＤメモリカード１０のインターフェース１１が動作可能な最高周波数より低い周波数、例えば４００ｋＨｚとする。例えば、ＳＤメモリカード１０がハイスピードモードに対応していないものである場合、ＳＤバス３０の最大動作周波数は２５ＭＨｚと規定される。ＳＤメモリカード１０がハイスピードモードに対応しているものである場合、ＳＤバス３０の最大動作周波数は５０ＭＨｚと規定される。
【００１８】
ＳＤメモリカード１０の初期化が終了（ステップＳ４）した後、ＳＤバス３０におけるデータ転送モードを切り替える（ステップＳ５）。その後、ＳＤメモリカード１０のデータの読み出し、書き込み処理を行う（ステップＳ６）。従来の技術では、データ転送モードの確認によりハイスピードモードに対応しているものと確認された場合、これに応じてデータ転送モードをハイスピードモードに切り替える。本発明は、データ転送モードがハイスピードモードに対応するものであっても、以下に説明するバステストをパスした場合に限り、データ転送モードをハイスピードモードに切り替えることを特徴とする。
【００１９】
図３は、ＳＤメモリカード１０の初期化を行う際にバステストを実施し、データ転送モードを選択する手順を説明するフローチャートである。ここでは、データ転送モードの確認（ステップＳ３）により、ＳＤメモリカード１０がハイスピードモードに対応することが確認された場合に、高速モード（５０ＭＨｚ）、低速モード（２５ＭＨｚ）のいずれかを選択する場合について説明する。ステップＳ１からステップＳ４の工程は、図２を用いた説明と同様である。
【００２０】
ホスト機器２０は、初期化終了（ステップＳ４）の後、データ転送モード切り替えコマンド（切り替え要求）を発行する（ステップＳ１１）。データ転送モード切り替えコマンドにより、テスト用としてデータ転送モードを高速モードに設定する。さらに、ホスト機器２０がテスト開始コマンド（テスト開始要求）を発行（ステップＳ１２）することにより、バステストが実施される（ステップＳ１３）。
【００２１】
図４は、バステストにおけるホスト機器２０の動作の手順を説明するものである。図５は、バステストにおけるＳＤメモリカード１０の動作の手順を説明するものである。ホスト機器２０がテスト開始コマンドを発行する（ステップＳ１２）と、ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０からのテスト開始コマンドを受信する（ステップＳ３１）。マイクロプロセッサ１３は、テスト開始コマンドの受信により、制御をバステストモードに切り替える。次に、ホスト機器２０はデータ書き込みコマンドを発行する（ステップＳ２１）と、ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０からのデータ書き込みコマンドを受信する（ステップＳ３２）。
【００２２】
ホスト機器２０は、テスト用データを準備し、ＳＤメモリカード１０へ送出する（ステップＳ２２、送出工程）。テスト用データとしては、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５へのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズである５１２バイトのパケットが用いられる。テスト用データには、検査符号であるＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check；巡回冗長検査）符号が付加される。ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０から送出されたテスト用データをデータバッファ１２に一時的に保存する（ステップＳ３３）。マイクロプロセッサ１３は、バステスト以外の通常における書き込みコマンドに対しては、データバッファ１２を通じてＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５にデータを書き込む制御を行う。バステストモードにおいては、マイクロプロセッサ１３は、テスト用データの保存をデータバッファ１２にとどめ、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５への書き込みを行わない。
【００２３】
ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０から入力されたテスト用データについて、インターフェース１１でのＣＲＣ計算により、エラーの有無を検査する（ステップＳ３４）。かかる検査により、ホスト機器２０からＳＤメモリカード１０へデータを正確に伝送可能か否かが確認される。ＳＤメモリカード１０は、ＣＲＣ計算の結果であるＣＲＣステータスをホスト機器２０へ送出する（ステップＳ３５）。ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０から送出されたＣＲＣステータスを受信する（ステップＳ２３）。
【００２４】
次に、ホスト機器２０は、データ読み出しコマンド（読み出し要求）を発行する（ステップＳ２４）。ＳＤメモリカード１０は、ホスト機器２０からのデータ読み出しコマンドを受信する（ステップＳ３６）と、データバッファ１２に保存されているテスト用データをＳＤメモリカード１０からホスト機器２０へ返送する（ステップＳ３７、返送工程）。ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０から返送されたテスト用データを受信する（ステップＳ２５）。ステップＳ２６において、ホスト機器２０は、送出工程においてホスト機器２０から送出したテスト用データと、返送工程においてＳＤメモリカード１０から返送されたテスト用データとを比較する。かかる比較により、ホスト機器２０及びＳＤメモリカード１０の間を往復する間におけるデータ化けの有無が確認される。さらに、ホスト機器２０は、ＳＤメモリカード１０から返送されたテスト用データについて、ＣＲＣ計算によりエラーの有無を検査する。かかる検査により、ＳＤメモリカード１０からホスト機器２０へデータを正確に伝送可能か否かが確認される。
