説明

株式会社リガクにより出願された特許

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【課題】 記憶媒体内に複数のファイルが記憶される場合であって、それらのファイル内に含まれるデータを印刷したときに、得られた印刷物のデータとしての信頼性を高める。
【解決手段】 試料に対して測定を行って測定データを得る測定装置2と、測定データ及びその測定データに基づいて生成された副次データを記憶する第1記憶領域21と、測定データ又は副次データを印刷して印刷物を作製する印刷装置6と、印刷装置6によって印刷物が作製されたときに印刷物と同一の印刷時ファイル25を生成するCPU7とを有する分析装置である。印刷時ファイル25には測定データ又は副次データが含まれる。印刷装置6は印刷時ファイル25を特定できる情報を印刷物に印刷する。印刷が行われたときに自動的に印刷時ファイル25ができるので、印刷物とファイルとの関係を強く維持できる。 (もっと読む)


【課題】 X線を検出する半導体素子を容器内に収容して,その容器の内部を大気から遮断することで,半導体素子が大気の湿度の影響を受けないようにする。
【解決手段】 容器10は台座14とキャップ16からなる。台座14の外周付近とキャップ16のフランジ18は密封接合されている。キャップ16には円形の開口22が形成されていて,この開口22を覆うようにベリリウム窓24が密封接合されている。APD12は基板26に搭載されていて,基板26は台座14の内面に接着されている。台座14には二つの貫通孔28が形成されていて,第1リード端子30と第2リード端子32がそれぞれ貫通孔28を通過している。その貫通部分はガラス・ハーメチックシール38で密封封止されている。容器10の内部は大気から遮断された密封空間であり,この密封空間は乾燥窒素ガスで満たされている。 (もっと読む)


【課題】 熱分析装置において温度センサの取付け方法の改善により熱分析の精度を向上する。
【解決手段】 熱を試料Sの方向へ伝える金属ブロック4と、この金属ブロック4からの熱を受ける伝熱側受熱部分14aと試料Sからの熱を受ける試料側受熱部分14bとを有する温度センサ8a,8bと、温度センサ8a,8bの伝熱側受熱部分14aと金属ブロック4との間に設けられた介在部材12とを有する熱分析装置である。温度センサ8a,8bは、伝熱側受熱部分14aと試料側受熱部分14bとの温度差に応じた信号を出力する。介在部材12は結晶構造内にすべり面を有する熱伝導性に優れた材料、例えば黒鉛構造を有する炭素やBNによって形成される。伝熱側受熱部分14aと金属ブロック4との熱膨張量が異なるとき、介在部材12はすべり面でズレ移動して両部材の自由な熱膨張を確保する。 (もっと読む)


【課題】 結晶子の方位や結晶の配向の程度等を極点図を用いて視覚的に明確、簡単且つ迅速に把握できるようにする。
【解決手段】 極点図のためのデータを得るX線測定装置と、そのX線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するX線回折装置である。画像データ生成回路は、メモリに記憶された極点図のためのデータに基づいて、極点図に対応した球面表示データであって球の中心が方位の原点である球面表示データを生成する。表示装置はその球面表示データに基づいて極点図を3次元球面図34によって球体表示する。極点図を本来の姿である球面分布で表示するので見易くて正確な判定ができる。 (もっと読む)


【課題】 X線分析装置のX線検出器としてCCDセンサ等といった半導体センサであってX線直接検出型の半導体センサを用いる場合に、半導体センサの損傷を長期間にわたって防止できるようにする。
【解決手段】 試料Sを支持する試料台19と、試料Sに照射するX線を発生するX線源24と、複数の半導体素子を並べることによって形成されていて試料Sから出たX線をそれらの半導体素子によって直接に受光する半導体センサ43と、試料SのX線出射側の領域であって回折角度0°の近傍である低角度領域γに配置されたX線ストッパ33とを有するX線分析装置である。半導体センサ43が低角度領域γの領域内まで2θ回転移動によって運ばれたとき、X線源24からのX線のダイレクトビームがその半導体センサ43に直接に入ることをX線ストッパ33によって防止する。 (もっと読む)


