電気光学装置、画像処理装置、画像処理方法および電子機器
【課題】 各電気光学素子を消灯させずに外光量や各電気光学素子の特性値を個別に特定
する。
【解決手段】 センサ３０は、複数の電気光学素子１３からの出射光および外光を受光し
てその受光量Ｌを検出する。平均算定部６３は、階調データＤg0によって複数の電気光学
素子１３に指定された階調の平均値Ａを算定する。特性値特定部６５１は、複数の電気光
学素子１３の特性値をセンサ３０の受光量Ｌに基づいて特定する。外光量特定部６５２は
、平均算定部６３が算定した平均値Ａとセンサ３０の受光量Ｌとに基づいて、平均値Ａが
最低値であるときにセンサ３０に到達すべき光量を外光量Ｌ0として特定する。調整値決
定部６７は、特性値特定部６５１が特定した特性値と外光量特定部６５２が特定した外光
量Ｌ0とに応じた調整値Ｒを決定する。調整部６９は、階調データＤg0を調整値Ｒに応じ
て調整することで階調データＤg1を生成する。
する。
【解決手段】 センサ３０は、複数の電気光学素子１３からの出射光および外光を受光し
てその受光量Ｌを検出する。平均算定部６３は、階調データＤg0によって複数の電気光学
素子１３に指定された階調の平均値Ａを算定する。特性値特定部６５１は、複数の電気光
学素子１３の特性値をセンサ３０の受光量Ｌに基づいて特定する。外光量特定部６５２は
、平均算定部６３が算定した平均値Ａとセンサ３０の受光量Ｌとに基づいて、平均値Ａが
最低値であるときにセンサ３０に到達すべき光量を外光量Ｌ0として特定する。調整値決
定部６７は、特性値特定部６５１が特定した特性値と外光量特定部６５２が特定した外光
量Ｌ0とに応じた調整値Ｒを決定する。調整部６９は、階調データＤg0を調整値Ｒに応じ
て調整することで階調データＤg1を生成する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光ダイオード（以下「ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode
）」という）素子などの電気光学素子を所期の階調に制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の電気光学素子を配列した電気光学装置において各電気光学素子の階調を調整する
ための技術が従来から提案されている。例えば特許文献１や特許文献２には、電気光学素
子が配列された基板の周縁部にセンサを配置し、このセンサによって受光された電気光学
素子からの出射光の光量に基づいて各電気光学素子の階調を補正する技術が開示されてい
る。この構成のもとでは、各電気光学素子からの出射光だけでなく太陽光や室内の照明光
といった外光もセンサによって受光される。電気光学素子から出射した光量と外光の光量
（以下「外光量」という）とを区別するために、特許文献１や特許文献２に記載された構
成においては、各電気光学素子を消灯させたときのセンサによる受光量が外光量として検
出され、各電気光学素子の駆動時におけるセンサの受光量から外光量を差引いた数値（す
なわち各電気光学素子から出射した光量）に基づいて各電気光学素子の階調が補正される
ようになっている。
【特許文献１】特開２００５−２０１９６２号公報（段落００７７および図５）
【特許文献２】特開２００５−７００６５号公報（段落００４２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、特許文献１や特許文献２に記載された構成においては、各電気光学素子
を消灯させるという動作が外光量の検出のために不可欠である。したがって、外光量の検
出時には各電気光学素子を本来の用途（例えば画像の表示）に使用することができないと
いう問題がある。この問題を解消するための方策としては、例えば電気光学装置の電源が
投入されてから各電気光学素子を発光させる前に外光量を１回だけ検出するという方策も
考えられる。しかしながら、この構成のもとでは、電気光学装置の使用中に外光量を検出
することができないから、たとえ電気光学装置の使用中に外光量が変化したとしてもこの
変化に対応して補正の態様（例えば調整値）を変更することがでいない。本発明は、この
ような事情に鑑みてなされたものであり、各電気光学素子を消灯させる必要なしに外光量
や各電気光学素子の特性値を個別に特定するという課題の解決を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
この課題を解決するために、本発明の第１の特徴に係る電気光学装置は、各々が光を出
射する複数の電気光学素子と、複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してそ
の受光量を検出するセンサと、階調データによって複数の電気光学素子に指定された階調
の平均値である階調平均値を算定する平均算定手段と、複数の電気光学素子の特性値をセ
ンサにより検出された受光量に基づいて特定する特性値特定手段と、平均算定手段が算定
する階調平均値とセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値が最低値であると
きにセンサに到達すべき光量を外光量として特定する外光量特定手段と、特性値特定手段
が特定した特性値と外光量特定手段が特定した外光量とに応じた調整値を決定する調整値
決定手段と、複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指定
された階調と調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段とを具
備する。
【０００５】
この構成によれば、階調平均値が最低値であるときにセンサに到達すべき光量が階調平
均値とセンサによる受光量との関係に基づいて外光量として特定される。したがって、各
電気光学素子が駆動されている場合であっても外光量を特定することができる。すなわち
、外光量の特定のために総ての電気光学素子を消灯させる必要はない。
【０００６】
本発明の「電気光学素子」とは、電流の供給や電界（電圧）の印加といった電気エネル
ギの付与によって階調が制御される要素である。例えば、本発明は、ＯＬＥＤ素子などの
発光素子が電気光学素子として採用された電気光学装置（すなわち発光装置）に好適に採
用される。また、本発明における「外光」とは、各電気光学素子からの出射光以外の光で
あり、典型的には太陽光や屋内の照明光など外部から電気光学装置に到来する光である。
【０００７】
本発明の具体的な態様において、特性値特定手段は、第１期間の階調データから平均算
定手段が算定した階調平均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、第１期間と
は相違する第２期間の階調データから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２
期間でのセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値に対するセンサによる受光
量の勾配（各実施形態における効率係数Ｅ）を特性値として特定する。例えば、特性値特
定手段は、第１期間における階調平均値および受光量と第２期間における階調平均値およ
び受光量とから階調平均値と受光量との関係を近似する直線を特定し、この直線の勾配を
特性値として特定する。この態様によれば、外光量の影響を除外して電気光学素子の特性
値を高精度に特定することが可能である。
【０００８】
さらに別の態様において、外光量特定手段は、第１期間の階調データから平均算定手段
が算定した階調平均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、第１期間とは相違
する第２期間の階調データから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間で
のセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値が最低値であるときにセンサに到
達すべき光量を外光量として特定する。例えば、外光量特定手段は、第１期間における階
調平均値および外光量と第２期間における階調平均値および受光量とから階調平均値と受
光量との関係を近似する直線を特定し、この直線の切片（階調平均値がゼロであるときの
受光量）を外光量として特定する。この態様によれば、各電気光学素子の駆動中であって
も高精度かつ確実に外光量を特定することが可能である。
【０００９】
なお、以上の各態様において、平均算定手段が階調平均値を算定する期間の時間長は任
意である。この期間の典型例はフレーム期間（すなわち総ての電気光学素子が駆動される
期間）であるが、例えば複数のフレーム期間を単位として階調平均値が算定される構成と
してもよい。また、以上の各態様においては第１期間および第２期間のみに言及されてい
るが、３個以上の期間の各々における階調平均値および受光量に基づいて特性値（勾配）
や外光量（切片）を特定する構成であっても、このうちのひとつの期間を本発明の「第１
期間」と把握するとともに他のひとつの期間を本発明の「第２期間」と把握すれば当然に
本発明の範囲に含まれる。
【００１０】
より好適な態様において、平均算定手段は、所定の期間ごとに階調平均値を算定し、外
光量特定手段は、各期間において算定された階調平均値および当該期間におけるセンサに
よる受光量と、他の期間にて算定された階調平均値および当該期間におけるセンサによる
受光量とに基づいて順次に外光量を特定し、調整値決定手段は、外光量特定手段が期間ご
とに特定する外光量に応じて順次に調整値を更新する。この態様によれば、所定の期間ご
とに外光量が特定されるから、例えば電気光学装置の使用される環境が変化して外光量が
変動した場合であっても、この変動後の外光量に適した調整値を決定することが可能であ
る。
【００１１】
本発明の第２の特徴に係る電気光学装置は、各々が光を出射する複数の電気光学素子と
、複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサと
、階調データによって複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均値を
算定する平均算定手段と、第１期間の階調データから平均算定手段が算定した階調平均値
および当該第１期間でのセンサによる受光量と、第１期間とは相違する第２期間の階調デ
ータから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間でのセンサによる受光量
との関係に基づいて、階調平均値に対するセンサによる受光量の勾配を特性値として特定
する特性値特定手段と、特性値特定手段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整
値決定手段と、複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指
定された階調と調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段とを
具備する。
【００１２】
この構成によれば、第１期間における階調平均値および受光量と第２期間における階調
平均値および受光量とに基づいて特性値が決定されるから、外光がセンサに到達する構成
にも拘わらず、この外光の影響を排除して高精度に特性値のみを特定することが可能であ
る。したがって、事前に外光量を特定するための各電気光学素子を消灯させるといった処
理は原理的に不要である。
【００１３】
本発明の第１および第２の特徴に係る電気光学装置の好適な態様において、平均算定手
段は、階調データによって各電気光学素子に指定される階調をセンサと各電気光学素子と
の距離に応じた係数で重み付けした加重平均を階調平均値として算定する。この態様によ
れば、センサから離間した電気光学素子からの出射光ほどセンサに到達し難いという傾向
を調整値に忠実に反映させることができる。
【００１４】
本発明の第１および第２の特徴に係る電気光学装置は、例えば、複数の電気光学素子が
表面に配列された光透過性の基板を具備し、センサは、基板の内部を進行してきた各電気
光学素子からの出射光を受光する。この構成によれば、各電気光学素子からの出射光を効
率的にセンサに到達させることができる。
より好適な態様において、センサは基板の側方に配置され（例えば図２や図１５参照）
、基板の表面には透光部材が配置される。この透光部材は、当該表面からの高さが側方に
近い位置ほど高い傾斜面（例えば図２の傾斜面４１）を含む光透過性の部材である。この
態様によれば、外光が直接的に基板に入射する構成と比較して、透光部材の傾斜面に入射
した外光を効率的にセンサに到達させることができる。
さらに具体的な態様においては、基板を収容する筐体が設けられ、筐体には、複数の電
気光学素子からの出射光が通過する開口部（例えば図１の開口部２３１）が形成される。
そして、開口部の内周縁には切欠部（例えば図１の切欠部２３３）が形成され、透光部材
は、筐体の切欠部に嵌め込まれる。この態様によれば、電気光学装置のデザイン性を損な
うことなく透光部材を設置することが可能となる。
【００１５】
本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。この電子機器の典型例は、
電気光学装置を表示装置として利用した機器である。この種の電子機器としては、パーソ
ナルコンピュータや携帯電話機などがある。もっとも、本発明に係る電気光学装置の用途
は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体
に潜像を形成するための露光装置（露光ヘッド）や、液晶装置の背面側に配置されてこれ
を照明する装置（バックライト）、あるいは、スキャナなどの画像読取装置に搭載されて
原稿を照明する装置など各種の照明装置など、様々な用途に本発明の電気光学装置を適用
することができる。
【００１６】
本発明は、階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、複
数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具
備する電気光学装置の画像処理装置としても特定される。
例えば、本発明の第１の特徴に係る画像処理装置は、階調データによって複数の電気光
学素子に指定された階調の平均値である階調平均値を算定する平均算定手段と、複数の電
気光学素子の特性値をセンサにより検出された受光量に基づいて特定する特性値特定手段
と、平均算定手段が算定する階調平均値とセンサによる受光量との関係に基づいて、階調
平均値が最低値であるときにセンサに到達すべき光量を外光量として特定する外光量特定
手段と、特性値特定手段が特定した特性値と外光量特定手段が特定した外光量とに応じた
調整値を決定する調整値決定手段とを具備する。
また、本発明の第２の特徴に係る画像処理装置は、階調データによって複数の電気光学
素子に指定された階調の平均値である階調平均値を算定する平均算定手段と、第１期間の
階調データから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第１期間でのセンサによる
受光量と、第１期間とは相違する第２期間の階調データから平均算定手段が算定した階調
平均値および当該第２期間でのセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値に対
するセンサによる受光量の勾配を特性値として特定する特性値特定手段と、特性値特定手
段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定手段とを具備する。
【００１７】
本発明の望ましい態様に係る画像処理装置は、調整値決定手段が決定した調整値に基づ
いて、階調データが指定する階調を調整する調整手段を具備する。この態様によれば、各
電気光学素子を駆動するための駆動回路に階調データを調整（補正）するための機能を持
たせる必要がないから、この機能を持たない従来の駆動回路を本発明の電気光学装置に汎
用することができる。ただし、階調データを調整する機能（調整手段）は駆動回路に設け
られてもよい。
【００１８】
なお、本発明の画像処理装置は、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのハードウ
ェアによって実現されてもよいし、コンピュータとプログラムとの協働によって実現され
てもよい。このプログラムは、コンピュータを以上の各手段として機能させる内容となる
。また、本発明は、以上の各態様に係る電気光学装置に利用される画像処理方法としても
特定される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構造を示す平面図である。また、
図２は、図１におけるII−II線からみた断面図であり、図３は、図１におけるIII−III線
からみた断面図である。本実施形態の電気光学装置Ｄは、各種の電子機器の表示装置とし
て利用される装置であり、画像を表示する電気光学パネル１０と、この電気光学パネル１
０を収容する筐体２０とを含む。
【００２０】
電気光学パネル１０は、略長方形に成形された光透過性の基板１１と、この基板１１の
うち背面側（図２や図３における下方）の表面１１２に配置された複数の電気光学素子１
３とを含む。基板１１の表面１１２には、図１に示されるように、相互に交差する方向に
延在する複数の走査線１６と複数のデータ線１７とが形成される。各電気光学素子１３は
走査線１６とデータ線１７との各交差点に対応した位置に配置される。したがって、これ
らの電気光学素子１３は基板１１の表面１１２にマトリクス状に配列する。なお、図２や
図３においては走査線１６やデータ線１７の図示が省略されている。
【００２１】
図２および図３に示されるように、各電気光学素子１３は、相互に対向する第１電極１
３１（陽極）と第２電極１３２（陰極）との間に発光層１３４が介挿された構造となって
いる。本実施形態の電気光学素子１３は、発光層１３４が有機ＥＬ（ElectroLuminescent
