【課題】Ｘ線を発生する際に対陰極から放出される正イオン（矢印Ｂ）が陰極に衝突して陰極の寿命に悪影響が及ぶことを防止でき、しかもそれを実現するための構成が非常に簡単であるＸ線発生装置を提供する。
【解決手段】電子を発生する陰極２と、円筒形状の電子衝突面を有しており電子が電子衝突面に衝突した領域がＸ線焦点Ｆとなる回転対陰極４と、陰極２から出た電子に電界Ｅを付与するウエネルト電極７とを有するＸ線発生装置である。ウエネルト電極７は、電界Ｅを形成する電界形成面７ａと、電界形成面７ａによって形成されている電子通過用の開口１４とを有している。ウエネルト電極７の電界形成面７ａは、Ｘ線焦点Ｆの中心における回転対陰極４の外周面の接線面Ｓ２に対して傾斜している。電子放出用の開口１４の中心を通り電界形成面７ａに直交する面Ｓ３上に陰極２の中心がある。 （もっと読む）

【課題】用途に応じて検出面を好適な形状配置、面積で構成でき、高い信号読み出しの動作帯域を維持しつつ、多数の検出モジュールを接続することができるＸ線検出器を提供する。
【解決手段】モジュールごとにＸ線画像データを検出するＸ線検出器５０であって、各々が直列に接続され、内部クロックφに基づいて自ら検出したＸ線画像データを同期して読み出すとともに、読み出されたＸ線画像データを転々と転送する複数の検出モジュール１を備え、複数の検出モジュール１の各々は、転送されたＸ線画像データを受け取り、受け取ったＸ線画像データを内部クロックφにより同期し直して、自ら検出したＸ線画像データとともに転送する。これにより、測定ごとのデータ転送方式の変更や制御機器３側への負担なしに、任意の位置に検出モジュール１を配置できる。 （もっと読む）

【課題】破損のおそれを低減しつつ、モジュールの取付け、交換作業を容易にするＸ線検出器を提供する。
【解決手段】モジュールごとにＸ線画像データを検出するＸ線検出器５０であって、Ｘ線を検出する検出デバイスの裏面に凸状フレームが設けられた検出モジュール７と、凸状フレームに嵌合し、検出デバイスを着脱可能に支持するガイドフレーム１２と、を備え、ガイドフレーム１２は、嵌合により、ガイドフレーム１２に対する検出デバイスの位置を固定する。これにより、ガイドフレーム１２に凸状フレーム８を嵌合させることで、正確かつ容易に検出モジュールの取り付け、取り外しができる。すなわち、既に収容されている隣接する検出モジュールに対して、その間の隙間を最小限としつつ、互いに干渉することなく、新たに検出モジュールをガイドフレームに取り付けることができる。 （もっと読む）

【課題】透過法によるＸ線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。
【解決手段】被測定試料に対しＸ線を照射してＸ線回折測定を実施するとともに、当該被測定試料および標準試料を加熱して熱分析測定を同時に実施する機能を備えたＸ線回折・熱分析同時測定装置であり、被測定試料および標準試料を加熱する加熱炉を備えている。この加熱炉は、円筒形状をしており、中心軸が水平方向に配置され、一端面から他端面へとＸ線を透過可能な構成をしている。さらに、被測定試料および標準試料を加熱する加熱炉内に配置され、これら各試料から伝えられる熱を検出する感熱板３０と、感熱板３０の感熱面に設けられた被測定試料を保持する第１試料保持部３１と、感熱板３０の感熱面に設けられた標準試料を保持する第２試料保持部３２とを有している。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線トポグラフを求めるＸ線回折装置においてＸ線トポグラフの平面領域内の位置を明確に特定できるようにする。光学顕微鏡、イメージングデバイス等によって捕えることができない光学的に透明な物質を可視化して測定対象とする。
【解決手段】試料１８の平面領域から出たＸ線を空間的に１対１の幾何学的対応をつけて平面的なＸ線トポグラフとして検出し、当該Ｘ線トポグラフを信号として出力するＸ線トポグラフィ装置４，２２と、試料１８の平面領域の光像を受光してその光像を平面位置情報によって特定された信号として出力する２次元イメージングデバイス６と、Ｘ線トポグラフの出力信号とイメージングデバイス６の出力信号とに基づいて合成画像データを生成する画像合成用の演算制御装置とを有するＸ線回折装置である。 （もっと読む）

