【課題】大きな電流を発生させる電源を不要として、装置の小型化および低コスト化を図る。
【解決手段】被覆電線１２の中心導体１２ａと容量結合する注入電極２と、中心導体１２ａと容量結合する検出電極３と、検査交流電圧Ｖ２を生成すると共に検査交流電圧Ｖ２を注入電極２を介して中心導体１２ａに非接触で注入する交流電圧生成部４と、検査交流電圧Ｖ２の注入に起因して被覆電線１２に発生する電流Ｉｄ２の一部を検出電極３を介して入力すると共に検出電圧Ｖｄに変換して出力する電流検出部５と、検査交流電圧Ｖ２の電圧値に対する検出電圧Ｖｄの電圧値の比率ｋを算出すると共に算出した比率ｋが予め決められた基準比率ｋｒｅｆ以上のときに、被覆電線１２の表面が汚れていると判別する処理部７とを備えている。 （もっと読む）

【課題】信号ケーブルが接続されているプローブピンの破損や信号ケーブルの切断を防止しつつ着脱を行う。
【解決手段】プローブピン１３をそれぞれ保持可能に構成される共にプローブピン１３をプロービング対象体にプロービングさせるプロービング機構４における一対の取付部６２にそれぞれ着脱可能に構成された一対の保持部１１ａ，１１ｂを備え、各保持部１１ａ，１１ｂは、互いに近接し、かつ連結部材１２によって連結されている状態で各取付部６２にそれぞれ着脱可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】構成がきわめて簡単でありながら、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックを確実に行うことができるようにする。
【解決手段】充電ステップでコンデンサＣを規定電圧で充電したのち、検査ステップで、直流電源Ｅより一対のプローブＰを介してコンデンサＣに所定の直流電圧を印加した状態で、電流計１１にてコンデンサＣに流れる電流（漏れ電流）値を測定してコンデンサの良否を検査するにあたって、一対のプローブＰ間に電圧計１２を接続するとともに、直流電源Ｅにスイッチ１３を設け、スイッチ１３をオフとして電圧計１２にて測定される電圧測定値により、コンタクトチェックと充電チェックとを行い、ともに良好である場合に、スイッチ１３をオンとして絶縁抵抗チェックを行う。 （もっと読む）

【課題】赤外線をチョッピングし得る領域を十分に広くする。
【解決手段】支持基板２０と、赤外線透過薄膜積層体２３と、基板２０の厚み方向で積層体２３に対向配置されて「機構側支持部」によって支持された赤外線透過薄膜積層体２５とを有し、導電性材料でそれぞれ形成された両積層体２３，２５の間に電圧が印加された状態において両積層体２３，２５が光学的に一体化して厚み方向に赤外線ＩＲを透過させ、かつ、電圧が印加されない状態において両積層体２３，２５の間にギャップ２８が形成されて赤外線ＩＲを反射すると共に、「機構側支持部」が、積層体２５の外縁領域に設けられた支持枠２４ａと、積層体２５の内側領域に設けられた支柱２４ｂとを備え、電圧が印加された状態において、積層体２５の「機構側支持部」によって支持されていない部位が積層体２３に接して両積層体２３，２５が光学的に一体化する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の直流抵抗の高低によらず、所定の直流バイアス電圧を測定対象物に印加しつつインピーダンスを測定することができるインピーダンス測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、直流電圧を重畳させた交流電圧を、所定の直流出力抵抗Ｒ０でＤＵＴ９０に出力する信号源２と、ＤＵＴ９０に流れる電流を検出する電流検出部３と、ＤＵＴ９０の両端電圧を検出する電圧検出部４と、電流検出部３及び電圧検出部４の出力を読み込んで、ＤＵＴ９０のインピーダンスを演算する演算処理部５とを備え、直流電圧のみを信号源２から出力させた状態で、演算処理部４と信号源２とが、所定の直流バイアス電圧をＤＵＴ９０に印加させるフィードバック関係で接続されるものである。 （もっと読む）