）材料によって形成されたＯＬＥＤ素子（発光素子）である。発光層１３４は、第１電極
１３１と第２電極１３２との間に流れる電流に応じた輝度で発光する。
【００２２】
各第１電極１３１は、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）など光透過性の導電材料によって
電気光学素子１３ごとに形成された電極である。これらの第１電極１３１が形成された基
板１１の表面１１２には、この表面１１２上の空間を電気光学素子１３ごとに仕切る格子
状の隔壁１３６が形成される。発光層１３４は、この隔壁１３６に包囲されて第１電極１
３１を底面とする空間（凹部）に形成される。一方、第２電極１３２は、アルミニウムや
銀など光反射性を有する導電材料によって形成された電極であり、複数の電気光学素子１
３にわたって連続に分布する。発光層１３４から背面側への出射光は第２電極１３２の表
面にて反射して基板１１を透過したうえで観察側（図２の上方）に出射する。すなわち、
本実施形態の電気光学パネル１０はボトムエミッション型である。ただし、トップエミッ
ション型の電気光学パネルを備えた電気光学装置にも本発明は適用される。
【００２３】
筐体２０は、基板１１の表面１１２に対向する長方形状の背面部２１と、電気光学パネ
ル１０を挟んで背面部２１に対向する前面部２３と、基板１１の側端面１１６にその全周
にわたって対向するように背面部２１と前面部２３との間隙に介在する側面部２５とが一
体に形成された形状となっている。電気光学パネル１０の観察側に位置する前面部２３に
は、略長方形状に開口した部分（以下「開口部」という）２３１が形成されている。図１
に示されるように、この開口部２３１は、基板１１に垂直な方向からみたときに、その内
周縁が複数の電気光学素子１３の集合を包囲するように寸法および形状が選定されている
。
【００２４】
図１および図２に示されるように、基板１１のうちひとつの側端面１１６の中央部には
センサ３０が配置される。このセンサ３０は、検出面３１に到達した光を受光し、この受
光量に応じたレベルの信号（以下「検出信号」という）を出力する手段である。本実施形
態におけるセンサ３０は、図２に示されるように、検出面３１が基板１１の側端面１１６
に対向（理想的には接触）するように基板１１または筐体２０に固定される。
【００２５】
各電気光学素子１３の発光層１３４による出射光（第２電極１３２における反射光も含
む）は、基板１１の背面側の表面１１２に入射して基板１１内を進行したうえで観察側の
表面１１４に到達する。この光のうち表面１１４に臨界角を下回る角度で入射した成分は
、図２に矢印Ｄ1で示すように、表面１１４を透過したうえで筐体２０の開口部２３１を
通過し、観察側に出射して観察者に知覚される。一方、各電気光学素子１３からの出射光
のうち表面１１４に臨界角を上回る角度で入射した成分は、図２に矢印Ｄ2で示すように
、基板１１の表面１１４と表面１１２とにおいて全反射を繰り返しながら基板１１内を進
行し、最終的には側端面１１６から出射してセンサ３０の検出面３１に入射する。
【００２６】
また、電気光学パネル１０の基板１１には太陽光や室内の照明光など各種の外光が照射
される。この外光のなかには、図２に矢印Ｄ3で示すように、基板１１に入射したうえで
基板１１内を伝播し、側端面１１６から出射してセンサ３０の検出面３１に入射する成分
がある。したがって、センサ３０は、複数の電気光学素子１３からの出射光と外光とを受
光してその受光量を検出する手段として機能する。本実施形態においては、基板１１に入
射してセンサ３０の検出面３１に到達する外光の光量（外光量）を充分に確保するために
、基板１１の観察側の表面１１４に光透過性の透光部材４０が配置されている。
【００２７】
この透光部材４０は、図２に示されるように、基板１１の表面１１４に対して角度α（
αは鋭角）だけ傾いた傾斜面４１と、基板１１の表面１１４に平行な上面４２とを含む。
傾斜面４１は、センサ３０が設置された側端面１１６に近い位置ほど表面１１４からの高
さが高い平面である。図１に示されるように、筐体２０の開口部２３１の内周縁のうちセ
ンサ３０に対応する位置には略矩形状の切欠部２３３が形成される。この切欠部２３３の
幅方向（図１の左右方向）の寸法は透光部材４０の幅寸法と略一致し、透光部材４０は、
底面が基板１１の表面１１４に接触するようにこの切欠部２３３に嵌め込まれる。この状
態において、図２および図３に示されるように、透光部材４０の傾斜面４１と前面部２３
の内壁面２３５とは略同一の平面Ｐ1内に位置し、透光部材４０の上面４２と前面部２３
の上面２３６とは略同一の平面Ｐ2内に位置する。このように透光部材４０が筐体２０に
対して一体的に嵌め込まれた構成によれば、例えば透光部材４０の表面（傾斜面４１や上
面４２）と筐体２０の表面（２３５・２３６）とに段差がある構成（例えば透光部材４０
が部分的に筐体２０の表面から突出した構成）と比較して、デザイン上の不自然性を解消
することができる。
【００２８】
次に、センサ３０に到達する外光量が透光部材４０の設置によって増加することを説明
する。なお、実際の透光部材４０の屈折率は任意であるが、ここでは説明の便宜のために
透光部材４０の屈折率が基板１１の屈折率と略一致する場合を想定する。
【００２９】
図４は、透光部材４０の傾斜面４１に入射した外光が透光部材４０および基板１１の内
部を進行する様子を示す断面図である。同図に示されるように、基板１１の表面１１４に
対する垂線Ｖ0に対して角度θ1（０≦θ1≦π／２）をなす方向から傾斜面４１に入射し
た外光は、この垂線Ｖ0に対して角度θ3（０≦θ3≦π／２）の方向に屈折したうえで透
光部材４０および基板１１の内部を進行する。さらに、この外光は、第２電極１３２の表
面にて鏡面反射し、垂線Ｖ0に対して角度θa（≒θ3）をなす方向から透光部材４０の上
面４２に到達する。
【００３０】
ここで、透光部材４０の内部から上面４２に到達する外光の角度θaが臨界角ｉ0を下回
る場合、外光は上面４２から観察側に出射するからセンサ３０には到達しない。これに対
し、外光の角度θaが臨界角ｉ0を上回る場合、透光部材４０の内部から上面４２に到達し
た外光はこの上面４２にて全反射し、透光部材４０および基板１１の内部を進行したうえ
で基板１１の側端面１１６からセンサ３０に到達する。このように、センサ３０に到達す
る外光量を充分に確保するためには、角度θaが臨界角ｉ0を上回ることが必要である。そ
して、角度θaと角度θ3とは略一致するから、より広範囲にわたる外光をセンサ３０に到
達させるためには、角度θ3を充分に大きい角度とすることが望ましい。本実施形態によ
れば、基板１１の表面１１４に透光部材４０が設置されているから、この透光部材４０が
設置されていない場合と比較して角度θ3を大きく確保できる（ひいてはセンサ３０に到
達する外光量を増加させることができる）。その理由について詳述すると以下の通りであ
る。
【００３１】
図５は、透光部材４０が基板１１の表面１１４に設置されない構成のもとで外光が空気
中から表面１１４に入射する様子を示す断面図である。同図に示されるように、空気（屈
折率ｎ1）と基板１１（屈折率ｎ2）との界面における入射角θ1と出射角θ2と間には以下
の式(1)が成立する。
sinθ1＝(n2/n1)・sinθ2 ……(1)
【００３２】
一方、図６は、透光部材４０が設置された構成のもとで外光が空気中から透光部材４０
の傾斜面４１に入射する様子を示す断面図である。ここでは図５と同様に、基板１１の垂
線Ｖ0に対して角度θ1なす方向から外光が入射する場合を想定する。外光は、傾斜面４１
の垂線Ｖ1に対して角度（θ1−α）の方向から傾斜面４１に入射し、垂線Ｖ1に対して角
度（θ3−α）をなす方向に向きを変えたうえで透光部材４０の内部を進行する。したが
って、空気と透光部材４０との界面（傾斜面４１）における入射角（θ1−α）と出射角
（θ3−α）との間には以下の式(2)が成立する。なお、式(2)においては透光部材４０の
屈折率を基板１１と同じ「ｎ2」と仮定している。
sin(θ3−α)＝(n1/n2)・sin(θ1−α) ……(2)
【００３３】
以上の式(2)は式(1)の関係を利用して以下のように変形される。
sin(θ3−α)＝(n1/n2)・sin(θ1−α)
＝(n1/n2)・(sinθ1・cosα−cosθ1・sinα)
＝sin(θ2−α)＋sinα・[cosθ2−(n1/n2)・{1−((n2/n1)・sinθ2)2}1/
2]
＝sin(θ2−α)＋sinα・[(1−sin2θ2)1/2−{(n1/n2)2−sin2θ2}1/2]
……(2a)
【００３４】
ここで、透光部材４０（あるいは基板１１）の屈折率ｎ2は空気の屈折率ｎ1（≒1）よ
りも大きい（n1/n2＜１）。また、図６から明らかなように、α＞0、(θ3−α)＞0、(θ2
−α)＞0であるから、
sinα＞0，(1−sin2θ2)1/2−{(n1/n2)2−sin2θ2}1/2＞0
が成立する。これらの関係と式(2a)とを考慮すると、sin(θ3−α)＞sin(θ2−α)であ
ることが判る。したがって、θ3＞θ2である。すなわち、基板１１の表面１１４に透光部
材４０が配置された本実施形態によれば、外光が透光部材４０の内部から上面４２に到達
するときの角度θaを、透光部材４０が配置されない構成と比較して大きくすることがで
きる。したがって、センサ３０に到達する外光量を充分に確保することができる。
【００３５】
次に、透光部材４０の角度αについて説明する。式(2)を変形すると以下の式(3)が導出
される。
θ3＝α＋arcsin{(n1/n2)・sin(θ1−α)} ……(3)
図７は、横軸を角度αとし縦軸を角度θ3（≒θa）として式(3)の関係を示すグラフで
ある。ここでは空気の屈折率ｎ1を「１」とし、透光部材４０および基板１１の屈折率ｎ2
を「１．５」としている。同図においては、角度θ1を別個の数値（４５°,６０°,７５
°）とした場合の３種類のグラフと、透光部材４０の上面４２における臨界角ｉ0とが併
記されている。臨界角ｉ0は、sin(ｉ0)＝n1/n2から約４１．８°と算定される。
【００３６】
図７に示されるように、垂線Ｖ0に対して４５°の角度（θ1）から透光部材４０に入射
する外光は、透光部材４０の傾斜面４１の角度αが３５°以上であれば上面４２にて全反
射して透光部材４０および基板１１の内部を伝播する。したがって、この外光をセンサ３
０に到達させる場合には、透光部材４０の傾斜面４１の角度αが３５°以上に設定される
。同様に、垂線Ｖ0に対して６０°の角度から透光部材４０に入射する外光をセンサ３０
に到達させる場合には、傾斜面４１の角度が１５°以上に設定される。このように、本実
施形態における透光部材４０の傾斜面４１の形状（角度α）は、センサ３０に到達させる
べき外光の角度θ1に応じて適宜に選定される。
【００３７】
次に、図８は、電気光学装置Ｄの電気的な構成を示すブロック図である。同図に示され
るように、本実施形態の電気光学装置Ｄは、図１に示した電気光学パネル１０やセンサ３
０のほかに、各電気光学素子１３を駆動する走査線駆動回路５１およびデータ線駆動回路
５２と、電気光学装置Ｄの各部を制御する制御装置６０とを具備する。なお、走査線駆動
回路５１およびデータ線駆動回路５２や制御装置６０は、電気光学パネル１０の基板１１
に実装されてもよいし、この基板１１に実装された配線基板に実装されてもよい。
【００３８】
走査線駆動回路５１は、各走査線１６に供給される走査信号をひとつのフレーム期間（
垂直走査期間）内の水平走査期間ごとに順番にアクティブレベルとすることによって各走
査線１６を順次に選択する。データ線駆動回路５２は、走査線駆動回路５１が何れかの走
査線１６を選択する水平走査期間にて各データ線１７に電流（以下「駆動電流」という）
を供給する。ひとつの走査線１６が選択される水平走査期間にてデータ線１７に供給され
る駆動電流は、その走査線１６とデータ線１７との交差に対応した電気光学素子１３に指
定された階調に応じた電流値に設定される。各電気光学素子１３の階調は、制御装置６０
からデータ線駆動回路５２に供給される階調データＤg1によって指定される。電気光学素
子１３は、データ線１７に供給される駆動電流に応じた階調（輝度）に駆動される。
【００３９】
制御装置６０は、電気光学装置Ｄの動作のタイミングを規定する各種の制御信号（例え
ばフレーム期間に相当する周期の垂直同期信号VSYNC）の供給によって走査線駆動回路５
１やデータ線駆動回路５２を制御する。さらに、本実施形態の制御装置６０は、センサ３
０から出力される検出信号Ｓに基づいて階調データＤg0から階調データＤg1を生成する画
像処理装置６１を含む。
【００４０】
検出信号Ｓは、センサ３０による受光量Ｌ（すなわち、複数の電気光学素子１３から出
射してセンサ３０に到達した光量とセンサ３０に到達した外光の光量との総和）に応じた
信号である。また、階調データＤg0は、各電気光学素子１３の階調を指定するデジタルデ
ータであり、電気光学装置Ｄが搭載される電子機器のＣＰＵなど各種の上位装置から制御
装置６０に供給される。画像処理装置６１が生成した階調データＤg1はデータ線駆動回路
５２に出力される。
【００４１】
図９は、画像処理装置６１の具体的な構成を示すブロック図である。同図に示されるよ
うに、この画像処理装置６１は、平均算定部６３とパラメータ特定部６５と調整値決定部
６７と調整部６９とを含む。なお、これらの要素は、各々の処理に専用されるＤＳＰ（Di
gital Signal Processor）などのハードウェアによって実現されてもよいし、ＣＰＵなど
のコンピュータがプログラムを実行することによって実現されてもよい。上位装置から入
力される階調データＤg0は平均算定部６３と調整部６９とに供給され、センサ３０から出
力される検出信号Ｓはパラメータ特定部６５に供給される。また、平均算定部６３とパラ
メータ特定部６５と調整値決定部６７とは、上位装置から供給される垂直同期信号VSYNC
に基づいて、各々がフレーム期間に同期したタイミングで動作する。
【００４２】
平均算定部６３は、階調データＤg0によって複数の電気光学素子１３に指定される階調
の平均値（以下「階調平均値」という）Ａをフレーム期間ごとに算定する手段である。本
実施形態における平均算定部６３は、ひとつのフレーム期間内に上位装置から供給される
１画面分（総ての電気光学素子１３）の階調データＤg0を順次に積算し、この積算値を電
気光学素子１３の総数で除算することでフレーム期間ごとに階調平均値（すなわち相加平
均）を算定する。
【００４３】
パラメータ特定部６５は、平均算定部６３が算定した階調平均値Ａとセンサ３０から出
力される検出信号Ｓ（受光量Ｌ）とに基づいて各種のパラメータを特定する手段であり、
各電気光学素子１３の特性に応じた特性値を算定する特性値特定部６５１と、センサ３０
による受光量Ｌのうち外光量Ｌ0を特定する外光量特定部６５２とを含む。本実施形態に
おける特性値特定部６５１は、複数の電気光学素子１３の平均的な発光効率に比例する係
数（以下「効率係数」という）Ｅを特定する。発光効率は、各電気光学素子１３に指定さ
れた階調とそのときに各電気光学素子１３から出射する光量の総和との比である。電気光
学素子１３の経時的な劣化や電気光学装置Ｄが使用される周囲の環境の温度など様々な要
因によって発光効率（さらには効率係数Ｅ）は変化する。
【００４４】
図１０は、平均算定部６３が算定する階調平均値Ａ（横軸）と検出信号Ｓが示す受光量
Ｌ（縦軸）とを複数のフレーム期間の各々についてプロットしたグラフである。例えば、
階調平均値Ａが「Ａ1」であるフレーム期間Ｆ1でセンサ３０が受光した光量Ｌは「Ｌ1」
であり、階調平均値Ａが「Ａ2」であるフレーム期間Ｆ2でセンサ３０が受光した光量Ｌは
「Ｌ2」である。各電気光学素子１３は、階調データＤg0に応じた輝度（より厳密には階
調データＤg1に応じた輝度）に発光するから、図１０に示されるように、階調平均値Ａと
受光量Ｌとの間には、階調平均値Ａが大きいフレーム期間ほどセンサ３０による受光量Ｌ
が大きいという傾向がある。したがって、階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係は直線Ｂで近
似することができる。
【００４５】
図１０のグラフにおいて、階調平均値Ａが最低値（ゼロ）となるのは総ての電気光学素
子１３に対して消灯（輝度ゼロ）が指示された場合である。したがって、直線Ｂの切片（
階調平均値Ａがゼロであるときの受光量Ｌ）が外光量Ｌ0に相当する。また、直線Ｂの勾
配（傾き）は、複数の電気光学素子１３の平均的な発光効率に比例する。例えば、各電気
光学素子１３の発光効率が高ければ階調平均値Ａの増加に対する受光量Ｌの増加量は大き
く、各電気光学素子１３が経年的に劣化して発光効率が低下した場合には階調平均値Ａの
変化に対する受光量Ｌの増加量は縮小する。したがって、直線Ｂの勾配は各電気光学素子
１３の効率係数Ｅに相当する。
【００４６】
図９のパラメータ特定部６５は、平均算定部６３が算定した階調平均値Ａとセンサ３０
が検出した受光量Ｌとをフレーム期間ごとに取得し、この新たな階調平均値Ａおよび受光
量Ｌとそれ以前の所定数のフレーム期間にて取得した階調平均値Ａおよび受光量Ｌとに基
づいて図１０の直線Ｂを決定する。例えば、パラメータ特定部６５は、新たなフレーム期
間Ｆ2における階調平均値Ａ2および受光量Ｌ2とその直前のフレーム期間Ｆ1における階調
平均値Ａ1および受光量Ｌ1との双方を通過する直線Ｂを算定する。特性値特定部６５１は
、この直線Ｂの勾配を効率係数Ｅとして特定する。また、外光量特定部６５２は、この直
線Ｂの切片を外光量Ｌ0として特定する。
【００４７】
図９に示される調整値決定部６７は、特性値特定部６５１から出力される効率係数Ｅと
外光量特定部６５２から出力される外光量Ｌ0とに基づいてフレーム期間ごとに調整値Ｒ
を決定する手段である。本実施形態における調整値決定部６７は、調整値Ｒを特定するた
めの調整テーブルが記憶された記憶装置を備える。図１１に示されるように、調整テーブ
ルは、各々が別個の外光量Ｌ0（Ｌ0a，Ｌ0b，Ｌ0c，…）に対応する複数のテーブルを含
む。各テーブルにおいては、特性値特定部６５１によって特定され得る各効率係数Ｅ（例
えばＥa1，Ｅa2，Ｅa3，…）と調整値Ｒ（例えばＲa1，Ｒa2，Ｒa3，…）とが対応付けら
