説明

日本電子株式会社により出願された特許

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【課題】培養された細胞等からなる試料の観察又は検査を良好に行うことのできる試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法を提供する。
【解決手段】試料保持体40は、外部からアクセス可能なように開放された試料保持面37aを有する本体部37と、第1の面32aを試料保持面とする膜32とを備え、該膜32の第1の面32aに配置された試料38に、該膜32を介して試料観察又は検査のための一次線7が照射可能であり、該本体部37における試料保持面37aの反対側の面(下面305)に、導電性を有する領域(導電膜301により覆われた領域)が存在するとともに、光が透過可能な領域302が設けられている。ここで、光が透過可能な当該領域302は、導電膜301により覆われていない。当該領域302を利用すれば、光学顕微鏡による試料38の観察・検査を良好に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】重水素核による通常のNMRロックができない場合にも、NMRロックを実行することのできるNMR装置を提供する。
【解決手段】核磁気共鳴プローブと核磁気共鳴分光計との間に高周波の周波数を変換するアダプターを取り外し自在に備えた核磁気共鳴装置であって、該アダプターは、前記分光計のロック送信系から前記プローブに向けて送信されたロック用高周波の周波数を、前記プローブが有する所望の核の観測チャンネルの周波数に変換して該観測チャンネルに供給し、該プローブ内に設置された試料に該周波数変換後の高周波を照射するとともに、照射後、試料から放出される前記所望の核に由来する核磁気共鳴信号を、前記核磁気共鳴信号の周波数をロック用高周波の周波数に変換して、前記分光計のロック受信系に受信させるようにした。 (もっと読む)


【課題】本発明はイオン液体を用いた試料の処理方法及び処理システムに関し、大気中を搬送しても試料表面が大気に曝されないようにすることができるイオン液体を用いた試料の処理方法及び処理システムを提供することを目的としている。
【解決手段】イオンビーム加工装置等の真空中で試料2に加工処理を施し、加工処理が施された試料2にイオン液体を塗布し、イオン液体が塗布された試料2を電子顕微鏡等の予備排気室8に搬送し、該予備排気室8でイオン液体を除去し、該イオン液体が除去された試料2を電子顕微鏡本体で観察するように構成される。 (もっと読む)


【課題】試料室内において、鏡筒の先端部への絞り部材の着脱を効率良く行うことのできる粒子線装置を提供する。
【解決手段】粒子線を先端から放出する鏡筒10と、鏡筒10の先端と連通する真空室1とを有し、鏡筒10から放出された粒子線を真空室1内に配置された試料に照射する粒子線装置において、鏡筒10の先端部に着脱自在に設置される絞り部材と、絞り部材を一端側で保持する保持部材6と、保持部材6と連結して保持部材6を傾斜可能に支持する支持部材8と、試料に照射される粒子線の光軸に対して直交する方向に支持部材を移動可能とする移動機構11とを具備し、移動機構11による支持部材8の移動に伴って保持部材6の移動及び傾斜の動作が行われ、これにより鏡筒10の先端部への絞り部材の着脱が行われる。 (もっと読む)


【課題】2ポートしか有さない3重共鳴プローブを有効に活用できる廉価で省スペースなNMR装置を提供する。
【解決手段】局部発振器が発生する局発周波と、中間周波発生回路が発生する中間周波とを混合して観測用高周波を発生する高周波発生回路を備えた核磁気共鳴装置において、局部発振器から発生する局発周波LO1と、中間周波発生回路が発生する中間周波IFとを混合して第1の核の共鳴周波数を有する高周波RF1を発生する第1の高周波発生回路と、前記局部発振器から発生する局発周波LO1を異なる周波数の第2の局発周波LO2に変換する変換回路と、該変換回路から得られた局発周波LO2と、前記中間周波発生回路が発生する中間周波IFとを混合して第2の核の共鳴周波数を有する高周波RF2を発生する第2の高周波発生回路とを設け、当該高周波RF1及びRF2を用いて核磁気共鳴測定を行うようにした。 (もっと読む)


