電子機器検査方法および電子機器検査装置
【課題】正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供する。
【解決手段】正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの各々と電波を授受し、各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器Ｔを検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された検査箱１０内に、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを、所定の回転軸Ｅから等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、各電子機器と電波を授受しながら、各電子機器を回転軸Ｅ周りに回転させる第２工程と、有する電子機器検査方法である。
【解決手段】正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの各々と電波を授受し、各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器Ｔを検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された検査箱１０内に、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを、所定の回転軸Ｅから等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、各電子機器と電波を授受しながら、各電子機器を回転軸Ｅ周りに回転させる第２工程と、有する電子機器検査方法である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話などの電子機器を検査する電子機器検査方法および電子機器検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、携帯電話などの電子機器は、製造後や修理後に、電子機器が正常に動作・機能するか否かについて、実際に無線電波による無線接続検査（試験）が行われる。具体的には、（１）電波暗室に正常な電子機器（以下、正常電子機器）を設置し、電波暗室内のアンテナと正常電子機器との間で電波を授受し、電波の授受状態を検出した後、（２）正常電子機器と検査対象である電子機器（以下、検査電子機器）とを置き換えた後、同様に電波を授受し、検査電子機器の電波授受状態を検出し、（３）これら電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かの判定がされている。
なお、このような検査は、前記した電波暗室（電波無響室）と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と称される箱内で行われる（特許文献１参照）。
【特許文献１】特許第３０９７５２４号公報（段落番号０００３、図５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、一連の検査の過程において、正常電子機器と検査電子機器とを電波暗室に出し入れ等して置き換えると、これら電子機器を同様に設置しているにも関わらず、実際には設置条件が微妙に異なってしまう場合があった。そして、このように設置条件が異なると、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較することができず、検査電子機器が誤判定されてしまう場合もあった。
【０００４】
そこで、このような問題を解決すべく、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記課題を解決するための手段として、請求項１に係る発明は、正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら、前記各電子機器を前記回転軸周りに回転させる第２工程と、を有することを特徴とする電子機器検査方法である。
【０００６】
ここで、本明細書において、「正常電子機器および検査電子機器の各々と電波を授受する」とは、各々との双方向における送受信だけでなく、一方向、つまり、各々への送信のみ、または、各々からの受信のみを含む。
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置し（第１工程）、各電子機器と電波を授受しながら、適宜な回転手段を使用し、回転軸周りに回転させることによって（第２工程）、正常電子機器と検査電子機器とが同じ回転軌跡をたどり、正常電子機器と検査電子機器とを正確に入れ替える、つまり、正常電子機器（検査電子機器）があった場所に検査電子機器（正常電子機器）を配置することができる。そして、正常電子機器および検査電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
【０００７】
請求項２に係る発明は、前記第２工程において電波の強度を変化させることを特徴とする請求項１に記載の電子機器検査方法である。
【０００８】
このような電子機器検査方法によれば、電波の強度を変化させることで、各電子機器の電波の授受限界点を検出しやすくなる。
【０００９】
請求項３に係る発明は、正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第２工程と、前記回転軸周りに回転させて、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを入れ替える第３工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第４工程と、を有することを特徴とする電子機器検査方法である。
【００１０】
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置し（第１工程）、各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させ（第２工程）、その後、回転軸周りに回転させて、正常電子機器と検査電子機器とを入れ替え（第３工程）、各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる（第４工程）。
そして、正常電子機器と検査電子機器とが対応する位置で、その電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
【００１１】
請求項４に係る発明は、前記正常電子機器と前記検査電子機器とは、前記回転軸に対して軸対称に配置されることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電子機器検査方法である。
【００１２】
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と検査電子機器とが、回転軸に対して軸対称に位置することにより、１８０°回転させることで、正常電子機器と検査電子機器とを容易に入れ替えることができる。
【００１３】
請求項５に係る発明は、正常な正常電子機器および検査する検査電子機器と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査するための電子機器検査装置であって、前記正常電子機器および前記検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、を備えたことを特徴とする電子機器検査装置である。
【００１４】
このような電子機器検査装置によれば、検査電子機器を精密に検査することができる。そして、電波遮蔽手段によって、検査装置本体の外部と内部とは連通している。つまり、空気の流通性は確保されているため、電波遮蔽手段を介して吸気、排気や、各種ケーブルの配線などをすることができる。そして、本明細書では、後記する実施形態において、電波遮蔽手段として、各種導波管と、金属製フィルタとを例示する。
【００１５】
ここで、導波管とは、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管である。「所定波長より長い波長の電波を伝搬しない」とは、「導波管は、所定波長以下の波長の電波が減衰せずに、その内部を良好に伝搬可能とする仕様で設計される」ことを言い換えた意味である。すなわち、連通路として機能する導波管の中空部を介して検査装置本体の内部と外部とは連通しているものの、導波管によって、検査装置本体内外間での電波の遮断能力は高められている。このように電波遮蔽手段として導波管を使用した場合、例えば、検査に必要となる電波の、内部から外部への伝搬度を３０〜４０ｄＢ程度に低下させることができる。
【００１６】
また、本発明における導波管は、その外形が管状のものはもちろん、後記する図１０、図１１に示すように、その外形が板状等であってもよい。なお、導波管の数は特に限定されず、１本であってもよいし複数本であってもよく、さらに、複数の導波管が束状であってもよい。特に、複数の導波管を束状にすれば、各導波管を細くしても、検査装置本体の内部と外部を連通する連通路の総断面積を確保することができる。すなわち、各導波管の開口部の面積を小さくし、さらに各導波管を長くして、各導波管の電波の遮蔽能力を高めても、束状の導波管全体では、前記連通路の総断面積を確保することができ、仮に排気用導波管とした場合、その排気流量を確保しやすくなる。
さらに、このように導波管を使用する場合、その内側に電波吸収性シートなどを設けて電波吸収性を有するように構成することが好ましい。このようにすれば、導波管の中空部を伝搬しようとする前記所定波長より長い波長の電波を確実に吸収し、検査装置本体の電波の遮蔽性をさらに良好に維持することができる。
【００１７】
金属製フィルタとは、電波を回折損失させることで遮蔽するフィルタであり、例えば、金属片が集合して構成されると共に、空気が流通する隙間を有するものである。
【００１８】
また、検査装置本体は電波の遮蔽性を有することにより、例えば、外部からの電波は、検査装置本体の内部に到達しない。そして、電波遮蔽手段は、前記したように電波を遮蔽するため、検査装置本体の電波の遮蔽性は好適に維持される。
さらに、検査装置本体は、電波吸収性を有するため、電子機器や電波授受手段から放射された電波は検査装置本体内で吸収され、電波の反射による共振は防止される。
【００１９】
さらにまた、所定の回転軸周りに回転可能な回転手段に、正常電子機器および検査電子機器を回転軸から等しい距離で取り付け、適宜に回転させることにより、正常電子機器と検査電子機器とを容易に入れ替えることができる。
したがって、正常電子機器および検査電子機器と、電波授受手段との間で電波を授受し、回転手段より正常電子機器と検査電子機器とを回転させ、各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
【００２０】
請求項６に係る発明は、前記検査装置本体は、その内側に、λ／４型の電波吸収構造または電波吸収シートを備えていることを特徴とする請求項５に記載の電子機器検査装置である。
【００２１】
このような電子機器検査装置によれば、検査装置本体の内面を平坦にすることができる。これにより、検査装置本体内を大きくしたり、検査装置本体の外形を小さくすることができる。
【００２２】
請求項７に係る発明は、前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段を備えたことを特徴とする請求項５または請求項６に記載の電子機器検査装置である。
【００２３】
このような電子機器検査装置によれば、電波強度変化手段により、電波の強度を変化させることで、各電子機器の電波の授受限界点を検出しやすくなる。
【００２４】
請求項８に係る発明は、前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、を備え、前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置である。
【００２５】
このような電子機器検査装置によれば、制御手段が、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受し、回転手段により各電子機器を回転軸周りに回転させる。そして、検査手段が、各電子機器の電波授受状態を相対比較することによって、検査電子機器が正常であるか否かを精密に判定することができる。
【００２６】
請求項９に係る発明は、前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、を備え、前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させた後、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、その後前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置である。
【００２７】
このような電子機器検査装置によれば、制御手段が、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受した後、回転手段により回転軸周りに回転させ正常電子機器と検査電子機器とを入れ替えた後、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受する。そして、検査手段が、各電子機器の電波授受状態を相対比較することによって、検査電子機器が正常であるか否かを精密に判定することができる。
【００２８】
請求項１０に係る発明は、前記回転手段の前記各電子機器側は、当該各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有することを特徴とする請求項５から請求項９のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００２９】
このような電子機器検査装置によれば、電子機器から放射された電波を、回転手段の電子機器側で吸収し、電波の共振を抑えることができる。これにより、電子機器を精密に検査することができる。
【００３０】
請求項１１に係る発明は、前記回転手段に前記各電子機器を保持固定するための保持固定手段をそれぞれ備え、前記各保持固定手段は前記回転軸に対して軸対称であることを特徴とする請求項５から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００３１】
このような電子機器検査装置によれば、保持固定手段に、正常電子機器と検査電子機器とを取り付けることで、正常電子機器と検査電子機器とを回転軸に対して、軸対称に配置させることができる。
【００３２】
請求項１２に係る発明は、前記各電子機器と接続するケーブルと、前記回転による前記接続ケーブルのよじれを防止するスリップリングと、を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１１のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００３３】
このような電子機器検査装置によれば、スリップリングにより、各電子機器の回転によるケーブルのよじれを防止することができる。
【００３４】
請求項１３に係る発明は、電波妨害を防止するＥＭＩダクトを備え、前記ケーブルは前記ＥＭＩダクトに挿通されていることを特徴とする請求項１２に記載の電子機器検査装置である。
【００３５】
このような電子機器検査装置によれば、電磁妨害を防止しつつ、検査装置本体の外部から内部に、ＥＭＩダクトを介してケーブルを配線することができる。
【００３６】
請求項１４に係る発明は、前記ケーブルを被覆し、ノイズを吸収するノイズ吸収体を備えたことを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の電子機器検査装置である。
【００３７】
このような電子機器検査装置によれば、ノイズ吸収体により、ケーブル内を導通するノイズを吸収することができる。
【００３８】
請求項１５に係る発明は、前記検査装置本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１４のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００３９】
このような電子機器検査装置によれば、導電性を有する金属製の筐体により、電波を確実に遮蔽することができる。また、金属製であることにより、筐体の剛性は高められ、その結果として、検査装置本体の耐久性を高めることができる。
【００４０】
請求項１６に係る発明は、前記検査装置本体内の前記電子機器を視認可能とし、かつ、電波を反射する窓を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００４１】