れている。
【００４８】
調整値決定部６７は、外光量特定部６５２から出力される外光量Ｌ0に対応するテーブ
ルを調整テーブルのなかから検索し、この検索したテーブルのうち特性値特定部６５１か
ら出力される効率係数Ｅに対応付けられた調整値Ｒを選定して出力する。調整テーブルの
内容は、第１に、特性値特定部６５１から出力される効率係数Ｅが小さいほど（すなわち
各電気光学素子１３の発光効率が経時的な劣化や周囲の温度によって低下している場合ほ
ど）、調整値決定部６７によって決定される調整値Ｒが大きくなるように決定されている
。第２に、調整テーブルの内容は、外光量特定部６５２から出力される外光量Ｌ0が大き
いほど、調整値決定部６７によって決定される調整値Ｒが大きくなるように決定されてい
る。
【００４９】
次に、図９に示される調整部６９は、調整値決定部６７が決定した調整値Ｒに基づいて
階調データＤg0を加工することで階調データＤg1を生成する手段である。本実施形態にお
ける調整部６９は、あるフレーム期間内に供給される１画面分の階調データＤg0に対し、
当該フレーム期間にて調整値決定部６７が決定した調整値Ｒを共通に加算することで階調
データＤg1を生成する。データ線駆動回路５２は、この階調データＤg1に応じた電流値の
駆動電流をデータ線１７に出力することで各電気光学素子１３を駆動する。
【００５０】
本実施形態においては、外光量Ｌ0が大きいほど調整値Ｒは大きい数値に設定される。
したがって、階調データＤg0によって同じ階調が指定された場合であっても、電気光学装
置Ｄの使用の環境が明るいほど（すなわち外光量Ｌ0が大きいほど）、各電気光学素子１
３は高輝度（高階調）に駆動される。これにより、電気光学装置Ｄが明るい環境で使用さ
れる場合であっても画像の視認性を充分に確保することができる。換言すると、外光量Ｌ
0が小さいほど調整値Ｒは小さい数値に設定されるから、電気光学装置Ｄが暗い環境で使
用される場合には各電気光学素子１３の輝度が抑制される。したがって、電気光学装置Ｄ
の消費電力が低減されるとともに各電気光学素子１３の劣化が抑制される。
【００５１】
また、効率係数Ｅが小さいほど調整値Ｒは大きい数値に設定されるから、階調データＤ
g0によって同じ階調が指定された場合であっても、各電気光学素子１３の発光効率が低下
するほど、階調データＤg1によって各電気光学素子１３に指定される階調は調整値Ｒに応
じた分だけ高階調とされる。これにより、例えば各電気光学素子１３の特性が経時的に劣
化した場合や電気光学装置Ｄが低温の環境で使用される場合など発光効率が低下している
場合であっても、各電気光学素子１３の輝度を所期値に維持して画像の品位を維持するこ
とができる。
【００５２】
次に、図１２は、画像処理装置６１の動作を説明するためのフローチャートである。電
気光学装置Ｄの電源が投入されると、図１２のステップＳ２１からステップＳ２４までの
処理がフレーム期間ごとに順次に繰り返される。まず、画像処理装置６１の平均算定部６
３は、１画面分の階調データＤg0に基づいて輝度平均値Ａを算定する（ステップＳ２１）
。これに続いて、パラメータ特定部６５は、センサ３０からの検出信号Ｓに基づいて受光
量Ｌを特定する（ステップＳ２２）。
【００５３】
パラメータ特定部６５（特性値特定部６５１・外光量特定部６５２）は、ステップＳ２
１で算定した階調平均値ＡおよびステップＳ２２で特定した受光量Ｌと、それ以前の所定
数のフレーム期間で取得した階調平均値Ａおよび受光量Ｌとに基づいて外光量Ｌ0と効率
係数Ｅとを特定する（ステップＳ２３）。そして、調整値決定部６７は、ステップＳ２３
で特定した外光量Ｌ0と効率係数Ｅとに基づいて調整値Ｒを決定する（ステップＳ２４）
。
【００５４】
なお、電気光学装置Ｄの電源が投入された直後のステップＳ２３においては、ひとつの
フレーム期間の外光量Ｌ0および効率係数Ｅが取得されているに過ぎない。したがって、
階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係を近似する直線Ｂを特定することができない。この場合
、ステップＳ２３にて外光量Ｌ0および効率係数Ｅは特定されず、さらにステップＳ２４
にて調整値Ｒは設定されない。したがって、最初のフレーム期間については階調データＤ
g0がそのまま階調データＤg1として出力される。
【００５５】
ステップＳ２５においては電気光学素子１３の駆動を終了すべきタイミングが否かが判
定される。電気光学装置Ｄの電源が遮断された場合や画像の表示が停止されるモード（い
わゆるスリープモード）に移行した場合には、ステップＳ２５の判定が肯定されて図１２
の処理が終了する。
【００５６】
一方、ステップＳ２５の判定が否定された場合にはステップＳ２１からステップＳ２４
までの処理が繰り返される。すなわち、外光量Ｌ0および効率係数Ｅの特定とこれに応じ
た調整値Ｒの決定とがフレーム期間ごとに繰り返される。したがって、本実施形態におい
ては、画像の表示中に電気光学装置Ｄが例えば屋内から屋外に移動されることで外光量Ｌ
0が変化した場合や電気光学装置Ｄの周囲の温度が変化することで効率係数Ｅが変化した
場合であっても、この変化後のパラメータに応じた最適な階調に各電気光学素子１３を駆
動することが可能である。
【００５７】
以上に説明したように、本実施形態によれば、各電気光学素子１３が階調データＤg1に
応じて駆動されている期間（すなわち画像が表示されている最中）におけるセンサ３０の
受光量Ｌから外光量Ｌ0と各電気光学素子１３の特性値（効率係数Ｅ）とが個別に特定さ
れる。したがって、外光量Ｌ0の特定のために各電気光学素子１３を消灯させるといった
特許文献１や特許文献２の構成および処理は原理的に不要である。また、各電気光学素子
１３の駆動中に外光量Ｌ0や効率係数Ｅが変化した場合には、この変化後の外光量Ｌ0や効
率係数Ｅに対応するように調整値Ｒを更新することができるという利点がある。
【００５８】
また、複数のフレーム期間にわたる階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係（直線Ｂ）が判別
されるから、ひとつのセンサ３０が外光と各電気光学素子１３からの出射光との双方を受
光する構成にも拘わらず、センサ３０による受光量Ｌから外光量Ｌ0と効率係数Ｅとが個
別に特定される。したがって、本実施形態によれば、外光を検出するためのセンサ３０と
各電気光学素子１３からの出射光を検出するためのセンサ３０とが別個に設置された構成
と比較して、電気光学装置Ｄの構成の簡素化や製造コストの低減（部品点数の削減）を実
現することができる。
【００５９】
なお、各電気光学素子１３は画像処理装置６１による補正後の階調データＤg1に応じて
駆動される。したがって、以上の形態のように画像処理装置６１が外光量Ｌ0に応じて輝
度を調整する構成においては、特性値特定部６５１によって特定される効率係数Ｅと実際
の各電気光学素子１３の特性との間に外光量Ｌ0に応じた補正分だけ差異が発生する場合
がある。この誤差を解消するために、外光量Ｌ0（または外光量Ｌ0に応じた補正量）に応
じて階調平均値Ａを補正してから図１０の効率係数Ｅを特定することで、実際の各電気光
学素子１３の特性（すなわち外光量Ｌ0に応じて輝度を調整しない場合の特性）を反映し
た効率係数Ｅを特定してもよい。また、図１１の調整テーブルの効率係数Ｅが外光量Ｌ0
に応じた数値に選定された構成によっても効率係数Ｅの誤差を解消することができる。こ
の構成においては階調平均値Ａの補正は不要である。
【００６０】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態に係る電気光学装置Ｄについて説明する。
第１実施形態においては、ひとつのセンサ３０による受光量Ｌに応じて決定された調整
値Ｒによって総ての電気光学素子１３の階調データＤg0が共通に調整される構成を例示し
た。これに対し、本実施形態においては、各電気光学素子１３の階調データＤg0が発光色
ごとに別個に調整される構成となっている。なお、本実施形態のうち第１実施形態と同様
の要素については共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。
【００６１】
図１３は、本実施形態における電気光学装置Ｄの外観を示す平面図である。本実施形態
における電気光学素子１３は、複数色（赤色および緑色および青色）の何れかに対応した
波長の光を放射する。したがって、本実施形態の電気光学パネル１０は、赤色と緑色と青
色とを選択的に組み合わせた多色の画像を表示することができる。
【００６２】
基板１１の側端面１１６には、各々が別個の発光色に対応する３個のセンサ３０（３０
r，３０g，３０b）が配置される。センサ３０rは、その検出面３１に到達した光（各電気
光学素子１３からの出射光および外光）のうち赤色に対応する波長の成分を選択的に受光
してその受光量Ｌに応じた検出信号Ｓrを出力する。同様に、センサ３０gは緑色に対応す
る成分のみを受光して検出信号Ｓgを出力し、センサ３０bは青色に対応する成分のみを受
光して検出信号Ｓbを出力する。一方、本実施形態における透光部材４０は、３個のセン
サ３０にわたって連続する寸法に成形されている。
【００６３】
図１４は、本実施形態における画像処理装置６１の構成を示すブロック図である。同図
に示されるように、本実施形態の画像処理装置６１は、階調データＤg0を発光色ごとに分
配する分配部６１１と、各々が別個の発光色に対応する３個の処理ユニットＵ（Ｕr，Ｕg
，Ｕb）と、各処理ユニットＵが生成した発光色ごとの階調データＤg1（Ｄg1[R]，Ｄg1[G
]，Ｄg1[B]）を合成してデータ線駆動回路５２に出力する合成部６１３とを含む。
【００６４】
赤色の電気光学素子１３に対応する階調データＤg0[R]は分配部６１１から処理ユニッ
トＵrに供給される。同様に、緑色に対応する階調データＤg0[G]は処理ユニットＵgに供
給され、青色に対応する階調データＤg0[B]は処理ユニットＵbに供給される。また、赤色
に対応する処理ユニットＵrにはセンサ３０rから検出信号Ｓrが供給される。同様に、処
理ユニットＵgには検出信号Ｓgが供給され、処理ユニットＵbには検出信号Ｓbが供給され
る。
【００６５】
各処理ユニットＵは、図９に示した画像処理装置６１と同様に、平均算定部６３とパラ
メータ特定部６５と調整値決定部６７と調整部６９とを含む。調整値決定部６７に保持さ
れた調整テーブルは処理ユニットＵごとに相違する。各発光色に対応する処理ユニットＵ
は、その発光色について、階調データＤg0（Ｄg0[R]，Ｄg0[G]，Ｄg0[B]）と検出信号Ｓ
（Ｓr，Ｓg，Ｓb）とから調整値Ｒを決定し、この調整値Ｒに応じた階調データＤg0の調
整によって階調データＤg1（Ｄg1[R]，Ｄg1[G]，Ｄg1[B]）を生成する。したがって、デ
ータ線駆動回路５２には、各発光色の電気光学素子１３の特性値（効率係数Ｅ）に応じて
個別に調整された階調データＤg1が出力される。
【００６６】
以上の構成によっても第１実施形態と同様の効果が奏される。さらに、本実施形態にお
いては、各電気光学素子１３の階調が発光色ごとに調整されるから、例えば各電気光学素
子１３の劣化の程度が発光色ごとに相違する場合であっても、所期のホワイトバランスに
調整することが可能である。
【００６７】
＜Ｃ：変形例＞
以上の各形態には様々な変形を加えることができる。具体的な変形の態様を例示すれば
以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせてもよい。
【００６８】
（１）変形例１
以上の各形態においては、基板１１の側端面１１６にセンサ３０が配置された構成を例
示したが、センサ３０が配置される位置は適宜に変更される。例えば、図１５に示される
ように、検出面３１が基板１１と平行な方向を向くようにセンサ３０を配置した構成とし
てもよい。この構成における透光部材４０は、基板１１の側端面１１６からの出射光をセ
ンサ３０の検出面３１に導くための傾斜面４３を有する。この構成によれば、第１実施形
態の構成と比較してセンサ３０の配置が容易化されるという利点がある。
【００６９】
（２）変形例２
総ての電気光学素子１３が消灯しているときの受光量Ｌが外光量Ｌ0として特定される
構成としてもよい。例えば図１６は、各電気光学素子１３の駆動前のセンサ３０による受
光量Ｌを外光量Ｌ0として特定する場合のフローチャートである。同図に示されるように
、電気光学装置Ｄの電源が投入されると、画像処理装置６１の画像処理装置６１は、階調
データＤg0の受信に先立って総ての電気光学素子１３の消灯を指示する階調データＤg1を
データ線駆動回路５２に出力する（ステップＳ１１）。この全消灯を指示する階調データ
Ｄg1は、上位装置から供給されてもよいし画像処理装置６１に予め保持されていてもよい
。そして、パラメータ特定部６５は、この状態のもとでセンサ３０が出力する検出信号Ｓ
から受光量Ｌを特定し、この受光量Ｌを外光量Ｌ0として保持する（ステップＳ１２）。
以上の処理が完了すると、画像処理装置６１は、第１実施形態と同様にステップＳ２１か
らステップＳ２２までの処理を繰り返す。
【００７０】
この構成によれば、各電気光学素子１３の駆動前に受光量Ｌ0が特定されるから、電気
光学素子１３の電源が投入された直後のステップＳ２３においても効率係数Ｅを特定する
ことができる。したがって、最初のフレーム期間から各電気光学素子１３を調整値Ｒに応
じて駆動することができる。
【００７１】
（３）変形例３
以上の各形態においては加算平均が階調平均値Ａとして算定される構成を例示したが、
階調平均値Ａは相乗平均であってもよい。また、各電気光学素子１３からの出射光のうち
センサ３０に到達する光量は電気光学素子１３の位置に応じて相違するから、階調データ
Ｄg0によって指定される階調を電気光学素子１３の位置に応じて重み付けしたうえで階調
平均値Ａ（すなわち加重平均）を算定してもよい。この場合の階調平均値は以下の式(a)
によって算定される。
Ａ＝（α1・Ｇ1＋α2・Ｇ2＋α3・Ｇ3＋……＋αn・Ｇn）／ｎ ……(a)
なお、ここでは電気光学素子１３の総数が「ｎ」である場合を想定している。「Ｇi」
は第ｉ（ｉは１≦ｉ≦ｎを満たす整数）番目の電気光学素子１３に対して階調データＤg0
で指定された階調である。また、各電気光学素子１３の階調Ｇiに乗算される係数αiは、
その電気光学素子１３からセンサ３０までの距離が長いほど小さい数値に設定される。こ
の構成によれば、センサ３０から離間した電気光学素子１３ほど受光量Ｌへの寄与が少な
いという実際の状況が調整値Ｒに反映されるから、実際の電気光学装置Ｄの条件に適合し
た調整値Ｒを設定することが可能となる。
【００７２】
また、以上の各形態においては、フレーム期間ごとに階調平均値Ａが算定される構成を
例示したが、複数のフレーム期間にわたる階調の平均が階調平均値Ａとして算定される構
成としてもよい。したがって、外光量Ｌ0や各電気光学素子１３の特性値（効率係数Ｅ）
さらには調整値Ｒもフレーム期間ごとに決定される必要は必ずしもなく、例えば複数のフ
レーム期間ごとに決定されてもよい。
【００７３】
（４）変形例４
以上の各形態においては、階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係を近似する直線Ｂの勾配が
効率係数Ｅとして算定される構成を例示したが、特性値特定部６５１によって特定される
各電気光学素子１３の特性値は効率係数Ｅに限定されない。例えば、外光量特定部６５２
が特定した外光量Ｌ0を受光量Ｌから減算した光量（すなわち複数の電気光学素子１３か
らのセンサ３０に到達した光量の総和）が特性値として算定されてもよいし、外光量Ｌか
ら外光量Ｌ0を減算した数値を電気光学素子１３の総数で除算した数値（すなわち各電気
光学素子１３からセンサ３０に到達した光量の平均値）が特性値として算定されてもよい
。これらの構成によっても、調整テーブルにおいて各特性値に適切な調整値Ｒを対応付け
れば第１実施形態と同様の作用および効果が奏される。このように、本発明における特性
値とは、複数の電気光学素子１３の特性に応じた数値（電気光学素子１３の特性の変化に
応じて変動する数値）であれば足りる。
【００７４】
（５）変形例５
以上の各形態においては、調整テーブルを利用して調整値Ｒが決定される構成を例示し
たが、調整値決定部６７が調整値Ｒを決定する方法は適宜に変更される。例えば、外光量
Ｌ0と特性値（効率係数Ｅ）とを変数として調整値Ｒを定義した所定の演算式に、特性値
特定部６５１が特定する特性値（効率係数Ｅ）と外光量特定部６５２が特定する外光量Ｌ
0とを代入することで調整値Ｒが算定される構成としてもよい。
【００７５】
（６）変形例６
以上の各形態においては、階調データＤg0に調整値Ｒを加算することで階調データＤg1
が生成される構成を例示したが、階調データＤg0を調整値Ｒに応じて調整する方法は任意
である。例えば、階調データＤg0に調整値Ｒを乗算することで階調データＤg1が生成され
る構成としてもよい。
【００７６】
また、階調データＤg0が調整値Ｒに応じて調整される必要は必ずしもない。例えばいま
、データ線駆動回路５２が、所定の電圧（以下「基準電圧」という）を基準として駆動電
流を生成する構成を想定する。この場合には、上位装置から供給された階調データＤg0が
制御装置６０からそのまま（つまり調整を経ることなく）データ線駆動回路５２に出力さ
れるとともに、調整値決定部６７から調整値Ｒがデータ線駆動回路５２に供給される構成
としてもよい。データ線駆動回路５２においては、階調データＤg0に応じた電流値の駆動
電流が基準電圧に基づいて生成される一方、この基準電圧が調整値Ｒに応じて調整される
。この構成によっても、各電気光学素子１３を調整値Ｒに応じた階調に駆動することがで
きる。以上のように、本発明においては、階調データＧ0を調整する機能が画像処理装置
６１に搭載されている必要は必ずしもない。
【００７７】
また、以上の各形態においては、各データ線１７に出力される駆動電流の電流値が調整
値Ｒに応じて変化する構成を例示したが、調整値Ｒに基づく調整の対象は適宜に変更され
る。例えばいま、電気光学素子１３が駆動される時間長を階調データＤg（Ｄg0，Ｄg1）
