説明

株式会社トプコンにより出願された特許

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【課題】1回の撮影操作により、診断に重要な黄斑部から視神経乳頭部に渡る広画角撮影をフレアの混入を回避しつつ支障なく行うことができる眼科撮影装置を提供する。
【解決手段】照明光学系25に、被検眼Eの角膜Cと共役な角膜絞り34と被検眼Eの虹彩と共役な虹彩絞り35と水晶体の後面と共役な水晶体絞り36と被検眼Eの眼底Efに対する合焦を行うスプリット指標投影光学系41とが設けられ、照明光源37は、連続して少なくとも二枚の眼底撮影画像を取得可能に制御装置23によって発光制御され、水晶体の後面には水晶体絞り36に対応する内側絞り像q3’が投影され、制御装置23は一枚目の眼底撮影画像を取得する際の絞り像の投影位置に対して二枚目の眼底撮影画像を取得する際に内側絞り像q3’の投影位置が観察及び撮影光学系27、26の光軸に対してシフトされるように水晶体絞り36を制御する。 (もっと読む)


【課題】高感度でかつ測定誤差の小さい側壁角度を非破壊で算出可能な荷電ビーム装置を提供する。
【解決手段】本発明の荷電ビーム装置は、荷電ビームを試料に対して斜め入射させて得られたSEM画像により得られる生のSEM輝度値プロファイルを移動平均フィルタを用いて生のSEM輝度値プロファイル信号に含まれているノイズを除去した後、ノイズが除去されたSEM輝度値プロファイル信号を微分してその微分波形Pwの最大値Pwmaxと最小値Pwminとを取得し、最大値に対応する電子線の走査方向のピクセルの座標点と微分波形の最小値に対応する電子ビームの走査方向のピクセルの座標点との差に基づきピーク幅w4を求め、実際に測定により求めた側壁部の傾斜角度とピーク幅との関係に基づき得られた換算係数と、ピーク幅w4とに基づき側壁部の傾斜角度を求める。 (もっと読む)


【課題】安価で簡便に点群データを取得できる測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象物に対してパルス測距光10を照射する光源部2と、投光光学系3と、前記測定対象物からの反射パルス測距光10′を受光する為の受光光学系4と、受光された反射パルス測距光を検出する為の1つの光検出部を有する受光部6と、該受光部からの検出信号に基づきパルス測距光の発光から反射パルス測距光の受光迄の時間を測定して距離を測定する制御部7とを具備する測定装置に於いて、前記光源部は、前記投光光学系の光軸に対して既知の関係で配列された複数の発光源8と、該発光源を所定の時間間隔で発光させる駆動部9とを有し、前記受光部は、前記発光源と共役の位置に配列され、反射パルス測距光を前記光検出部に導く縮小光学系11,13を有し、前記制御部は、受光素子12からの受光信号24を前記発光源に対応させて判別し、受光信号毎に測距を行う構成した。 (もっと読む)


【課題】眼底の診断における画像解析の正確性の向上を図る。
【解決手段】眼底観察装置1の注目部位指定部232は、眼底Efの注目部位に相当する画像領域を眼底撮影像H中に指定する。眼底表面領域特定部233は、この指定された画像領域に対応する3次元画像M中の眼底表面領域を特定する。画像補正部234は、この眼底表面領域の3次元画像Mにおける位置に基づいて、この眼底表面領域に対して眼底深度方向(z方向)に位置する3次元画像M中の画像領域を、眼底深度方向に直交する方向(xy方向)に変位させる。画像解析部235は、この変位後の3次元画像Mを解析して所定の解析値を求める。 (もっと読む)


【課題】眼底の断層画像を用いた経過観察を有効かつ効率的に行える眼底観察装置を提供する。
【解決手段】眼底観察装置は、画像形成手段と、位置情報生成手段と、画像処理手段とを有する。画像形成手段は、被検眼の眼底を経由した信号光と参照光との干渉光を検出し、その検出結果に基づいて眼底の深度方向の断層画像を形成する。位置情報生成手段は、形成された断層画像に基づいて、当該断層画像の深度方向における位置を示す深度情報を生成する。画像処理手段は、先に形成された断層画像について生成された深度情報と、その後に形成された断層画像について生成された深度情報とに基づいて、先の断層画像と後の断層画像との深度方向における位置合わせを行う。 (もっと読む)


