【課題】試料の量が少ない場合に、回折線強度が弱くなる２θ高角度領域で十分な回折線強度を獲得でき、Ｘ線照射幅が広くなる２θ中角度領域及び２θ低角度領域において回折ピークの相対Ｘ線強度を正しく維持できるＸ線回折装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線を発散スリット２によって規制して試料Ｓに照射し、試料Ｓから出た回折線Ｒ_２をＸ線検出器１０によって検出するＸ線回折装置である。発散スリット２の発散角は固定値であり、発散スリット２は試料幅方向のＸ線照射幅を規制するスリットである。試料Ｓは、その試料幅が標準試料幅よりも狭くその試料高さが標準試料高さと同じである縦長配置に配置される。Ｘ線検出器１０の出力に基づいて求めたＸ線強度Ｉ_ｏｂｓ（θ）を、試料幅から計算された実効発散角に基づいて補正して真のＸ線強度Ｉ_ｔｒｕ（θ）を求める。 （もっと読む）

【課題】加熱装置を含む温度制御装置を用いて熱分析測定を行う熱分析装置において、試料の交換を行うための構造を非常に小型で且つ簡単に構築できるようにする。
【解決手段】測定位置Ｐｓに置かれた試料Ｓを包囲し試料の温度を制御する試料温度制御装置８と、試料Ｓを支持し支点２２ｂを中心として傾斜揺動可能な天秤ビーム２３ｂと、試料Ｓを測定位置Ｐｓに置く第１位置と試料Ｓを試料温度制御装置８の外部である離隔位置Ｐｒに置く第２位置との間で天秤ビーム２３ｂをスライド移動させる試料移動装置とを有する熱分析装置１である。離隔位置Ｐｒは測定位置Ｐｓから試料温度制御装置８の外部へ延びる直線軌跡Ｌ０から横方向へ外れた位置にある。試料Ｓが測定位置Ｐｓにある状態で天秤ビーム２３ｂを矢印Ａ方向へ直線スライド移動させ、さらに軸線Ｘ０を中心として旋回させることにより、試料Ｓを離隔位置Ｐｒへ持ち運ぶことができる。 （もっと読む）

【課題】高い分析精度を維持しつつ、非常に短時間で分析を行うことができるアスベストの定量分析方法を提供する。
【解決手段】被検試料Ｓに含まれるアスベストの回折線強度を求め、検量線に基づいてその回折線強度からアスベストの重量を求める定量分析方法である。アスベストの回折線強度を求める際、受光スリット５のスリット幅をアスベストの回折線幅と等しい幅に設定し、その受光スリット５及びＸ線検出器８をアスベストの回折線角度位置（２θ）に停止させた状態でＸ線検出器８によって所定時間、回折線を計数する。受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 （もっと読む）

【課題】ＣＴデータにおいて正確に効率よく皮下脂肪領域と内臓脂肪領域とを分離できるＣＴデータ処理装置およびＣＴデータ処理プログラムを提供する。
【解決手段】断層ＣＴデータ上で被検体の胴体中心４１を算出する中心算出部と、断層ＣＴデータで脊柱位置４５を特定し、胴体中心４１に対して脊柱位置４５の反対側の筋肉層３７上に開始点４６を設定する開始点設定部と、第１の範囲４８内に筋肉層３７があるか否かを判定し、第１の範囲４８内に筋肉層３７があると判定された場合には、第１の範囲４８内の筋肉層３７上の点を新たな第１の基準点４７とすることで、第１の基準点４７を開始点４６から移動させつつ第１の範囲４８内の筋肉層３７の有無を判定する筋肉層判定部と、第１の基準点４７を分離線が通るように分離線を算出する分離線算出部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】断面がライン状のＸ線ビームを発生するＸ線源を用いたままで、ライン状のＸ線ビームとポイント状のＸ線ビームを選択的に得られるようにして、かつ、ポイント状のＸ線ビームを選択した場合に、その単位面積当たりのＸ線強度を大きくする。
【解決手段】Ｘ線光学系は、Ｘ線源１０と、アパーチャスリット板１４が付属する放物面多層膜ミラー１８と、光路選択スリット装置２２と、ポリキャピラリー３６と、出射幅制限スリット３８を備えている。ポリキャピラリー３６と出射幅制限スリット３８は、放物面多層膜ミラー１８から出てくる平行ビーム２０の経路中に着脱可能に挿入されていて、この経路から取り外すことができる。そして、その空いたところに、ソーラスリット２６と発散スリット２８を挿入することができる。 （もっと読む）