に応じて変化させることで多階調を表現する方式（すなわちパルス幅変調によって電気光
学素子１３の階調を制御する方式）のデータ線駆動回路５２を想定する。この構成におい
ては、各電気光学素子１３を駆動する時間長が調整値Ｒに応じて調整されてもよい。例え
ば、図９に示したように画像処理装置６１から出力される調整後の階調データＤg1に基づ
いて各電気光学素子１３の駆動の時間長が制御される。あるいは、調整部６９が省略され
た構成のもとで、データ線駆動回路５２が、階調データＤg0と調整値Ｒとに応じて各電気
光学素子１３の駆動の時間長を調整してもよい。
【００７８】
また、以上においては階調データＤg0と調整値Ｒとに応じた電流値の駆動電流が各デー
タ線１７に供給される構成を例示したが、階調データＤg0と調整値Ｒとに応じた電圧値の
駆動電圧が各データ線１７に印加されることで各電気光学素子１３が駆動される構成とし
てもよい。以上のように、各実施形態においては、各電気光学素子１３が階調データＤg0
と調整値Ｒとに応じた階調に駆動される構成であれば足り、各電気光学素子１３の階調に
調整値Ｒを反映させるための具体的な方法や構成は任意である。
【００７９】
（７）変形例７
電気光学パネル１０の基板１１の側端面１１６から光が入射すると、観察側から入射す
る外光量Ｌ0の測定に誤差が発生する場合がある。以上の各形態においては、側面部２５
が基板１１の側端面１１６に対向するように電気光学パネル１０が筐体２０に収容される
から、基板１１の側端面１１６からの光の入射を防止して外光量Ｌ0を高精度に測定する
ことが可能である。ただし、基板１１の側端面１１６からの光の入射を防止するための構
成は適宜に変更される。例えば、図１７に示されるように、基板１１の側端面１１６に遮
光性の部材（例えば遮光テープ）１９を設置してもよい。この部材１９は、基板１１の全
周にわたる側端面１１６のうちセンサ３０に対向する部分以外の領域に配置される。また
、部材１９を光反射性の材料によって形成すれば、例えば基板１１のうちセンサ３０とは
反対側の側端面１１６に到達した光を再びセンサ３０に向けて反射させることができるか
ら、センサ３０に到達する光量を充分に確保して高精度に受光量Ｌを検出することができ
る。
【００８０】
（８）変形例８
以上の各形態においては透光部材４０が配置された構成を例示したが、この透光部材４
０は必ずしも必要ではない。例えば、基板１１の背面側の反射面（各形態における第２電
極１３２の表面）が散乱面である場合には、この散乱面での反射光の一部をセンサ３０に
向かって進行させることができるから、透光部材４０が配置されていなくても充分な受光
量Ｌを検出することができる。
【００８１】
（９）変形例９
以上の各形態においては、電気光学素子１３としてＯＬＥＤ素子を例示したが、本発明
における電気光学素子はこの例示に限定されない。例えば、無機ＥＬ材料からなる発光層
を含む発光素子やＬＥＤ（Light Emitting Diode）素子なども電気光学素子として採用さ
れる。また、照明装置（バックライト）からの照射光を変調して出射する液晶装置や、プ
ラズマの放電により発光する発光素子が配列されたプラズマ装置など様々な機器を本発明
の電気光学装置として採用することができる。すなわち、各々の階調が制御される複数の
電気光学素子を備えた電気光学装置であれば、各電気光学素子の具体的な構造や階調を制
御する方法の如何を問わず、以上の各形態と同様に本発明を適用することができる。
【００８２】
＜Ｄ：応用例＞
次に、本発明に係る電気光学装置を利用した電子機器について説明する。図１８は、以
上に説明した何れかの形態に係る電気光学装置Ｄを表示装置として採用したモバイル型の
パーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は
、表示装置としての電気光学装置Ｄと本体部２０１０とを備える。本体部２０１０には、
電源スイッチ２００１およびキーボード２００２が設けられている。この電気光学装置Ｄ
は電気光学素子１３にＯＬＥＤ素子を使用しているので、視野角が広く見易い画面を表示
できる。
【００８３】
図１９に、各形態に係る電気光学装置Ｄを適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話
機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２、ならびに表
示装置としての電気光学装置Ｄを備える。スクロールボタン３００２を操作することによ
って、電気光学装置Ｄに表示される画面がスクロールされる。
【００８４】
図２０に、各形態に係る電気光学装置Ｄを適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal D
igital Assistants）の構成を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００
１および電源スイッチ４００２、ならびに表示装置としての電気光学装置Ｄを備える。電
源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光
学装置Ｄに表示される。
【００８５】
なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図１８から図２０に
示したもののほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション
装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーショ
ン、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパ
ネルを備えた機器等などが挙げられる。また、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の
表示に限定されない。例えば、光書込み型のプリンタや電子複写機といった画像形成装置
においては、用紙などの記録材に形成されるべき画像に応じて感光体を露光する書込みヘ
ッドが使用されるが、この種の書込みヘッドとしても本発明の電気光学装置は利用される
。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の実施形態に係る電気光学装置の外観を示す平面図である。
【図２】図１におけるII−II線からみた断面図である。
【図３】図１におけるIII−III線からみた断面図である。
【図４】透光部材の傾斜面に入射した外光が進行する様子を示す断面図である。
【図５】透光部材がない構成のもとで外光が基板に入射する様子を示す断面図である。
【図６】外光が透光部材に入射する様子を示す断面図である。
【図７】角度αと角度θ3との関係を示すグラフである。
【図８】電気光学装置の電気的な構成を示すブロック図である。
【図９】画像処理装置の具体的な構成を示すブロック図である。
【図１０】階調平均値と受光量との関係を示すグラフである。
【図１１】調整テーブルの内容を示す概念図である。
【図１２】画像処理装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明の第２実施形態に係る電気光学装置の外観を示す平面図である。
【図１４】第２実施形態の画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図１５】変形例に係る電気光学装置の構成を示す断面図である。
【図１６】変形例に係る画像処理装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１７】変形例に係る電気光学装置の基板の構成を示す断面図である。
【図１８】本発明に係る電子機器の具体的な形態を示す斜視図である。
【図１９】本発明に係る電子機器の具体的な形態を示す斜視図である。
【図２０】本発明に係る電子機器の具体的な形態を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００８７】
Ｄ……電気光学装置、１０……電気光学パネル、１１……基板、１３……電気光学素子、
２０……筐体、２３１……開口部、２３３……切欠部、３０……センサ、４０……透光部
材、４１……傾斜面、５１……走査線駆動回路、５２……データ線駆動回路、６０……制
御装置、６１……画像処理装置、Ｕ……処理ユニット、６３……平均算定部、６５……パ
ラメータ特定部、６５１……特性値特定部、６５２……外光量特定部、６７……調整値決
定部、６９……調整部。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光ダイオード（以下「ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode
）」という）素子などの電気光学素子を所期の階調に制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の電気光学素子を配列した電気光学装置において各電気光学素子の階調を調整する
ための技術が従来から提案されている。例えば特許文献１や特許文献２には、電気光学素
子が配列された基板の周縁部にセンサを配置し、このセンサによって受光された電気光学
素子からの出射光の光量に基づいて各電気光学素子の階調を補正する技術が開示されてい
る。この構成のもとでは、各電気光学素子からの出射光だけでなく太陽光や室内の照明光
といった外光もセンサによって受光される。電気光学素子から出射した光量と外光の光量
（以下「外光量」という）とを区別するために、特許文献１や特許文献２に記載された構
成においては、各電気光学素子を消灯させたときのセンサによる受光量が外光量として検
出され、各電気光学素子の駆動時におけるセンサの受光量から外光量を差引いた数値（す
なわち各電気光学素子から出射した光量）に基づいて各電気光学素子の階調が補正される
ようになっている。
【特許文献１】特開２００５−２０１９６２号公報（段落００７７および図５）
【特許文献２】特開２００５−７００６５号公報（段落００４２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、特許文献１や特許文献２に記載された構成においては、各電気光学素子
を消灯させるという動作が外光量の検出のために不可欠である。したがって、外光量の検
出時には各電気光学素子を本来の用途（例えば画像の表示）に使用することができないと
いう問題がある。この問題を解消するための方策としては、例えば電気光学装置の電源が
投入されてから各電気光学素子を発光させる前に外光量を１回だけ検出するという方策も
考えられる。しかしながら、この構成のもとでは、電気光学装置の使用中に外光量を検出
することができないから、たとえ電気光学装置の使用中に外光量が変化したとしてもこの
変化に対応して補正の態様（例えば調整値）を変更することがでいない。本発明は、この
ような事情に鑑みてなされたものであり、各電気光学素子を消灯させる必要なしに外光量
や各電気光学素子の特性値を個別に特定するという課題の解決を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
この課題を解決するために、本発明の第１の特徴に係る電気光学装置は、各々が光を出
射する複数の電気光学素子と、複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してそ
の受光量を検出するセンサと、階調データによって複数の電気光学素子に指定された階調
の平均値である階調平均値を算定する平均算定手段と、複数の電気光学素子の特性値をセ
ンサにより検出された受光量に基づいて特定する特性値特定手段と、平均算定手段が算定
する階調平均値とセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値が最低値であると
きにセンサに到達すべき光量を外光量として特定する外光量特定手段と、特性値特定手段
が特定した特性値と外光量特定手段が特定した外光量とに応じた調整値を決定する調整値
決定手段と、複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指定
された階調と調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段とを具
備する。
【０００５】
この構成によれば、階調平均値が最低値であるときにセンサに到達すべき光量が階調平
均値とセンサによる受光量との関係に基づいて外光量として特定される。したがって、各
電気光学素子が駆動されている場合であっても外光量を特定することができる。すなわち
、外光量の特定のために総ての電気光学素子を消灯させる必要はない。
【０００６】
本発明の「電気光学素子」とは、電流の供給や電界（電圧）の印加といった電気エネル
ギの付与によって階調が制御される要素である。例えば、本発明は、ＯＬＥＤ素子などの
発光素子が電気光学素子として採用された電気光学装置（すなわち発光装置）に好適に採
用される。また、本発明における「外光」とは、各電気光学素子からの出射光以外の光で
あり、典型的には太陽光や屋内の照明光など外部から電気光学装置に到来する光である。
【０００７】
本発明の具体的な態様において、特性値特定手段は、第１期間の階調データから平均算
定手段が算定した階調平均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、第１期間と
は相違する第２期間の階調データから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２
期間でのセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値に対するセンサによる受光
量の勾配（各実施形態における効率係数Ｅ）を特性値として特定する。例えば、特性値特
定手段は、第１期間における階調平均値および受光量と第２期間における階調平均値およ
び受光量とから階調平均値と受光量との関係を近似する直線を特定し、この直線の勾配を
特性値として特定する。この態様によれば、外光量の影響を除外して電気光学素子の特性
値を高精度に特定することが可能である。
【０００８】
さらに別の態様において、外光量特定手段は、第１期間の階調データから平均算定手段
が算定した階調平均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、第１期間とは相違
する第２期間の階調データから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間で
のセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値が最低値であるときにセンサに到
達すべき光量を外光量として特定する。例えば、外光量特定手段は、第１期間における階
調平均値および外光量と第２期間における階調平均値および受光量とから階調平均値と受
光量との関係を近似する直線を特定し、この直線の切片（階調平均値がゼロであるときの
受光量）を外光量として特定する。この態様によれば、各電気光学素子の駆動中であって
も高精度かつ確実に外光量を特定することが可能である。
【０００９】
なお、以上の各態様において、平均算定手段が階調平均値を算定する期間の時間長は任
意である。この期間の典型例はフレーム期間（すなわち総ての電気光学素子が駆動される
期間）であるが、例えば複数のフレーム期間を単位として階調平均値が算定される構成と
してもよい。また、以上の各態様においては第１期間および第２期間のみに言及されてい
るが、３個以上の期間の各々における階調平均値および受光量に基づいて特性値（勾配）
や外光量（切片）を特定する構成であっても、このうちのひとつの期間を本発明の「第１
期間」と把握するとともに他のひとつの期間を本発明の「第２期間」と把握すれば当然に
本発明の範囲に含まれる。
【００１０】
より好適な態様において、平均算定手段は、所定の期間ごとに階調平均値を算定し、外
光量特定手段は、各期間において算定された階調平均値および当該期間におけるセンサに
よる受光量と、他の期間にて算定された階調平均値および当該期間におけるセンサによる
受光量とに基づいて順次に外光量を特定し、調整値決定手段は、外光量特定手段が期間ご
とに特定する外光量に応じて順次に調整値を更新する。この態様によれば、所定の期間ご
とに外光量が特定されるから、例えば電気光学装置の使用される環境が変化して外光量が
変動した場合であっても、この変動後の外光量に適した調整値を決定することが可能であ
る。
【００１１】
本発明の第２の特徴に係る電気光学装置は、各々が光を出射する複数の電気光学素子と
、複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサと
、階調データによって複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均値を
算定する平均算定手段と、第１期間の階調データから平均算定手段が算定した階調平均値
および当該第１期間でのセンサによる受光量と、第１期間とは相違する第２期間の階調デ
ータから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間でのセンサによる受光量
との関係に基づいて、階調平均値に対するセンサによる受光量の勾配を特性値として特定
する特性値特定手段と、特性値特定手段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整
値決定手段と、複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指
定された階調と調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段とを
具備する。
【００１２】
この構成によれば、第１期間における階調平均値および受光量と第２期間における階調
平均値および受光量とに基づいて特性値が決定されるから、外光がセンサに到達する構成