【課題】容易に放射線画像の読み取り作業を行い、画像記録体を一定の基準面で正確に高解像に読み取ることができる放射線画像読取装置、フィルム状ホルダおよび放射線画像の読み取り方法を提供する。
【解決手段】放射線画像が記録された画像記録体から画像読取を行う放射線画像読取装置１００であって、画像記録体が保持されたフィルム状ホルダを支持し、画像読取時にスライドする支持部１１０と、支持部１１０上で、一端が固定され、自由端側でフィルム状ホルダを被覆するホルダ被覆部１２０と、ホルダ被覆部１２０の自由端に連結してフィルム状ホルダを支持部に固定するホルダ固定部１２７と、画像読取時にスライドする画像記録体の表面を基準曲面に合せるガイド部１３０と、基準曲面に合わされた画像記録体の表面から放射線画像を読み取る読取部とを備える。 （もっと読む）

【課題】円筒面変換処理と時間遅延積分処理との両方を同じ演算制御過程内で行うことを可能にすることにより、極めて分解能が高く、しかも強度の高い回折Ｘ線像を得ることができるＸ線回折装置を提供する。
【解決手段】ＣＰＵ１７、メモリ２０等から成るコンピュータの外部にＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）から成る信号処理部２１を設置して成るＸ線回折装置１である。測定装置２はＸ線回折測定を行う。２次元ピクセル型検出器１２は複数のピクセルから出力されるデータ量の大きな２次元回折線データを高速通信線であるカメラリンクケーブル２４を通して信号処理部２１へ伝送する。信号処理部２１は送られてきた大量の回折線データに対して円筒面変換処理２６及び時間遅延積分処理２７を行い、処理結果の画像データを１ラインの行データごとにバス２３へ伝送する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線源に対する試料および検出器間の距離を微調整するだけで、目的に応じて高分解能位相コントラスト画像と高分解能吸収コントラスト画像を短時間で撮影することができるＸ線画像撮影方法およびＸ線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】有限の大きさをもつＸ線源を用い、高い空間分解能で微細な構造を撮影可能にするＸ線画像撮影方法であって、Ｘ線源１１０から試料５００までの距離をＬ、試料５００から検出器１３０までの距離をｄとするとき、ｄ／Ｌが１より十分に小さい。また、Ｘ線源１１０から照射されるＸ線の平均波長をλとし、検出器１３０の分解能をΔとするとき、位相コントラストのピーク位置と谷位置との間の距離が１／３Δ以上３Δ以下である。 （もっと読む）

【課題】試料識別標記や特異元素で構成されたマスクや試料ホルダを要せず、試料を試料ホルダに搬送する前に試料ホルダを短時間で自動識別する分析装置を提供する。
【解決手段】本発明の分析装置は、カセット２１の種類を識別するカセット部２０と、試料Ｓが挿入される挿入口８３、および、試料が載置される輪状の台座８２を有する試料ホルダ８と、カセット２１から試料ホルダ８へ試料Ｓを搬送する搬送手段２３と、試料ホルダの挿入口の径方向端８４または輪状の台座の内径方向端８５を検出して、載置されるべき試料の直径に対応した試料ホルダの種類を識別する試料ホルダ識別信号を発信する試料ホルダ識別手段３５と、カセット識別信号および試料ホルダ識別信号に基づいて、カセット２１に収納されるべき試料の直径と試料ホルダ８の台座に載置されるべき試料の直径とが合致しているか、否かを判定する判定手段４０とを備える。 （もっと読む）

【課題】面方位測定とノッチ方位測定の両方を１つの測定で同時に行うことができるようにする。
【解決手段】Ｘ線源Ｆからの連続Ｘ線を平行化して単結晶試料位置へ導くコリメータ３３と、試料の格子面（００１）に対応したラウエ像を検出できる第１位置に配置された第１の２次元検出器３１と、試料の格子面（ｈｈｌ）に対応したラウエ像を検出できる第２の位置に配置された第２の２次元検出器３２と、第１の２次元検出器３１の出力に基づいて格子面（００１）の法線ベクトルＶ_００１を演算し、第２の２次元検出器３２の出力に基づいて格子面（ｈｈｌ）の法線ベクトルＶ_ｈｈｌを演算し、ベクトルＶ_００１とベクトルＶ_ｈｈｌとに基づいて方位マークの方向を演算する演算装置とを有するＸ線結晶方位測定装置である。２つの格子面（００１）及び（ｈｈｌ）は方位マークを付けようとしている結晶方位を晶帯軸とするときにその晶帯軸に属する格子面である。 （もっと読む）