このような電子機器検査装置によれば、窓を介して、例えば、電子機器の検査状況を視認することができる。また、窓が電波を反射することにより、検査装置本体の電波の遮蔽性を維持することができる。
【００４２】
請求項１７に係る発明は、前記検査装置本体内に前記電子機器を入れるための扉を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１６のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００４３】
このような電子機器検査装置によれば、扉を適宜に開閉させることで、電子機器を検査装置本体内に配置したり、検査装置本体から取り出すことができる。また、扉の縁部分であって、検査装置本体との当接部分には、扉の閉鎖時における電波の遮蔽性を高めるべく、枠状のパッキンを設けることが好ましい。
【００４４】
請求項１８に係る発明は、前記検査装置本体内を照らす照明を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１７のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００４５】
このような電子機器検査装置によれば、照明によって検査装置本体内を照らすことができる。
【発明の効果】
【００４６】
本発明によれば、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
以下、本発明の一実施形態について、図１から図６を参照して説明する。
なお、ここでは、特許請求の範囲における電子機器を図２に示すように携帯電話とし、アンテナ２０から正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送り（授け）、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信状態を相対比較することで、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定する場合を例示する。
【００４８】
≪電子機器検査装置の構成≫
図１および図２に示すように、電子機器検査装置１は、その内部（電波遮蔽空間）に正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが入れられる検査箱１０（検査装置本体）と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの各々に電波を送るアンテナ２０（電波授受手段）と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが取り付けられる回転ユニット３０（回転手段）と、検査箱１０内の熱を排気する排気ユニット４０と、制御ユニット５１（制御手段）と、可変電波発生ユニット５２（電波強度変化手段）と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信（授受）状態を検出し、検査電子機器Ｔを検査する検査ユニット６０（検査手段）と、を主に備えている。
【００４９】
＜検査箱＞
検査箱１０は、その外形が略直方体の箱体であり、ラック１１上に固定されている。検査箱１０は、その正面に開閉自在の扉１２を備えており、扉１２を適宜に開／閉して、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを、検査箱１０内に配置／取り出しするようになっている。また、扉１２の縁部であって、扉１２を閉じたときに検査箱１０とで挟まれる部分には、電波遮蔽性を有する枠状のパッキン（図示しない）が設けられている。
【００５０】
扉１２は窓１３を備えている。窓１３は、検査箱１０内を視認可能な透明性を有している。これにより、検査箱１０の外から、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを監視し、例えば、電波を受信したことによる着信ランプの点灯の有無を観察できるようになっている。
また、窓１３は、これを介しての電波の往来を防止する電波の反射性（遮断性）を有しており、検査箱１０の電波遮蔽性が維持されるようになっている。このような窓１３は、例えば、ガラス板の片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムすず）膜を形成したものを使用できる。
【００５１】
検査箱１０は、外側の筐体１４と、筐体１４の内面を覆うように設けられたλ／４型の電波吸収構造１６とを備えている（図３参照）。
【００５２】
筐体１４は、金属製であり導電性を有している。これにより、筐体１４は、所定の剛性を有しその耐久性が高められていると共に、外部から電波の遮蔽性を有している。このような筐体１４は、骨格となるフレーム（図示しない）と、このフレームに溶接された複数のパネル（図示しない）とを備えて構成されている。フレームと各パネルとは、隙間が形成されないように溶接されており、筐体１４の密閉性、つまり、電波の遮蔽性は高められている。なお、図３は、検査箱１０の側壁１０ｂを拡大しており、複数のパネルの一つである側面パネル１５を記載している。
【００５３】
筐体１４のフレームおよび各パネルを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属だけでなく合金でもよい。特に、フレーム等がアルミニウムまたはアルミニウム合金（以下、アルミニウム等）で形成された場合、筐体１４は所望の剛性を維持しつつ、軽量化が図られる。また、アルミニウム等は独特の光沢を有するため、検査箱１０は美観に優れたものとなる。
【００５４】
次に、図３を参照して、電波吸収構造１６について説明する。
電波吸収構造１６は、電波を吸収させる公知の一方式（λ／４型）に基づく構造であり、筐体１４の内面を覆うように構築されており、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔや、アンテナ２０から放射された電波を、筐体１４の内面で反射させず擬似的に吸収させる構造である。すなわち、電波吸収構造１６は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、アンテナ２０から放射された電波が、筐体１４の内面で反射した電波と共振することを防止させる構造である。
【００５５】
電波吸収構造１６は、筐体１４の内側に配置されたスペーサ１６Ａと、さらにその内側に配置され、電波の１／２を透過させる機能を有する抵抗膜シート１６Ｂと、さらにその内側に配置され抵抗膜シート１６Ｂを保護する保護膜１６Ｃとを備えて構成されている。
【００５６】
スペーサ１６Ａは、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、アンテナ２０から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート１６Ｂと筐体１４との間隔をλ／４に設定するためものであり、λ／４の厚みＴ１を有している。スペーサ１６Ａは、電波の透過性を有しており、例えば、発泡スチロールから形成される。このように発泡スチロールから形成される場合、スペーサ１６Ａの厚みＴ１を容易に調整可能となる。
【００５７】
抵抗膜シート１６Ｂは、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート１６Ｂとしては、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ＩＴＯ膜の抵抗値を調整して成膜したものなどを使用することができる。
保護膜１６Ｃは、抵抗膜シート１６Ｂの内側に積層されており、抵抗膜シート１６Ｂの表面を保護するようになっている。
【００５８】
そして、このような電波吸収構造１６の表面は、平坦となっている。これにより、例えば、複数の凸状の電波吸収体を備える場合と比較して、検査箱１０内を大きくしたり、検査箱１０の外形を小さくしたりすることができる。
【００５９】
ここで、電波吸収構造１６による電波吸収のメカニズムについて説明する。
正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、またはアンテナ２０から放射された電波Ｗ１が、保護膜１６Ｃの垂直方向から電波が入射した場合、保護膜１６Ｃを通過した後、その１／２が抵抗膜シート１６Ｂを透過し、１／２が抵抗膜シート１６Ｂで反射する。ここで、抵抗膜シート１６Ｂを透過した電波を電波Ｗ２、反射した電波を電波Ｗ３とする。電波Ｗ２は、スペーサ１６Ａ内を進んだ後、筐体１４の側面パネル１５で反射し、電波Ｗ４となる。なお、抵抗膜シート１６Ｂ、側面パネル１５での反射の際に電波の位相はそれぞれ反転する。
【００６０】
そうすると、筐体１４での反射後、抵抗膜シート１６Ｂに到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート１６Ｂで反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ１６Ａの厚みＴ１の２倍、つまり、「λ／４×２＝λ／２」進んでおり、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相が反転することになる。したがって、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート１６Ｂに入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。
【００６１】
図２に戻って、検査箱１０の説明を続ける。
検査箱１０の上壁１０ａには、検査箱１０内を照らすＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプ１７（照明）が設けられている。これにより、検査中において、検査箱１０内を照らし、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを観察しやすくなっている。
【００６２】
ラック１１には、ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference：電磁妨害または電磁干渉）ダクト１８が設けられている。ＥＭＩダクト１８は、電磁妨害を防止しつつ、後記するケーブル６２などをラック１１の外部から内部に挿通可能とするダクトであり、ガスケット１８ａを介して、ラック１１に固定されている。これにより、ＥＭＩダクト１８を介して、ケーブル６２を筐体１４の外部から内部に配線可能とすると共に、ケーブル６２の挿通部分からの電磁妨害は防止され、筐体１４の遮蔽性は確保されている。
また、図２に示すように、ケーブル６２の所定長さ（例えば１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト１８内を通るように、ケーブル６２を配線することによって、前記電磁妨害が好適に防止される。
【００６３】
＜アンテナ＞
アンテナ２０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送る（授受）するためのものである。アンテナ２０は、回転軸Ｅ線上であって、検査箱１０に固定されたアンテナ用導波管２１（電波遮蔽手段）を介して、検査箱１０の上壁１０ａに垂設されている。
アンテナ２０にはケーブル２２が接続されており、このケーブル２２はアンテナ用導波管２１を介して外部に引き出され、可変電波発生ユニット５２に接続している。そして、アンテナ２０は、可変電波発生ユニット５２で増幅された後、可変電波発生ユニット５２から送られた信号に基づいて電波を発生し、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送るようになっている。
【００６４】
アンテナ用導波管２１は筒状の導波管であり、その中空部を介して検査箱１０の内部と外部とを連通させている。また、アンテナ用導波管２１は、アルミニウム合金などの金属製であり、電波遮蔽性を有している。さらに、アンテナ用導波管２１の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管２１の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬して、検査箱１０の内部から外部へ漏れないように設定されている。
【００６５】
したがって、アンテナ用導波管２１内にケーブル２２を配線しつつ、アンテナ用導波管２１内の電波の伝搬を防止することで、検査箱１０の電波の遮蔽性が好適に維持されるようになっている。
なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法（長さ）が同一であれば、導波管が長くなる程、その内部を電波が伝播しにくくなり、遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなる程、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数（所定の周波数）が高くなる。
【００６６】
＜回転ユニット＞
回転ユニット３０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを、平面視において検査箱１０の中心を通る回転軸Ｅ（所定の回転軸）周りに回転させるユニットである。回転ユニット３０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔがその上面に配置される回転テーブル３１と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転テーブル３１に保持固定するための一対の治具３２、３２（保持固定手段）と、検査箱１０に固定される共に検査箱１０の内部と外部を連通させるテーブル用導波管３５（電波遮蔽手段）と、モータ３６と、モータ電源３７とを主に備えている。
【００６７】
回転テーブル３１は、テーブル本体３３と、この上面に設けられ、電波吸収性を有する電波吸収シート３４とを備えている。したがって、回転テーブル３１の正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ側は、これら電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有している。これにより、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、または、アンテナ２０から放射された電波が、電波吸収シート３４で吸収され、反射による電波の共振が抑えられるようになっている。
【００６８】
このような電波吸収シート３４としては、例えば、双極子型と称される電波吸収シートを使用することができる。双極子型の電波吸収シート３４とは、（１）カーボン粉末、酸化チタンなどの化合物から形成され、この化合物が有する電界を利用（例えば、電子配置の変化）することで電波を吸収するシートや、（２）例えば特許第３０４０９５３号公報に記載されるように、Ｍｎ−Ｚｎ系フェライト粉やカルボニル鉄などと、ＥＰＤＭ（エチレンプロピレンジエンモノマ）系ゴムとの化合物から形成され、この化合物が有する磁界を利用（例えば、磁界が変化）することで電波を吸収するシートや、（３）樹脂（例えばポリウレタン）と磁性体とが複合化されたシートである。具体的には、電波吸収シートとして、例えば、東洋サービス社製のルミディオン（登録商標）、日立金属社製のＨＴＤ−１０１などを使用することができる。なお、このような電波吸収シート３４は、広いバンドで電波を吸収するため、広帯域吸収体と称される場合もある。
【００６９】
テーブル本体３３は、スラスト軸受け（図示しない）を介してテーブル用導波管３５に固定されており、回転テーブル３１は検査箱１０に対して回転自在となっている。テーブル本体３３は、その中心軸線上に、ケーブル６２が挿通される挿通孔３３ａを有している。
また、テーブル用導波管３５は、アンテナ用導波管２１と同様に、その内部を所定波長以上の電波を伝播させない導波管である。このようなテーブル用導波管３５によって、検査箱１０の電波遮蔽性は維持されている。
【００７０】
一対の治具３２、３２は、回転テーブル３１に固定されており、正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔを、回転テーブル３１上に、着脱自在に保持固定するための手段である。治具３２、３２は、回転軸Ｅに対して軸対称（１８０°対向）に配置されている。そして、治具３２、３２に、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが固定されると、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが回転軸Ｅに対して軸対称に配置されることとなり、さらに正常電子機器ＳのアンテナＳａの軌跡と、検査電子機器ＴのアンテナＴａの軌跡とが、同一円周上を通るようになる。すなわち、このように各電子機器が固定されると、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ（アンテナを含む）が、回転軸Ｅから等しい距離に配置するようになっている。