にも拘わらず、この外光の影響を排除して高精度に特性値のみを特定することが可能であ
る。したがって、事前に外光量を特定するための各電気光学素子を消灯させるといった処
理は原理的に不要である。
【００１３】
本発明の第１および第２の特徴に係る電気光学装置の好適な態様において、平均算定手
段は、階調データによって各電気光学素子に指定される階調をセンサと各電気光学素子と
の距離に応じた係数で重み付けした加重平均を階調平均値として算定する。この態様によ
れば、センサから離間した電気光学素子からの出射光ほどセンサに到達し難いという傾向
を調整値に忠実に反映させることができる。
【００１４】
本発明の第１および第２の特徴に係る電気光学装置は、例えば、複数の電気光学素子が
表面に配列された光透過性の基板を具備し、センサは、基板の内部を進行してきた各電気
光学素子からの出射光を受光する。この構成によれば、各電気光学素子からの出射光を効
率的にセンサに到達させることができる。
より好適な態様において、センサは基板の側方に配置され（例えば図２や図１５参照）
、基板の表面には透光部材が配置される。この透光部材は、当該表面からの高さが側方に
近い位置ほど高い傾斜面（例えば図２の傾斜面４１）を含む光透過性の部材である。この
態様によれば、外光が直接的に基板に入射する構成と比較して、透光部材の傾斜面に入射
した外光を効率的にセンサに到達させることができる。
さらに具体的な態様においては、基板を収容する筐体が設けられ、筐体には、複数の電
気光学素子からの出射光が通過する開口部（例えば図１の開口部２３１）が形成される。
そして、開口部の内周縁には切欠部（例えば図１の切欠部２３３）が形成され、透光部材
は、筐体の切欠部に嵌め込まれる。この態様によれば、電気光学装置のデザイン性を損な
うことなく透光部材を設置することが可能となる。
【００１５】
本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。この電子機器の典型例は、
電気光学装置を表示装置として利用した機器である。この種の電子機器としては、パーソ
ナルコンピュータや携帯電話機などがある。もっとも、本発明に係る電気光学装置の用途
は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体
に潜像を形成するための露光装置（露光ヘッド）や、液晶装置の背面側に配置されてこれ
を照明する装置（バックライト）、あるいは、スキャナなどの画像読取装置に搭載されて
原稿を照明する装置など各種の照明装置など、様々な用途に本発明の電気光学装置を適用
することができる。
【００１６】
本発明は、階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、複
数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具
備する電気光学装置の画像処理装置としても特定される。
例えば、本発明の第１の特徴に係る画像処理装置は、階調データによって複数の電気光
学素子に指定された階調の平均値である階調平均値を算定する平均算定手段と、複数の電
気光学素子の特性値をセンサにより検出された受光量に基づいて特定する特性値特定手段
と、平均算定手段が算定する階調平均値とセンサによる受光量との関係に基づいて、階調
平均値が最低値であるときにセンサに到達すべき光量を外光量として特定する外光量特定
手段と、特性値特定手段が特定した特性値と外光量特定手段が特定した外光量とに応じた
調整値を決定する調整値決定手段とを具備する。
また、本発明の第２の特徴に係る画像処理装置は、階調データによって複数の電気光学
素子に指定された階調の平均値である階調平均値を算定する平均算定手段と、第１期間の
階調データから平均算定手段が算定した階調平均値および当該第１期間でのセンサによる
受光量と、第１期間とは相違する第２期間の階調データから平均算定手段が算定した階調
平均値および当該第２期間でのセンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値に対
するセンサによる受光量の勾配を特性値として特定する特性値特定手段と、特性値特定手
段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定手段とを具備する。
【００１７】
本発明の望ましい態様に係る画像処理装置は、調整値決定手段が決定した調整値に基づ
いて、階調データが指定する階調を調整する調整手段を具備する。この態様によれば、各
電気光学素子を駆動するための駆動回路に階調データを調整（補正）するための機能を持
たせる必要がないから、この機能を持たない従来の駆動回路を本発明の電気光学装置に汎
用することができる。ただし、階調データを調整する機能（調整手段）は駆動回路に設け
られてもよい。
【００１８】
なお、本発明の画像処理装置は、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのハードウ
ェアによって実現されてもよいし、コンピュータとプログラムとの協働によって実現され
てもよい。このプログラムは、コンピュータを以上の各手段として機能させる内容となる
。また、本発明は、以上の各態様に係る電気光学装置に利用される画像処理方法としても
特定される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構造を示す平面図である。また、
図２は、図１におけるII−II線からみた断面図であり、図３は、図１におけるIII−III線
からみた断面図である。本実施形態の電気光学装置Ｄは、各種の電子機器の表示装置とし
て利用される装置であり、画像を表示する電気光学パネル１０と、この電気光学パネル１
０を収容する筐体２０とを含む。
【００２０】
電気光学パネル１０は、略長方形に成形された光透過性の基板１１と、この基板１１の
うち背面側（図２や図３における下方）の表面１１２に配置された複数の電気光学素子１
３とを含む。基板１１の表面１１２には、図１に示されるように、相互に交差する方向に
延在する複数の走査線１６と複数のデータ線１７とが形成される。各電気光学素子１３は
走査線１６とデータ線１７との各交差点に対応した位置に配置される。したがって、これ
らの電気光学素子１３は基板１１の表面１１２にマトリクス状に配列する。なお、図２や
図３においては走査線１６やデータ線１７の図示が省略されている。
【００２１】
図２および図３に示されるように、各電気光学素子１３は、相互に対向する第１電極１
３１（陽極）と第２電極１３２（陰極）との間に発光層１３４が介挿された構造となって
いる。本実施形態の電気光学素子１３は、発光層１３４が有機ＥＬ（ElectroLuminescent
）材料によって形成されたＯＬＥＤ素子（発光素子）である。発光層１３４は、第１電極
１３１と第２電極１３２との間に流れる電流に応じた輝度で発光する。
【００２２】
各第１電極１３１は、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）など光透過性の導電材料によって
電気光学素子１３ごとに形成された電極である。これらの第１電極１３１が形成された基
板１１の表面１１２には、この表面１１２上の空間を電気光学素子１３ごとに仕切る格子
状の隔壁１３６が形成される。発光層１３４は、この隔壁１３６に包囲されて第１電極１
３１を底面とする空間（凹部）に形成される。一方、第２電極１３２は、アルミニウムや
銀など光反射性を有する導電材料によって形成された電極であり、複数の電気光学素子１
３にわたって連続に分布する。発光層１３４から背面側への出射光は第２電極１３２の表
面にて反射して基板１１を透過したうえで観察側（図２の上方）に出射する。すなわち、
本実施形態の電気光学パネル１０はボトムエミッション型である。ただし、トップエミッ
ション型の電気光学パネルを備えた電気光学装置にも本発明は適用される。
【００２３】
筐体２０は、基板１１の表面１１２に対向する長方形状の背面部２１と、電気光学パネ
ル１０を挟んで背面部２１に対向する前面部２３と、基板１１の側端面１１６にその全周
にわたって対向するように背面部２１と前面部２３との間隙に介在する側面部２５とが一
体に形成された形状となっている。電気光学パネル１０の観察側に位置する前面部２３に
は、略長方形状に開口した部分（以下「開口部」という）２３１が形成されている。図１
に示されるように、この開口部２３１は、基板１１に垂直な方向からみたときに、その内
周縁が複数の電気光学素子１３の集合を包囲するように寸法および形状が選定されている
。
【００２４】
図１および図２に示されるように、基板１１のうちひとつの側端面１１６の中央部には
センサ３０が配置される。このセンサ３０は、検出面３１に到達した光を受光し、この受
光量に応じたレベルの信号（以下「検出信号」という）を出力する手段である。本実施形
態におけるセンサ３０は、図２に示されるように、検出面３１が基板１１の側端面１１６
に対向（理想的には接触）するように基板１１または筐体２０に固定される。
【００２５】
各電気光学素子１３の発光層１３４による出射光（第２電極１３２における反射光も含
む）は、基板１１の背面側の表面１１２に入射して基板１１内を進行したうえで観察側の
表面１１４に到達する。この光のうち表面１１４に臨界角を下回る角度で入射した成分は
、図２に矢印Ｄ1で示すように、表面１１４を透過したうえで筐体２０の開口部２３１を
通過し、観察側に出射して観察者に知覚される。一方、各電気光学素子１３からの出射光
のうち表面１１４に臨界角を上回る角度で入射した成分は、図２に矢印Ｄ2で示すように
、基板１１の表面１１４と表面１１２とにおいて全反射を繰り返しながら基板１１内を進
行し、最終的には側端面１１６から出射してセンサ３０の検出面３１に入射する。
【００２６】
また、電気光学パネル１０の基板１１には太陽光や室内の照明光など各種の外光が照射
される。この外光のなかには、図２に矢印Ｄ3で示すように、基板１１に入射したうえで
基板１１内を伝播し、側端面１１６から出射してセンサ３０の検出面３１に入射する成分
がある。したがって、センサ３０は、複数の電気光学素子１３からの出射光と外光とを受
光してその受光量を検出する手段として機能する。本実施形態においては、基板１１に入
射してセンサ３０の検出面３１に到達する外光の光量（外光量）を充分に確保するために
、基板１１の観察側の表面１１４に光透過性の透光部材４０が配置されている。
【００２７】
この透光部材４０は、図２に示されるように、基板１１の表面１１４に対して角度α（
αは鋭角）だけ傾いた傾斜面４１と、基板１１の表面１１４に平行な上面４２とを含む。
傾斜面４１は、センサ３０が設置された側端面１１６に近い位置ほど表面１１４からの高
さが高い平面である。図１に示されるように、筐体２０の開口部２３１の内周縁のうちセ
ンサ３０に対応する位置には略矩形状の切欠部２３３が形成される。この切欠部２３３の
幅方向（図１の左右方向）の寸法は透光部材４０の幅寸法と略一致し、透光部材４０は、
底面が基板１１の表面１１４に接触するようにこの切欠部２３３に嵌め込まれる。この状
態において、図２および図３に示されるように、透光部材４０の傾斜面４１と前面部２３
の内壁面２３５とは略同一の平面Ｐ1内に位置し、透光部材４０の上面４２と前面部２３
の上面２３６とは略同一の平面Ｐ2内に位置する。このように透光部材４０が筐体２０に
対して一体的に嵌め込まれた構成によれば、例えば透光部材４０の表面（傾斜面４１や上
面４２）と筐体２０の表面（２３５・２３６）とに段差がある構成（例えば透光部材４０
が部分的に筐体２０の表面から突出した構成）と比較して、デザイン上の不自然性を解消
することができる。
【００２８】
次に、センサ３０に到達する外光量が透光部材４０の設置によって増加することを説明
する。なお、実際の透光部材４０の屈折率は任意であるが、ここでは説明の便宜のために
透光部材４０の屈折率が基板１１の屈折率と略一致する場合を想定する。
【００２９】
図４は、透光部材４０の傾斜面４１に入射した外光が透光部材４０および基板１１の内
部を進行する様子を示す断面図である。同図に示されるように、基板１１の表面１１４に
対する垂線Ｖ0に対して角度θ1（０≦θ1≦π／２）をなす方向から傾斜面４１に入射し
た外光は、この垂線Ｖ0に対して角度θ3（０≦θ3≦π／２）の方向に屈折したうえで透
光部材４０および基板１１の内部を進行する。さらに、この外光は、第２電極１３２の表
面にて鏡面反射し、垂線Ｖ0に対して角度θa（≒θ3）をなす方向から透光部材４０の上
面４２に到達する。
【００３０】
ここで、透光部材４０の内部から上面４２に到達する外光の角度θaが臨界角ｉ0を下回
る場合、外光は上面４２から観察側に出射するからセンサ３０には到達しない。これに対
し、外光の角度θaが臨界角ｉ0を上回る場合、透光部材４０の内部から上面４２に到達し
た外光はこの上面４２にて全反射し、透光部材４０および基板１１の内部を進行したうえ
で基板１１の側端面１１６からセンサ３０に到達する。このように、センサ３０に到達す
る外光量を充分に確保するためには、角度θaが臨界角ｉ0を上回ることが必要である。そ
して、角度θaと角度θ3とは略一致するから、より広範囲にわたる外光をセンサ３０に到
達させるためには、角度θ3を充分に大きい角度とすることが望ましい。本実施形態によ
れば、基板１１の表面１１４に透光部材４０が設置されているから、この透光部材４０が
設置されていない場合と比較して角度θ3を大きく確保できる（ひいてはセンサ３０に到
達する外光量を増加させることができる）。その理由について詳述すると以下の通りであ
る。
【００３１】
図５は、透光部材４０が基板１１の表面１１４に設置されない構成のもとで外光が空気
中から表面１１４に入射する様子を示す断面図である。同図に示されるように、空気（屈
折率ｎ1）と基板１１（屈折率ｎ2）との界面における入射角θ1と出射角θ2と間には以下
の式(1)が成立する。
sinθ1＝(n2/n1)・sinθ2 ……(1)
【００３２】
一方、図６は、透光部材４０が設置された構成のもとで外光が空気中から透光部材４０
の傾斜面４１に入射する様子を示す断面図である。ここでは図５と同様に、基板１１の垂
線Ｖ0に対して角度θ1なす方向から外光が入射する場合を想定する。外光は、傾斜面４１
の垂線Ｖ1に対して角度（θ1−α）の方向から傾斜面４１に入射し、垂線Ｖ1に対して角
度（θ3−α）をなす方向に向きを変えたうえで透光部材４０の内部を進行する。したが
って、空気と透光部材４０との界面（傾斜面４１）における入射角（θ1−α）と出射角
（θ3−α）との間には以下の式(2)が成立する。なお、式(2)においては透光部材４０の
屈折率を基板１１と同じ「ｎ2」と仮定している。
sin(θ3−α)＝(n1/n2)・sin(θ1−α) ……(2)
【００３３】
以上の式(2)は式(1)の関係を利用して以下のように変形される。
sin(θ3−α)＝(n1/n2)・sin(θ1−α)
＝(n1/n2)・(sinθ1・cosα−cosθ1・sinα)
＝sin(θ2−α)＋sinα・[cosθ2−(n1/n2)・{1−((n2/n1)・sinθ2)2}1/
2]
＝sin(θ2−α)＋sinα・[(1−sin2θ2)1/2−{(n1/n2)2−sin2θ2}1/2]
……(2a)
【００３４】
ここで、透光部材４０（あるいは基板１１）の屈折率ｎ2は空気の屈折率ｎ1（≒1）よ
りも大きい（n1/n2＜１）。また、図６から明らかなように、α＞0、(θ3−α)＞0、(θ2
−α)＞0であるから、
sinα＞0，(1−sin2θ2)1/2−{(n1/n2)2−sin2θ2}1/2＞0
が成立する。これらの関係と式(2a)とを考慮すると、sin(θ3−α)＞sin(θ2−α)であ
ることが判る。したがって、θ3＞θ2である。すなわち、基板１１の表面１１４に透光部
材４０が配置された本実施形態によれば、外光が透光部材４０の内部から上面４２に到達
するときの角度θaを、透光部材４０が配置されない構成と比較して大きくすることがで
きる。したがって、センサ３０に到達する外光量を充分に確保することができる。
【００３５】
次に、透光部材４０の角度αについて説明する。式(2)を変形すると以下の式(3)が導出
される。
θ3＝α＋arcsin{(n1/n2)・sin(θ1−α)} ……(3)
図７は、横軸を角度αとし縦軸を角度θ3（≒θa）として式(3)の関係を示すグラフで
ある。ここでは空気の屈折率ｎ1を「１」とし、透光部材４０および基板１１の屈折率ｎ2
を「１．５」としている。同図においては、角度θ1を別個の数値（４５°,６０°,７５
°）とした場合の３種類のグラフと、透光部材４０の上面４２における臨界角ｉ0とが併
記されている。臨界角ｉ0は、sin(ｉ0)＝n1/n2から約４１．８°と算定される。
【００３６】
図７に示されるように、垂線Ｖ0に対して４５°の角度（θ1）から透光部材４０に入射
する外光は、透光部材４０の傾斜面４１の角度αが３５°以上であれば上面４２にて全反
射して透光部材４０および基板１１の内部を伝播する。したがって、この外光をセンサ３
０に到達させる場合には、透光部材４０の傾斜面４１の角度αが３５°以上に設定される
。同様に、垂線Ｖ0に対して６０°の角度から透光部材４０に入射する外光をセンサ３０
に到達させる場合には、傾斜面４１の角度が１５°以上に設定される。このように、本実
施形態における透光部材４０の傾斜面４１の形状（角度α）は、センサ３０に到達させる
べき外光の角度θ1に応じて適宜に選定される。
【００３７】
次に、図８は、電気光学装置Ｄの電気的な構成を示すブロック図である。同図に示され
るように、本実施形態の電気光学装置Ｄは、図１に示した電気光学パネル１０やセンサ３
０のほかに、各電気光学素子１３を駆動する走査線駆動回路５１およびデータ線駆動回路
５２と、電気光学装置Ｄの各部を制御する制御装置６０とを具備する。なお、走査線駆動
回路５１およびデータ線駆動回路５２や制御装置６０は、電気光学パネル１０の基板１１
に実装されてもよいし、この基板１１に実装された配線基板に実装されてもよい。
【００３８】
走査線駆動回路５１は、各走査線１６に供給される走査信号をひとつのフレーム期間（
