【課題】 結晶アナライザの取付け方法を改良することにより、ダブルスリットアナライザ、平行スリットアナライザ、結晶アナライザという３つの受光素子を容易に交換できるようにする。
【解決手段】 第１スリット１２ａと、そのＸ線通過部Ｂの幅を調整する装置１７と、第２スリット１２ｂと、そのＸ線通過部Ｂの幅を調整する装置１７と、第１スリット１２ａと第２スリット１２ｂとの間に設けられていて平行スリットアナライザ１８及び結晶アナライザ１９を１つずつ交換して固定状態で支持できるアナライザ支持装置１３と、第２スリット１２ｂを平行移動させるスリット位置移動装置９とを有するアナライザ４である。スリット位置移動装置９による第２スリット１２ｂの平行移動方向は、アナライザ支持装置１３が結晶アナライザ１９を支持したときにその結晶アナライザ１９で回折するＸ線が進む方向にスリット１２ｂのＸ線通過部Ｂを変位させる方向である。 （もっと読む）

【課題】双晶の実空間単位格子，逆格子空間基本格子及び逆格子点群を立体的に表示することにより，双晶成分間の３次元的な相互関係を容易に理解できるようにして，双晶試料のＸ線構造解析の成功率を高める。
【解決手段】単結晶Ｘ線構造解析装置４２を用いて，複数の双晶成分の各結晶方位行列を得る。第１演算手段３４は，結晶方位行列に基づいて，複数の双晶成分の実空間単位格子を求めて，それを回転，拡大・縮小，平行移動の各操作が可能なように立体的に表示するための表示データを作成する。第２演算手段３６は，結晶方位行列に基づいて，複数の双晶成分の逆格子空間基本格子を求めて，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。第３演算手段３８は，結晶方位行列に基づいて，Ｘ線回折が生じる逆格子点群を，双晶成分ごとに区別して，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。 （もっと読む）

【課題】 試料と標準物質との両方を所定の測定位置へ搬送することをロボットアーム等といった搬送装置や、テーブル等といった試料支持装置等の移動形態を複雑にすることなしに、短時間に且つ正確に実現できる熱分析装置を提供する。
【解決手段】 試料Ｓと標準物質Ｒとを試料取出し位置Ｐ０において並置状態で支持するターンテーブル５２と、試料Ｓと標準物質Ｒとを測定位置３１ｂ，３１ａに並置した状態でそれらを同時に加熱しながら標準物質Ｒに対する試料Ｓの変化を測定する測定装置２と、試料取出し位置Ｐ０に並置された試料Ｓ及び標準物質Ｒを同時に把持して測定位置３１ｂ，３１ａまで搬送する搬送装置３とを有する熱分析装置である。搬送装置３は把持部材６ｓ、６ｓを備えた把持機構と、把持部材６ｒ，６ｒを備えた把持機構とを有する。把持部材６ｓ、６ｓによって試料Ｓを把持し、同時に、把持部材６ｒ，６ｒによって標準物質Ｒを把持する。 （もっと読む）

【課題】 ２次元検出器を隔壁の内部に入れたままの状態で、隔壁の外側からその２次元Ｘ線検出器に対して正確な像読取りを行うことができるＸ線画像読取り装置を提供する。
【解決手段】 内部にエネルギ潜像を有する２次元検出器１３ａにレーザ光Ｌ１を照射したときに検出器１３ａから発生する２次光Ｌ２を検出するＸ線画像読取り装置である。この装置は、レーザ光発生装置４６と、レーザ光を検出器１３ａへ導くと共に検出器１３ａから発生する２次光を通過させるレンズ４８と、レンズ４８を通過した２次光Ｌ２を受光して電気信号に変換する光電変換器５１と、検出器１３ａとレンズ４８との間に配置されていてレーザ光Ｌ１及び２次光Ｌ２を通過させることができる隔壁３７ａと、隔壁３７ａとレンズ４８との間に配置されたブルーフィルタ４９と、レンズ４８による板状検出器１３ａへの光の照射点を走査移動させる走査移動体とを有する。 （もっと読む）

【課題】 化合物の結晶粒を確実に識別して、その構造解析を容易に行うことができる化合物の観察方法及び該方法に用いる着色溶液を提供すること。
【解決手段】 Ｘ線回折実験において、試料である化合物の結晶画像を撮影し、撮影した画像により結晶を観察しながら試料のＸ線照射位置決め作業を行うに際し、結晶を着色溶液６に入れた後、結晶を着色溶液６とともにすくい上げて固化し、結晶に透過光を照射して結晶画像を撮影するようにした。 （もっと読む）