ただし、治具３２、３２の位置、つまり、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔの位置は、軸対称（１８０°対向）に限定されず、例えば、平面視において、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとでなす角度が９０°となるように配置されてもよい。
また、治具３２、３２は、回転軸Ｅから正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔまでの距離を精密に同一とするため、微調整ねじ、距離センサなどによって構成される微調整機構を備えてもよい。
【００７１】
モータ３６は、減速機構３８を介して、回転テーブル３１を回転させる駆動装置である。モータ３６は、モータ電源３７と接続しており、モータ電源３７から電力供給を受けて、所望の回転速度で回転すると共に、モータ電源３７から送られる電流の向きに応じて、正方向／逆方向に回転自在となっている。モータ電源３７は、制御ユニット５１から送られる指令に従って、モータ３６に電力を供給するようになっている。
【００７２】
＜排気ユニット＞
図４を参照して、排気ユニット４０について説明する。
排気ユニット４０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔから放出された熱を排気し、検査箱１０内の過昇温を防止するユニットである。排気ユニット４０は、図４（ａ）に示すように、金属製ハニカムとも称されるハニカム体４１（電波遮蔽手段）と、排気ファン４２とを備えている。
ハニカム体４１は、金属製（例えばアルミニウム合金製）の押出形材であって、検査箱１０の側壁１０ｂに固定されている。また、ハニカム体４１は、図４（ｂ）に示すように、複数の細孔４１ａを有しており、この複数の細孔４１ａを介して、検査箱１０の内部と外部とが連通している。排気ファン４２はハニカム体４１の外側に設けられており、排気ファン４２が駆動すると、検査箱１０内の熱が外部に排気されるようになっている。
【００７３】
ハニカム体４１の各細孔４１ａを取り囲む周壁４１ｂは筒状を呈しており、この筒状の周壁４１ｂは、アンテナ用導波管２１、テーブル用導波管３５と同様に、その内部を所定波長以上の電波を伝播させない導波管として機能している。すなわち、ハニカム体４１は、細孔４１ａを取り囲む筒状の周壁４１ｂからなる導波管が、複数集合し、束状となって構成されている。
また、ハニカム体４１を取り付けるため、検査箱１０の側壁１０ｂに形成する貫通孔の開口径Ｙ１、ハニカム体４１の長さＹ２（＝筒状の周壁４１ｂからなる各導波管の長さ）および細孔４１ａの開口径Ｙ３は、アンテナ用導波管２１等と同様に、ハニカム体４１内を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される（例えば、Ｙ１＝７９．５ｍｍ、Ｙ２＝１２．７ｍｍ、Ｙ３＝３．１８ｍｍ）。なお、図４（ｂ）に示すように、本実施形態では、ハニカム体４１の細孔４１ａが六角形である場合を例示しているが、これに限定されず、矩形などであってもよい。
【００７４】
＜制御ユニット＞
図２に戻って説明を続ける。
制御ユニット５１は、アンテナ２０から正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送る電波と、回転ユニット３０とを制御するユニットである。このような制御ユニット５１は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、各種インタフェイス、電子回路などから構成される。制御ユニット５１の具体的な動作については、後で説明する。
【００７５】
＜可変電波発生ユニット＞
可変電波発生ユニット５２は、アンテナ２０で発生させる電波の強度を変化させるユニットであり、信号発生器と、アンプと、を備えている。信号発生器は、制御ユニット５１からの指令を受けると、電気信号を発生するようになっている。そして、アンプは、この発生した電気信号を、制御ユニット５１からの指令に応じて、増幅するようになっている。次いで、この増幅または減衰した電気信号がアンテナ２０に送られるようになっている。その結果として、アンテナ２０で発生し、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送られる電波の強度が、変化するようになっている。
ここで、電波の強度を変化させるとは、例えば電波の強度を「Ａｓｉｎ（ωｔ＋α）、Ａ：電波の振幅、ω：角速度、ｔ：時間、α：位相差」とした場合、振幅Ａを変化させることである。
このような可変電波発生ユニット５２としては、例えば、ヒューレット・パッカード（ＨＰ）社製の８４４９Ｂなどを使用することができる。
【００７６】
＜検査ユニット＞
検査ユニット６０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信（授受）状態を検出し、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定するユニットである。検査ユニット６０は、検査ユニット本体６１と、検査ユニット本体６１と正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔとをそれぞれ接続するケーブル６２、６２と、スリップリング６３とを主に備えている。検査ユニット本体６１は、各電子機器の電波受信状態を検出し、この受信状態を相対比較して、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定するものである。検査ユニット本体６１の動作については、後で説明する。
【００７７】
各ケーブル６２の一端は検査ユニット本体６１に接続されている。一方、各ケーブル６２の他端は、ＥＭＩダクト１８、テーブル本体３３の挿通孔３３ａを介して、検査箱１０内に引き出されている。さらに、各ケーブル６２の他端には、正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔと着脱自在に接続するコネクタ６２ａが設けられている。
【００７８】
ケーブル６２のうち、ＥＭＩダクト１８内を通る部分、および、その所定前後部分の外周面は、ケーブル６２内を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体６４に被覆されている。これにより、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信状態が、ケーブル６２を介し、検査ユニット本体６１において高精度で検出されるようになっている。このようなノイズ吸収体６４としては、例えば、東洋サービス社製のＥＭＩテープ「ルミディオン（登録商標）ＥＴ」により、ケーブル６２を所定長さ（例えば３００ｍｍ以上）にて巻回することで構成される。
スリップリング６３は、回転テーブル３１の回転により、各ケーブル６２がよじれないように、適所に設けられている。
【００７９】
≪電子機器検査装置の動作、電子機器検査方法≫
次に、電子機器検査装置１の動作を説明しつつ、本実施形態に係る電子機器検査方法について、図５を主に参照して説明する。本実施形態に係る電子機器検査方法は、検査箱１０内（電波遮蔽空間）に、正常電子機器Ｓ（図５では正常品と略称）と検査電子機器Ｔ（図５では検査品と略称）とを配置する第１工程と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔで、強度が４段階で弱くなる電波を受信しながら、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転軸Ｅ周りに回転させる第２工程と、を有している。
なお、ここでは、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを４回転させ、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送る電波が、１回転毎に、レベルＬ４、Ｌ３、Ｌ２、Ｌ１と弱める場合について説明する。
【００８０】
＜第１工程＞
オペレータは扉１２を開き、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを検査箱１０内に挿入し、治具３２、３２に取り付け、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを回転軸Ｅに対して軸対称、つまり、回転軸Ｅから等しい距離に配置する。そして、コネクタ６２ａ、６２ａを正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔにそれぞれ接続する。
【００８１】
＜第２工程＞
オペレータは検査開始スイッチ（図示しない）をＯＮにする。制御ユニット５１は、この検査スイッチのＯＮ信号を検知すると、可変電波発生ユニット５２にアンテナ２０から電波を発生するように指令を送る。そうすると、可変電波発生ユニット５２に内蔵された信号発生器は、制御ユニット５１からの指令に基づいて、電気信号を発生する。次いで、可変電波発生ユニット５２に内蔵されたアンプが、制御ユニット５１からの指令に従って、電気信号を適宜に増幅させた後、この増幅した信号がアンテナ２０に送られる。その結果として、アンテナ２０では、強度が変化した電波が発生し、この電波が正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの各々に送られる。
これに並行して、制御ユニット５１は、モータ電源３７に、モータ３６に電力を供給し回転テーブル３１を所定の回転速度で回転させる指令を送る。そうすると、この指令に基づいて、モータ電源３７からモータ３６に電力が供給され、モータ３６が駆動し、減速機構３８を介して、回転テーブル３１、つまり、これに保持固定された正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが、回転軸Ｅ周りに回転する。
【００８２】
このようにアンテナ２０から、回転する正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送りながら、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波の受信状態を検査ユニット本体６１で検出する。
そして、検査ユニット本体６１は、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとが入れ替わる検査点（例えば、図５に示す３回転目の検査点Ａ１と検査点Ａ３、検査点Ａ２と検査点Ａ４）において、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとの電波受信状態を相対比較する。次いで、検査ユニット本体６１は、同一の電波の強度（図５では、レベルＬ２の電波強度）において、正常電子機器Ｓが受信したにも関わらず検査電子機器Ｔが受信しない場合、検査電子機器Ｔは正常でないと判定し、例えば、液晶パネル６１ａにその表示をする。一方、検査ユニット本体６１は、同一の電波の強度において、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔのいずれもが受信できた場合、検査電子機器Ｔは正常であると判定する。
【００８３】
なお、図５では、電波の強度がレベルＬ４の１回転目、レベルＬ３の２回転目では、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔのいずれもが電波を受信できたが、レベルＬ２の３回転目に係る検査点Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４では正常電子機器Ｓのみ受信し、レベルＬ１の４回転目に係る検査点Ａ５、Ａ６、Ａ７、Ａ８ではいずれも受信できなかったことを示している。
【００８４】
このようにして、本実施形態に係る電子機器検査装置１および電子機器検査方法によれば、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを、回転軸Ｅに対して軸対称に配置し、各電子機器に回転毎に強度の異なる電波を送りながら、各電子機器を回転させて入れ替えることにより、精密に相対比較することができ、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを精密に検査することができる。
【００８５】
さらに、検査ユニット本体６１が、図５に示すグラフに基づいて、図６に示すような、正常電子機器Ｓの受信限界レベルＬ１１（アンテナ２０が発する電波の強度であって正常電子機器Ｓが受信可能な電波の最小強度）と、検査電子機器Ｔの受信限界レベルＬ１２（アンテナ２０が発する電波の強度であって検査電子機器Ｔが受信可能な電波の最小強度）とを求め、検査電子機器Ｔの受信限界レベルＬ１２が、正常電子機器Ｓの受信限界レベルＬ１１より高い場合（Ｌ１２＞Ｌ１１）、検査電子機器Ｔが正常でないと判定するような構成としてもよい。
【００８６】
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、例えば以下のような変更が可能である。
【００８７】
前記した実施形態では、電子機器を携帯電話とした場合について説明したが、この他に例えば、ＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や、無線ＬＡＮ機能を備えるノートパソコンなどであってもよい。
【００８８】
前記した実施形態では、アンテナ２０から、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送り、各電子機器の電波受信状態を相対比較することで、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定したが、その他に例えば、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔから、アンテナ２０に電波を送り、相対比較することで検査電子機器Ｔを検査してもよい。
【００８９】
前記した実施形態では、検査装置本体として検査箱１０を例示したが、その他に例えば、大型の電波暗室であってもよい。
【００９０】
前記した実施形態では、検査箱１０が略立方体の箱体である場合を例示したが、検査箱１０の形状はこれに限定されず、適宜変更自由であり、例えば検査箱１０は円筒体状であってもよい。このように検査箱１０が円筒体状である場合、検査箱１０の中心軸線と、回転テーブル３１の回転軸Ｅとを一致させ、さらにアンテナ２０を回転軸Ｅ線上に位置させることが好ましい。このようにすれば、検査箱１０の内面と正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔとの距離が、回転中において一定となるため、電波吸収構造１６で吸収されず筐体１４で反射した電波があったとしても、回転中、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送られる電波は一定となる。これにより、検査電子機器Ｔを精密に検査しやすくなる。
【００９１】
前記した実施形態では、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転させる回転手段として回転テーブル３１を備える構成としたが、回転手段はこれに限定されず、例えば、回転軸Ｅで回転する回転アームを備える構成としてもよい。
【００９２】
前記した実施形態では、可変電波発生ユニット５２（電波強度変化手段）は、電気信号を増幅させるアンプを内蔵し、このアンプよって適宜に増幅された電気信号がアンテナ２０に送られ、アンテナ２０で発生する電波の強度が変化するとしたが、その他に例えば、可変電波発生ユニット５２が減衰器を内蔵し、前記電気信号を適宜に減衰させることにより、アンテナ２０で発生する電波の強度を変化させる構成としてもよい。
【００９３】
前記した実施形態では、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを回転軸Ｅに対して軸対称、つまり、各電子機器を平面視において１８０°対向させて配置し、回転テーブル３１を１８０°回転させることで正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔを入れ替える場合を例示したが、各電子機器の位置はこれに限定されず、例えば、平面視において正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを周方向に９０°ずらして配置してもよく、このような場合、回転テーブル３１を９０°回転させることで、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを入れ替えることができる。なお、回転軸Ｅから、正常電子機器Ｓ、検査電子機器Ｔまでの距離は、前記した実施形態と同様に等しくする。