【００２５】
図３に戻って、バステストが終了した後、ホスト機器２０は、テスト結果読み出しコマンドを発行し（ステップＳ１４）、上述のステップＳ２３で受信したＳＤメモリカード１０のＣＲＣステータス、ステップＳ２６におけるテスト用データの比較結果、ホスト機器２０のＣＲＣステータスを読み出す。これらの結果から、ホスト機器２０は、バステストをパスしたか否かを判断する（ステップＳ１５）。ＳＤメモリカード１０、ホスト機器２０のいずれにおいてもテスト用データのエラーが検出されず、ホスト機器２０において比較したテスト用データが一致した場合、バステストをパスしたものとして、ステップＳ１６において高速モードを選択し、高速モードに切り替えられる。ステップＳ６では、高速モードで読み出し、書き込み処理を行う。
【００２６】
ＳＤメモリカード１０でのエラー検出、ホスト機器２０でのエラー検出、ホスト機器２０におけるテスト用データの比較結果の不一致の少なくとも一つがあった場合、バステストをパスしなかったものとして、ステップＳ１７において低速モードを選択する。ステップＳ６では、低速モードで読み出し、書き込み処理を行う。
【００２７】
通常のアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのテスト用データを使用することで、例えば、データ転送モードを高速モードに切り替えることによりノイズ、クロック信号のジッタ、信号の反射等がデータへ影響を及ぼすような場合、バステストに結果として反映されることになる。本発明によると、切り替え可能なデータ転送モードを確認した後にバステストを実施することで、安定してＳＤメモリカード１０を使用可能であることを確認した上でデータ転送モードを高速モードに切り替える。
【００２８】
また、バステストのテスト用データはデータバッファ１２に保存することとし、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５への書き込みを行わないことで、バステストによるＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１５の劣化を抑制できる。これにより、ホスト機器および記憶装置の間で安定してデータを伝送可能であることを確認した上でデータ転送モードを切り替え可能であって、バステストによる記憶装置の劣化を低減可能であるという効果を奏する。
【００２９】
なお、ＳＤメモリカード１０は、最大動作周波数が５０ＭＨｚ及び２５ＭＨｚの二段階に切り替え可能であるものに限られず、互いに異なる最大動作周波数の複数のデータ転送モードに切り替え可能であれば良く、適宜変形可能である。本発明は、ＳＤメモリカード１０に限られず、例えば他のメモリカードや他の記憶媒体に適用しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施の形態に係る記憶装置であるＳＤメモリカードの構成を示すブロック図。
【図２】ホスト機器の電源投入から、ＳＤメモリカードのデータの読み出し、書き込みまでの手順の概要を説明するフローチャート。
【図３】ＳＤメモリカードの初期化を行う際にバステストを実施し、データ転送モードを選択する手順を説明するフローチャート。
【図４】バステストにおけるホスト機器の動作の手順を説明する図。
【図５】バステストにおけるＳＤメモリカードの動作の手順を説明する図。
【符号の説明】
【００３１】
１０ ＳＤメモリカード、１２ データバッファ、１５ ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ、２０ ホスト機器。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ホスト機器に装着して使用される記憶装置であって、
データを記憶する不揮発性メモリと、
前記ホスト機器から入力されたデータ、及び前記ホスト機器へ出力するため前記不揮発性メモリから取り出されたデータを一時的に保存するデータバッファと、を有し、
前記ホスト機器と前記記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのテスト開始要求が前記ホスト機器により発行され、前記不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データが前記ホスト機器から入力された場合に、前記テスト用データを前記データバッファに保存するとともに、前記データバッファに保存された前記テスト用データを前記ホスト機器による読み出し要求に応じて出力することを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
前記テスト用データには検査符号が付加され、前記ホスト機器から入力された前記テスト用データについてエラーの有無を検査した結果を前記ホスト機器へ出力することを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項３】
ホスト機器と、前記ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのバステスト方法であって、
前記記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データを前記ホスト機器から前記記憶装置へ送出する送出工程と、
前記ホスト機器から送出された前記テスト用データを、前記記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、
前記データバッファに保存されている前記テスト用データを前記記憶装置から前記ホスト機器へ返送する返送工程と、
前記送出工程において前記ホスト機器から送出した前記テスト用データと、前記返送工程において前記記憶装置から返送された前記テスト用データとを比較する工程と、を含むことを特徴とするバステスト方法。
