説明

オムロン株式会社により出願された特許

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【課題】ベースに組み付ける電磁石ブロックと接点開閉部との位置関係を正確に把握する。
【解決手段】仕切壁9に形成した操作孔10によって互いに連通された第1空間部7及び第2空間部8を有し、第1空間部7は一方の長辺側が開口し、第2空間部8は第1空間部7とは反対の長辺側と仕切壁9の対向面側が開口する合成樹脂材料からなるベース1と、第1空間部7内に配置される固定接点端子52及び可動接点端子53を有し、固定接点端子52に設けた固定接点55に対して可動接点端子53の可動接点58が接離可能に対向する接点機構部2と、第2空間部8に配置され、コイル62に通電することにより励磁して可動鉄片5を回動させ、操作孔10を介して接点機構部2を駆動させる電磁石ブロック3とを備える。ベース1は、第1空間部7又は第2空間部8を構成するいずれか一方の長辺側の側壁に窓部40、41を有する。 (もっと読む)


【課題】低周波近傍電磁界を適切に監視できるようにし、遊技球検出スイッチの機能障害を抑制できるようにする。
【解決手段】コイルL12が、遊技球が通過する貫通口の回りに巻回される。コイルL12を含み、貫通口内に遊技球が通過した場合、発振回路111は、発振状態を変化させる。コイルL11は、低周波近傍電磁界の到来を、電圧の誘起により検出する。発振回路101は、コイルL11を含み、電圧の誘起により発振状態を変化させる。コイルL11は、コイルL11の有する磁束発生方向と、コイルL12の有する磁束発生方向が一致するよう配置される。比較器COM1,COM2の出力信号V7,V8が、それぞれ遊技球2の通過の有無と、低周波近傍電磁界の到来を示す信号として出力される。本発明は、遊技機に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】外乱光や電気的ノイズによる影響を抑え、物体の検出精度を向上させた物体検出ユニットを提供する。
【解決手段】測距部3は、発光部31と、受光部32とを有する。測距部3は、発光部31を発光させ、受光部32で受光した受光光量に基づき物体を仮検出するとともに、ここで仮検出した物体までの距離を算出する。記憶部5が、物体までの距離の変化に応じて受光部32での受光光量の下限閾値を設定する下限パラメータ、および物体までの距離の変化に応じて受光部32での受光光量の上限閾値を設定する上限パラメータを記憶する。制御部2は、受光部32で受光した受光光量が、測距部3が算出した仮検出した物体までの距離において、下限パラメータで決定される下限閾値と、上限パラメータで決定される上限閾値と、の間に位置していなければ、この仮検出した物体を物体でないと判定する。 (もっと読む)


【課題】サーボドライバの制振制御の設定におけるユーザの作業性を向上させることを可能にする技術を提供する。
【解決手段】制振制御のパラメータを設定するためのプログラムが提供される。プログラムは、サーボモータの試運転のための運転パラメータを受付ける第1の入力部41と、サーボモータを試運転させるための要求を受付ける第2の入力部42と、制振制御を設定するための制御パラメータを受付ける第3の入力部(制振制御設定部50)とを有する設定ウィンドウW1を、表示装置の画面に表示させる。ユーザは、サーボモータのテスト運転および制振制御の設定を1つのウィンドウ(サブウィンドウW1)の中で行なうことができる。 (もっと読む)


【課題】検査対象の基板の部品毎に、また実施する必要がある検査項目毎に検査の手段を選択すると共に、その選択結果に基づいて各検査機で容易に検査情報を作成する。
【解決手段】部品特定処理部21は、処理対象基板の設計情報から各部品の位置および部品種を特定する。検査項目認識部22は、部品種テーブル202を参照して特定された部品に必要な検査項目を認識し、検査手段選択部は、検査機別能力テーブル203を参照して、各検査項目の検査を実施させる検査手段を選択する。これらの処理により、部品毎にその部品に対して実施する検査項目と検査手段を示す情報とに当該部品の部品種および位置情報を紐付けた検査メニュー情報が作成される。各検査機は、この検査メニュー情報を入力し、自装置での検査が定義されている部品を認識し、その部品種に応じて検査プログラムを部品の位置情報に紐付けることにより検査情報を作成する。 (もっと読む)