【課題】 X線直接検出型の半導体センサを用いる場合に、X線検出面である半導体受光素子の表面に異物が付着することを長期間にわたって確実に防止できるようにする。
【解決手段】 CCDセンサ42をパッケージ40でパッケージングして成るCCDモジュール32を有するX線検出装置である。CCDセンサ42は、複数のCCD素子を並べることによって形成されていて、それらのCCD素子によってX線を直接に受光する。パッケージ40におけるCCDセンサ42のX線受光面に対向する領域は保護膜43となっている。この保護膜43は、X線を通すことができる材料によって形成されている。保護膜43は、CCDセンサ42のX線受光面に異物が付着すること防止する。保護膜43の周囲は膜支持部材44によって囲まれている。膜支持部材44はX線を減衰する材料、例えばガラスによって形成されているので、配線47にX線が直接に当たることを防止できる。 (もっと読む)


【課題】 撮像倍率や分解能を容易に変更できる工業用用途に好適なX線CT装置を提供する。
【解決手段】 X線を発生させるX線源6と、試料Sを保持する試料保持台8と、X線源6から放射され試料Sを透過してきたX線を検出するX線検出器7と、X線源6およびX線検出器7を搭載する撮像系支持手段とを備える。撮像系支持手段は、回転軸Oを中心に回転自在である。また、撮像系支持手段は、試料Sを挟んでX線源6とX線検出器7とを対向配置する。さらに、撮像系支持手段は、X線源6およびX線検出器7の一方または双方を、試料Sに対して接離する方向へ移動可能である。 (もっと読む)


【課題】シャッター関連の複数の確認ランプを一箇所にまとめて配置することで,シャッターの開閉指令の内容と実際のシャッター開閉状態とを容易に確認できるようにする。
【解決手段】X線管22のX線取り出し窓はシャッター24で開閉される。シャッター開閉スイッチ18による開閉指令は開閉駆動機構34に送られ,その開閉指令の内容は第1のシャッター指令ランプ20と第2のシャッター指令ランプ30で表示される。シャッター24の開閉状態は開閉検出装置36で検出され,その検出内容は第1のシャッター検出ランプ26と第2のシャッター検出ランプ32で表示される。第2のシャッター指令ランプ30と第2のシャッター検出ランプ32は作業テーブル12上のシャッター表示ユニット28にまとめて配置されていて,オペレータは両者を容易にかつ同時に確認できる。 (もっと読む)


【課題】 障害物との干渉を高精度に検出することができ、しかも各回転部の動作範囲を広げかつ自由度の高い回転動作を実現する。
【解決手段】 ω回転台13およびκ回転台14の回転角度をそれぞれ検出するとともに、これら各回転台13,14に関し、あらかじめ回転可能角度領域および回転規制角度領域を相対的に設定しておく。そして、検出された各回転角度情報を、あらかじめ設定した回転可能角度領域および回転規制角度領域と対比して、当該対比結果に基づき検出対象となっている各回転台13,14の回転動作を制御する。 (もっと読む)


【課題】回転翼を用いてケーシング内の空気を排出することにより,冷却液シール装置から徐々に漏れてくる水を大気空間に効果的に逃がす。また,冷却液センサを設けることにより,冷却液シール装置から漏れてくる水を早期に検出する。
【解決手段】回転シャフト24の内部には冷却水通路44があり,ケーシング20の内部には空気通路60がある。冷却水通路44と空気通路60の間にはメカニカルシール32がある。メカニカルシール32から水蒸気の状態で漏れてくる冷却水は,空気通路60内の回転翼66により空気と共に半径方向外方に押しやられて,空気出口64から出て行く。また,検出口84には冷却液センサが接続されていて,漏水を検知できる。 (もっと読む)


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