【課題】中心電極および外部電極の双方を測定対象体に対して確実に接触させ得る抵抗測定用電極装置を提供する。
【解決手段】中心電極２２と、中心電極２２の周囲に配置された筒状の外部電極２３と、中心電極２２および外部電極２３を支持する筐体２１（支持板３３）とを備えた電極装置２であって、筐体２１（支持板３３）は、支持板３３に対する外部電極２３の筒長方向への中心電極２２の移動を許容しつつ中心電極２２および外部電極２３を支持する。 （もっと読む）

【課題】補助接地極を設置することなく既に設置されている接地極の接地抵抗を測定する。
【解決手段】各接地極１１，１３，１５，１７のうちから選択した任意の３つの接地極１１，１３，１５についての接地抵抗Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃを測定する際に、選択された３つの接地極１１，１３，１５のうちの２つの接地極で構成されて互いに重複しない３組の接地極組（接地極１１，１３の組、接地極１３，１５の組、接地極１１，１５の組、）について、各接地極組を構成する接地極間の接地抵抗についての合成抵抗をそれぞれ測定し、３つの接地極の接地抵抗Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃをそれぞれ変数とし、この測定した３つの合成抵抗をそれぞれ定数とする３つの１次方程式からなる連立方程式の各変数についての解を３つの接地極１１，１３，１５の接地抵抗Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃとして算出する。 （もっと読む）

【課題】信号波形における判定エリアから外れる部位の発生の有無を短時間に判定する。
【解決手段】判定対象信号Ｓ１の判定対象部位Ｗについての判定エリアＡを示すエリアデータＤａを記憶する記憶部４と、判定対象部位Ｗの波形データＤｗを入力しつつ記憶部４に記憶させる記憶処理を実行する処理部３とを備え、処理部３は、記憶処理の開始から完了までの間において、判定対象部位Ｗの一部の波形データＤｗを記憶部４に記憶させる都度、一部の波形データＤｗによって示される比較対象部位が記憶部４に記憶されているエリアデータＤａのうちのこの一部の波形データＤｗに対応するエリアデータＤａによって示される判定エリアＡに含まれているか否かの波形判定処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】プローブを各電極に同時に接触させることが困難な検査対象部品についての検査を可能とする。
【解決手段】回路基板２の任意の２点間の電気的特性値Ｄｍを測定する測定部５と、この電気的特性値Ｄｍに基づいて２点間に実装されたコンデンサ１４を検査する処理部６とを備え、一方の電極１４ａが三端子レギュレータ２１の出力端子２１ｂに接続され、かつ他方の電極１４ｂが導体パターン３２に接続されたコンデンサ１４の検査に際し、測定部５は、三端子レギュレータ２１の作動用直流電圧にリップル除去率が基準値以下となる周波数の交流電圧を重畳させた測定信号Ｖｓを入力端子２１ａと導体パターン３２との２点間に供給した状態において、第１電気的特性値Ｄｍを測定し、処理部６は、この第１電気的特性値Ｄｍに基づいてコンデンサ１４を検査する。 （もっと読む）

【課題】プローブを各電極に同時に接触させることが困難な検査対象部品等についての検査を可能とする。
【解決手段】回路基板２の任意の２点間の電気的特性値Ｄｍを測定する測定部５と、この電気的特性値Ｄｍに基づいて２点間に実装されたコンデンサ１１〜１７を検査する処理部６とを備え、一方の電極１３ａがアナログスイッチ１８の一方の入出力電極１８ａに接続され、かつ他方の電極１３ｂが導体パターン３２に接続された第１部品としてのコンデンサ１３の検査に際し、測定部５は、アナログスイッチ１８の他方の入出力電極１８ｂと導体パターン３２との２点間の電気的特性値Ｄｍを測定し、処理部６は、アナログスイッチ１８をオン状態に移行させたときに測定部５によって測定される電気的特性値Ｄｍである第１電気的特性値Ｄｍ１に基づいてコンデンサ１３の電気的特性値Ｄｍを算出し、この電気的特性値Ｄｍに基づいてコンデンサ１３を検査する。 （もっと読む）