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Fターム[2G014AA02]の内容

短絡、断線、漏洩、誤接続の試験 (9,053) | 検査内容 (3,191) | 接続状態 (2,290) | 断線 (648)

Fターム[2G014AA02]に分類される特許

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【課題】寿命を伸延し、且つ、ショートを検出することのできる電子装置を提供する。
【解決手段】一面に行列状に配列された複数のはんだバンプを対応するランド50と接合し、半導体チップを備える電子部品を配線基板に実装してなる電子装置であって、複数の接続部の一部として、半導体チップと配線基板の配線との電気的な接続機能を提供しない複数の機能無効接続部51を有し、複数の機能無効接続部は、行方向及び列方向の少なくとも一方において互いに隣接して機能無効接続部群をなしている。そして、配線基板が、機能無効接続部を構成するランド52として、電源電位に固定される電源ランド52aと、GND電位に固定され、行方向又は列方向において電源ランドと隣り合うように配置されたGNDランド52bを有し、行方向又は列方向において、機能無効接続部群を構成するランドと隣り合うランドが、信号用の信号ランド55とされている。 (もっと読む)


【課題】進行性断線・短絡故障の検出精度を向上させる。
【解決手段】本発明は、少なくとも2つのチップ間を接続するチップ間配線の故障を検査する配線故障検査装置1であって、前記検査の対象となるチップ間配線に、該検査の種類に応じた検査電流を流す経路を決定する検査電流経路決定部2と、前記検査電流を発生させるための最適な電源電圧を決定する電源電圧決定部3と、前記検査の対象となる対象チップ間配線と接続するバッファの出力と、前記検査の対象とならない非対象チップ間配線と接続するバッファの出力とを異ならせるバッファ出力制御部4とを備える。 (もっと読む)


【課題】目視やプローブに依らずに短絡を検出できる開放/短絡検査方法及び開放/短絡検査装置を提供する。
【解決手段】集積回路10は、外部から電源が供給される電源端子P11と、電源に基づいて動作する回路101と、第1回路101に接続され、所定の方向に並んで配置され、外部からの制御によって第1電位H及び第1電位Hと異なる第2電位Lとを任意に出力可能なN(Nは3以上の自然数)個の外部端子P10とを備える。外部端子P10のうち、方向の一方側からM(Mは1からNまでの自然数)個目までの外部端子に第1電位を、(M+1)個目からN個目までの外部端子に第1電位と異なる第2電位を出力させ、電源端子11を流れる電流の値が所定の基準値を超えたことを以って、M個目と(M+1)個目の外部端子の間が短絡していると判定する。 (もっと読む)


【課題】静電容量測定による検査の信頼性を向上させる。
【解決手段】回路基板Pの導体パターンに接触可能な接触型プローブ4,5を備え、接触型プローブ4,5を相互に絶縁されている導体パターンに接触させて各導体パターンおよび基準電極2b間の静電容量を測定し、測定した各静電容量に基づいて各導体パターンの良否を検査する回路基板検査装置1において、各導体パターンにそれぞれ接触させた状態の接触型プローブ4,5間に検査用交流信号を供給すると共にその状態において接触型プローブ4,5間に流れる電流の電流値、検査用交流信号の電圧値、並びに検査用交流信号の電圧位相および電流位相間の位相差の少なくとも1つに基づいて特定される測定パラメータを測定する測定部6と、その測定パラメータおよび所定の基準値を比較して導体パターンに対する接触型プローブ4,5の接触状態を判別する判別部8とを備えている。 (もっと読む)


【課題】断線などによる異常を広範囲にて検出することができる開閉器操作装置を提供する。
【解決手段】直流電源の負極側に接続された電子スイッチ素子7と、この電子スイッチ素子7によって同時に通電制御される複数の操作コイル4とを備えた3相用開閉器の開閉操作を行う開閉器操作装置において、
各操作コイル4と電子スイッチ素子7との間にそれぞれ接続された各ダイオード6a、6b、6cと、各ダイオード6a、6b、6cと電子スイッチ素子7とに加わる各電位差を検出する電圧検出器9とを備えたものである。 (もっと読む)