垂直走査期間）内の水平走査期間ごとに順番にアクティブレベルとすることによって各走
査線１６を順次に選択する。データ線駆動回路５２は、走査線駆動回路５１が何れかの走
査線１６を選択する水平走査期間にて各データ線１７に電流（以下「駆動電流」という）
を供給する。ひとつの走査線１６が選択される水平走査期間にてデータ線１７に供給され
る駆動電流は、その走査線１６とデータ線１７との交差に対応した電気光学素子１３に指
定された階調に応じた電流値に設定される。各電気光学素子１３の階調は、制御装置６０
からデータ線駆動回路５２に供給される階調データＤg1によって指定される。電気光学素
子１３は、データ線１７に供給される駆動電流に応じた階調（輝度）に駆動される。
【００３９】
制御装置６０は、電気光学装置Ｄの動作のタイミングを規定する各種の制御信号（例え
ばフレーム期間に相当する周期の垂直同期信号VSYNC）の供給によって走査線駆動回路５
１やデータ線駆動回路５２を制御する。さらに、本実施形態の制御装置６０は、センサ３
０から出力される検出信号Ｓに基づいて階調データＤg0から階調データＤg1を生成する画
像処理装置６１を含む。
【００４０】
検出信号Ｓは、センサ３０による受光量Ｌ（すなわち、複数の電気光学素子１３から出
射してセンサ３０に到達した光量とセンサ３０に到達した外光の光量との総和）に応じた
信号である。また、階調データＤg0は、各電気光学素子１３の階調を指定するデジタルデ
ータであり、電気光学装置Ｄが搭載される電子機器のＣＰＵなど各種の上位装置から制御
装置６０に供給される。画像処理装置６１が生成した階調データＤg1はデータ線駆動回路
５２に出力される。
【００４１】
図９は、画像処理装置６１の具体的な構成を示すブロック図である。同図に示されるよ
うに、この画像処理装置６１は、平均算定部６３とパラメータ特定部６５と調整値決定部
６７と調整部６９とを含む。なお、これらの要素は、各々の処理に専用されるＤＳＰ（Di
gital Signal Processor）などのハードウェアによって実現されてもよいし、ＣＰＵなど
のコンピュータがプログラムを実行することによって実現されてもよい。上位装置から入
力される階調データＤg0は平均算定部６３と調整部６９とに供給され、センサ３０から出
力される検出信号Ｓはパラメータ特定部６５に供給される。また、平均算定部６３とパラ
メータ特定部６５と調整値決定部６７とは、上位装置から供給される垂直同期信号VSYNC
に基づいて、各々がフレーム期間に同期したタイミングで動作する。
【００４２】
平均算定部６３は、階調データＤg0によって複数の電気光学素子１３に指定される階調
の平均値（以下「階調平均値」という）Ａをフレーム期間ごとに算定する手段である。本
実施形態における平均算定部６３は、ひとつのフレーム期間内に上位装置から供給される
１画面分（総ての電気光学素子１３）の階調データＤg0を順次に積算し、この積算値を電
気光学素子１３の総数で除算することでフレーム期間ごとに階調平均値（すなわち相加平
均）を算定する。
【００４３】
パラメータ特定部６５は、平均算定部６３が算定した階調平均値Ａとセンサ３０から出
力される検出信号Ｓ（受光量Ｌ）とに基づいて各種のパラメータを特定する手段であり、
各電気光学素子１３の特性に応じた特性値を算定する特性値特定部６５１と、センサ３０
による受光量Ｌのうち外光量Ｌ0を特定する外光量特定部６５２とを含む。本実施形態に
おける特性値特定部６５１は、複数の電気光学素子１３の平均的な発光効率に比例する係
数（以下「効率係数」という）Ｅを特定する。発光効率は、各電気光学素子１３に指定さ
れた階調とそのときに各電気光学素子１３から出射する光量の総和との比である。電気光
学素子１３の経時的な劣化や電気光学装置Ｄが使用される周囲の環境の温度など様々な要
因によって発光効率（さらには効率係数Ｅ）は変化する。
【００４４】
図１０は、平均算定部６３が算定する階調平均値Ａ（横軸）と検出信号Ｓが示す受光量
Ｌ（縦軸）とを複数のフレーム期間の各々についてプロットしたグラフである。例えば、
階調平均値Ａが「Ａ1」であるフレーム期間Ｆ1でセンサ３０が受光した光量Ｌは「Ｌ1」
であり、階調平均値Ａが「Ａ2」であるフレーム期間Ｆ2でセンサ３０が受光した光量Ｌは
「Ｌ2」である。各電気光学素子１３は、階調データＤg0に応じた輝度（より厳密には階
調データＤg1に応じた輝度）に発光するから、図１０に示されるように、階調平均値Ａと
受光量Ｌとの間には、階調平均値Ａが大きいフレーム期間ほどセンサ３０による受光量Ｌ
が大きいという傾向がある。したがって、階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係は直線Ｂで近
似することができる。
【００４５】
図１０のグラフにおいて、階調平均値Ａが最低値（ゼロ）となるのは総ての電気光学素
子１３に対して消灯（輝度ゼロ）が指示された場合である。したがって、直線Ｂの切片（
階調平均値Ａがゼロであるときの受光量Ｌ）が外光量Ｌ0に相当する。また、直線Ｂの勾
配（傾き）は、複数の電気光学素子１３の平均的な発光効率に比例する。例えば、各電気
光学素子１３の発光効率が高ければ階調平均値Ａの増加に対する受光量Ｌの増加量は大き
く、各電気光学素子１３が経年的に劣化して発光効率が低下した場合には階調平均値Ａの
変化に対する受光量Ｌの増加量は縮小する。したがって、直線Ｂの勾配は各電気光学素子
１３の効率係数Ｅに相当する。
【００４６】
図９のパラメータ特定部６５は、平均算定部６３が算定した階調平均値Ａとセンサ３０
が検出した受光量Ｌとをフレーム期間ごとに取得し、この新たな階調平均値Ａおよび受光
量Ｌとそれ以前の所定数のフレーム期間にて取得した階調平均値Ａおよび受光量Ｌとに基
づいて図１０の直線Ｂを決定する。例えば、パラメータ特定部６５は、新たなフレーム期
間Ｆ2における階調平均値Ａ2および受光量Ｌ2とその直前のフレーム期間Ｆ1における階調
平均値Ａ1および受光量Ｌ1との双方を通過する直線Ｂを算定する。特性値特定部６５１は
、この直線Ｂの勾配を効率係数Ｅとして特定する。また、外光量特定部６５２は、この直
線Ｂの切片を外光量Ｌ0として特定する。
【００４７】
図９に示される調整値決定部６７は、特性値特定部６５１から出力される効率係数Ｅと
外光量特定部６５２から出力される外光量Ｌ0とに基づいてフレーム期間ごとに調整値Ｒ
を決定する手段である。本実施形態における調整値決定部６７は、調整値Ｒを特定するた
めの調整テーブルが記憶された記憶装置を備える。図１１に示されるように、調整テーブ
ルは、各々が別個の外光量Ｌ0（Ｌ0a，Ｌ0b，Ｌ0c，…）に対応する複数のテーブルを含
む。各テーブルにおいては、特性値特定部６５１によって特定され得る各効率係数Ｅ（例
えばＥa1，Ｅa2，Ｅa3，…）と調整値Ｒ（例えばＲa1，Ｒa2，Ｒa3，…）とが対応付けら
れている。
【００４８】
調整値決定部６７は、外光量特定部６５２から出力される外光量Ｌ0に対応するテーブ
ルを調整テーブルのなかから検索し、この検索したテーブルのうち特性値特定部６５１か
ら出力される効率係数Ｅに対応付けられた調整値Ｒを選定して出力する。調整テーブルの
内容は、第１に、特性値特定部６５１から出力される効率係数Ｅが小さいほど（すなわち
各電気光学素子１３の発光効率が経時的な劣化や周囲の温度によって低下している場合ほ
ど）、調整値決定部６７によって決定される調整値Ｒが大きくなるように決定されている
。第２に、調整テーブルの内容は、外光量特定部６５２から出力される外光量Ｌ0が大き
いほど、調整値決定部６７によって決定される調整値Ｒが大きくなるように決定されてい
る。
【００４９】
次に、図９に示される調整部６９は、調整値決定部６７が決定した調整値Ｒに基づいて
階調データＤg0を加工することで階調データＤg1を生成する手段である。本実施形態にお
ける調整部６９は、あるフレーム期間内に供給される１画面分の階調データＤg0に対し、
当該フレーム期間にて調整値決定部６７が決定した調整値Ｒを共通に加算することで階調
データＤg1を生成する。データ線駆動回路５２は、この階調データＤg1に応じた電流値の
駆動電流をデータ線１７に出力することで各電気光学素子１３を駆動する。
【００５０】
本実施形態においては、外光量Ｌ0が大きいほど調整値Ｒは大きい数値に設定される。
したがって、階調データＤg0によって同じ階調が指定された場合であっても、電気光学装
置Ｄの使用の環境が明るいほど（すなわち外光量Ｌ0が大きいほど）、各電気光学素子１
３は高輝度（高階調）に駆動される。これにより、電気光学装置Ｄが明るい環境で使用さ
れる場合であっても画像の視認性を充分に確保することができる。換言すると、外光量Ｌ
0が小さいほど調整値Ｒは小さい数値に設定されるから、電気光学装置Ｄが暗い環境で使
用される場合には各電気光学素子１３の輝度が抑制される。したがって、電気光学装置Ｄ
の消費電力が低減されるとともに各電気光学素子１３の劣化が抑制される。
【００５１】
また、効率係数Ｅが小さいほど調整値Ｒは大きい数値に設定されるから、階調データＤ
g0によって同じ階調が指定された場合であっても、各電気光学素子１３の発光効率が低下
するほど、階調データＤg1によって各電気光学素子１３に指定される階調は調整値Ｒに応
じた分だけ高階調とされる。これにより、例えば各電気光学素子１３の特性が経時的に劣
化した場合や電気光学装置Ｄが低温の環境で使用される場合など発光効率が低下している
場合であっても、各電気光学素子１３の輝度を所期値に維持して画像の品位を維持するこ
とができる。
【００５２】
次に、図１２は、画像処理装置６１の動作を説明するためのフローチャートである。電
気光学装置Ｄの電源が投入されると、図１２のステップＳ２１からステップＳ２４までの
処理がフレーム期間ごとに順次に繰り返される。まず、画像処理装置６１の平均算定部６
３は、１画面分の階調データＤg0に基づいて輝度平均値Ａを算定する（ステップＳ２１）
。これに続いて、パラメータ特定部６５は、センサ３０からの検出信号Ｓに基づいて受光
量Ｌを特定する（ステップＳ２２）。
【００５３】
パラメータ特定部６５（特性値特定部６５１・外光量特定部６５２）は、ステップＳ２
１で算定した階調平均値ＡおよびステップＳ２２で特定した受光量Ｌと、それ以前の所定
数のフレーム期間で取得した階調平均値Ａおよび受光量Ｌとに基づいて外光量Ｌ0と効率
係数Ｅとを特定する（ステップＳ２３）。そして、調整値決定部６７は、ステップＳ２３
で特定した外光量Ｌ0と効率係数Ｅとに基づいて調整値Ｒを決定する（ステップＳ２４）
。
【００５４】
なお、電気光学装置Ｄの電源が投入された直後のステップＳ２３においては、ひとつの
フレーム期間の外光量Ｌ0および効率係数Ｅが取得されているに過ぎない。したがって、
階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係を近似する直線Ｂを特定することができない。この場合
、ステップＳ２３にて外光量Ｌ0および効率係数Ｅは特定されず、さらにステップＳ２４
にて調整値Ｒは設定されない。したがって、最初のフレーム期間については階調データＤ
g0がそのまま階調データＤg1として出力される。
【００５５】
ステップＳ２５においては電気光学素子１３の駆動を終了すべきタイミングが否かが判
定される。電気光学装置Ｄの電源が遮断された場合や画像の表示が停止されるモード（い
わゆるスリープモード）に移行した場合には、ステップＳ２５の判定が肯定されて図１２
の処理が終了する。
【００５６】
一方、ステップＳ２５の判定が否定された場合にはステップＳ２１からステップＳ２４
までの処理が繰り返される。すなわち、外光量Ｌ0および効率係数Ｅの特定とこれに応じ
た調整値Ｒの決定とがフレーム期間ごとに繰り返される。したがって、本実施形態におい
ては、画像の表示中に電気光学装置Ｄが例えば屋内から屋外に移動されることで外光量Ｌ
0が変化した場合や電気光学装置Ｄの周囲の温度が変化することで効率係数Ｅが変化した
場合であっても、この変化後のパラメータに応じた最適な階調に各電気光学素子１３を駆
動することが可能である。
【００５７】
以上に説明したように、本実施形態によれば、各電気光学素子１３が階調データＤg1に
応じて駆動されている期間（すなわち画像が表示されている最中）におけるセンサ３０の
受光量Ｌから外光量Ｌ0と各電気光学素子１３の特性値（効率係数Ｅ）とが個別に特定さ
れる。したがって、外光量Ｌ0の特定のために各電気光学素子１３を消灯させるといった
特許文献１や特許文献２の構成および処理は原理的に不要である。また、各電気光学素子
１３の駆動中に外光量Ｌ0や効率係数Ｅが変化した場合には、この変化後の外光量Ｌ0や効
率係数Ｅに対応するように調整値Ｒを更新することができるという利点がある。
【００５８】
また、複数のフレーム期間にわたる階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係（直線Ｂ）が判別
されるから、ひとつのセンサ３０が外光と各電気光学素子１３からの出射光との双方を受
光する構成にも拘わらず、センサ３０による受光量Ｌから外光量Ｌ0と効率係数Ｅとが個
別に特定される。したがって、本実施形態によれば、外光を検出するためのセンサ３０と
各電気光学素子１３からの出射光を検出するためのセンサ３０とが別個に設置された構成
と比較して、電気光学装置Ｄの構成の簡素化や製造コストの低減（部品点数の削減）を実
現することができる。
【００５９】
なお、各電気光学素子１３は画像処理装置６１による補正後の階調データＤg1に応じて
駆動される。したがって、以上の形態のように画像処理装置６１が外光量Ｌ0に応じて輝
度を調整する構成においては、特性値特定部６５１によって特定される効率係数Ｅと実際
の各電気光学素子１３の特性との間に外光量Ｌ0に応じた補正分だけ差異が発生する場合
がある。この誤差を解消するために、外光量Ｌ0（または外光量Ｌ0に応じた補正量）に応
じて階調平均値Ａを補正してから図１０の効率係数Ｅを特定することで、実際の各電気光
学素子１３の特性（すなわち外光量Ｌ0に応じて輝度を調整しない場合の特性）を反映し
た効率係数Ｅを特定してもよい。また、図１１の調整テーブルの効率係数Ｅが外光量Ｌ0
に応じた数値に選定された構成によっても効率係数Ｅの誤差を解消することができる。こ
の構成においては階調平均値Ａの補正は不要である。
【００６０】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態に係る電気光学装置Ｄについて説明する。
第１実施形態においては、ひとつのセンサ３０による受光量Ｌに応じて決定された調整
値Ｒによって総ての電気光学素子１３の階調データＤg0が共通に調整される構成を例示し
た。これに対し、本実施形態においては、各電気光学素子１３の階調データＤg0が発光色
ごとに別個に調整される構成となっている。なお、本実施形態のうち第１実施形態と同様
の要素については共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。
【００６１】
図１３は、本実施形態における電気光学装置Ｄの外観を示す平面図である。本実施形態
における電気光学素子１３は、複数色（赤色および緑色および青色）の何れかに対応した
波長の光を放射する。したがって、本実施形態の電気光学パネル１０は、赤色と緑色と青
色とを選択的に組み合わせた多色の画像を表示することができる。
【００６２】
基板１１の側端面１１６には、各々が別個の発光色に対応する３個のセンサ３０（３０
r，３０g，３０b）が配置される。センサ３０rは、その検出面３１に到達した光（各電気
光学素子１３からの出射光および外光）のうち赤色に対応する波長の成分を選択的に受光
してその受光量Ｌに応じた検出信号Ｓrを出力する。同様に、センサ３０gは緑色に対応す
る成分のみを受光して検出信号Ｓgを出力し、センサ３０bは青色に対応する成分のみを受
光して検出信号Ｓbを出力する。一方、本実施形態における透光部材４０は、３個のセン
サ３０にわたって連続する寸法に成形されている。
【００６３】
図１４は、本実施形態における画像処理装置６１の構成を示すブロック図である。同図
に示されるように、本実施形態の画像処理装置６１は、階調データＤg0を発光色ごとに分
配する分配部６１１と、各々が別個の発光色に対応する３個の処理ユニットＵ（Ｕr，Ｕg
，Ｕb）と、各処理ユニットＵが生成した発光色ごとの階調データＤg1（Ｄg1[R]，Ｄg1[G
]，Ｄg1[B]）を合成してデータ線駆動回路５２に出力する合成部６１３とを含む。
【００６４】
赤色の電気光学素子１３に対応する階調データＤg0[R]は分配部６１１から処理ユニッ
トＵrに供給される。同様に、緑色に対応する階調データＤg0[G]は処理ユニットＵgに供
給され、青色に対応する階調データＤg0[B]は処理ユニットＵbに供給される。また、赤色
に対応する処理ユニットＵrにはセンサ３０rから検出信号Ｓrが供給される。同様に、処
理ユニットＵgには検出信号Ｓgが供給され、処理ユニットＵbには検出信号Ｓbが供給され
る。
【００６５】
各処理ユニットＵは、図９に示した画像処理装置６１と同様に、平均算定部６３とパラ
メータ特定部６５と調整値決定部６７と調整部６９とを含む。調整値決定部６７に保持さ
れた調整テーブルは処理ユニットＵごとに相違する。各発光色に対応する処理ユニットＵ
は、その発光色について、階調データＤg0（Ｄg0[R]，Ｄg0[G]，Ｄg0[B]）と検出信号Ｓ
（Ｓr，Ｓg，Ｓb）とから調整値Ｒを決定し、この調整値Ｒに応じた階調データＤg0の調
整によって階調データＤg1（Ｄg1[R]，Ｄg1[G]，Ｄg1[B]）を生成する。したがって、デ
ータ線駆動回路５２には、各発光色の電気光学素子１３の特性値（効率係数Ｅ）に応じて
個別に調整された階調データＤg1が出力される。
【００６６】
以上の構成によっても第１実施形態と同様の効果が奏される。さらに、本実施形態にお
いては、各電気光学素子１３の階調が発光色ごとに調整されるから、例えば各電気光学素
子１３の劣化の程度が発光色ごとに相違する場合であっても、所期のホワイトバランスに
調整することが可能である。
【００６７】
＜Ｃ：変形例＞
以上の各形態には様々な変形を加えることができる。具体的な変形の態様を例示すれば
