【課題】ソーラスリットを設けるための空間を節約することができ、この空間の節約によりＸ線強度を上げることができるＸ線供給装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源から発生したＸ線Ｒをソーラスリット１８の後方へ供給するＸ線供給装置である。ソーラスリット１８は、スペーサ２８によって互いに間隔をおいて積層された複数の金属箔２７を有し、スペーサ２８はＸ線進行経路の片側において金属箔２７の一端部を支持し、Ｘ線源からのＸ線Ｒはスペーサ２８によって支持された金属箔２７の一端部に隣接する端部から入射し、その端部の反対側の端部から出射し、複数の金属箔２７のうちスペーサ２８によって支持された一端部と反対側の端部は開放端である。Ｘ線Ｒの進行経路に対して直角の方向に沿って金属箔２７の開放端に対向してモノクロメータ又は試料が設けられる。 （もっと読む）

【課題】 多数の試料に関して個々の試料を構成する化合物を効率的に定性分析することのできるライブラリ分析方法を提供する。
【解決手段】 （１）複数の試料に互いに異なる符号を付け、（２）複数の試料の符号毎に実測Ｘ線プロファイルを求め、（３）符号毎の実測プロファイルと標準Ｘ線プロファイルとを照合して純化合物を検索して純化合物の存在する組成点を決定し、（４）純化合物の存在する組成点のうち同一座標面にあるもの３点を選択して１つの三角形を形成し、（５）その三角形に含まれるそれぞれの組成点の実測プロファイルと３点の純化合物の標準プロファイルとを順次に照合して所定の相関以上に一致した標準プロファイルを実測プロファイルから削除し、（６）上記（５）のステップを１つの三角形に含まれる全ての組成点の試料に対して繰り返し、後に残った実測プロファイルを符号毎に保存するライブラリ分析方法である。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線画像の記録部において記録体保持ベルトを平面状に吸引保持する記録部支持盤から、記録体保持ベルトを確実に引き剥がして、安定して移動できるようにする
【解決手段】 記録体保持ベルト１５に対する記録部支持盤２２および読取部支持盤３７への吸引を解除した後、記録体保持ベルト１５を正方向へ搬送駆動する前に、当該記録体保持ベルト１５ベルト正逆方向へ微小送りする吸着解除ステップを挿入する。 （もっと読む）

【課題】コイルの巻きピッチを変化させることで，フィラメントの長手方向の温度分布の均一性をきわめて良好にする。
【解決手段】コイル状のフィラメントを，巻きピッチが同一の複数のターンを有する中央部と，それよりも巻きピッチが小さい複数のターンを有する二つの端部とで構成する。端部の複数のターンの巻きピッチは，中央部に近いターンから一番外側のターンに向かって，順次，同じ変化量だけ減少している。中央部の巻きピッチをｐで表し，巻きピッチの変化量をΔｐで表し，フィラメントの全体の巻数をｎで表し，二つの端部の合計の巻数をｋで表すと，Δｐ／ｐを０．０１５から０．１までの範囲内とし，ｋ／ｎを０．３から０．８までの範囲内とする。ｋ／ｎの値は，次の数式の範囲内にすることが好ましい。ｋ／ｎ＝０．７２−４．６６（Δｐ／ｐ）±０．１２。 （もっと読む）

【課題】 コイル状のフィラメントの長手方向の温度分布を均一にできて，かつ，フィラメントが電子ビーム照射領域からのイオン衝撃を受けないようにして，フィラメントの寿命を長くする。
【解決手段】ウェーネルト電極４４の開口４８の内部にコイル状のフィラメント１０を配置する。フィラメントの幅方向の中心線に対してウェーネルト電極の開口の二つの長辺５６，５８は非対称の位置にある。すなわち，偏心フィラメント構造をしている。これにより，フィラメントは電子ビーム照射領域からのイオン衝撃を受けない。フィラメントは，中央部の巻きピッチよりも端部の巻きピッチが密になっていている。すなわち，端部の複数のターンの巻きピッチが，中央部に近いターンから一番外側のターンに向かって，順次，同じ変化量だけ減少している。これにより，フィラメントの長手方向の温度分布が均一になる。 （もっと読む）