【課題】 製造工程を経ることによる配線の幅、厚みや電気抵抗率のばらつきが生じた場合でも、正確に配線の検査を実施することができる基板検査装置と基板検査方法の提供。
【解決手段】 検査対象となる基板に形成される配線の良否を判定する基板検査方法であって、基板に予め設定される幅の相違する2つの基準配線に電流を供給して、夫々の電圧を測定し、電流値と電圧値を基に、2つの基準配線の厚み情報及び/又は電気抵抗率情報を夫々算出し、厚み情報又は電気抵抗率情報を基に、検査対象の配線の良否を判定することを特徴とする基板検査方法を特徴とする。 (もっと読む)


【課題】外部の配線容量に影響されることなく、正確に断線診断を行えるようにする。
【解決手段】本発明に係る断線検出回路1は、S/HコンデンサC1と、フルチャージ部23と、ディスチャージ部22と、S/HコンデンサC1の電位をデジタル信号に変換するA/D変換部24と、A/D変換部24による変換結果を格納する記憶回路部25と、フルチャージ部23によりS/HコンデンサC1へのフルチャージを制御し、ディスチャージ部22によりS/HコンデンサC1のディスチャージを制御し、ディスチャージ前後のA/D変換結果を記憶回路部25に格納するA/D変換制御部28と、記憶回路部25に格納されたディスチャージ前後のA/D変換結果を比較する比較部26と、ディスチャージ前後の電位の差分を検知する差分判定部27と、差分が有ると判定された場合に、断線があると判定する制御部とを備える (もっと読む)


【課題】不揮発性メモリのショート・断線を迅速にチェックでき、さらに既に書かれたデータの破壊を未然に防止可能とする。
【解決手段】隣接するビット値が相互に反転した第1のアドレスのメモリ領域に、隣接するビットの値が相互に反転した第1のデータを書き込み、さらに第1のアドレスに対応する各ビットの値が第1のアドレスのビット値に対して反転した第2のアドレスのメモリ領域に、第1のデータに対応するビットの値が第1のデータの各ビット値に対して反転した第2のデータを書き込まれた不揮発性メモリの第1及び第2のデータを読み取り、書き込んだ通りに読めるか否かをチェックする。 (もっと読む)


【課題】数多くの導体パターンを有する回路基板に対する検査の効率を向上させる。
【解決手段】回路基板100における導体パターンP1,P2の導通状態および導体パターンP1,P2の間の絶縁状態を検査する検査部(制御部15)を備え、検査部は、導体パターンP1の端部H1に対して第1電圧信号Sv1が供給されると共に導体パターンP2の端部H1に対して第1電圧信号Sv1とは電圧値の異なる第2電圧信号Sv2が供給されている状態において、導体パターンP1の端部H2の電圧値と第1電圧信号Sv1の電圧値とに基づいて導体パターンP1の導通状態を検査すると共に、導体パターンP2の端部H2の電圧値と第2電圧信号Sv2の電圧値とに基づいて導体パターンP2の導通状態を検査し、かつ両導体パターンP1,P2の間に流れる電流の電流値に基づいて両導体パターンP1,P2の間の絶縁状態を検査する。 (もっと読む)


【課題】従来の温度検出回路の回路構成に変更を加えることなく、マイコンのソフトウェアの設定変更のみによって、サーミスタからマイコンまでの線路の断線を判定できる制御装置を提供する。
【解決手段】ソフトウェアの設定によって出力ポートに変更できるA/D入力ポート5を備えた制御装置4において、A/D入力ポート5の電圧データを記憶させた後に、A/D入力ポート5を出力ポートに変更してLOW信号を出力する。その後、アナログ信号入力回路の容量性素子(コンデンサC1)の両端電圧がほぼ0Vになるのを待ってA/D入力ポート5を再び入力ポートに変更し、このときのA/D入力ポート5の電圧変化に基づいてアナログ信号入力回路の異常を検出する。 (もっと読む)