【００９４】
前記した実施形態では、電波の強度を変化する方式として、電波の強度を弱くする場合について説明したが、逆に電波の強度を強くする方式であってもよい。
また、回転毎に電波を弱める（または強める）程度は、適宜に変更してよいことは言うまでもない。
さらに、例えば、図５において、２回転目のレベルＬ３の強度の電波を、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの両者が受信でき、３回転目のレベルＬ２の強度の電波を両者が受信できなかった場合、電波強度の下げ幅を小さく変更することで、さらに精密な検査をすることができる。
さらにまた、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの総回転数は４回転に、電波の強度の段階的な変化数は４段階に、それぞれ限定されず、回転数を増加させると共に、さらに多数の段階で電波強度を変化させることにより、精密に検査することができる。
【００９５】
前記した実施形態では、第２工程において、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔで、４段階でその強度が弱くなる電波を受信しながら、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転軸Ｅ周りに４回転させるとしたが、その他に例えば、図７に示すように、回転させず固定位置において各電子機器で、その強度が連続的に弱くなる電波を受信し（第２工程）、その後、回転軸Ｅ周りに１８０°回転させて、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを入れ替え（第３工程）、再び各電子機器で、その強度が連続的に弱くなる電波を受信してもよい（第４工程）。
【００９６】
このようにすれば、回転前において正常電子機器Ｓの電波受信限界が検査点Ｂ１であって、その電波強度がレベルＬ２１であった場合、１８０°回転後の検査電子機器Ｔの電波受信限界が検査点Ｂ２であり、その電波強度がレベルＬ２１より高いとき、検査電子機器Ｔは正常でないと判定することができる。一方、回転後の検査電子機器Ｔの電波受信限界が検査点Ｂ３であり、電波強度がレベルＬ２１と同一であるとき、検査電子機器Ｔは正常であると判定することができる。
【００９７】
その他、図８に示すように、各回転において、電波の強度を９０°回転毎に、変化させる方式を採用してもよい。この場合、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとが入れ替わる検査点Ｃ１と検査点Ｃ２、検査点Ｃ３と検査点Ｃ４とにおける電波受信状態を、検査ユニット本体６１で抽出し、相対比較することで、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定することができる。
その他、電波の強度を例えば３０°毎に変化させる方式を採用してもよい。
【００９８】
前記した実施形態では、扉１２に窓１３が設けられた構成としたが、窓１３の位置はこれに限定されず、例えば検査箱１０に直接設けてもよい。また、窓１３の数もこれに限定されず、複数の窓１３を検査箱１０に設けて、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの視認性を高める構成としてもよい。
【００９９】
前記した実施形態では、λ／４の厚みＴ１を有するスペーサ１６Ａを設けたが、筐体１４と抵抗膜シート１６Ｂとの間隔をλ／４に設定可能ならば、スペーサ１６Ａを備えなくてもよい。ただし、筐体１４と、抵抗膜シート１６Ｂとの間は、電波が透過可能である必要がある。
【０１００】
前記した実施形態では、導波管として、アンテナ用導波管２１と、テーブル用導波管３５と、ハニカム体４１を構成する複数の導波管と、を備える構成としたが、導波管の数はこれに限定されず、例えば吸気用の導波管を検査箱１０に設けてもよい。
【０１０１】
前記した実施形態では、検査箱１０は金属製の筐体１４を備え、その遮蔽性、剛性等を高める構成としたが、例えば、電波吸収性を有する板材で箱体を構成し、これを検査箱としてもよい。
【０１０２】
前記した実施形態では、排気ユニット４０は、１つのハニカム体４１を備える構成としたが、さらにハニカム体４１を備え、ハニカム体４１が複数段である構成であってもよい。すなわち、複数の導波管（束）をその長手方向に複数段で配置された構成としてもよい。この場合において、段違いで配置された導波管の仕様（内径や長さ）を別々に設定することにより、各導波管内を伝搬させない電波を別々に設定することができる。そして、その結果として、段違いに配置された導波管全体としての電波の遮蔽能力を高めることができる。
その他、１つの大内径の導波管内に、複数の導波管（束）であるハニカム体を備える構成、つまり、多重構造の導波管としてもよい。
【０１０３】
前記した実施形態では、筐体１４の内面に電波吸収構造１６が設けられたことにより、検査箱１０が電波吸収性を有する構成としたが、電波吸収構造１６に代えて、図９に示すように、筐体１４の内面を、電波吸収シート３４と同材質の電波吸収シート１９で覆う構成としてもよい。また、電波吸収シートを、例えばアンテナ用導波管の内面に設け、電波遮蔽性を高めるようにしてもよい。
【０１０４】
前記した実施形態では、排気ユニット４０を構成するハニカム体４１の細孔４１ａを介して排気するとしたが、図１０（ａ）に示すように側面パネル１５に複数の排気孔１５ａ（空気流通孔）を形成すると共に、側面パネル１５の外側に排気ファン４２を取り付けて（図１０（ｂ）参照）、複数の排気孔１５ａを介して排気するようにしてもよい。この場合、各排気孔１５ａが所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管として機能するように、排気孔１５ａの内径、長さを設定する（図１０（ｃ）参照）。このように側面パネル１５に複数の排気孔１５ａが形成された場合、排気孔１５ａが導波管の中空部に相当し、側面パネル１５は前記導波管が束になって集合した導波管集合プレートに相当する。具体的に例えば、厚さ１０ｍｍの側面パネル１５に、直径３．０ｍｍの排気孔１５ａが約１００個にて形成される。ただし、このような複数の空気流通孔は排気用に限らず、吸気用であってもよいことは言うまでもない。なお、図１０では、電波吸収構造１６を省略して記載している。
【０１０５】
前記した側面パネル１５に複数の排気孔１５ａを形成した場合に代えて（図１０参照）、図１１（ａ）に示すように、側面パネル１５に大きめの開口１５ｂを形成し、この開口１５ｂを検査箱１０の内側から塞ぐように、複数の排気孔４４ａが形成されたプレート４４を、取付枠４３を介して、側面パネル１５に取り付けてもよい（図１１（ｂ）参照）。この場合、排気孔４４ａが、排気孔１５ａと同様に、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管として機能するように、排気孔４４ａの内径、長さを設定する（図１１（ｃ）参照）。また、このように側面パネル１５とは別のプレート４４に排気孔４４ａを形成したことにより、検査箱１０の内部と外部とを伝播させない電波の種類に対応して、プレート４４を容易に取り替えることができる。
【０１０６】
その他、図１２（ａ）に示すように、排気孔４４ａが形成されたプレート４４に代えて、エクスパンドアルミとも称されるアルミニウム片フィルタ４５（電波遮蔽手段）を使用してもよい。アルミニウム片フィルタ４５は、取付枠４３に設けられたメッシュ４３ａと、取付枠４６に設けられたメッシュ４６ａとで挟まれつつ、開口１５ｂに蓋をするようにして、側面パネル１５に固定される（図１２（ｂ）、（ｃ）参照）。アルミニウム片フィルタ４５（金属製のフィルタ）は、例えばアルミニウムまたはアルミニウム合金の小片（金属片）が集合して構成されたものであり、その内部に空気が流通する隙間を有している。そして、検査箱１０内の空気が、アルミニウム片フィルタ４５の隙間を通って、外部に排出されるようになっている。
ここで、電波もアルミニウム片フィルタ４５の隙間を通過しようとするが、アルミニウム片フィルタ４５を構成するアルミニウム等の小片によって電波が回折損失し、電波が遮蔽されるようになっている。なお、電波の回折損失とは、電波が複数のアルミニウム等の小片によって反射し、この小片の背面側（電波の進行方向側）に電波が伝播しにくいことである。
また、このようなアルミニウム片フィルタ４５に代えて、スチールウールや、メッシュが複数重ねられてなるメッシュ積層体を、電波遮蔽手段として使用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本実施形態に係る電子機器検査装置の斜視図である。
【図２】図１に示す電子機器検査装置のＸ−Ｘ線断面図である。
【図３】図２に示す検査箱の側壁の拡大図である。
【図４】（ａ）は図２に示す排気ユニットの拡大図であり、（ｂ）は検査箱内から排気ユニットを見た図である。
【図５】本実施形態に係る電子機器検査装置の一動作例を示す図である。
【図６】本実施形態に係る電子機器検査装置の一効果を示す図である。
【図７】本実施形態に係る電子機器検査装置の別の動作例を示す図である。
【図８】本実施形態に係る電子機器検査装置の別の動作例を示す図である。
【図９】変形例に係る検査箱の側壁の拡大図である。
【図１０】変形例に係る排気ユニットの図であり、（ａ）は検査箱内から排気ユニットを見た図であり、（ｂ）は検査箱外から排気ユニットを見た図であり、（ｃ）は排気ユニットの側断面図である。
【図１１】変形例に係る排気ユニットの図であり、（ａ）は検査箱内から排気ユニットを見て、排気ユニットを分解した図であり、（ｂ）は検査箱内から排気ユニットを見た図であり、（ｃ）は排気ユニットの側断面図である。
【図１２】変形例に係る排気ユニットの図であり、（ａ）は検査箱内から排気ユニットを見て、排気ユニットを分解した図であり、（ｂ）は検査箱内から排気ユニットを見た図であり、（ｃ）は排気ユニットの側断面図である。
【符号の説明】
【０１０８】
１ 電子機器検査装置
１０ 検査箱（検査装置本体）
１２ 扉
１３ 窓
１４ 筐体
１５ 側面パネル
１６ 電波吸収構造
１６Ａ スペーサ
１６Ｂ 抵抗膜シート
１６Ｃ 保護膜
１７ ＬＥＤランプ（照明）
１８ ＥＭＩダクト
１９ 電波吸収シート
２０ アンテナ（電波授受手段）
２１ アンテナ用導波管（電波遮蔽手段）
３０ 回転ユニット（回転手段）
３１ 回転テーブル
３２ 治具（保持固定手段）
３３ テーブル本体
３４ 電波吸収シート
３５ テーブル用導波管（電波遮蔽手段）
３６ モータ
３７ モータ電源
３８ 減速機構
４０ 排気ユニット
４１ ハニカム体（電波遮蔽手段）
４２ 排気ファン
４４ プレート（電波遮蔽手段）
４５ アルミニウム片フィルタ（電波遮蔽手段）
５１ 制御ユニット（制御手段）
５２ 可変電波発生ユニット（可変電波発生手段）
６０ 検査ユニット（検査手段）
６１ 検査ユニット本体
６３ スリップリング
６４ ノイズ吸収体
Ｅ 回転軸
Ｓ 正常電子機器
Ｔ 検査電子機器
Ｌ１〜Ｌ４ 電波強度のレベル
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話などの電子機器を検査する電子機器検査方法および電子機器検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、携帯電話などの電子機器は、製造後や修理後に、電子機器が正常に動作・機能するか否かについて、実際に無線電波による無線接続検査（試験）が行われる。具体的には、（１）電波暗室に正常な電子機器（以下、正常電子機器）を設置し、電波暗室内のアンテナと正常電子機器との間で電波を授受し、電波の授受状態を検出した後、（２）正常電子機器と検査対象である電子機器（以下、検査電子機器）とを置き換えた後、同様に電波を授受し、検査電子機器の電波授受状態を検出し、（３）これら電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かの判定がされている。
なお、このような検査は、前記した電波暗室（電波無響室）と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と称される箱内で行われる（特許文献１参照）。
【特許文献１】特許第３０９７５２４号公報（段落番号０００３、図５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、一連の検査の過程において、正常電子機器と検査電子機器とを電波暗室に出し入れ等して置き換えると、これら電子機器を同様に設置しているにも関わらず、実際には設置条件が微妙に異なってしまう場合があった。そして、このように設置条件が異なると、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較することができず、検査電子機器が誤判定されてしまう場合もあった。
【０００４】
そこで、このような問題を解決すべく、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記課題を解決するための手段として、請求項１に係る発明は、正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら、前記各電子機器を前記回転軸周りに回転させる第２工程と、を有することを特徴とする電子機器検査方法である。
【０００６】
ここで、本明細書において、「正常電子機器および検査電子機器の各々と電波を授受する」とは、各々との双方向における送受信だけでなく、一方向、つまり、各々への送信のみ、または、各々からの受信のみを含む。
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置し（第１工程）、各電子機器と電波を授受しながら、適宜な回転手段を使用し、回転軸周りに回転させることによって（第２工程）、正常電子機器と検査電子機器とが同じ回転軌跡をたどり、正常電子機器と検査電子機器とを正確に入れ替える、つまり、正常電子機器（検査電子機器）があった場所に検査電子機器（正常電子機器）を配置することができる。そして、正常電子機器および検査電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
【０００７】
請求項２に係る発明は、前記第２工程において電波の強度を変化させることを特徴とする請求項１に記載の電子機器検査方法である。
【０００８】
このような電子機器検査方法によれば、電波の強度を変化させることで、各電子機器の電波の授受限界点を検出しやすくなる。
【０００９】
請求項３に係る発明は、正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第２工程と、前記回転軸周りに回転させて、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを入れ替える第３工程と、前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第４工程と、を有することを特徴とする電子機器検査方法である。
【００１０】
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置し（第１工程）、各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させ（第２工程）、その後、回転軸周りに回転させて、正常電子機器と検査電子機器とを入れ替え（第３工程）、各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる（第４工程）。
そして、正常電子機器と検査電子機器とが対応する位置で、その電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
【００１１】
請求項４に係る発明は、前記正常電子機器と前記検査電子機器とは、前記回転軸に対して軸対称に配置されることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電子機器検査方法である。
【００１２】
このような電子機器検査方法によれば、正常電子機器と検査電子機器とが、回転軸に対して軸対称に位置することにより、１８０°回転させることで、正常電子機器と検査電子機器とを容易に入れ替えることができる。
【００１３】
請求項５に係る発明は、正常な正常電子機器および検査する検査電子機器と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査するための電子機器検査装置であって、前記正常電子機器および前記検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、を備えたことを特徴とする電子機器検査装置である。