以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせてもよい。
【００６８】
（１）変形例１
以上の各形態においては、基板１１の側端面１１６にセンサ３０が配置された構成を例
示したが、センサ３０が配置される位置は適宜に変更される。例えば、図１５に示される
ように、検出面３１が基板１１と平行な方向を向くようにセンサ３０を配置した構成とし
てもよい。この構成における透光部材４０は、基板１１の側端面１１６からの出射光をセ
ンサ３０の検出面３１に導くための傾斜面４３を有する。この構成によれば、第１実施形
態の構成と比較してセンサ３０の配置が容易化されるという利点がある。
【００６９】
（２）変形例２
総ての電気光学素子１３が消灯しているときの受光量Ｌが外光量Ｌ0として特定される
構成としてもよい。例えば図１６は、各電気光学素子１３の駆動前のセンサ３０による受
光量Ｌを外光量Ｌ0として特定する場合のフローチャートである。同図に示されるように
、電気光学装置Ｄの電源が投入されると、画像処理装置６１の画像処理装置６１は、階調
データＤg0の受信に先立って総ての電気光学素子１３の消灯を指示する階調データＤg1を
データ線駆動回路５２に出力する（ステップＳ１１）。この全消灯を指示する階調データ
Ｄg1は、上位装置から供給されてもよいし画像処理装置６１に予め保持されていてもよい
。そして、パラメータ特定部６５は、この状態のもとでセンサ３０が出力する検出信号Ｓ
から受光量Ｌを特定し、この受光量Ｌを外光量Ｌ0として保持する（ステップＳ１２）。
以上の処理が完了すると、画像処理装置６１は、第１実施形態と同様にステップＳ２１か
らステップＳ２２までの処理を繰り返す。
【００７０】
この構成によれば、各電気光学素子１３の駆動前に受光量Ｌ0が特定されるから、電気
光学素子１３の電源が投入された直後のステップＳ２３においても効率係数Ｅを特定する
ことができる。したがって、最初のフレーム期間から各電気光学素子１３を調整値Ｒに応
じて駆動することができる。
【００７１】
（３）変形例３
以上の各形態においては加算平均が階調平均値Ａとして算定される構成を例示したが、
階調平均値Ａは相乗平均であってもよい。また、各電気光学素子１３からの出射光のうち
センサ３０に到達する光量は電気光学素子１３の位置に応じて相違するから、階調データ
Ｄg0によって指定される階調を電気光学素子１３の位置に応じて重み付けしたうえで階調
平均値Ａ（すなわち加重平均）を算定してもよい。この場合の階調平均値は以下の式(a)
によって算定される。
Ａ＝（α1・Ｇ1＋α2・Ｇ2＋α3・Ｇ3＋……＋αn・Ｇn）／ｎ ……(a)
なお、ここでは電気光学素子１３の総数が「ｎ」である場合を想定している。「Ｇi」
は第ｉ（ｉは１≦ｉ≦ｎを満たす整数）番目の電気光学素子１３に対して階調データＤg0
で指定された階調である。また、各電気光学素子１３の階調Ｇiに乗算される係数αiは、
その電気光学素子１３からセンサ３０までの距離が長いほど小さい数値に設定される。こ
の構成によれば、センサ３０から離間した電気光学素子１３ほど受光量Ｌへの寄与が少な
いという実際の状況が調整値Ｒに反映されるから、実際の電気光学装置Ｄの条件に適合し
た調整値Ｒを設定することが可能となる。
【００７２】
また、以上の各形態においては、フレーム期間ごとに階調平均値Ａが算定される構成を
例示したが、複数のフレーム期間にわたる階調の平均が階調平均値Ａとして算定される構
成としてもよい。したがって、外光量Ｌ0や各電気光学素子１３の特性値（効率係数Ｅ）
さらには調整値Ｒもフレーム期間ごとに決定される必要は必ずしもなく、例えば複数のフ
レーム期間ごとに決定されてもよい。
【００７３】
（４）変形例４
以上の各形態においては、階調平均値Ａと受光量Ｌとの関係を近似する直線Ｂの勾配が
効率係数Ｅとして算定される構成を例示したが、特性値特定部６５１によって特定される
各電気光学素子１３の特性値は効率係数Ｅに限定されない。例えば、外光量特定部６５２
が特定した外光量Ｌ0を受光量Ｌから減算した光量（すなわち複数の電気光学素子１３か
らのセンサ３０に到達した光量の総和）が特性値として算定されてもよいし、外光量Ｌか
ら外光量Ｌ0を減算した数値を電気光学素子１３の総数で除算した数値（すなわち各電気
光学素子１３からセンサ３０に到達した光量の平均値）が特性値として算定されてもよい
。これらの構成によっても、調整テーブルにおいて各特性値に適切な調整値Ｒを対応付け
れば第１実施形態と同様の作用および効果が奏される。このように、本発明における特性
値とは、複数の電気光学素子１３の特性に応じた数値（電気光学素子１３の特性の変化に
応じて変動する数値）であれば足りる。
【００７４】
（５）変形例５
以上の各形態においては、調整テーブルを利用して調整値Ｒが決定される構成を例示し
たが、調整値決定部６７が調整値Ｒを決定する方法は適宜に変更される。例えば、外光量
Ｌ0と特性値（効率係数Ｅ）とを変数として調整値Ｒを定義した所定の演算式に、特性値
特定部６５１が特定する特性値（効率係数Ｅ）と外光量特定部６５２が特定する外光量Ｌ
0とを代入することで調整値Ｒが算定される構成としてもよい。
【００７５】
（６）変形例６
以上の各形態においては、階調データＤg0に調整値Ｒを加算することで階調データＤg1
が生成される構成を例示したが、階調データＤg0を調整値Ｒに応じて調整する方法は任意
である。例えば、階調データＤg0に調整値Ｒを乗算することで階調データＤg1が生成され
る構成としてもよい。
【００７６】
また、階調データＤg0が調整値Ｒに応じて調整される必要は必ずしもない。例えばいま
、データ線駆動回路５２が、所定の電圧（以下「基準電圧」という）を基準として駆動電
流を生成する構成を想定する。この場合には、上位装置から供給された階調データＤg0が
制御装置６０からそのまま（つまり調整を経ることなく）データ線駆動回路５２に出力さ
れるとともに、調整値決定部６７から調整値Ｒがデータ線駆動回路５２に供給される構成
としてもよい。データ線駆動回路５２においては、階調データＤg0に応じた電流値の駆動
電流が基準電圧に基づいて生成される一方、この基準電圧が調整値Ｒに応じて調整される
。この構成によっても、各電気光学素子１３を調整値Ｒに応じた階調に駆動することがで
きる。以上のように、本発明においては、階調データＧ0を調整する機能が画像処理装置
６１に搭載されている必要は必ずしもない。
【００７７】
また、以上の各形態においては、各データ線１７に出力される駆動電流の電流値が調整
値Ｒに応じて変化する構成を例示したが、調整値Ｒに基づく調整の対象は適宜に変更され
る。例えばいま、電気光学素子１３が駆動される時間長を階調データＤg（Ｄg0，Ｄg1）
に応じて変化させることで多階調を表現する方式（すなわちパルス幅変調によって電気光
学素子１３の階調を制御する方式）のデータ線駆動回路５２を想定する。この構成におい
ては、各電気光学素子１３を駆動する時間長が調整値Ｒに応じて調整されてもよい。例え
ば、図９に示したように画像処理装置６１から出力される調整後の階調データＤg1に基づ
いて各電気光学素子１３の駆動の時間長が制御される。あるいは、調整部６９が省略され
た構成のもとで、データ線駆動回路５２が、階調データＤg0と調整値Ｒとに応じて各電気
光学素子１３の駆動の時間長を調整してもよい。
【００７８】
また、以上においては階調データＤg0と調整値Ｒとに応じた電流値の駆動電流が各デー
タ線１７に供給される構成を例示したが、階調データＤg0と調整値Ｒとに応じた電圧値の
駆動電圧が各データ線１７に印加されることで各電気光学素子１３が駆動される構成とし
てもよい。以上のように、各実施形態においては、各電気光学素子１３が階調データＤg0
と調整値Ｒとに応じた階調に駆動される構成であれば足り、各電気光学素子１３の階調に
調整値Ｒを反映させるための具体的な方法や構成は任意である。
【００７９】
（７）変形例７
電気光学パネル１０の基板１１の側端面１１６から光が入射すると、観察側から入射す
る外光量Ｌ0の測定に誤差が発生する場合がある。以上の各形態においては、側面部２５
が基板１１の側端面１１６に対向するように電気光学パネル１０が筐体２０に収容される
から、基板１１の側端面１１６からの光の入射を防止して外光量Ｌ0を高精度に測定する
ことが可能である。ただし、基板１１の側端面１１６からの光の入射を防止するための構
成は適宜に変更される。例えば、図１７に示されるように、基板１１の側端面１１６に遮
光性の部材（例えば遮光テープ）１９を設置してもよい。この部材１９は、基板１１の全
周にわたる側端面１１６のうちセンサ３０に対向する部分以外の領域に配置される。また
、部材１９を光反射性の材料によって形成すれば、例えば基板１１のうちセンサ３０とは
反対側の側端面１１６に到達した光を再びセンサ３０に向けて反射させることができるか
ら、センサ３０に到達する光量を充分に確保して高精度に受光量Ｌを検出することができ
る。
【００８０】
（８）変形例８
以上の各形態においては透光部材４０が配置された構成を例示したが、この透光部材４
０は必ずしも必要ではない。例えば、基板１１の背面側の反射面（各形態における第２電
極１３２の表面）が散乱面である場合には、この散乱面での反射光の一部をセンサ３０に
向かって進行させることができるから、透光部材４０が配置されていなくても充分な受光
量Ｌを検出することができる。
【００８１】
（９）変形例９
以上の各形態においては、電気光学素子１３としてＯＬＥＤ素子を例示したが、本発明
における電気光学素子はこの例示に限定されない。例えば、無機ＥＬ材料からなる発光層
を含む発光素子やＬＥＤ（Light Emitting Diode）素子なども電気光学素子として採用さ
れる。また、照明装置（バックライト）からの照射光を変調して出射する液晶装置や、プ
ラズマの放電により発光する発光素子が配列されたプラズマ装置など様々な機器を本発明
の電気光学装置として採用することができる。すなわち、各々の階調が制御される複数の
電気光学素子を備えた電気光学装置であれば、各電気光学素子の具体的な構造や階調を制
御する方法の如何を問わず、以上の各形態と同様に本発明を適用することができる。
【００８２】
＜Ｄ：応用例＞
次に、本発明に係る電気光学装置を利用した電子機器について説明する。図１８は、以
上に説明した何れかの形態に係る電気光学装置Ｄを表示装置として採用したモバイル型の
パーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は
、表示装置としての電気光学装置Ｄと本体部２０１０とを備える。本体部２０１０には、
電源スイッチ２００１およびキーボード２００２が設けられている。この電気光学装置Ｄ
は電気光学素子１３にＯＬＥＤ素子を使用しているので、視野角が広く見易い画面を表示
できる。
【００８３】
図１９に、各形態に係る電気光学装置Ｄを適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話
機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２、ならびに表
示装置としての電気光学装置Ｄを備える。スクロールボタン３００２を操作することによ
って、電気光学装置Ｄに表示される画面がスクロールされる。
【００８４】
図２０に、各形態に係る電気光学装置Ｄを適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal D
igital Assistants）の構成を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００
１および電源スイッチ４００２、ならびに表示装置としての電気光学装置Ｄを備える。電
源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光
学装置Ｄに表示される。
【００８５】
なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図１８から図２０に
示したもののほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション
装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーショ
ン、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパ
ネルを備えた機器等などが挙げられる。また、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の
表示に限定されない。例えば、光書込み型のプリンタや電子複写機といった画像形成装置
においては、用紙などの記録材に形成されるべき画像に応じて感光体を露光する書込みヘ
ッドが使用されるが、この種の書込みヘッドとしても本発明の電気光学装置は利用される
。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の実施形態に係る電気光学装置の外観を示す平面図である。
【図２】図１におけるII−II線からみた断面図である。
【図３】図１におけるIII−III線からみた断面図である。
【図４】透光部材の傾斜面に入射した外光が進行する様子を示す断面図である。
【図５】透光部材がない構成のもとで外光が基板に入射する様子を示す断面図である。
【図６】外光が透光部材に入射する様子を示す断面図である。
【図７】角度αと角度θ3との関係を示すグラフである。
【図８】電気光学装置の電気的な構成を示すブロック図である。
【図９】画像処理装置の具体的な構成を示すブロック図である。
【図１０】階調平均値と受光量との関係を示すグラフである。
【図１１】調整テーブルの内容を示す概念図である。
【図１２】画像処理装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明の第２実施形態に係る電気光学装置の外観を示す平面図である。
【図１４】第２実施形態の画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図１５】変形例に係る電気光学装置の構成を示す断面図である。
【図１６】変形例に係る画像処理装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１７】変形例に係る電気光学装置の基板の構成を示す断面図である。
【図１８】本発明に係る電子機器の具体的な形態を示す斜視図である。
【図１９】本発明に係る電子機器の具体的な形態を示す斜視図である。
【図２０】本発明に係る電子機器の具体的な形態を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００８７】
Ｄ……電気光学装置、１０……電気光学パネル、１１……基板、１３……電気光学素子、
２０……筐体、２３１……開口部、２３３……切欠部、３０……センサ、４０……透光部
材、４１……傾斜面、５１……走査線駆動回路、５２……データ線駆動回路、６０……制
御装置、６１……画像処理装置、Ｕ……処理ユニット、６３……平均算定部、６５……パ
ラメータ特定部、６５１……特性値特定部、６５２……外光量特定部、６７……調整値決
定部、６９……調整部。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
各々が光を出射する複数の電気光学素子と、
前記複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセン
サと、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
前記複数の電気光学素子の特性値を前記センサにより検出された受光量に基づいて特定
する特性値特定手段と、
前記平均算定手段が算定する階調平均値と前記センサによる受光量との関係に基づいて
、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到達すべき光量を、外光量として特定す
る外光量特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値と前記外光量特定手段が特定した外光量とに応じ
た調整値を決定する調整値決定手段と、
前記複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指定された
階調と前記調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段と
を具備する電気光学装置。
【請求項２】
前記特性値特定手段は、第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平
均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間
の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記セ
ンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾
配を前記特性値として特定する
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記外光量特定手段は、第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平
均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間
の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記セ
ンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到
達すべき光量を前記外光量として特定する
請求項１または請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記平均算定手段は、所定の期間ごとに階調平均値を算定し、
前記外光量特定手段は、前記各期間において算定された階調平均値および当該期間にお