【課題】フィラメントの線径を変化させてもコイルの外径を変化させないようにして，フィラメントの長手方向の温度分布の均一性を良好にする。
【解決手段】コイル状のフィラメント１０の長手方向の中央部から端部に向かってコイルの線径ｄｉが順に細くなっている。一方，長手方向に沿ってコイルの外径Ｄは一定である。そのためには，線径を細くする手法として，線材１２のコイル内面側だけを削ればよい。長手方向の温度分布をできるだけ均一にするには，長手方向の中央部における線径ｄ_maxと長手方向の端部における線径ｄ_minとの差Δｄは，次の数式を満足するのが好ましい。Δｄ／ｄ_max＝０．０４１〜０．１４５。 （もっと読む）

【課題】十分な発散角を持ち、積分反射能が高い単色化Ｘ線を一次Ｘ線方向と平行に取り出し可能なＸ線光学素子とそれを利用したＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源と、試料を保持する試料ステージと、試料ステージに保持された試料からのＸ線を検出するための検出器と、Ｘ線源からのＸ線を記試料ステージに保持された試料へ導くための光路とを備えたＸ線分析装置において、この光路の一部に、２枚のグラフィトモノクロメータ２１、２２、又は、多層膜ミラー２１’、２２’、を、対向させ、かつ、反射面が互いに平行になるように、所定の隙間を介して配置し、一方のＸ線反射面に対して所定の入射角で入射した一次Ｘ線を当該Ｘ線反射面上で反射し、その後、他方のＸ線反射面で反射し、もって、単色化されたＸ線を、入射した一次Ｘ線と平行に取り出すＸ線光学素子１０００を配置する。 （もっと読む）

【課題】基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるＸ線回折定量装置を提供する。
【解決手段】物質Ｓの重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、物質Ｓを物質保持領域Ａｓ内に保持するフィルタ３３と、物質Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源Ｆと、物質Ｓで回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器２０と、フィルタ３３におけるＸ線照射面の反対側に設けられ物質保持領域Ａｓよりも小さい基底板３１と、Ｘ線源Ｆから見てフィルタ３３の背面側であって基底板３１の外周側面の周りに設けられた非晶質部材３０とを有するＸ線回折定量装置である。非晶質部材３０からは強いピーク波形を持った回折線が出ないので、基底板３１からの回折線に誤差変動が生じることがなくなる。 （もっと読む）

【課題】 画面上に３次元表示された分析装置の測定結果を、より一層有効に活用できるようにする。
【解決手段】 ３つのパラメータをそれぞれ直線状の座標軸Ｘａ，Ｘｂ，Ｘｃとする３次元座標上に測定データを立体画像Ｇａとして表示する３次元立体画像生成プログラムと、３つのパラメータのうちの２つを直交座標軸Ｘａ，Ｘｂとする２次元座標上に当該２つのパラメータに関する測定データをプロットして２次元画像Ｇｃ，Ｇｄを表示する２次元画像生成プログラムと、座標軸Ｘａ，Ｘｂ，Ｘｃ及びその座標軸上の座標値を指示するデータを入力するための入力用画像Ｇｅを画面３２上に表示すると共に入力用画像Ｇｅに入力された座標軸及び座標値を読み取る入力用画像処理プログラムとを有し、３次元立体画像生成プログラムは、入力用画像Ｇｅを用いて入力された座標値を３次元立体画像Ｇａ上で線Ｌ１，Ｌ２によって表示する。 （もっと読む）

【課題】 画面上に３次元表示された分析装置の測定結果を、より一層有効に活用できるようにする。
【解決手段】 ３つのパラメータをそれぞれ直線状の座標軸Ｘａ，Ｘｂ，Ｘｃとする３次元座標上に測定データを立体画像Ｇａとして表示する３次元立体画像生成プログラムと、３つのパラメータのうちの２つを直交座標軸Ｘａ，Ｘｂとする２次元座標上に当該２つのパラメータに関する測定データをプロットして２次元画像Ｇｃ，Ｇｄを表示する２次元画像生成プログラムと、座標軸Ｘａ，Ｘｂ，Ｘｃ及びその座標軸上の座標値を指示するデータを入力するための入力用画像Ｇｅを画面３２上に表示すると共に入力用画像Ｇｅに入力された座標軸及び座標値を読み取る入力用画像処理プログラムとを有し、３次元立体画像生成プログラムは、入力用画像Ｇｅを用いて入力された座標値を３次元立体画像Ｇａ上で線Ｌ１，Ｌ２によって表示する。 （もっと読む）