説明

日本電子株式会社により出願された特許

251 - 260 / 811


【課題】本発明は生物試料を含む含水試料の薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法に関し、含水試料の薄膜を精度よく作製し、像観察を行なうことができる含水試料の薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法を提供することを目的としている。
【解決手段】生物試料に代表される含水試料を冷却凍結状態で薄膜加工するFIB装置1と、該FIB装置1で薄膜加工された試料薄片20aを、冷却凍結状態を保ったまま搬送すると、冷却凍結状態を保ったまま前記試料ホルダ10を用いて搬送されてきた冷却凍結状態の前記試料薄片20aのTEM像又はSTEM像を得る試料観察装置とを有して構成される。 (もっと読む)


【課題】試料を保持している膜の損傷が発生しても、鏡筒の先端部に配置された性能上重要な部分である対物レンズの内部の汚染を防止することができるとともに、鏡筒内での汚染部位を簡便に取り除くことができる粒子線装置を提供する
【解決手段】粒子線装置は、粒子線源と粒子線源からの粒子線が通過するための粒子線通過パイプとを有し、粒子線通過パイプを通過した粒子線を先端から放出する鏡筒と、鏡筒の先端と繋がる真空室とを備え、鏡筒から放出された粒子線を試料に照射する粒子線装置において、鏡筒の先端側に位置する粒子線通過パイプ内部に管状部材が着脱自在に配置されている。 (もっと読む)


【課題】 試料の薄膜加工終了を正しく判定して実行することができるイオンビーム加工装置を提供すること。
【解決手段】 イオンビーム加工開始時刻tから所定期間Tにおいては、第1光源7の輝度と第2光源8の輝度は、オペレータが像を観察しやすい明るさに任意に可変設定される。そして、イオンビーム加工開始時刻tから所定期間Tが経過して時刻tとなると、輝度設定手段16は第1光源7の輝度を所定期間Tにわたって所定値aに固定設定すると共に、第2光源8の輝度を所定期間Tにわたって所定値bに固定設定する。加工終了判定手段18は、輝度a,bの光で照らされた試料5の像を加工終了判定用画像として撮像手段9から取り込んで加工終了判定を行う。前記輝度aおよびbは、加工終了判定が正確に行えるように設定されたものであり、予め実験により求められたものである。 (もっと読む)


【課題】本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。
【解決手段】電子銃から発生した電子ビームを試料に照射する集束レンズ群からなる照射光学系と、試料を保持する試料ホルダと、該試料ホルダの傾斜角を制御し、かつ試料移動機構を有するゴニオメータと、試料を透過した電子ビームを拡大結像するための対物レンズ群,中間レンズ群及び投影レンズ群からなる結像光学系とを有する透過型電子顕微鏡において、前記結像光学系により得られた拡大像を検出する環状暗視野走査像検出器13を具備し、前記投影レンズ群の偏向コイルを用いて電子ビームを走査し、前記環状暗視野走査像検出器13に対する電子ビームの入射軸を自動的に調整するように構成する。 (もっと読む)


【課題】イオン化室の交換時に、ガス接続部の取り付けや解除作業の煩雑さをなくし、工具等を使用せずとも、いっぺんにイオン化室を交換できる構造を持ったガスクロマトグラフ質量分析装置用イオン源を提供する。
【解決手段】ベースチャンバーは、イオン源ブロックを固定支持する支柱を備え、イオン源ブロックは、イオン化室、前記支柱を受け入れる縦穴、および前記支柱と交差する向きに突き出しているガスクロマトグラフ接続部と標準試料ガス導入接続部の2つの自在継手を受け止めるために設けられた2つの絶縁受けを備え、前記イオン源ブロックをベースチャンバーに固定する際には、所定の扇角で突き出している前記2つの自在継手と2つの絶縁受けを当接させて、該当接部位を支点にしてベースチャンバーに対し円弧を描くようにイオン源ブロックを動かして、前記支柱と縦穴を嵌め合わせるようにした。 (もっと読む)


【課題】本発明は電子ビーム装置に関し、電子レンズと偏向器の形状を小型化することができる電子ビーム装置を提供することを目的としている。
【解決手段】電子銃から出射された電子ビーム6を試料上に照射する電子ビーム装置であって、電子レンズによりビーム6を収束し、偏向器5によってビームを偏向するようにした電子ビーム装置において、前記電子レンズ15は、励磁コイル10aを包むヨーク部と、励磁コイル10aを含まないヨーク部とからなり、励磁コイルを含まないヨーク部が偏向器5側に位置するように構成される。 (もっと読む)


【課題】本発明はX線光電子分光装置並びに全反射X線光電子分光装置に関し、試料表面を極めて平坦にすることにより、高精度の試料分析ができるようにしたX線光電子分光装置,全反射X線光電子分光装置を提供することを目的としている。
【解決手段】試料表面上を帯電液滴エッチング法を用いてエッチングするエッチング手段と、エッチングした試料表面に全反射条件を満たす全反射臨界角以下の角度でX線を照射するX線照射手段と、X線を照射した試料表面から放出される光電子を解析することにより試料の表面近傍の深さ方向分析を行なう解析手段と、を含んで構成される。 (もっと読む)


【課題】1500℃以上の高温でNMRを測定することができる高温測定用NMRプローブを提供する。
【解決手段】超伝導マグネットの中心軸に沿って設けられた縦穴内に、下方向より挿入配設される高温測定用NMRプローブであって、(1)中心空間に設けられた検出コイル、(2)該中心空間の周囲に設けられた筒状のRFシールド、(3)該RFシールドの外側周囲に設けられた筒状のヒータ、(4)該ヒータの外側周囲に配置されヒータから外へ向かう輻射熱を反射させる筒状の反射手段、(5)該反射手段の外側周囲に設けられた筒状の断熱材と冷却手段、(6)前記検出コイルからの引き出し線を、放熱手段を備えた中継金具で電気回路に中継して接続させる中継接続手段、を備えた。 (もっと読む)


【課題】四重極型のMSが小型であるという特徴を活かしつつ、分解能も改善し得て、比較的に小さな四重極型のMS/MS装置や、更に高分解能な装置を提供する。
【解決手段】複数の直線型四重極を、円弧状四重極を介して直列接続することにより、該四重極の全長を畳み込むように延長したイオン光学系を有する。 (もっと読む)


【課題】B/F分離の動作を単純化することのできる自動分析装置を提供する。
【解決手段】キュベットと、前記キュベットにサンプルと試薬をそれぞれ分注するサンプル分注手段および試薬分注手段と、前記キュベットを周方向に複数個保持し、回転しながら前記サンプルと前記試薬を抗原抗体反応させる反応ターンテーブルと、前記抗原抗体反応後のキュベット内に含まれている遊離した抗原(または抗体)Fを磁性固相に結合した抗原(または抗体)Bから分離させ、該B/F分離後に、磁性固相に結合した抗原(または抗体)と反応する検出試薬を注入して反応させるB/F分離テーブルと、反応した検出試薬を定量する検出器とを備え、前記反応ターンテーブルと前記B/F分離テーブルとの間には、前記反応ターンテーブルから前記B/F分離テーブルへ前記キュベットを移送する第1のキュベット移送手段が存在する。 (もっと読む)


251 - 260 / 811