【課題】真のＸ線強度を推定することなく，きわめて短時間で，かつ，高精度にパルス型のＸ線検出器の不感時間を測定する。
【解決手段】Ｘ線検出器１４の入射Ｘ線強度を変えるために第１条件と第２条件を利用する。第１条件は受光スリット２０のスリット幅Ｗであり，少なくとも３種類のスリット幅を選ぶ。第２条件は吸収板１８の有無である。吸収板１８を挿入した状態で，３種類以上のスリット幅Ｗで，第１記録Ｘ線強度を記録する。次に，吸収板１８を外した状態で，同様に，第２記録Ｘ線強度を記録する。第１記録Ｘ線強度と，第２記録Ｘ線強度と，第１記録Ｘ線と第２記録Ｘ線強度の比率ｋ（吸収板１８によるＸ線強度の減衰に基づく）と，Ｘ線検出器の不感時間τとの間で，所定の関係式が成立するので，その関係式に基づいて，最小二乗法によるフィッティングにより，不感時間τを精密に決定する。 （もっと読む）

【課題】電子放射体に対してウェーネルト電極の開口が非対称になっている構造の電子銃を備えるＸ線管において，開口の形状を工夫することで，ターゲット上の電子ビーム照射領域が湾曲しないようにする。
【解決手段】ウェーネルト電極の細長い開口１８ａの内部に，細長いコイル状のフィラメント１６が配置されている。フィラメント１６の幅方向の中心線に対して，開口１８ａの二つの長辺２６ａ，２８ａが非対称の位置にある。そして，ウェーネルト電極の表面の法線方向から見て，これらの二つの長辺２６ａ，２８ａが，それぞれ，同じ方向に湾曲している。二つの長辺２６ａ，２８ａの曲率半径Ｒ１，Ｒ２は互いに異なっている。こうすることで，ターゲット上の電子ビーム照射領域が湾曲することなく，ほぼ直線状になる。 （もっと読む）

【課題】 各種のトポグラフィとロッキングカーブ測定法が一台の装置で可能なＸ線単結晶評価装置を提供する。
【解決手段】 単結晶試料ＳＭを保持してＸ線発生装置３０から出射されるＸ線を照射して回折Ｘ線を生じるＸ線回折部２０と、Ｘ線回折部において試料で回折したＸ線を受光するＸ線検出部１００とを備えたＸ線単結晶評価装置は、Ｘ線発生装置から出射して単結晶試料に照射される光路部４０の一部に、結晶コリメータ４７が選択的に挿入可能なコリメータ４５を備え、かつ、Ｘ線検出部は、Ｘ線ＴＶ１１０とシンチレーションカウンタ（ＳＣ）１２０とを備えており、このＳＣは移動可能で、その移動位置によってアナライザ結晶１２１が挿入可能である。 （もっと読む）

【課題】 面内回転を必要とする試料とスリットとを一体に支持して正確な測定を行うことができるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線を発生するＸ線焦点Ｆと、試料Ｓを支持する試料ホルダ１７と、試料ホルダ１７に着脱可能に取り付けられると共にＸ線焦点Ｆから見て試料Ｓの前に配置されるマスクスリット１９を備えたマスク部材１８と、試料Ｓで回折したＸ線を検出するＸ線検出装置４と、Ｘ線光軸Ｘ０に対して直角であって試料Ｓを通るθ軸線を中心として試料ホルダ１７をθ回転させるθ回転装置５、１３と、θ回転した試料ホルダ１７をθ軸線に対して直角であってＸ線光軸Ｘ０と交差するβ軸線を中心として面内回転させるβ回転装置３７とを有するＸ線分析装置１である。 （もっと読む）

【課題】陰極15の表面で発生した蛍光Ｘ線25が真空外囲器12の出力口21から放射されるのを低減でき、出力口21に配置した出力窓23を長寿命化できるＸ線管11を提供する。
【解決手段】陰極15から放出された電子ｅが陽極ターゲット18に入射して一次Ｘ線20を放出し、この一次Ｘ線20を真空外囲器12の出力口21から外部に放射する。出力口21は、陰極15の表面より陽極ターゲット18側に離間した位置に開口する。陽極ターゲット18で反跳した反跳電子24が陰極15の表面に衝突して蛍光Ｘ線25が発生しても、蛍光Ｘ線25が出力口21から放射されるのを低減できる。陰極15と陽極ターゲット18との対向方向における出力口21の開口幅を狭くし、出力口21に配置した出力窓23への反跳電子24の入射を低減し、出力窓23を長寿命化する。
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