【請求項４】
前記テスト用データには検査符号が付加され、
前記ホスト機器から前記記憶装置へ送出された前記テスト用データについて、前記検査符号によりエラーの有無を検査する工程と、
前記記憶装置から前記ホスト機器へ返送された前記テスト用データについて、前記検査符号によりエラーの有無を検査する工程と、をさらに含むことを特徴とする請求項３に記載のバステスト方法。
【請求項５】
ホスト機器と、前記ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを切り替えるデータ転送モード切替方法であって、
前記データ転送モードの切り替え要求に対して、前記記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データを前記ホスト機器から前記記憶装置へ送出する送出工程と、
前記ホスト機器から送出された前記テスト用データを、前記記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、
前記データバッファに保存された前記テスト用データを前記記憶装置から前記ホスト機器へ返送する返送工程と、を含み、
前記送出工程において前記ホスト機器から送出した前記テスト用データと、前記返送工程において前記記憶装置から返送された前記テスト用データとが一致する場合に、前記データ転送モードを切り替えることを特徴とするデータ転送モード切替方法。
【請求項１】
ホスト機器に装着して使用される記憶装置であって、
データを記憶する不揮発性メモリと、
前記ホスト機器から入力されたデータ、及び前記ホスト機器へ出力するため前記不揮発性メモリから取り出されたデータを一時的に保存するデータバッファと、を有し、
前記ホスト機器と前記記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのテスト開始要求が前記ホスト機器により発行され、前記不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データが前記ホスト機器から入力された場合に、前記テスト用データを前記データバッファに保存するとともに、前記データバッファに保存された前記テスト用データを前記ホスト機器による読み出し要求に応じて出力することを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
前記テスト用データには検査符号が付加され、前記ホスト機器から入力された前記テスト用データについてエラーの有無を検査した結果を前記ホスト機器へ出力することを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項３】
ホスト機器と、前記ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを選択するためのバステスト方法であって、
前記記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データを前記ホスト機器から前記記憶装置へ送出する送出工程と、
前記ホスト機器から送出された前記テスト用データを、前記記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、
前記データバッファに保存されている前記テスト用データを前記記憶装置から前記ホスト機器へ返送する返送工程と、
前記送出工程において前記ホスト機器から送出した前記テスト用データと、前記返送工程において前記記憶装置から返送された前記テスト用データとを比較する工程と、を含むことを特徴とするバステスト方法。
【請求項４】
前記テスト用データには検査符号が付加され、
前記ホスト機器から前記記憶装置へ送出された前記テスト用データについて、前記検査符号によりエラーの有無を検査する工程と、
前記記憶装置から前記ホスト機器へ返送された前記テスト用データについて、前記検査符号によりエラーの有無を検査する工程と、をさらに含むことを特徴とする請求項３に記載のバステスト方法。
【請求項５】
ホスト機器と、前記ホスト機器に装着して使用される記憶装置との間におけるデータ転送モードを切り替えるデータ転送モード切替方法であって、
前記データ転送モードの切り替え要求に対して、前記記憶装置の不揮発性メモリへのアクセスに使用されるパケットと同じデータサイズのパケットであるテスト用データを前記ホスト機器から前記記憶装置へ送出する送出工程と、
前記ホスト機器から送出された前記テスト用データを、前記記憶装置のデータバッファに一時的に保存する工程と、
前記データバッファに保存された前記テスト用データを前記記憶装置から前記ホスト機器へ返送する返送工程と、を含み、
前記送出工程において前記ホスト機器から送出した前記テスト用データと、前記返送工程において前記記憶装置から返送された前記テスト用データとが一致する場合に、前記データ転送モードを切り替えることを特徴とするデータ転送モード切替方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１０−７９３７２（Ｐ２０１０−７９３７２Ａ）
【公開日】平成２２年４月８日（２０１０．４．８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２４３９８７（Ｐ２００８−２４３９８７）
【出願日】平成２０年９月２４日（２００８．９．２４）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年４月８日（２０１０．４．８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年９月２４日（２００８．９．２４）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
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