【００１４】
このような電子機器検査装置によれば、検査電子機器を精密に検査することができる。そして、電波遮蔽手段によって、検査装置本体の外部と内部とは連通している。つまり、空気の流通性は確保されているため、電波遮蔽手段を介して吸気、排気や、各種ケーブルの配線などをすることができる。そして、本明細書では、後記する実施形態において、電波遮蔽手段として、各種導波管と、金属製フィルタとを例示する。
【００１５】
ここで、導波管とは、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管である。「所定波長より長い波長の電波を伝搬しない」とは、「導波管は、所定波長以下の波長の電波が減衰せずに、その内部を良好に伝搬可能とする仕様で設計される」ことを言い換えた意味である。すなわち、連通路として機能する導波管の中空部を介して検査装置本体の内部と外部とは連通しているものの、導波管によって、検査装置本体内外間での電波の遮断能力は高められている。このように電波遮蔽手段として導波管を使用した場合、例えば、検査に必要となる電波の、内部から外部への伝搬度を３０〜４０ｄＢ程度に低下させることができる。
【００１６】
また、本発明における導波管は、その外形が管状のものはもちろん、後記する図１０、図１１に示すように、その外形が板状等であってもよい。なお、導波管の数は特に限定されず、１本であってもよいし複数本であってもよく、さらに、複数の導波管が束状であってもよい。特に、複数の導波管を束状にすれば、各導波管を細くしても、検査装置本体の内部と外部を連通する連通路の総断面積を確保することができる。すなわち、各導波管の開口部の面積を小さくし、さらに各導波管を長くして、各導波管の電波の遮蔽能力を高めても、束状の導波管全体では、前記連通路の総断面積を確保することができ、仮に排気用導波管とした場合、その排気流量を確保しやすくなる。
さらに、このように導波管を使用する場合、その内側に電波吸収性シートなどを設けて電波吸収性を有するように構成することが好ましい。このようにすれば、導波管の中空部を伝搬しようとする前記所定波長より長い波長の電波を確実に吸収し、検査装置本体の電波の遮蔽性をさらに良好に維持することができる。
【００１７】
金属製フィルタとは、電波を回折損失させることで遮蔽するフィルタであり、例えば、金属片が集合して構成されると共に、空気が流通する隙間を有するものである。
【００１８】
また、検査装置本体は電波の遮蔽性を有することにより、例えば、外部からの電波は、検査装置本体の内部に到達しない。そして、電波遮蔽手段は、前記したように電波を遮蔽するため、検査装置本体の電波の遮蔽性は好適に維持される。
さらに、検査装置本体は、電波吸収性を有するため、電子機器や電波授受手段から放射された電波は検査装置本体内で吸収され、電波の反射による共振は防止される。
【００１９】
さらにまた、所定の回転軸周りに回転可能な回転手段に、正常電子機器および検査電子機器を回転軸から等しい距離で取り付け、適宜に回転させることにより、正常電子機器と検査電子機器とを容易に入れ替えることができる。
したがって、正常電子機器および検査電子機器と、電波授受手段との間で電波を授受し、回転手段より正常電子機器と検査電子機器とを回転させ、各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、検査電子機器が正常であるか否かを精密に検査することができる。
【００２０】
請求項６に係る発明は、前記検査装置本体は、その内側に、λ／４型の電波吸収構造または電波吸収シートを備えていることを特徴とする請求項５に記載の電子機器検査装置である。
【００２１】
このような電子機器検査装置によれば、検査装置本体の内面を平坦にすることができる。これにより、検査装置本体内を大きくしたり、検査装置本体の外形を小さくすることができる。
【００２２】
請求項７に係る発明は、前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段を備えたことを特徴とする請求項５または請求項６に記載の電子機器検査装置である。
【００２３】
このような電子機器検査装置によれば、電波強度変化手段により、電波の強度を変化させることで、各電子機器の電波の授受限界点を検出しやすくなる。
【００２４】
請求項８に係る発明は、前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、を備え、前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置である。
【００２５】
このような電子機器検査装置によれば、制御手段が、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受し、回転手段により各電子機器を回転軸周りに回転させる。そして、検査手段が、各電子機器の電波授受状態を相対比較することによって、検査電子機器が正常であるか否かを精密に判定することができる。
【００２６】
請求項９に係る発明は、前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、を備え、前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させた後、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、その後前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置である。
【００２７】
このような電子機器検査装置によれば、制御手段が、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受した後、回転手段により回転軸周りに回転させ正常電子機器と検査電子機器とを入れ替えた後、電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら各電子機器と電波を授受する。そして、検査手段が、各電子機器の電波授受状態を相対比較することによって、検査電子機器が正常であるか否かを精密に判定することができる。
【００２８】
請求項１０に係る発明は、前記回転手段の前記各電子機器側は、当該各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有することを特徴とする請求項５から請求項９のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００２９】
このような電子機器検査装置によれば、電子機器から放射された電波を、回転手段の電子機器側で吸収し、電波の共振を抑えることができる。これにより、電子機器を精密に検査することができる。
【００３０】
請求項１１に係る発明は、前記回転手段に前記各電子機器を保持固定するための保持固定手段をそれぞれ備え、前記各保持固定手段は前記回転軸に対して軸対称であることを特徴とする請求項５から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００３１】
このような電子機器検査装置によれば、保持固定手段に、正常電子機器と検査電子機器とを取り付けることで、正常電子機器と検査電子機器とを回転軸に対して、軸対称に配置させることができる。
【００３２】
請求項１２に係る発明は、前記各電子機器と接続するケーブルと、前記回転による前記接続ケーブルのよじれを防止するスリップリングと、を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１１のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００３３】
このような電子機器検査装置によれば、スリップリングにより、各電子機器の回転によるケーブルのよじれを防止することができる。
【００３４】
請求項１３に係る発明は、電波妨害を防止するＥＭＩダクトを備え、前記ケーブルは前記ＥＭＩダクトに挿通されていることを特徴とする請求項１２に記載の電子機器検査装置である。
【００３５】
このような電子機器検査装置によれば、電磁妨害を防止しつつ、検査装置本体の外部から内部に、ＥＭＩダクトを介してケーブルを配線することができる。
【００３６】
請求項１４に係る発明は、前記ケーブルを被覆し、ノイズを吸収するノイズ吸収体を備えたことを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の電子機器検査装置である。
【００３７】
このような電子機器検査装置によれば、ノイズ吸収体により、ケーブル内を導通するノイズを吸収することができる。
【００３８】
請求項１５に係る発明は、前記検査装置本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１４のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００３９】
このような電子機器検査装置によれば、導電性を有する金属製の筐体により、電波を確実に遮蔽することができる。また、金属製であることにより、筐体の剛性は高められ、その結果として、検査装置本体の耐久性を高めることができる。
【００４０】
請求項１６に係る発明は、前記検査装置本体内の前記電子機器を視認可能とし、かつ、電波を反射する窓を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００４１】
このような電子機器検査装置によれば、窓を介して、例えば、電子機器の検査状況を視認することができる。また、窓が電波を反射することにより、検査装置本体の電波の遮蔽性を維持することができる。
【００４２】
請求項１７に係る発明は、前記検査装置本体内に前記電子機器を入れるための扉を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１６のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００４３】
このような電子機器検査装置によれば、扉を適宜に開閉させることで、電子機器を検査装置本体内に配置したり、検査装置本体から取り出すことができる。また、扉の縁部分であって、検査装置本体との当接部分には、扉の閉鎖時における電波の遮蔽性を高めるべく、枠状のパッキンを設けることが好ましい。
【００４４】
請求項１８に係る発明は、前記検査装置本体内を照らす照明を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１７のいずれか１項に記載の電子機器検査装置である。
【００４５】
このような電子機器検査装置によれば、照明によって検査装置本体内を照らすことができる。
【発明の効果】
【００４６】
本発明によれば、正常電子機器と検査電子機器とを正確に相対比較し、検査電子機器を精密に検査可能とする電子機器検査方法および電子機器検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
以下、本発明の一実施形態について、図１から図６を参照して説明する。
なお、ここでは、特許請求の範囲における電子機器を図２に示すように携帯電話とし、アンテナ２０から正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送り（授け）、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信状態を相対比較することで、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定する場合を例示する。
【００４８】
≪電子機器検査装置の構成≫
図１および図２に示すように、電子機器検査装置１は、その内部（電波遮蔽空間）に正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが入れられる検査箱１０（検査装置本体）と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの各々に電波を送るアンテナ２０（電波授受手段）と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが取り付けられる回転ユニット３０（回転手段）と、検査箱１０内の熱を排気する排気ユニット４０と、制御ユニット５１（制御手段）と、可変電波発生ユニット５２（電波強度変化手段）と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信（授受）状態を検出し、検査電子機器Ｔを検査する検査ユニット６０（検査手段）と、を主に備えている。
【００４９】
＜検査箱＞
検査箱１０は、その外形が略直方体の箱体であり、ラック１１上に固定されている。検査箱１０は、その正面に開閉自在の扉１２を備えており、扉１２を適宜に開／閉して、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを、検査箱１０内に配置／取り出しするようになっている。また、扉１２の縁部であって、扉１２を閉じたときに検査箱１０とで挟まれる部分には、電波遮蔽性を有する枠状のパッキン（図示しない）が設けられている。
【００５０】
扉１２は窓１３を備えている。窓１３は、検査箱１０内を視認可能な透明性を有している。これにより、検査箱１０の外から、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを監視し、例えば、電波を受信したことによる着信ランプの点灯の有無を観察できるようになっている。
また、窓１３は、これを介しての電波の往来を防止する電波の反射性（遮断性）を有しており、検査箱１０の電波遮蔽性が維持されるようになっている。このような窓１３は、例えば、ガラス板の片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムすず）膜を形成したものを使用できる。
【００５１】
検査箱１０は、外側の筐体１４と、筐体１４の内面を覆うように設けられたλ／４型の電波吸収構造１６とを備えている（図３参照）。
【００５２】
筐体１４は、金属製であり導電性を有している。これにより、筐体１４は、所定の剛性を有しその耐久性が高められていると共に、外部から電波の遮蔽性を有している。このような筐体１４は、骨格となるフレーム（図示しない）と、このフレームに溶接された複数のパネル（図示しない）とを備えて構成されている。フレームと各パネルとは、隙間が形成されないように溶接されており、筐体１４の密閉性、つまり、電波の遮蔽性は高められている。なお、図３は、検査箱１０の側壁１０ｂを拡大しており、複数のパネルの一つである側面パネル１５を記載している。
【００５３】
筐体１４のフレームおよび各パネルを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属だけでなく合金でもよい。特に、フレーム等がアルミニウムまたはアルミニウム合金（以下、アルミニウム等）で形成された場合、筐体１４は所望の剛性を維持しつつ、軽量化が図られる。また、アルミニウム等は独特の光沢を有するため、検査箱１０は美観に優れたものとなる。
【００５４】
次に、図３を参照して、電波吸収構造１６について説明する。
電波吸収構造１６は、電波を吸収させる公知の一方式（λ／４型）に基づく構造であり、筐体１４の内面を覆うように構築されており、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔや、アンテナ２０から放射された電波を、筐体１４の内面で反射させず擬似的に吸収させる構造である。すなわち、電波吸収構造１６は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、アンテナ２０から放射された電波が、筐体１４の内面で反射した電波と共振することを防止させる構造である。
【００５５】
電波吸収構造１６は、筐体１４の内側に配置されたスペーサ１６Ａと、さらにその内側に配置され、電波の１／２を透過させる機能を有する抵抗膜シート１６Ｂと、さらにその内側に配置され抵抗膜シート１６Ｂを保護する保護膜１６Ｃとを備えて構成されている。
【００５６】
スペーサ１６Ａは、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、アンテナ２０から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート１６Ｂと筐体１４との間隔をλ／４に設定するためものであり、λ／４の厚みＴ１を有している。スペーサ１６Ａは、電波の透過性を有しており、例えば、発泡スチロールから形成される。このように発泡スチロールから形成される場合、スペーサ１６Ａの厚みＴ１を容易に調整可能となる。
【００５７】
抵抗膜シート１６Ｂは、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート１６Ｂとしては、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ＩＴＯ膜の抵抗値を調整して成膜したものなどを使用することができる。
