【課題】複数の試料に対してＸ線回折測定を行う場合に、それぞれの試料のＸ線回折パターンが独立に正確に得られにくいという問題点があった。
【解決手段】Ｘ線を試料に向けて照射するためのＸ線照射部と回折Ｘ線を検出するための回折Ｘ線検出部と試料を保持するための試料保持部とを有するＸ線回折装置において、
試料保持部の所定位置に光を照射する光照射部と、光照射部から発生した光を試料に照射して得た反射光を受光する受光部と、反射光の受光角度又は受光位置を測定し、それに応じて試料保持部の試料の厚さ方向の移動距離を決定する位置制御部と、決定された移動距離に応じて試料保持部を試料の厚さ方向に移動させる移動部とを有する位置調整機構を有する、ことを特徴とするＸ線回折装置。 （もっと読む）

【課題】超音波材料特性解析装置によりTiO₂-SiO₂ガラスを評価するために必要となる漏洩弾性表面波速度と化学組成比や線膨張係数との間の正確な関係を求める方法を与える。
【解決手段】脈理面に対して垂直な基板面を有する試料およびそれと隣接したCTE測定試料板を用意し、化学組成比やCTEを測定する領域と同じ領域を、LSAWの伝搬方向を脈理面に平行として、LSAW速度を測定する。同じ領域に対して化学組成比を測定する。またCTE測定試料板に対してCTEを測定する。これらのLSAW速度と化学組成比やCTEより、それらの間の正確な関係を得る。 （もっと読む）

【課題】 磁気ディスク装置の製造ラインに発生する塵埃の種類と、その発生源について詳細に検証でき、磁気ディスク装置の製造環境管理および品質管理に貢献する製造環境のモニター方法を提供する。
【解決手段】 製造に係る磁気ディスク装置と同一モデルで、吸気口および排気口、および強制吸排気機構を有するモニター用磁気ディスク装置１０ａ〜１０ｄを製造ライン周囲の特定の位置に置く。吸気口および排気口を開放した状態で強制吸排気機構を作動させ製造ライン周辺の雰囲気を内部に導入する。製造ラインを稼働させた状態で約２４〜４８時間程度雰囲気を導入する。その後、同装置に対してリード／ライト試験を行う。基準値以上のエラー・レートでエラーが発生した場合、同装置の磁気ディスクおよび磁気ヘッドを分解して詳細な分析を行う。 （もっと読む）

【課題】 焼結後のセラミックス基材内の焼結助剤分布を均一化することによって、以上述べた焼結後の熱処理による増加変形量を低減すること、即ちセラミックス基材の高温での熱処理時に生ずる変形量を小さくする。
【解決手段】 焼結助剤を含むセラミックス基材であって、蛍光Ｘ線によるその一方の主面側および他方の主面側の主成分元素の検出強度に対する焼結助剤成分元素の検出強度の比を、それぞれａおよびｂとし、ａ＞ｂとした場合に、ａ／ｂ≦１．３であるセラミックス基材を提供する。 （もっと読む）

【課題】 煩雑な予備的検証を少なくし、所望の実用物性を有する多結晶セラミック焼結体を高い確度で選択可能であり、その工業的製法の確立に寄与できる多結晶セラミック焼結体の評価方法を提供すること。
【解決手段】 本発明に係る評価方法は、多結晶セラミック焼結体に陽電子を照射し、入射陽電子の消滅寿命を測定し、該測定結果に基づいて多結晶セラミック焼結体の実用物性を推算することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】複数種類の特性Ｘ線を同時に試料に照射して，複数種類の特性Ｘ線によるＸ線回折測定を同時に実施できるようにする。
【解決手段】Ｘ線管１０は，Ｃｏからなる第１ターゲット領域２４と，Ｃｕからなる第２ターゲット領域２６とを備える対陰極を有している。第１ターゲット領域２４と第２ターゲット領域２６はＸ線の取り出し方向に垂直な方向（Ｚ方向）に区分けされている。入射側のソーラースリット１４と受光側のソーラースリット１８はＺ方向のＸ線の発散を制限する。Ｘ線検出器２０は，Ｃｏの特性Ｘ線が照射された第１試料領域から出てくる回折Ｘ線とＣｕの特性Ｘ線が照射された第２試料領域から出てくる回折Ｘ線とを分離して検出できるような，少なくともＺ方向に位置感応型のＸ線検出器であり，例えば，ＴＤＩ動作が可能な２次元ＣＣＤセンサである。 （もっと読む）