【課題】シールド部材の重ね部分とシールド部材のない部分との区別を可能にして、正確にシールド部材の異常を検出することができるシールド部材の異常検出方法及びシールド部材の異常検出装置を提供する。
【解決手段】銅テープ13に渦電流を発生させるために40kHz〜200kHzの交流電圧を励磁コイルC1に印加する。この励磁コイルC1とその渦電流による磁束を検出する検出コイルC2とをCVケーブル10の長手方向に沿って走査する。検出コイルC2からの出力電圧に基づいて銅テープ13の異常を検出する。 (もっと読む)


【課題】検出精度向上を図ったシールド部材の異常検出装置を安価に提供する。
【解決手段】複数のCVケーブル101〜103の銅テープ13は両端が互いに接続されている。切替スイッチSWを切り換えて、変流器CT1を交流電源31に接続して銅テープ13に交流電流を流すと共に、変流器CT2及びCT3をFFT波形解析装置22に接続する。これにより、FFT波形解析装置22が、CVケーブル102及び103の銅テープ13に流れる電流に応じた変流器CT2及びCT3からの起電力のうち交流電源31の周波数成分を抽出して、表示する。次に、切替スイッチSWを切り換えて、変流器CT2を交流電源31に接続すると共に変流器CT1及びCT3をFFT波形解析装置22を接続する。さらにその後、切替スイッチSWを切り換えて、変流器CT3を交流電源31に接続すると共に変流器CT1及びCT2をFFT波形解析装置22に接続する。 (もっと読む)


【課題】部品実装回路基板の検査において、その部品実装状態とともに、回路配線間の電気的な良否をも判定可能とする。
【解決手段】外層に電気的に独立した複数の回路配線11,12,13を有し、他の層に内層パターン14を備え、回路配線上に部品素子Dが実装されている部品実装回路基板における部品素子Dの実装状態および回路配線間の電気的な良否を判定するにあたって、プローブP1,P2を部品素子Dの電極端子の一方と他方とに接触させ、プローブP3を内層パターン14に接触させた状態で、P1を高電位、P2を低電位、P3をガード電位として部品素子DのZ12(インピーダンス)を測定し、P3をP2と同じ低電位としてP1とP3との間のZ13を測定し、P3をP1と同じ高電位としてP1とP3との間のZ23を測定したのち、各Z12,Z13,Z23を、良品回路基板からあらかじめ測定された基準Z12ref,Z13ref,Z23refと比較する。 (もっと読む)


【課題】隣接端子間のショート不良、及び偶数番目の端子のHiレベル固着のオープン不良を検出可能な導通検査装置を提供することである。
【解決手段】本発明にかかる導通検査装置は、検査対象端子(1_1〜1_n)毎に、検査対象端子のオープン不良とショート不良の少なくとも一方を判定するオープン/ショート検出回路(2_1〜2_n)を有する。そして、オープン/ショート検出回路が接続されている検査対象端子の導通状態と前段のオープン/ショート検出回路の検出結果(4_1〜4_(n−1))とに基づき当該オープン/ショート検出回路の検出結果(4_1〜4_n)を生成し、当該検出結果を後段のオープン/ショート検出回路へ出力する。更に、本発明にかかる導通検査装置は、最終段のオープン/ショート検出回路の出力4_nに基づき導通状態を判定している。 (もっと読む)


【課題】複数のヒータへの通電制御において、ヒータを含む回路の異常検出は、ヒータの通電状態(発熱動作中)で行う必要があったため、異常が伴う回路へ電源をいきなり通電することとなり、安全性に課題を有していた。
【解決手段】少なくとも二本のヒータ3、4を具備したヒータ回路において、電源の供給前にヒータ3、4を含む回路の異常有無の検出を行うことにより、事前の異常検出を可能にし、異常を検出した場合における回路への通電を停止して、機器の破損防止、保護をはかるようにした。 (もっと読む)