保護膜１６Ｃは、抵抗膜シート１６Ｂの内側に積層されており、抵抗膜シート１６Ｂの表面を保護するようになっている。
【００５８】
そして、このような電波吸収構造１６の表面は、平坦となっている。これにより、例えば、複数の凸状の電波吸収体を備える場合と比較して、検査箱１０内を大きくしたり、検査箱１０の外形を小さくしたりすることができる。
【００５９】
ここで、電波吸収構造１６による電波吸収のメカニズムについて説明する。
正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、またはアンテナ２０から放射された電波Ｗ１が、保護膜１６Ｃの垂直方向から電波が入射した場合、保護膜１６Ｃを通過した後、その１／２が抵抗膜シート１６Ｂを透過し、１／２が抵抗膜シート１６Ｂで反射する。ここで、抵抗膜シート１６Ｂを透過した電波を電波Ｗ２、反射した電波を電波Ｗ３とする。電波Ｗ２は、スペーサ１６Ａ内を進んだ後、筐体１４の側面パネル１５で反射し、電波Ｗ４となる。なお、抵抗膜シート１６Ｂ、側面パネル１５での反射の際に電波の位相はそれぞれ反転する。
【００６０】
そうすると、筐体１４での反射後、抵抗膜シート１６Ｂに到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート１６Ｂで反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ１６Ａの厚みＴ１の２倍、つまり、「λ／４×２＝λ／２」進んでおり、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相が反転することになる。したがって、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート１６Ｂに入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。
【００６１】
図２に戻って、検査箱１０の説明を続ける。
検査箱１０の上壁１０ａには、検査箱１０内を照らすＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプ１７（照明）が設けられている。これにより、検査中において、検査箱１０内を照らし、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを観察しやすくなっている。
【００６２】
ラック１１には、ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference：電磁妨害または電磁干渉）ダクト１８が設けられている。ＥＭＩダクト１８は、電磁妨害を防止しつつ、後記するケーブル６２などをラック１１の外部から内部に挿通可能とするダクトであり、ガスケット１８ａを介して、ラック１１に固定されている。これにより、ＥＭＩダクト１８を介して、ケーブル６２を筐体１４の外部から内部に配線可能とすると共に、ケーブル６２の挿通部分からの電磁妨害は防止され、筐体１４の遮蔽性は確保されている。
また、図２に示すように、ケーブル６２の所定長さ（例えば１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト１８内を通るように、ケーブル６２を配線することによって、前記電磁妨害が好適に防止される。
【００６３】
＜アンテナ＞
アンテナ２０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送る（授受）するためのものである。アンテナ２０は、回転軸Ｅ線上であって、検査箱１０に固定されたアンテナ用導波管２１（電波遮蔽手段）を介して、検査箱１０の上壁１０ａに垂設されている。
アンテナ２０にはケーブル２２が接続されており、このケーブル２２はアンテナ用導波管２１を介して外部に引き出され、可変電波発生ユニット５２に接続している。そして、アンテナ２０は、可変電波発生ユニット５２で増幅された後、可変電波発生ユニット５２から送られた信号に基づいて電波を発生し、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送るようになっている。
【００６４】
アンテナ用導波管２１は筒状の導波管であり、その中空部を介して検査箱１０の内部と外部とを連通させている。また、アンテナ用導波管２１は、アルミニウム合金などの金属製であり、電波遮蔽性を有している。さらに、アンテナ用導波管２１の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管２１の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬して、検査箱１０の内部から外部へ漏れないように設定されている。
【００６５】
したがって、アンテナ用導波管２１内にケーブル２２を配線しつつ、アンテナ用導波管２１内の電波の伝搬を防止することで、検査箱１０の電波の遮蔽性が好適に維持されるようになっている。
なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法（長さ）が同一であれば、導波管が長くなる程、その内部を電波が伝播しにくくなり、遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなる程、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数（所定の周波数）が高くなる。
【００６６】
＜回転ユニット＞
回転ユニット３０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを、平面視において検査箱１０の中心を通る回転軸Ｅ（所定の回転軸）周りに回転させるユニットである。回転ユニット３０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔがその上面に配置される回転テーブル３１と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転テーブル３１に保持固定するための一対の治具３２、３２（保持固定手段）と、検査箱１０に固定される共に検査箱１０の内部と外部を連通させるテーブル用導波管３５（電波遮蔽手段）と、モータ３６と、モータ電源３７とを主に備えている。
【００６７】
回転テーブル３１は、テーブル本体３３と、この上面に設けられ、電波吸収性を有する電波吸収シート３４とを備えている。したがって、回転テーブル３１の正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ側は、これら電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有している。これにより、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ、または、アンテナ２０から放射された電波が、電波吸収シート３４で吸収され、反射による電波の共振が抑えられるようになっている。
【００６８】
このような電波吸収シート３４としては、例えば、双極子型と称される電波吸収シートを使用することができる。双極子型の電波吸収シート３４とは、（１）カーボン粉末、酸化チタンなどの化合物から形成され、この化合物が有する電界を利用（例えば、電子配置の変化）することで電波を吸収するシートや、（２）例えば特許第３０４０９５３号公報に記載されるように、Ｍｎ−Ｚｎ系フェライト粉やカルボニル鉄などと、ＥＰＤＭ（エチレンプロピレンジエンモノマ）系ゴムとの化合物から形成され、この化合物が有する磁界を利用（例えば、磁界が変化）することで電波を吸収するシートや、（３）樹脂（例えばポリウレタン）と磁性体とが複合化されたシートである。具体的には、電波吸収シートとして、例えば、東洋サービス社製のルミディオン（登録商標）、日立金属社製のＨＴＤ−１０１などを使用することができる。なお、このような電波吸収シート３４は、広いバンドで電波を吸収するため、広帯域吸収体と称される場合もある。
【００６９】
テーブル本体３３は、スラスト軸受け（図示しない）を介してテーブル用導波管３５に固定されており、回転テーブル３１は検査箱１０に対して回転自在となっている。テーブル本体３３は、その中心軸線上に、ケーブル６２が挿通される挿通孔３３ａを有している。
また、テーブル用導波管３５は、アンテナ用導波管２１と同様に、その内部を所定波長以上の電波を伝播させない導波管である。このようなテーブル用導波管３５によって、検査箱１０の電波遮蔽性は維持されている。
【００７０】
一対の治具３２、３２は、回転テーブル３１に固定されており、正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔを、回転テーブル３１上に、着脱自在に保持固定するための手段である。治具３２、３２は、回転軸Ｅに対して軸対称（１８０°対向）に配置されている。そして、治具３２、３２に、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが固定されると、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが回転軸Ｅに対して軸対称に配置されることとなり、さらに正常電子機器ＳのアンテナＳａの軌跡と、検査電子機器ＴのアンテナＴａの軌跡とが、同一円周上を通るようになる。すなわち、このように各電子機器が固定されると、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔ（アンテナを含む）が、回転軸Ｅから等しい距離に配置するようになっている。
ただし、治具３２、３２の位置、つまり、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔの位置は、軸対称（１８０°対向）に限定されず、例えば、平面視において、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとでなす角度が９０°となるように配置されてもよい。
また、治具３２、３２は、回転軸Ｅから正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔまでの距離を精密に同一とするため、微調整ねじ、距離センサなどによって構成される微調整機構を備えてもよい。
【００７１】
モータ３６は、減速機構３８を介して、回転テーブル３１を回転させる駆動装置である。モータ３６は、モータ電源３７と接続しており、モータ電源３７から電力供給を受けて、所望の回転速度で回転すると共に、モータ電源３７から送られる電流の向きに応じて、正方向／逆方向に回転自在となっている。モータ電源３７は、制御ユニット５１から送られる指令に従って、モータ３６に電力を供給するようになっている。
【００７２】
＜排気ユニット＞
図４を参照して、排気ユニット４０について説明する。
排気ユニット４０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔから放出された熱を排気し、検査箱１０内の過昇温を防止するユニットである。排気ユニット４０は、図４（ａ）に示すように、金属製ハニカムとも称されるハニカム体４１（電波遮蔽手段）と、排気ファン４２とを備えている。
ハニカム体４１は、金属製（例えばアルミニウム合金製）の押出形材であって、検査箱１０の側壁１０ｂに固定されている。また、ハニカム体４１は、図４（ｂ）に示すように、複数の細孔４１ａを有しており、この複数の細孔４１ａを介して、検査箱１０の内部と外部とが連通している。排気ファン４２はハニカム体４１の外側に設けられており、排気ファン４２が駆動すると、検査箱１０内の熱が外部に排気されるようになっている。
【００７３】
ハニカム体４１の各細孔４１ａを取り囲む周壁４１ｂは筒状を呈しており、この筒状の周壁４１ｂは、アンテナ用導波管２１、テーブル用導波管３５と同様に、その内部を所定波長以上の電波を伝播させない導波管として機能している。すなわち、ハニカム体４１は、細孔４１ａを取り囲む筒状の周壁４１ｂからなる導波管が、複数集合し、束状となって構成されている。
また、ハニカム体４１を取り付けるため、検査箱１０の側壁１０ｂに形成する貫通孔の開口径Ｙ１、ハニカム体４１の長さＹ２（＝筒状の周壁４１ｂからなる各導波管の長さ）および細孔４１ａの開口径Ｙ３は、アンテナ用導波管２１等と同様に、ハニカム体４１内を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される（例えば、Ｙ１＝７９．５ｍｍ、Ｙ２＝１２．７ｍｍ、Ｙ３＝３．１８ｍｍ）。なお、図４（ｂ）に示すように、本実施形態では、ハニカム体４１の細孔４１ａが六角形である場合を例示しているが、これに限定されず、矩形などであってもよい。
【００７４】
＜制御ユニット＞
図２に戻って説明を続ける。
制御ユニット５１は、アンテナ２０から正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送る電波と、回転ユニット３０とを制御するユニットである。このような制御ユニット５１は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、各種インタフェイス、電子回路などから構成される。制御ユニット５１の具体的な動作については、後で説明する。
【００７５】
＜可変電波発生ユニット＞
可変電波発生ユニット５２は、アンテナ２０で発生させる電波の強度を変化させるユニットであり、信号発生器と、アンプと、を備えている。信号発生器は、制御ユニット５１からの指令を受けると、電気信号を発生するようになっている。そして、アンプは、この発生した電気信号を、制御ユニット５１からの指令に応じて、増幅するようになっている。次いで、この増幅または減衰した電気信号がアンテナ２０に送られるようになっている。その結果として、アンテナ２０で発生し、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送られる電波の強度が、変化するようになっている。
ここで、電波の強度を変化させるとは、例えば電波の強度を「Ａｓｉｎ（ωｔ＋α）、Ａ：電波の振幅、ω：角速度、ｔ：時間、α：位相差」とした場合、振幅Ａを変化させることである。
このような可変電波発生ユニット５２としては、例えば、ヒューレット・パッカード（ＨＰ）社製の８４４９Ｂなどを使用することができる。
【００７６】
＜検査ユニット＞
検査ユニット６０は、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信（授受）状態を検出し、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定するユニットである。検査ユニット６０は、検査ユニット本体６１と、検査ユニット本体６１と正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔとをそれぞれ接続するケーブル６２、６２と、スリップリング６３とを主に備えている。検査ユニット本体６１は、各電子機器の電波受信状態を検出し、この受信状態を相対比較して、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定するものである。検査ユニット本体６１の動作については、後で説明する。
【００７７】
各ケーブル６２の一端は検査ユニット本体６１に接続されている。一方、各ケーブル６２の他端は、ＥＭＩダクト１８、テーブル本体３３の挿通孔３３ａを介して、検査箱１０内に引き出されている。さらに、各ケーブル６２の他端には、正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔと着脱自在に接続するコネクタ６２ａが設けられている。
【００７８】
ケーブル６２のうち、ＥＭＩダクト１８内を通る部分、および、その所定前後部分の外周面は、ケーブル６２内を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体６４に被覆されている。これにより、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波受信状態が、ケーブル６２を介し、検査ユニット本体６１において高精度で検出されるようになっている。このようなノイズ吸収体６４としては、例えば、東洋サービス社製のＥＭＩテープ「ルミディオン（登録商標）ＥＴ」により、ケーブル６２を所定長さ（例えば３００ｍｍ以上）にて巻回することで構成される。
スリップリング６３は、回転テーブル３１の回転により、各ケーブル６２がよじれないように、適所に設けられている。
【００７９】
≪電子機器検査装置の動作、電子機器検査方法≫