【課題】部品およびはんだに対する3次元計測結果に基づく検査の結果や検査対象部位の状態を、ユーザが容易に確認できるような表示を行い、検査結果の確認作業を支援する。
【解決手段】基板上の部品およびはんだに、それぞれ異なる手法の3次元計測を実施し、それぞれの計測により得た3次元情報をはんだ付け部毎および種別毎に読出可能に蓄積する。そして、これらの蓄積情報に基づき、はんだ付け部位毎に部品とはんだとの関係を表す画像を生成し、この画像を含む画面を検査結果の確認用の画面として表示する。好ましい確認用画面では、はんだの3次元情報が表す立体形状を部品のはんだへの接合面の近傍位置で切断した場合に得られるはんだの断面を正面として、このはんだの断面と部品との関係を示す画像(YZ図またはXZ図)が表示される。 (もっと読む)


【課題】不良を示す実際の計測値が少ない場合でも、中間検査の判定基準値の適否の判定や判定基準値の適正値を特定する処理を精度良く実施する。
【解決手段】中間検査の対象とした計測値Xと最終検査の対象とした計測値Yとの相関関係を導出した後に、その相関関係に基づき、X軸に設定された複数の演算対象点毎に、その点が示す計測値Xnに対する計測値Yの分布パターンを特定し、その分布のうち最終検査の判定基準値Ysにより良と判定される範囲WOKおよび不良と判定される範囲WNGの確率を算出する。さらに、中間検査の判定基準値Xsにより計測値Xの不良と判定される範囲および良と判定される範囲のそれぞれについて、その範囲に含まれる演算対象点につき求めた確率を用いて、各検査結果が整合する度合いおよび整合しない度合いとを求め、双方の度合いに基づいて判定基準値Xsの適否を判定する。 (もっと読む)


【課題】リフロー工程を実施する前の検査対象部位の状態の違いによって異なる検査基準を適用することにより、はんだ付け状態の適否を精度良く見分ける。
【解決手段】はんだ印刷検査機10は基板上のランドのクリームはんだの体積を検査し、はんだ付け検査機30はリフロー後はんだのぬれ上がり高さを検査する。またはんだ付け検査機30には、ぬれ上がり高さの計測値を判定するための複数とおりの判定基準値を含む検査プログラムと、これらの判定基準値を選択するための選択ルールとが登録される。この選択ルールには、検査対象のはんだ付け部位をはんだ印刷検査機10が計測したときに求めたクリームはんだの体積によっていずれの判定基準値を選択するかが定義されている。はんだ印刷検査機10は、検査データ管理装置102から検査対象のはんだ付け部位に対応するクリームはんだの体積を読み込み、これに基づき判定基準値を決定する。 (もっと読む)


【課題】音波を複数の電気信号に変換できると共に、音響特性のバラツキを抑えることのできる音響トランスデューサを提供する。
【解決手段】音響センサ11は、半導体基板21の上面に振動膜22および固定膜23が形成され、振動膜22における振動電極220と固定膜23における固定電極230との間の静電容量の変化により、音波を電気信号に変換し出力するものである。音響センサ11は、振動電極220および固定電極230の少なくとも一方が分割されており、分割された複数の電極から複数の電気信号をそれぞれ出力している。 (もっと読む)


【課題】既存の構成を殆ど変更することなくリードスイッチを採用する。
【解決手段】一の面に開口部を有する箱形形状のケース1内に、筒状の胴部52cを有するスプール52の外周にコイル53を巻回し、内周に配置した固定鉄心21の一端部にヨークを接続してなる電磁石部3を収容し、前記コイル53に電圧を印加することにより、固定鉄心21及びヨークによって磁気回路の一部を形成する。電磁石部3の軸心方向と平行に、コイル53の巻回部分に沿ってリードスイッチ61を配置する。 (もっと読む)


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