不連続性を検出する手段を有している、燃料電池システムのような動力電池システムが述べられている。複数の動力電池、例えば燃料電池と、複数の第一抵抗とを備えており、上記複数の動力電池および第一抵抗はラダー回路の形状において接続されており、各々が、2つの上記第一抵抗の間にて第一ノードとの第一接続を有する電気的なフィルタであって、各々が第二抵抗および上記第二抵抗に接続されている電荷蓄積デイバスを備えている電気的なフィルタを更に備えている、動力電池システム、例えば燃料電池システムが述べられている。
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【課題】従来技術では対応不可能な各種の異常を検出可能として信頼性を高め、マイコンが有する機能を利用して安価な異常監視装置を提供する。
【解決手段】エンコーダ10からの二相の位置検出信号が、ケーブル20等の配線系統を介しアナログ信号として制御装置30に入力される。制御装置30内のマイコン33は、アナログ入力信号の電圧レベルが所定の範囲内に存在する場合に、エンコーダや配線系統の異常を検出するレベル異常検出手段333A,333Bと、二相のアナログ入力信号に対応するディジタル信号のパルス数の差が所定の閾値以上である場合に、エンコーダ等の異常を検出するパルス数比較異常検出手段336と、二相のディジタル信号の合成信号のパルス幅が過去の制御周期のパルス幅と異なることによりエンコーダ等の異常を検出するパルス幅比較異常検出手段339と、を備える。 (もっと読む)


【課題】被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する
【解決手段】複数の外付端子T1−T4を有する回路部品10の試験装置は、複数の外付端子にそれぞれ試験負荷を出力する複数の第1バッファアンプAt1−At4と、複数の外付端子の負荷状態をそれぞれ入力し測定信号M1−M4として出力する複数の第2バッファアンプAm1−Am4と、m複数の第1バッファアンプからm試験負荷を出力させながら複数の第2バッファアンプを順次駆動して測定信号を出力させるように制御する制御手段22と、を有する。 (もっと読む)


【課題】治具の修正、補修などのメンテナンス性を改善し、測定ポイントの追加、位置変更など設計変更に容易に対応することができ、冶具の収納スペースを削減することを可能にした電子回路基板検査装置および検査治具を得る。
【解決手段】一面側において被検査基板1の各検査ポイントに接触し各検査ポイントを他面側の異なるポイントに変換して直線状に配列された変換ポイントに導く主変換基板12と、主変換基板12と一体に設けられ主変換基板12の変換ポイントを主変換基板面上に立ち上げ任意のワイヤリングが可能な変換補助基板13と、変換補助基板13の立ち上げられたポイント19−1を電子回路基板検査装置本体に電気的に接続するためのコネクタ7を備えたコネクタ装着基板20と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコンアレイ基板の断線、短絡検査を行い得る液晶表示装置及びその検査方法を提供する。
【解決手段】スイッチング素子13を介して接続される画素電極14,基板の縁端部に設けられた複数の入出力端子21〜27、行電極駆動回路18、並びに入出力端子21〜27を介して外部から加えられる映像信号を列電極の一端に加える列電極駆動回路19を有するマトリクスアレイ基板と、画素電極に対向電極を対向させる対向基板と、画素電極14及び対向電極16間に挟持された液晶層15とを備えるものにおいて、列電極12の他端を少なくとも一つの入出力端子27に共通接続するアレイ基板上配線32を基板面に形成し、アレイ基板上配線32が接続された入出力端子27と、これらの入出力端子以外の少なくとも映像信号を供給する入出力端子21〜26との間に所定の電圧を印加し、そのときの電流を測定して不良を検出する。 (もっと読む)


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