次に、電子機器検査装置１の動作を説明しつつ、本実施形態に係る電子機器検査方法について、図５を主に参照して説明する。本実施形態に係る電子機器検査方法は、検査箱１０内（電波遮蔽空間）に、正常電子機器Ｓ（図５では正常品と略称）と検査電子機器Ｔ（図５では検査品と略称）とを配置する第１工程と、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔで、強度が４段階で弱くなる電波を受信しながら、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転軸Ｅ周りに回転させる第２工程と、を有している。
なお、ここでは、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを４回転させ、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送る電波が、１回転毎に、レベルＬ４、Ｌ３、Ｌ２、Ｌ１と弱める場合について説明する。
【００８０】
＜第１工程＞
オペレータは扉１２を開き、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを検査箱１０内に挿入し、治具３２、３２に取り付け、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを回転軸Ｅに対して軸対称、つまり、回転軸Ｅから等しい距離に配置する。そして、コネクタ６２ａ、６２ａを正常電子機器Ｓまたは検査電子機器Ｔにそれぞれ接続する。
【００８１】
＜第２工程＞
オペレータは検査開始スイッチ（図示しない）をＯＮにする。制御ユニット５１は、この検査スイッチのＯＮ信号を検知すると、可変電波発生ユニット５２にアンテナ２０から電波を発生するように指令を送る。そうすると、可変電波発生ユニット５２に内蔵された信号発生器は、制御ユニット５１からの指令に基づいて、電気信号を発生する。次いで、可変電波発生ユニット５２に内蔵されたアンプが、制御ユニット５１からの指令に従って、電気信号を適宜に増幅させた後、この増幅した信号がアンテナ２０に送られる。その結果として、アンテナ２０では、強度が変化した電波が発生し、この電波が正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの各々に送られる。
これに並行して、制御ユニット５１は、モータ電源３７に、モータ３６に電力を供給し回転テーブル３１を所定の回転速度で回転させる指令を送る。そうすると、この指令に基づいて、モータ電源３７からモータ３６に電力が供給され、モータ３６が駆動し、減速機構３８を介して、回転テーブル３１、つまり、これに保持固定された正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔが、回転軸Ｅ周りに回転する。
【００８２】
このようにアンテナ２０から、回転する正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送りながら、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの電波の受信状態を検査ユニット本体６１で検出する。
そして、検査ユニット本体６１は、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとが入れ替わる検査点（例えば、図５に示す３回転目の検査点Ａ１と検査点Ａ３、検査点Ａ２と検査点Ａ４）において、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとの電波受信状態を相対比較する。次いで、検査ユニット本体６１は、同一の電波の強度（図５では、レベルＬ２の電波強度）において、正常電子機器Ｓが受信したにも関わらず検査電子機器Ｔが受信しない場合、検査電子機器Ｔは正常でないと判定し、例えば、液晶パネル６１ａにその表示をする。一方、検査ユニット本体６１は、同一の電波の強度において、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔのいずれもが受信できた場合、検査電子機器Ｔは正常であると判定する。
【００８３】
なお、図５では、電波の強度がレベルＬ４の１回転目、レベルＬ３の２回転目では、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔのいずれもが電波を受信できたが、レベルＬ２の３回転目に係る検査点Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４では正常電子機器Ｓのみ受信し、レベルＬ１の４回転目に係る検査点Ａ５、Ａ６、Ａ７、Ａ８ではいずれも受信できなかったことを示している。
【００８４】
このようにして、本実施形態に係る電子機器検査装置１および電子機器検査方法によれば、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを、回転軸Ｅに対して軸対称に配置し、各電子機器に回転毎に強度の異なる電波を送りながら、各電子機器を回転させて入れ替えることにより、精密に相対比較することができ、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを精密に検査することができる。
【００８５】
さらに、検査ユニット本体６１が、図５に示すグラフに基づいて、図６に示すような、正常電子機器Ｓの受信限界レベルＬ１１（アンテナ２０が発する電波の強度であって正常電子機器Ｓが受信可能な電波の最小強度）と、検査電子機器Ｔの受信限界レベルＬ１２（アンテナ２０が発する電波の強度であって検査電子機器Ｔが受信可能な電波の最小強度）とを求め、検査電子機器Ｔの受信限界レベルＬ１２が、正常電子機器Ｓの受信限界レベルＬ１１より高い場合（Ｌ１２＞Ｌ１１）、検査電子機器Ｔが正常でないと判定するような構成としてもよい。
【００８６】
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、例えば以下のような変更が可能である。
【００８７】
前記した実施形態では、電子機器を携帯電話とした場合について説明したが、この他に例えば、ＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や、無線ＬＡＮ機能を備えるノートパソコンなどであってもよい。
【００８８】
前記した実施形態では、アンテナ２０から、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに電波を送り、各電子機器の電波受信状態を相対比較することで、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定したが、その他に例えば、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔから、アンテナ２０に電波を送り、相対比較することで検査電子機器Ｔを検査してもよい。
【００８９】
前記した実施形態では、検査装置本体として検査箱１０を例示したが、その他に例えば、大型の電波暗室であってもよい。
【００９０】
前記した実施形態では、検査箱１０が略立方体の箱体である場合を例示したが、検査箱１０の形状はこれに限定されず、適宜変更自由であり、例えば検査箱１０は円筒体状であってもよい。このように検査箱１０が円筒体状である場合、検査箱１０の中心軸線と、回転テーブル３１の回転軸Ｅとを一致させ、さらにアンテナ２０を回転軸Ｅ線上に位置させることが好ましい。このようにすれば、検査箱１０の内面と正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔとの距離が、回転中において一定となるため、電波吸収構造１６で吸収されず筐体１４で反射した電波があったとしても、回転中、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔに送られる電波は一定となる。これにより、検査電子機器Ｔを精密に検査しやすくなる。
【００９１】
前記した実施形態では、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転させる回転手段として回転テーブル３１を備える構成としたが、回転手段はこれに限定されず、例えば、回転軸Ｅで回転する回転アームを備える構成としてもよい。
【００９２】
前記した実施形態では、可変電波発生ユニット５２（電波強度変化手段）は、電気信号を増幅させるアンプを内蔵し、このアンプよって適宜に増幅された電気信号がアンテナ２０に送られ、アンテナ２０で発生する電波の強度が変化するとしたが、その他に例えば、可変電波発生ユニット５２が減衰器を内蔵し、前記電気信号を適宜に減衰させることにより、アンテナ２０で発生する電波の強度を変化させる構成としてもよい。
【００９３】
前記した実施形態では、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを回転軸Ｅに対して軸対称、つまり、各電子機器を平面視において１８０°対向させて配置し、回転テーブル３１を１８０°回転させることで正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔを入れ替える場合を例示したが、各電子機器の位置はこれに限定されず、例えば、平面視において正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを周方向に９０°ずらして配置してもよく、このような場合、回転テーブル３１を９０°回転させることで、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを入れ替えることができる。なお、回転軸Ｅから、正常電子機器Ｓ、検査電子機器Ｔまでの距離は、前記した実施形態と同様に等しくする。
【００９４】
前記した実施形態では、電波の強度を変化する方式として、電波の強度を弱くする場合について説明したが、逆に電波の強度を強くする方式であってもよい。
また、回転毎に電波を弱める（または強める）程度は、適宜に変更してよいことは言うまでもない。
さらに、例えば、図５において、２回転目のレベルＬ３の強度の電波を、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの両者が受信でき、３回転目のレベルＬ２の強度の電波を両者が受信できなかった場合、電波強度の下げ幅を小さく変更することで、さらに精密な検査をすることができる。
さらにまた、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの総回転数は４回転に、電波の強度の段階的な変化数は４段階に、それぞれ限定されず、回転数を増加させると共に、さらに多数の段階で電波強度を変化させることにより、精密に検査することができる。
【００９５】
前記した実施形態では、第２工程において、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔで、４段階でその強度が弱くなる電波を受信しながら、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔを回転軸Ｅ周りに４回転させるとしたが、その他に例えば、図７に示すように、回転させず固定位置において各電子機器で、その強度が連続的に弱くなる電波を受信し（第２工程）、その後、回転軸Ｅ周りに１８０°回転させて、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとを入れ替え（第３工程）、再び各電子機器で、その強度が連続的に弱くなる電波を受信してもよい（第４工程）。
【００９６】
このようにすれば、回転前において正常電子機器Ｓの電波受信限界が検査点Ｂ１であって、その電波強度がレベルＬ２１であった場合、１８０°回転後の検査電子機器Ｔの電波受信限界が検査点Ｂ２であり、その電波強度がレベルＬ２１より高いとき、検査電子機器Ｔは正常でないと判定することができる。一方、回転後の検査電子機器Ｔの電波受信限界が検査点Ｂ３であり、電波強度がレベルＬ２１と同一であるとき、検査電子機器Ｔは正常であると判定することができる。
【００９７】
その他、図８に示すように、各回転において、電波の強度を９０°回転毎に、変化させる方式を採用してもよい。この場合、正常電子機器Ｓと検査電子機器Ｔとが入れ替わる検査点Ｃ１と検査点Ｃ２、検査点Ｃ３と検査点Ｃ４とにおける電波受信状態を、検査ユニット本体６１で抽出し、相対比較することで、検査電子機器Ｔが正常であるか否かを判定することができる。
その他、電波の強度を例えば３０°毎に変化させる方式を採用してもよい。
【００９８】
前記した実施形態では、扉１２に窓１３が設けられた構成としたが、窓１３の位置はこれに限定されず、例えば検査箱１０に直接設けてもよい。また、窓１３の数もこれに限定されず、複数の窓１３を検査箱１０に設けて、正常電子機器Ｓおよび検査電子機器Ｔの視認性を高める構成としてもよい。
【００９９】
前記した実施形態では、λ／４の厚みＴ１を有するスペーサ１６Ａを設けたが、筐体１４と抵抗膜シート１６Ｂとの間隔をλ／４に設定可能ならば、スペーサ１６Ａを備えなくてもよい。ただし、筐体１４と、抵抗膜シート１６Ｂとの間は、電波が透過可能である必要がある。
【０１００】
前記した実施形態では、導波管として、アンテナ用導波管２１と、テーブル用導波管３５と、ハニカム体４１を構成する複数の導波管と、を備える構成としたが、導波管の数はこれに限定されず、例えば吸気用の導波管を検査箱１０に設けてもよい。
【０１０１】
前記した実施形態では、検査箱１０は金属製の筐体１４を備え、その遮蔽性、剛性等を高める構成としたが、例えば、電波吸収性を有する板材で箱体を構成し、これを検査箱としてもよい。
【０１０２】
前記した実施形態では、排気ユニット４０は、１つのハニカム体４１を備える構成としたが、さらにハニカム体４１を備え、ハニカム体４１が複数段である構成であってもよい。すなわち、複数の導波管（束）をその長手方向に複数段で配置された構成としてもよい。この場合において、段違いで配置された導波管の仕様（内径や長さ）を別々に設定することにより、各導波管内を伝搬させない電波を別々に設定することができる。そして、その結果として、段違いに配置された導波管全体としての電波の遮蔽能力を高めることができる。
その他、１つの大内径の導波管内に、複数の導波管（束）であるハニカム体を備える構成、つまり、多重構造の導波管としてもよい。
【０１０３】
前記した実施形態では、筐体１４の内面に電波吸収構造１６が設けられたことにより、検査箱１０が電波吸収性を有する構成としたが、電波吸収構造１６に代えて、図９に示すように、筐体１４の内面を、電波吸収シート３４と同材質の電波吸収シート１９で覆う構成としてもよい。また、電波吸収シートを、例えばアンテナ用導波管の内面に設け、電波遮蔽性を高めるようにしてもよい。
【０１０４】
前記した実施形態では、排気ユニット４０を構成するハニカム体４１の細孔４１ａを介して排気するとしたが、図１０（ａ）に示すように側面パネル１５に複数の排気孔１５ａ（空気流通孔）を形成すると共に、側面パネル１５の外側に排気ファン４２を取り付けて（図１０（ｂ）参照）、複数の排気孔１５ａを介して排気するようにしてもよい。この場合、各排気孔１５ａが所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管として機能するように、排気孔１５ａの内径、長さを設定する（図１０（ｃ）参照）。このように側面パネル１５に複数の排気孔１５ａが形成された場合、排気孔１５ａが導波管の中空部に相当し、側面パネル１５は前記導波管が束になって集合した導波管集合プレートに相当する。具体的に例えば、厚さ１０ｍｍの側面パネル１５に、直径３．０ｍｍの排気孔１５ａが約１００個にて形成される。ただし、このような複数の空気流通孔は排気用に限らず、吸気用であってもよいことは言うまでもない。なお、図１０では、電波吸収構造１６を省略して記載している。
【０１０５】
前記した側面パネル１５に複数の排気孔１５ａを形成した場合に代えて（図１０参照）、図１１（ａ）に示すように、側面パネル１５に大きめの開口１５ｂを形成し、この開口１５ｂを検査箱１０の内側から塞ぐように、複数の排気孔４４ａが形成されたプレート４４を、取付枠４３を介して、側面パネル１５に取り付けてもよい（図１１（ｂ）参照）。この場合、排気孔４４ａが、排気孔１５ａと同様に、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管として機能するように、排気孔４４ａの内径、長さを設定する（図１１（ｃ）参照）。また、このように側面パネル１５とは別のプレート４４に排気孔４４ａを形成したことにより、検査箱１０の内部と外部とを伝播させない電波の種類に対応して、プレート４４を容易に取り替えることができる。
【０１０６】