【課題】測定試料と標準試料との間の熱伝導を抑えつつ、炉体と試料との間の熱伝導を維持し、試料間の温度差を高感度で検知することができる熱分析装置のセンサユニットおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】各試料容器に内の測定試料Ｓと標準試料Ｒとの温度差を検出する熱分析装置１のセンサユニット３０であって、絶縁体で形成され、温度制御される炉体ユニットの近傍に設けられたベース部３１と、２種の熱電対素線を交互に接合することにより形成され、熱電対素線の特定部分は、ベース部に接合されている多対熱電対３２と、絶縁体で形成され、各試料容器が載置される載置面を有し、多対熱電対の接点が接合されている一対の感熱部３５、３６と、を備え、一対の感熱部３５、３６は、ベース部３１から離間して設けられている。 （もっと読む）

【課題】直列に接続された多対熱電対で測定試料と標準試料の温度差を高感度に測定するとともに、そのデータ曲線のベースラインをスロープ調整して出力する温度差出力回路および温度差出力方法を提供する。
【解決手段】２種の熱電対材料の熱電対素線を交互に直列接続し、１つおきの接点の集合のうち、一方を標準試料用の接点として標準試料Ｒ側に設置し、他方を測定試料用の接点として測定試料Ｓ側に設置した多対熱電対１０と、標準試料Ｒの温度を検出する標準試料用の温度検出回路３０と、多対熱電対１０および標準試料用の温度検出回路３０に接続され、多対熱電対１０の出力値Ｖｄａから、標準試料用の温度検出回路３０の出力値Ｖｒａに特定の比率を乗じた値ΔＶｒを差し引く差引回路４０と、を備え、ベースラインを補正して測定試料の温度と標準試料の温度との温度差を出力する。 （もっと読む）

【課題】大型のＸ線発生装置を用いることなく、包装材料の殺菌に適した最適なＸ線エネルギー（すなわち、最適な波長）を用いて殺菌する。
【解決手段】Ｘ線発生装置が発生するＸ線を包装材料に照射して包装材料を殺菌する。包装材料は空気中に配置される。Ｘ線発生装置が発生するＸ線のスペクトルの連続Ｘ線領域の主要部分がＸ線エネルギーの３〜２０ｋｅＶの範囲内にあるようにする。このようなエネルギー範囲のＸ線を用いることで、大型のＸ線発生装置を用いることなく、効果的に殺菌することができる。このエネルギー範囲よりも小さいＸ線エネルギー、あるいは、それよりも大きいＸ線エネルギーでは、Ｘ線が微生物に及ぼす影響が小さくなり、殺菌効果が低下する。 （もっと読む）

【課題】半導体ウェーハの大口径化に対応して、縦方向における発散角の拡大と共に、横方向の視野の拡大可能な２結晶法Ｘ線トポグラフィ装置を提供する。
【解決手段】回折Ｘ線を、試料である第２結晶２の表面を走査しながら所定の角度で入射し、試料である第２結晶の表面から得られる回折Ｘ線をＸ線フィルム４上に記録して、Ｘ線トポグラフィを得る２結晶法Ｘ線トポグラフィ装置において、Ｘ線源５と、コリメータ１０と、所定の幅でＸ線を入射するスリット６とによってＸ線発生部を構成し、第１結晶１と第２結晶２、Ｘ線フィルム４上を含めてトポゴニオ部を構成し、トポゴニオ部を定盤３上に搭載すると共に、Ｘ線発生部を、定盤に対して移動可能な走査台７上に搭載し、もって、Ｘ線源５からのＸ線から第１結晶１を介して得られる回折Ｘ線を第２結晶２の表面上で走査する。 （もっと読む）

【課題】天秤ビームの交換を容易且つ安全に行うことができる熱分析装置を提供する。
【解決手段】第１ビーム２４ｂと第２ビーム２５ｂとを接続して成る天秤ビーム２３ｂと、第１ビーム２４ｂを傾斜揺動可能に支持する支点２２ｂと、支点２２ｂ及び第１ビーム２４ｂを格納し開口１９を有するハウジング１８とを有する熱分析装置である。第２ビーム２５ｂは、開口１９を通してハウジング１８の内部に挿入されて第１ビーム２４ｂに接続されてハウジング１８の外部に延在し、接続側の端部と反対側の端部で試料Ｓを支持する。第１ビーム２４ｂと第２ビーム２５ｂとの接続部を視認可能領域とする透明カバー１７がハウジング１８の上面に設けられている。ハウジング１８の上面側板を取り外すことなく、第２ビーム２５ｂの着脱ができる。 （もっと読む）