【課題】平行ビーム法を用いたＸ線回折法において、角度分解能が優れていて、Ｘ線強度の低下が少なく、構造が簡素化されたＸ線回折装置およびＸ線回折方法を提供する。
【解決手段】平行ビームのＸ線２４を試料２６に照射して、試料２６からの回折Ｘ線２８をミラー１８で反射させてからＸ線検出器２０で検出する。ミラー１８の反射面は複数の平坦反射面の組み合わせからなり、回折平面に平行な平面内において、各平坦反射面の中心点は、試料２６の表面上に中心を有する等角螺旋の上にある。Ｘ線検出器２０は、回折平面に平行な平面内において１次元の位置感応型である。異なる平坦反射面で反射した反射Ｘ線が、Ｘ線検出器２０の異なる地点にそれぞれ到達するように、複数の平坦反射面とＸ線検出器２０との相対位置関係が定められている。 （もっと読む）

【課題】 従来のナライザによるけられ（遮蔽）を解消し、分解能に優れたデバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのための方法を提供する。
【解決手段】 被測定試料Ｓに照射する特性Ｘ線を発生するＸ線源１０と；試料を中心に取り囲んで配置されたＸ線フィルム３０と；試料とＸ線フィルムとの間に配置され、試料からの散乱Ｘ線を、当該試料を中心に所定の角度で集めてＸ線フィルムの所定の位置に照射する放物面を有する人工多層膜からなるミラー１００を備えたデバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置により、散乱Ｘ線を、当該試料を中心に所定の角度で集め、当該試料を中心に取り囲んで配置されたＸ線フィルム上にデバイ環を得る。 （もっと読む）

【課題】平行ビーム法を用いたＸ線回折法において、角度分解能が優れていて、Ｘ線強度の低下が少なく、構造が簡素化されたＸ線回折装置およびＸ線回折方法を提供する。
【解決手段】平行ビームのＸ線２４を試料２６に照射して、試料２６からの回折Ｘ線２８をミラー１８で反射させてからＸ線検出器２０で検出する。ミラー１８の反射面の形状は、試料２６の表面上に中心を有する等角螺旋である。反射に寄与する結晶格子面は、反射面上の任意の地点で反射面に平行になっている。Ｘ線検出器２０は、回折平面に平行な平面内において１次元の位置感応型である。そして、ミラー１８の反射面上の複数の異なる地点からの反射Ｘ線が、Ｘ線検出器２０の複数の異なる地点にそれぞれ到達するように、ミラー１８とＸ線検出器２０との相対位置関係が定められている。 （もっと読む）

【課題】ＦＰ法で試料の組成や面積密度を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、非検出元素について正確に検出限界を算出できるものを提供する。
【解決手段】ＦＰ法で試料１３の組成を算出する算出手段１０を備え、その算出手段１０が、非検出元素については所定の微量濃度を加えて組成を仮定し、その組成に基づいて非検出元素から発生する２次Ｘ線４の理論強度を計算し、その非検出元素の理論強度とあらかじめ求められた装置感度係数とから非検出元素の推定測定強度を計算し、その非検出元素の推定測定強度と所定の微量濃度とから非検出元素の検量線勾配を計算し、検出手段９で測定した非検出元素のバックグラウンドの測定強度からバックグラウンドの統計変動を計算し、その非検出元素のバックグラウンドの統計変動と非検出元素の検量線勾配とから非検出元素の検出限界を算出する。 （もっと読む）

【課題】容器の内部に、放射線検出用の半導体素子とともに温湿度センサを収容して、放射線検出用の半導体素子の寿命を予測可能にする。
【解決手段】放射線検出装置は容器１０と半導体素子１２と放射線透過窓２４と温湿度センサ１４を備えている。容器１０は、容器の外部に対して容器の内部空間を気密に保持できるものである。半導体素子１２は放射線を検出するものであり、容器の内部空間に配置される。放射線透過窓２４は容器に形成されていて、半導体素子１２に対面する位置にある。温湿度センサ１４は、半導体素子１２と共に容器の内部空間に配置される。容器内部の湿度と温度が温湿度センサで測定される。その測定データの履歴に基づいて、半導体素子１２の劣化の度合い、すなわち寿命、を予測することができる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線回折法に基づいて硬組織を評価する際に、硬組織を破壊することなく測定を行うことができるようにし、もって、硬組織の評価を簡単且つ短時間で行えるようにする。
【解決手段】Ｘ線源１から出射したＸ線を硬組織４に入射させ、硬組織４で回折して硬組織４の透過側に出射したＸ線をＸ線検出器５で検出する硬組織の評価方法である。Ｘ線源１はＭｏＫα線以上のエネルギを有する特性Ｘ線を発生し、硬組織４は自身の長手方向にｃ軸配向した性質を有し、硬組織４は自身の長手方向がＸ線の光軸と交差するように配置され、Ｘ線検出器５はｃ軸に対応する格子面である（００２）面で回折した回折線の子午線Ａ−Ａ方向の強度を検出し、さらにＸ線検出器５は参照面である（３１０）面で回折した回折線の子午線Ａ−Ａ方向の強度を検出し、参照面と（００２）面の回折線強度との比較に基づいて硬組織を評価する。 （もっと読む）