【課題】試料の状態に応じて走査電子顕微鏡及び光学顕微鏡の同時観察又は交互観察を変更する。
【解決手段】試料18の観察領域に電子線を走査しつつ照射する電子光学系を具備し試料のSEM像データを出力する走査電子顕微鏡10と、光源、前記光源で照明された前記試料の前記観察領域の光学像を形成する光学系を具備し光学像データを出力する光学顕微鏡30と、を同一筐体に備え、前記SEM像データ及び光学像データに基づいて前記走査電子顕微鏡と光学顕微鏡とで試料を同時に観察できるかを判定する同時観察判定手段41、を備える。光源を最小光量とした状態でSEM像を撮像し、同時観察判定手段41で光学顕微鏡30との同時観察が可と判断した場合は同時観察を行い、不可と判断した場合には走査電子顕微鏡10と光学顕微鏡30の交互観察を行う。 (もっと読む)


【課題】視標呈示装置に呈示すべきチャートの個数が増大した場合であっても、チャートを迅速に選択することができる自覚式検眼装置を提供する。
【解決手段】各種チャートを呈示する視標呈示装置13と被検眼の視機能を光学的に矯正する各種光学素子をセットする光学素子配置装置とを制御する制御装置15を備え、制御装置15は、実行すべき各種の検査の詳細内容と各種のチャートとを記憶するメモリ部24、視標呈示装置13に表示されているチャートに対応するチャート欄と実行すべき検査に応じて呈示すべき各チャートを選択するための選択ボタンが配列表示された操作画面32を表示する表示部28、詳細内容と各種の選択ボタンとを関連づけて登録する登録部、選択ボタンを指定することにより選択されたチャートを視標呈示装置13に呈示させると共にチャートに関連づけられた光学素子がセットされるように光学素子配置装置14を制御する制御部23を備える。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の点群データからその特徴を抽出し、対象物の輪郭に係るデータを自動的かつ短時間に生成する技術を提供する。
【解決手段】測定対象物の二次画像と、この二次元画像を構成する複数の点の三次元座標データとを関連付けた点群データの中から、演算の負担の大きい非面領域に係る点群データ除去する非面領域除去部101と、非面領域のデータが除去された後の点群データに対して、面を指定するラベルを付与する面ラベリング部102と、ラベルが付与された面から連続した局所領域に基づく局所平面を利用して、対象物の輪郭線を算出する輪郭線算出部103と、精度を高めるために点群データの再取得の要求を行う点群データ再取得要求処理部106を備えている。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の点群データからその特徴を抽出し、対象物の輪郭に係るデータを自動的かつ短時間に生成する技術を提供する。
【解決手段】測定対象物の二次画像と、この二次元画像を構成する複数の点の三次元座標データとを関連付けた点群データの中から、演算の負担の大きい非面領域に係る点群データ除去する非面領域除去部101と、非面領域のデータが除去された後の点群データに対して、面を指定するラベルを付与する面ラベリング部102と、ラベルが付与された面から連続した局所領域に基づく局所平面を利用して、対象物の輪郭線を算出する輪郭線算出部106を備える。 (もっと読む)


【課題】走査電子像と光学像との同時観察が可能であり、而も構造も簡単な電子顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】電子ビームを走査する走査手段10と、電子ビームが走査された試料8から発せられる電子11を検出する電子検出器12を有し、該電子検出器からの検出結果に基づき走査電子像を得る走査型電子顕微鏡2と、照明光を射出する発光源13を有し、試料に照明光を照射して該試料からの反射光を受光して光学像を得る光学顕微鏡3とを具備し、前記電子検出器は電子/光変換する蛍光体層と、該蛍光体層からの蛍光の波長帯域の全て或は略全てが透過する様に制限した波長フィルタと、該波長フィルタを透過した前記蛍光を受光し、光/電気変換する波長検出素子を有し、前記照明光の前記波長フィルタを透過する波長帯域の光量が前記走査電子像の劣化限度を超えない様にした。 (もっと読む)


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