【課題】未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。
【解決手段】Ｘ線放射特性を用いた物質同定方法が提供される。監視されるＸ線放射特性を表すＸ線データは、入射エネルギービームに応答して試料から得られる。同様に、複数の物質の組成データを含むデータセットが得られる。試料物質はデータセット内に含まれる。組成データを用いてデータセット内の物質の各々について予測Ｘ線データが計算される。取得Ｘ線データと予測Ｘ線データとが比較され、この比較に基づいて試料物質の可能性のある素性が判定される。 （もっと読む）

【課題】 硬組織についてより精密な評価を行なうことを可能とする配向性の分析方法を提供することにある。
【解決手段】 本発明の硬組織の配向性の分析方法は、Bragg角度がa軸、ｃ軸の配向性を判断できるようにX線の入射方向と硬組織の試料表面との角度を設定し、かつ、前記ｃ軸の配向性の場合に、前記角度を2θ＝26°前後に設定するとともに、試料揺動を行う条件下で、X線で硬組織における結晶の配向性の評価を、前記a軸、c軸、及びそれ以外の方向に対する回折強度を比較することにより行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 エネルギー分解能を大幅に向上させて、低エネルギー化を図ることができ、試料の表面の組成を精度良く把握することができる３次元構造物分析システムを提供する。
【解決手段】 試料の少なくとも一部にイオンビームを照射して、前記試料を３次元的に加工するイオン銃と、イオンビームにより３次元的に加工した試料に対して電子を照射する電子銃と、前記電子が照射された試料からのＸ線を検出するＸ線検出器と、該Ｘ線検出器での検出結果に基づいて前記試料の組成分析を行う組成分析装置と、を備える３次元構造物分析システムである。Ｘ線検出器は、エネルギー分散型の超伝導Ｘ線検出器からなる。 （もっと読む）

【課題】製造ラインを流れる容器の仲の製品とＸ線の透過度の似た物質（異物）を検出したい。
【解決手段】Ｘ線の放射円内に複数のＸ線ラインセンサを配し、画像処理で異物の検出レベル付近をガンマ補正で拡大し、複数のＸ線ラインセンサの位相を遅延回路で合わせ、積層して内容物と異物のＸ線透過度の差を広げる方式で解決した。 （もっと読む）

【課題】反射電子線検出装置において、結晶粒界とその方位情報を得る他に、磁性材料解析機能や、特定結晶方位の分布検査機能を付加し、より広範な解析を行うことがでるようにする。
【解決手段】操作部１４を使ったオペレータの操作により、解析情報の取得領域が電子線照射軸に対して垂直とされたとき、システム制御部１５の制御に基づいて、前記電子線像における前記取得領域の縦方向に画素の輝度を積算し、解析情報として試料の磁区パターン情報を得、システム制御部１５に送る。システム制御部１５は、前記磁区パターン情報に応じた画像を表示部１３に表示する。 （もっと読む）

【課題】 ＣＴシステムで取得した測定サイノグラム・データから画像データを再構成するための方法を提供する。
【解決手段】 ＣＴシステム（１０）は工業用イメージングのために構成される。本方法は、測定サイノグラム・データを前処理する段階を含む。前処理段階は、測定サイノグラム・データについてビームハードニング補正を行う段階と、測定サイノグラム・データについて検出器点像分布関数（ＰＳＦ）補正及び検出器遅延補正を行う段階とを含む。前処理済みサイノグラム・データは再構成されて、画像データを生成する。 （もっと読む）

本発明は、放射線撮影装置に関するものである。この装置は、重水素−重水素間のまたは重水素−三重水素間の核融合反応によって生成された実質的に単一エネルギーの高速中性子を生成するための中性子線源であるとともに、シールされたチューブ状のまたは同様の態様の中性子線源を具備している。装置は、さらに、撮影対象をなす対象物を実質的に透過し得る程度に十分なエネルギーを有したＸ線源またはガンマ線源と、中性子線源とＸ線源とガンマ線源とを包囲するコリメート用ブロックであるとともに、実質的に扇型形状でもって放射させるための１つまたは複数のスロットが形成されているような、ブロックと、を具備している。さらに、線源から放射された放射エネルギーを受領しさらにその受領したエネルギーを光パルスへと変換する複数のシンチレータ画素を備えた検出器アレイを具備している。
（もっと読む）

【課題】 本発明の課題は、購入または販売する材料や部品中の有害元素の有無を蛍光Ｘ線によって分析する分析装置に係り、特に、材料に関する専門的知識を必要とすることなく、有害物質の有無を効率的に検査可能とする分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は、元素を測定する測定器と、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有する分析装置によって達成される。 （もっと読む）