その他、図１２（ａ）に示すように、排気孔４４ａが形成されたプレート４４に代えて、エクスパンドアルミとも称されるアルミニウム片フィルタ４５（電波遮蔽手段）を使用してもよい。アルミニウム片フィルタ４５は、取付枠４３に設けられたメッシュ４３ａと、取付枠４６に設けられたメッシュ４６ａとで挟まれつつ、開口１５ｂに蓋をするようにして、側面パネル１５に固定される（図１２（ｂ）、（ｃ）参照）。アルミニウム片フィルタ４５（金属製のフィルタ）は、例えばアルミニウムまたはアルミニウム合金の小片（金属片）が集合して構成されたものであり、その内部に空気が流通する隙間を有している。そして、検査箱１０内の空気が、アルミニウム片フィルタ４５の隙間を通って、外部に排出されるようになっている。
ここで、電波もアルミニウム片フィルタ４５の隙間を通過しようとするが、アルミニウム片フィルタ４５を構成するアルミニウム等の小片によって電波が回折損失し、電波が遮蔽されるようになっている。なお、電波の回折損失とは、電波が複数のアルミニウム等の小片によって反射し、この小片の背面側（電波の進行方向側）に電波が伝播しにくいことである。
また、このようなアルミニウム片フィルタ４５に代えて、スチールウールや、メッシュが複数重ねられてなるメッシュ積層体を、電波遮蔽手段として使用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本実施形態に係る電子機器検査装置の斜視図である。
【図２】図１に示す電子機器検査装置のＸ−Ｘ線断面図である。
【図３】図２に示す検査箱の側壁の拡大図である。
【図４】（ａ）は図２に示す排気ユニットの拡大図であり、（ｂ）は検査箱内から排気ユニットを見た図である。
【図５】本実施形態に係る電子機器検査装置の一動作例を示す図である。
【図６】本実施形態に係る電子機器検査装置の一効果を示す図である。
【図７】本実施形態に係る電子機器検査装置の別の動作例を示す図である。
【図８】本実施形態に係る電子機器検査装置の別の動作例を示す図である。
【図９】変形例に係る検査箱の側壁の拡大図である。
【図１０】変形例に係る排気ユニットの図であり、（ａ）は検査箱内から排気ユニットを見た図であり、（ｂ）は検査箱外から排気ユニットを見た図であり、（ｃ）は排気ユニットの側断面図である。
【図１１】変形例に係る排気ユニットの図であり、（ａ）は検査箱内から排気ユニットを見て、排気ユニットを分解した図であり、（ｂ）は検査箱内から排気ユニットを見た図であり、（ｃ）は排気ユニットの側断面図である。
【図１２】変形例に係る排気ユニットの図であり、（ａ）は検査箱内から排気ユニットを見て、排気ユニットを分解した図であり、（ｂ）は検査箱内から排気ユニットを見た図であり、（ｃ）は排気ユニットの側断面図である。
【符号の説明】
【０１０８】
１ 電子機器検査装置
１０ 検査箱（検査装置本体）
１２ 扉
１３ 窓
１４ 筐体
１５ 側面パネル
１６ 電波吸収構造
１６Ａ スペーサ
１６Ｂ 抵抗膜シート
１６Ｃ 保護膜
１７ ＬＥＤランプ（照明）
１８ ＥＭＩダクト
１９ 電波吸収シート
２０ アンテナ（電波授受手段）
２１ アンテナ用導波管（電波遮蔽手段）
３０ 回転ユニット（回転手段）
３１ 回転テーブル
３２ 治具（保持固定手段）
３３ テーブル本体
３４ 電波吸収シート
３５ テーブル用導波管（電波遮蔽手段）
３６ モータ
３７ モータ電源
３８ 減速機構
４０ 排気ユニット
４１ ハニカム体（電波遮蔽手段）
４２ 排気ファン
４４ プレート（電波遮蔽手段）
４５ アルミニウム片フィルタ（電波遮蔽手段）
５１ 制御ユニット（制御手段）
５２ 可変電波発生ユニット（可変電波発生手段）
６０ 検査ユニット（検査手段）
６１ 検査ユニット本体
６３ スリップリング
６４ ノイズ吸収体
Ｅ 回転軸
Ｓ 正常電子機器
Ｔ 検査電子機器
Ｌ１〜Ｌ４ 電波強度のレベル
【特許請求の範囲】
【請求項１】
正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、
外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら、前記各電子機器を前記回転軸周りに回転させる第２工程と、
を有することを特徴とする電子機器検査方法。
【請求項２】
前記第２工程において電波の強度を変化させることを特徴とする請求項１に記載の電子機器検査方法。
【請求項３】
正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、
外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第２工程と、
前記回転軸周りに回転させて、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを入れ替える第３工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第４工程と、
を有することを特徴とする電子機器検査方法。
【請求項４】
前記正常電子機器と前記検査電子機器とは、前記回転軸に対して軸対称に配置されることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電子機器検査方法。
【請求項５】
正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査するための電子機器検査装置であって、
前記正常電子機器および前記検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、
前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、
前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、
所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、
を備えたことを特徴とする電子機器検査装置。
【請求項６】
前記検査装置本体は、その内側に、λ／４型の電波吸収構造または電波吸収シートを備えていることを特徴とする請求項５に記載の電子機器検査装置。
【請求項７】
前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段を備えたことを特徴とする請求項５または請求項６に記載の電子機器検査装置。
【請求項８】
前記回転手段および前記電波強度発生手段を制御する制御手段と、
前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、
前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置。
【請求項９】
前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、
前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させた後、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、その後前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、
前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置。
【請求項１０】
前記回転手段の前記各電子機器側は、当該各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有することを特徴とする請求項５から請求項９のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１１】
前記回転手段に前記各電子機器を保持固定するための保持固定手段をそれぞれ備え、
前記各保持固定手段は前記回転軸に対して軸対称であることを特徴とする請求項５から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１２】
前記各電子機器と接続するケーブルと、
前記回転による前記接続ケーブルのよじれを防止するスリップリングと、
を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１１のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１３】
電波妨害を防止するＥＭＩダクトを備え、
前記ケーブルは前記ＥＭＩダクトに挿通されていることを特徴とする請求項１２に記載の電子機器検査装置。
【請求項１４】
前記ケーブルを被覆し、ノイズを吸収するノイズ吸収体を備えたことを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の電子機器検査装置。
【請求項１５】
前記検査装置本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１４のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１６】
前記検査装置本体内の前記電子機器を視認可能とし、かつ、電波を反射する窓を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１７】
前記検査装置本体内に前記電子機器を入れるための扉を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１６のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１８】
前記検査装置本体内を照らす照明を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１７のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１】
正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、
外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら、前記各電子機器を前記回転軸周りに回転させる第２工程と、
を有することを特徴とする電子機器検査方法。
【請求項２】
前記第２工程において電波の強度を変化させることを特徴とする請求項１に記載の電子機器検査方法。
【請求項３】
正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査する電子機器検査方法であって、
外部からの電波が遮蔽された電波遮蔽空間に、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを、所定の回転軸から等しい距離にそれぞれ配置する第１工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第２工程と、
前記回転軸周りに回転させて、前記正常電子機器と前記検査電子機器とを入れ替える第３工程と、
前記各電子機器と電波を授受しながら電波の強度を変化させる第４工程と、
を有することを特徴とする電子機器検査方法。
【請求項４】
前記正常電子機器と前記検査電子機器とは、前記回転軸に対して軸対称に配置されることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電子機器検査方法。
【請求項５】
正常な正常電子機器および検査する検査電子機器の各々と電波を授受し、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較することで、前記検査電子機器を検査するための電子機器検査装置であって、
前記正常電子機器および前記検査電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および前記各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する検査装置本体と、
前記各電子機器と電波を授受する電波授受手段と、
前記検査装置本体の外部と内部とを連通させつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、
所定の回転軸周りに回転可能であると共に、前記各電子機器が前記回転軸から等しい距離で取り付けられる回転手段と、
を備えたことを特徴とする電子機器検査装置。
【請求項６】
前記検査装置本体は、その内側に、λ／４型の電波吸収構造または電波吸収シートを備えていることを特徴とする請求項５に記載の電子機器検査装置。
【請求項７】
前記各電子機器と前記電波授受手段との間で授受する電波の強度を変化させる電波強度変化手段を備えたことを特徴とする請求項５または請求項６に記載の電子機器検査装置。
【請求項８】
前記回転手段および前記電波強度発生手段を制御する制御手段と、
前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させながら、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、
前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置。
【請求項９】
前記回転手段および前記電波強度変化手段を制御する制御手段と、
前記各電子機器の電波授受状態を検出することで、前記検査電子機器を検査する検査手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させた後、前記回転手段を前記回転軸周りに回転させ、その後前記電波強度変化手段により電波の強度を変化させ、
前記検査手段は、前記各電子機器の電波授受状態を相対比較し、前記検査電子機器が正常であるか否かを判定することを特徴とする請求項７に記載の電子機器検査装置。
【請求項１０】
前記回転手段の前記各電子機器側は、当該各電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有することを特徴とする請求項５から請求項９のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１１】
前記回転手段に前記各電子機器を保持固定するための保持固定手段をそれぞれ備え、
前記各保持固定手段は前記回転軸に対して軸対称であることを特徴とする請求項５から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１２】
前記各電子機器と接続するケーブルと、
前記回転による前記接続ケーブルのよじれを防止するスリップリングと、
を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１１のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１３】
電波妨害を防止するＥＭＩダクトを備え、
前記ケーブルは前記ＥＭＩダクトに挿通されていることを特徴とする請求項１２に記載の電子機器検査装置。
【請求項１４】
前記ケーブルを被覆し、ノイズを吸収するノイズ吸収体を備えたことを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の電子機器検査装置。
【請求項１５】
前記検査装置本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１４のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１６】
前記検査装置本体内の前記電子機器を視認可能とし、かつ、電波を反射する窓を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１７】
前記検査装置本体内に前記電子機器を入れるための扉を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１６のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【請求項１８】
前記検査装置本体内を照らす照明を備えたことを特徴とする請求項５から請求項１７のいずれか１項に記載の電子機器検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００７−１０１４４５（Ｐ２００７−１０１４４５Ａ）
【公開日】平成１９年４月１９日（２００７．４．１９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２９３９４０（Ｐ２００５−２９３９４０）
【出願日】平成１７年１０月６日（２００５．１０．６）
【出願人】（０００００４７４３）日本軽金属株式会社 (627)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年４月１９日（２００７．４．１９）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年１０月６日（２００５．１０．６）
【出願人】（０００００４７４３）日本軽金属株式会社 (627)
【Ｆターム（参考）】
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