【課題】小角Ｘ線散乱と広角Ｘ線散乱とを同時に測定できると共に、広角Ｘ線散乱の測定精度を向上できる小角広角Ｘ線測定装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源Ｆから出たＸ線を試料Ｓに照射し試料Ｓから発生する散乱線を小角度領域内で検出器２６によって検出する小角Ｘ線光学系と、試料Ｓと検出器２６との間に設けられており試料Ｓから発生する散乱線を広角度領域内で検出する広角Ｘ線光学系７とを有する小角広角Ｘ線測定装置である。広角Ｘ線光学系７は、試料Ｓと検出器７との間のＸ線光路上に設けられており、Ｘ線像を可視光像に変換する蛍光体３８と、蛍光板３８上に形成された可視光像を反射する光反射体４２と、光反射体４２で反射した可視光像を検出する光検出器４７とを有する。Ｘ線光路と交わる部分の蛍光体３８及び光反射体４２のそれぞれにＸ線用開口３９，４２が設けられ、その開口３９，４２は小角度領域の最大角度値を見込む開口径を有する。 （もっと読む）

【課題】結晶の外形に対して結晶軸がどのように取り付いているかを調べる全３軸の方位決定を高速で、かつ高精度に行うことのできるＸ線単結晶方位測定装置および測定方法を提供することにある。
【解決手段】特性Ｘ線による回折を利用する、ディフラクトメータ法を基本とし、Ｘ線検出器として、ＴＤＩ読み出しモードで動作するＣＣＤをベースにした２次元検出器を採用したことと、該２次元検出器により特定の（狙った）指数の反射を２点で捕らえることにより全３軸の方位決定を行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線焦点の位置を変化させること無くＸ線発生帯を変化させることができ、しかもそのための構成が簡単で故障し難いＸ線発生装置を提供する。
【解決手段】隣接して並んだ２つのＸ線発生帯２７Ａ，２７Ｂを備えた対陰極１７Ａと、陰極１６及び対陰極１７Ａを真空状態である内部に収容したケーシング２５と、対陰極１７Ａ及びそれに一体なフランジ３５を軸線Ｘ０方向に移動可能に支持するフランジ４９及び突出部材５０とを有するＸ線発生装置である。フランジ４９は、フランジ３５に近い側に在るＸ線発生帯２７Ａが電子衝突領域に置かれる位置に対陰極１７Ａがあるときにフランジ３５の右側面に当接する。突出部材５０は、フランジ３５から遠い側に在るＸ線発生帯２７Ｂが電子衝突領域に置かれる位置に対陰極１７Ａがあるときにフランジ３５の左側面に当接する。圧力切替装置５８はフランジ３５に加える空気圧力を大気圧状態と減圧状態とで切り替える。 （もっと読む）

【課題】 青色発光ダイオードの光を蛍光体で赤色に変換して、これをイメージングプレートの消去光として用いることで、小型でかつ十分な光度が得られる消去用光源を用いた放射線画像読取装置を得る。
【解決手段】 レーザ光源１２から放出された励起光２２がイメージングプレート１０に当たると、潜像の強度に応じた発光強度の輝尽発光の光２４が放出される。この輝尽発光の光２４は紫外線検出ダイオード２０でその強度が検出される。残存する潜像は消去用の光源２８から放出される消去光３０で消去される。消去用の光源２８は、青色発光ダイオードと、この青色発光ダイオードが発光する青色の光を赤色の光に変換する蛍光体との組み合わせからなる。青色発光ダイオードは発光強度が大きいので、このような消去用光源を用いることで、小型でかつ光度の大きな赤色の消去光が得られる。 （もっと読む）