【課題】モンタージュ画像作成のスループットを向上させる。
【解決手段】視野を動かすための偏向器又はステージと画像撮影するためのカメラの間でキャリブレーションを行ない、キャリブレーションデータAを作成する工程1と、指定された撮影枚数と重なり合う長さから前記キャリブレーションデータAを用いて画像を撮影する位置を求める工程2と、偏向器又はステージを用いて前記キャリブレーションデータAを用いて、モンタージュを構成する1枚目の画像撮影位置へ移動する工程3と、1枚目の画像を撮影する工程4と、工程3の場合と同様にして2枚目の画像撮影位置へ移動する工程5と、2枚目の画像を撮影する工程6と、1枚目の画像と2枚目の画像で重なり合っている部分でマッチングを行ない、位置を補正する工程7と、工程3から工程7をモンタージュ構成枚数だけ繰り返す工程8と、得られた画像を補正した位置で並べて表示する工程9から構成される。 (もっと読む)


【課題】本発明は荷電粒子ビーム描画装置に関し、クロスオーバ像の裾を制限することを目的としている。
【解決手段】荷電粒子ビームを出射する光源4と、該光源4からの荷電粒子ビーム1を受ける制限開口板21とブランカー14,15と第1レンズ2より構成される第1の荷電粒子ビーム制御手段と、該荷電粒子ビーム制御手段を通過した荷電粒子ビーム1を受ける第1成形開口板3と、該第1成形開口板3を通過した荷電粒子ビーム1を偏向する第2レンズ6と、該第2レンズ6を通過した荷電粒子ビームを受ける第2成形開口板7と、該第2成形開口板7を通過した荷電粒子ビームを受けるブランキング開口板17と、該ブランキング開口板を通過した荷電粒子ビームを集束する縮小レンズ8と対物レンズ9と対物偏向器13から構成される第2の荷電粒子ビーム制御手段とを具備し、該第2の荷電粒子ビーム制御手段の出力で材料10上に投影図形を照射するように構成する。 (もっと読む)


【課題】1500℃程度の高温でNMRを測定する際にも、ケミカルシフトの決定に余分な時間を必要としないような高温NMR測定装置を提供する。
【解決手段】超伝導マグネットの中心軸に沿って設けられた縦穴内に挿入配設され、そのサンプル測定領域を周囲から取り囲むようにヒータが設置された高温測定用NMRプローブと、該高温測定用NMRプローブのサンプル測定領域における静磁場の歪みを補正する補正磁場を発生するシムコイルとを備えたNMR装置において、前記ヒータに電流を供給してサンプルを加熱する際に、該ヒータを流れるヒータ電流が発生する静磁場を、前記シムコイルに電流を流して打ち消すようにした。 (もっと読む)


【課題】本発明は冷凍装置及び荷電粒子線装置に関し、磁気遮蔽,制振及び放熱に優れた冷凍装置及び荷電粒子線装置を提供することを目的としている。
【解決手段】本発明の冷凍装置は、冷媒ガスを圧縮する圧縮機40aと、圧縮機によって圧縮された冷媒ガスを膨張させて低温を得る膨張機と、圧縮機と膨張機の間に設けられ、圧縮機によって圧縮された冷媒ガスを冷却する放熱器40bとを備えた冷凍機40と、前記圧縮機40aを包囲するように取り付けられ、複数の空気流出入穴を設けた1重目シールド41と、前記放熱器に空気を吹き付けるファン44と、空気流入用スリット46aおよび空気流出用スリット46bが設けられ、前記1重目シールド41、前記放熱器及び前記ファンを包囲する2重目シールド42と、前記圧縮機、前記1重目シールド又は2重目シールドに取り付けられた少なくとも1個のマスダンパー43とを有して構成される。 (もっと読む)


【課題】 静電偏向器の偏向感度を切り換えても光軸調整のずれを生じることなく、高倍率でも電源ノイズの影響を軽減した観察像を得ることができる静電偏向器を与える。
【解決手段】 電極対22には常に偏向電圧が与えられる。リレー24を高感度モードにすると、リレー端子は「1」に接続され、全ての電極対に電圧が与えられるので大きな偏向量が得られる。リレー24を低感度モードにすると、リレー端子は「2」に接続され、中央の電極対22のみに電圧が与えられるので、高感度モードと同じ電圧でも偏向量は小さくなる。そのため、偏向電源からの偏向電圧ノイズによる影響も小さくなり、高倍率の観察像に対する電源ノイズの影響を低減することができる。リレー24によりモードを切り換えても偏向中心は変わらないので光軸調整ずれを軽減できる。 (もっと読む)


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