説明

三洋半導体株式会社により出願された特許

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【課題】耐湿性が向上された半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置10は、裏面が外部に露出するアイランド11と、アイランド11の上面に実装された半導体素子17と、一端がアイランド11に接近して配置されて半導体素子17と電気的に接続されるリード12と、アイランド11の下面が外部に露出した状態で半導体素子17等を被覆する封止樹脂19とを主要に具備する。更に、半導体素子17が表面に実装されるアイランド11の外周端部を部分的に厚み方向に突出させて突出部14を設けて、アイランド11と封止樹脂19との密着強度を向上させて、装置全体の耐湿性を向上させている。 (もっと読む)


【課題】低コストで、連続的に誘起電圧を検出し、それをもとにモータを高効率駆動する。
【解決手段】コイル電流検出部30は、コイルに流れる電流成分を検出する。スケーリング部38は、駆動信号をスケーリングする。誘起電圧成分抽出部42は、コイル電流検出部により検出されたコイル電流成分から、前記スケーリング部によりスケーリングされた駆動信号を除去して、誘起電圧成分を抽出する。位相差検出部74は、駆動信号の位相と、誘起電圧成分の位相との位相差を検出する。信号調整部14は、位相差検出部74により検出された位相差を目標位相差に近づけるよう駆動信号を調整する。 (もっと読む)


【課題】ステッピングモータを高精度で高効率駆動する。
【解決手段】誘起電圧検出部40は、第1コイル22または第2コイル24からみて駆動部がハイインピーダンス状態のとき、第1コイル22の両端電圧または第2コイル24の両端電圧を検出して、第1コイル22または第2コイル24に発生する誘起電圧を検出する。誘起電圧検出部40は、第1コイル22の両端の電位または第2コイル24の両端の電位を差動増幅する差動増幅回路42と、差動増幅回路42から出力されるアナログ値をデジタル値に変換し、制御部に出力するアナログデジタル変換回路44とを含む。制御部は、外部から設定される入力信号をもとに駆動信号を生成し、誘起電圧検出部40により検出される誘起電圧に応じて当該駆動信号を調整して駆動部に設定する。 (もっと読む)


【課題】低コストで、連続的に誘起電圧を検出し、それをもとにモータの脱調を回避する。
【解決手段】コイル電流検出部30は、コイルに流れる電流成分を検出する。スケーリング部38は、駆動信号をスケーリングする。誘起電圧成分抽出部42は、コイル電流検出部30により検出されたコイル電流成分から、スケーリング部38によりスケーリングされた駆動信号を除去して、誘起電圧成分を抽出する。位相差検出部74は、駆動信号の位相と、誘起電圧成分の位相との位相差を検出する。脱調予測判定部80は、位相差検出部74により検出された位相差の微分値と、脱調予測用の検出閾値とを比較し、脱調発生を予測する。 (もっと読む)


【課題】ステッピングモータを高効率駆動する。
【解決手段】駆動部30は、第1コイル22および第2コイル24に位相の異なる電流を供給して、ロータ26を回転させる。制御部10は、外部から設定される入力信号をもとに駆動信号を生成し、駆動部30に設定する。誘起電圧検出部40は、第1コイル22または第2コイル24からみて駆動部30がハイインピーダンス状態のとき、第1コイル22の両端電圧または第2コイル24の両端電圧を検出して、第1コイル22または第2コイル24に発生する誘起電圧を検出する。制御部10は、誘起電圧の目標値と、誘起電圧検出部40により検出される誘起電圧の値との差分が小さくなるよう駆動信号を適応的に変化させることにより、誘起電圧の位相を調整する。 (もっと読む)


【課題】トレンチ構造のゲート絶縁膜がエミッタ層等を形成するときの砒素イオンよる損傷を受けることがなく、その絶縁耐圧が向上する半導体装置を低コストで製造できる方法を確立する。
【解決手段】トレンチ3内に埋め込まれて形成されたポリシリコンからなるゲート電極5を高温炉中等で熱酸化してゲート電極5上に厚いポリシリコン熱酸化膜6を形成する。その後に不純物イオンをイオン注入してエミッタ層等となるN型半導体層8を形成する。この場合、ポリシリコン熱酸化膜6の膜厚を、イオン注入によりエミッタ層等となるN型半導体層8を形成するための不純物イオンのシリコン酸化膜中の平均飛程より厚く形成する。これにより、不純物イオンがゲート電極5とN型半導体層8に挟まれたゲート絶縁膜4に損傷を与えるのを防止する。 (もっと読む)


【課題】静電容量方式のタッチスイッチにおいて、電極に接続されたコンデンサの容量変化の判別における外部ノイズの影響を抑える。
【解決手段】第1コンデンサ及び第2コンデンサが接続される容量判別器において、前記第1コンデンサの第1電圧と前記第2コンデンサの第2電圧とを比較する比較器と、前記比較器からの比較結果を受け、カウントするカウンタ回路と、前記第1コンデンサ及び前記第2コンデンサに、電荷をチャージするチャージ回路と、前記比較器からの比較結果を受け、前記第1コンデンサか、前記第2コンデンサのいずれか一方のみに、前記電荷をチャージする様に前記チャージ回路を制御する制御回路と、を備え、前記カウンタ回路のカウント値に応じて、前記第1コンデンサと前記第2コンデンサの容量の判別を行う。 (もっと読む)


【課題】N+型ソース層とフローティングゲートとのカップリング比を高くしてプログラム特性を改善すると共にメモリーセルの面積の縮小化を図る。
【解決手段】N+型ソース層4の両側にトレンチ3を形成する。トレンチ3の側壁は2つの素子分離層STI2の端面と平行なトレンチ側壁2a、トレンチ側壁2bと、STI2に垂直な面からなるトレンチ側壁3a、及びトレンチ側壁3aと平行でないトレンチ側壁3bから構成される。かかる構成のトレンチ3の上部からトレンチ側壁3aに平行で、且つP型ウエル層1に垂直又は角度をもった砒素イオン等のイオン注入を行い、トレンチ3底面からトレンチ側壁3bに延在するフローティングゲートFG6と広い面積で対峙するN+型ソース層4を形成する。 (もっと読む)


【課題】熱保護回路を備えたICにおいて、ICの端子数を削減してICチップの面積を小さくする。また、樹脂封止後においても熱保護回路の動作テストの実施を可能にする。
【解決手段】半導体集積回路100は、パワーアンプ15と、パワーアンプ15の異常発熱を検知してパワーアンプ15を保護する熱保護回路と、テスト電圧を印加するテスト端子を有し、テスト電圧に応じて熱保護回路の動作テストを行うテスト回路10と、制御電圧を印加する制御端子を有し、制御電圧に応じて内部回路の制御を行う制御回路16と、を備える。そして、テスト端子と制御端子とを1つの共通端子KPに共通化した。 (もっと読む)


【課題】安価で安定して温度を検出できる温度検出回路を提供することができる。
【解決手段】温度検出回路は、定電流を生成する定電流回路と、定電流が供給されると、温度に応じて変化する降伏電圧を生成するツェナーダイオードと、降伏電圧と所定電圧との大小関係に基づいて、ツェナーダイオードの温度が、降伏電圧が所定電圧となる際のツェナーダイオードの温度より高いか否かを示す出力信号を出力する信号出力回路と、を備える。 (もっと読む)


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