けるセンサによる受光量と、他の期間にて算定された階調平均値および当該期間における
センサによる受光量とに基づいて順次に外光量を特定し、
前記調整値決定手段は、前記外光量特定手段が前記期間ごとに特定する外光量に応じて
順次に調整値を更新する
請求項１から請求項３の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項５】
各々が光を出射する複数の電気光学素子と、
前記複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセン
サと、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第１期間
でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間の階調データから前記平
均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記センサによる受光量との関
係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾配を特性値として特定す
る特性値特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定手段と、
前記複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指定された
階調と前記調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段と
を具備する電気光学装置。
【請求項６】
前記平均算定手段は、階調データによって各電気光学素子に指定される階調を前記セン
サと前記各電気光学素子との距離に応じた係数で重み付けした加重平均を階調平均値とし
て算定する
請求項１から請求項５の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記複数の電気光学素子が表面に配列された光透過性の基板を具備し、
前記センサは、前記基板の内部を進行してきた前記各電気光学素子からの出射光を受光
する
請求項１から請求項６の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項８】
前記センサは、前記基板の側方に配置され、
前記基板の表面には、当該表面からの高さが前記側方に近い位置ほど高い傾斜面を含む
光透過性の透光部材が、前記傾斜面に外光が入射するように配置される
請求項７に記載の電気光学装置。
【請求項９】
前記基板を収容する筐体を具備し、
前記筐体には、前記複数の電気光学素子からの出射光が通過する開口部が形成され、
前記開口部の内周縁には切欠部が形成され、
前記透光部材は、前記筐体の前記切欠部に嵌め込まれる
請求項８に記載の電気光学装置。
【請求項１０】
請求項１から請求項９の何れかに記載の電気光学装置を具備する電子機器。
【請求項１１】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理装置であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
前記複数の電気光学素子の特性値を前記センサにより検出された受光量に基づいて特定
する特性値特定手段と、
前記平均算定手段が算定する階調平均値と前記センサによる受光量との関係に基づいて
、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到達すべき光量を外光量として特定する
外光量特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値と前記外光量特定手段が特定した外光量とに応じ
た前記調整値を決定する調整値決定手段と
を具備する画像処理装置。
【請求項１２】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理装置であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第１期間
でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間の階調データから前記平
均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記センサによる受光量との関
係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾配を前記特性値として特
定する特性値特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定手段と
を具備する画像処理装置。
【請求項１３】
前記調整値決定手段が決定した調整値に基づいて、階調データが指定する階調を調整す
る調整手段
を具備する請求項１１または請求項１２に記載の画像処理装置。
【請求項１４】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理方法であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定過程と、
前記複数の電気光学素子の特性値を前記センサによる受光量に基づいて特定する特性値
特定過程と、
前記平均算定過程にて算定した階調平均値と前記センサによる受光量との関係に基づい
て、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到達すべき光量を外光量として特定す
る外光量特定過程と、
前記特性値特定過程にて特定した特性値と前記外光量特定過程にて特定した外光量とに
応じた前記調整値を決定する調整値決定過程と
を含む画像処理方法。
【請求項１５】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理方法であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定過程と、
第１期間の階調データから前記平均算定過程にて算定した階調平均値および当該第１期
間でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間の階調データから前記
平均算定過程にて算定した階調平均値および当該第２期間での前記センサによる受光量と
の関係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾配を前記特性値とし
て特定する特性値特定過程と、
前記平均算定過程にて算定した階調平均値が第１値である階調データに応じて前記各電
気光学素子が駆動されたときの前記センサによる受光量と、前記平均算定過程にて算定し
た階調平均値が第２値である階調データに応じて前記各電気光学素子が駆動されたときの
前記センサによる受光量とに基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾
配を特性値として特定する特性値特定過程と、
前記特性値特定過程にて特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定過程と
を含む画像処理方法。
【請求項１】
各々が光を出射する複数の電気光学素子と、
前記複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセン
サと、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
前記複数の電気光学素子の特性値を前記センサにより検出された受光量に基づいて特定
する特性値特定手段と、
前記平均算定手段が算定する階調平均値と前記センサによる受光量との関係に基づいて
、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到達すべき光量を、外光量として特定す
る外光量特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値と前記外光量特定手段が特定した外光量とに応じ
た調整値を決定する調整値決定手段と、
前記複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指定された
階調と前記調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段と
を具備する電気光学装置。
【請求項２】
前記特性値特定手段は、第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平
均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間
の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記セ
ンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾
配を前記特性値として特定する
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記外光量特定手段は、第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平
均値および当該第１期間でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間
の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記セ
ンサによる受光量との関係に基づいて、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到
達すべき光量を前記外光量として特定する
請求項１または請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記平均算定手段は、所定の期間ごとに階調平均値を算定し、
前記外光量特定手段は、前記各期間において算定された階調平均値および当該期間にお
けるセンサによる受光量と、他の期間にて算定された階調平均値および当該期間における
センサによる受光量とに基づいて順次に外光量を特定し、
前記調整値決定手段は、前記外光量特定手段が前記期間ごとに特定する外光量に応じて
順次に調整値を更新する
請求項１から請求項３の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項５】
各々が光を出射する複数の電気光学素子と、
前記複数の電気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセン
サと、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第１期間
でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間の階調データから前記平
均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記センサによる受光量との関
係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾配を特性値として特定す
る特性値特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定手段と、
前記複数の電気光学素子の各々を、階調データによって当該電気光学素子に指定された
階調と前記調整値決定手段が決定した調整値とに応じた階調に駆動する駆動手段と
を具備する電気光学装置。
【請求項６】
前記平均算定手段は、階調データによって各電気光学素子に指定される階調を前記セン
サと前記各電気光学素子との距離に応じた係数で重み付けした加重平均を階調平均値とし
て算定する
請求項１から請求項５の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記複数の電気光学素子が表面に配列された光透過性の基板を具備し、
前記センサは、前記基板の内部を進行してきた前記各電気光学素子からの出射光を受光
する
請求項１から請求項６の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項８】
前記センサは、前記基板の側方に配置され、
前記基板の表面には、当該表面からの高さが前記側方に近い位置ほど高い傾斜面を含む
光透過性の透光部材が、前記傾斜面に外光が入射するように配置される
請求項７に記載の電気光学装置。
【請求項９】
前記基板を収容する筐体を具備し、
前記筐体には、前記複数の電気光学素子からの出射光が通過する開口部が形成され、
前記開口部の内周縁には切欠部が形成され、
前記透光部材は、前記筐体の前記切欠部に嵌め込まれる
請求項８に記載の電気光学装置。
【請求項１０】
請求項１から請求項９の何れかに記載の電気光学装置を具備する電子機器。
【請求項１１】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理装置であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
前記複数の電気光学素子の特性値を前記センサにより検出された受光量に基づいて特定
する特性値特定手段と、
前記平均算定手段が算定する階調平均値と前記センサによる受光量との関係に基づいて
、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到達すべき光量を外光量として特定する
外光量特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値と前記外光量特定手段が特定した外光量とに応じ
た前記調整値を決定する調整値決定手段と
を具備する画像処理装置。
【請求項１２】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理装置であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定手段と、
第１期間の階調データから前記平均算定手段が算定した階調平均値および当該第１期間
でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間の階調データから前記平
均算定手段が算定した階調平均値および当該第２期間での前記センサによる受光量との関
係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾配を前記特性値として特
定する特性値特定手段と、
前記特性値特定手段が特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定手段と
を具備する画像処理装置。
【請求項１３】
前記調整値決定手段が決定した調整値に基づいて、階調データが指定する階調を調整す
る調整手段
を具備する請求項１１または請求項１２に記載の画像処理装置。
【請求項１４】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理方法であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定過程と、
前記複数の電気光学素子の特性値を前記センサによる受光量に基づいて特定する特性値
特定過程と、
前記平均算定過程にて算定した階調平均値と前記センサによる受光量との関係に基づい
て、階調平均値が最低値であるときに前記センサに到達すべき光量を外光量として特定す
る外光量特定過程と、
前記特性値特定過程にて特定した特性値と前記外光量特定過程にて特定した外光量とに
応じた前記調整値を決定する調整値決定過程と
を含む画像処理方法。
【請求項１５】
階調データと調整値とに応じた階調に駆動される複数の電気光学素子と、前記複数の電
気光学素子からの出射光および外光を受光してその受光量を検出するセンサとを具備する
電気光学装置に利用される画像処理方法であって、
階調データによって前記複数の電気光学素子に指定された階調の平均値である階調平均
値を算定する平均算定過程と、
第１期間の階調データから前記平均算定過程にて算定した階調平均値および当該第１期
間でのセンサによる受光量と、前記第１期間とは相違する第２期間の階調データから前記
平均算定過程にて算定した階調平均値および当該第２期間での前記センサによる受光量と
の関係に基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾配を前記特性値とし
て特定する特性値特定過程と、
前記平均算定過程にて算定した階調平均値が第１値である階調データに応じて前記各電
気光学素子が駆動されたときの前記センサによる受光量と、前記平均算定過程にて算定し
た階調平均値が第２値である階調データに応じて前記各電気光学素子が駆動されたときの
前記センサによる受光量とに基づいて、階調平均値に対する前記センサによる受光量の勾
配を特性値として特定する特性値特定過程と、
前記特性値特定過程にて特定した特性値に応じた調整値を決定する調整値決定過程と
を含む画像処理方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【公開番号】特開２００７−８６２７７（Ｐ２００７−８６２７７Ａ）
【公開日】平成１９年４月５日（２００７．４．５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２７３４１６（Ｐ２００５−２７３４１６）
【出願日】平成１７年９月２１日（２００５．９．２１）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年４月５日（２００７．４．５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年９月２１日（２００５．９．２１）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
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