【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を、二次元変換光学系６によって二次元変換光学系６の光軸に交差する仮想平面内でそれぞれスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して、回折格子と共役となる共役面ＦＣ上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムＳを結像させ、撮像面７ａが共役面ＦＣと共役となるようにして配置された撮像装置によって擬似二次元スペクトログラムＳと参照光との干渉縞パターンを得る時間分解分光装置において、二次元変換光学系６を、縮小光学系とする。 （もっと読む）

【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を、二次元変換光学系によって二次元変換光学系の光軸ＡＸ２に交差する仮想平面内でそれぞれスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して、回折格子と共役となる共役面ＦＣ上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムＳを結像させ、撮像面７ａが共役面ＦＣと共役となるようにして配置された撮像装置７によって擬似二次元スペクトログラムＳと参照光との干渉縞パターンを得る時間分解分光装置において、二次元変換光学系と撮像装置との間に、縮小光学系であるリレー光学系１１を配置する。 （もっと読む）

【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を第一回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を二次元変換光学系によって変換して擬似ニ次元スペクトログラムＳを得る時間分解分光装置において、第一回折格子に対する共役面ＦＣ上に第一回折格子と同じ格子定数の第二回折格子８を設置し、この第二回折格子８と撮像装置との間に、縮小光学系であるリレー光学系１１を配置する。 （もっと読む）

ラメラー格子干渉計が記載されており、ここではミラー９により光ビームがコリメートされ、かつ格子上に集束され、同時にミラー９は該格子により反射された光を収集する機能も有する。この場合、白色光源１の光ビームは最初に第１のレンズ２によりコリメートされ、その後、試料キュベット３を透過する。この透過した光ビームは、その後、別のレンズ２によりファイバ１７内に集束され、かつ結合される。このファイバ１７への光はその後ミラー９へ導かれ、このミラー９により格子１１上に反射されるが、格子１１は微小電子機械素子ＭＥＭＳ７により実現されるラメラー格子干渉計の一部を形成し、ＭＥＭＳ７はファイバ１７と同様にＭＥＭＳ保持具６の上に固定される。この格子１１から反射される光は同一のミラー９上に反射され、この同じミラー９により保持具６に固定された第２の多モード・ファイバ１８内に集束され、かつ結合される。この第２の多モード・ファイバ１８によって導かれた光はその後検出素子４内に供給される。
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本発明は干渉情報を試料の化学的および／または物理学的特性に相関させる代替ストラテジーを提供する。このストラテジーは方法およびシステムで実行することができ、それは干渉分光学に基づく当該分野の技術の状態を超える実質的な技術的および商業的な利点を提供する。本発明は、さらに、干渉計を標準化する方法、ならびに標準化した干渉計を用いた方法およびシステムを提供する。
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波長安定化のため複数の光検出部によって光信号を検出する光検出装置において、各光検出部からの電流の大きさおよびその比を所望の範囲内に収める。
本発明は、入射光を受光する第１の小受光器１１０、第１の大受光器１１１を有し入射光の光出力を検出するための第１の光検出部５１と、入射光を受光する第２の受光器１１３を有し入射光の波長を検出するための第２の光検出部５２と、第２の光検出部５２に入射する光の光路上に設けられ入射光を透過するエタロン１１２と、第１の光検出部５１の各受光器１１０，１１１、および第２の光検出部５２の受光器１１３にそれぞれ接続される複数のＡｕワイヤとを備える。複数のＡｕワイヤは、第１および第２の光検出部５１，５２に入射する光の光強度に応じて、選択的に接続または切断される。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】ファブリ・ペロー（ＦＰ）可変（波長可変）フィルタ分光計の高分解能、小型、堅牢、および低消費電力といった利点と、ＦＴおよび／または格子／検出器アレイの多チャネル多重化の利点とを兼ね備えた能力を備える分光計。主要な概念は、可変ＦＰフィルタを多次フィルタ条件に設計し、作動させることにある。次いで、このフィルタの後には「低分解能」の固定格子があり、この格子がフィルタ処理されたｎ次の信号を、好ましくは整合Ｎ素子組込み検出器アレイに分散して並列検出する。このシステムのスペクトル分解能は、きわめて高分解能を有するように設計できるＦＰフィルタによって決定される。Ｎ次の並列検出方式によって全積分または走査時間が１／Ｎに短縮され、単一チャネルの可変フィルタ法と同一分解能で同一の信号対雑音比（ＳＮＲ）を達成できる。 （もっと読む）

【課題】電磁放射線をフィルタリングする装置および発信装置構成を提供すること。
【解決手段】電磁放射線をフィルタリングする装置および発信源構成は、電磁放射線の周波数に基づいて当該電磁放射線の１つ以上の成分を物理的に分離するよう構成された少なくとも１つのスペクトル分離構成を備える。また、前記１つ以上の成分に関連する少なくとも１つの信号を受信するよう構成された少なくとも１つの連続回転光学構成を備える。さらに、前記信号を受信するよう構成された少なくとも１つのビーム選択構成を備える。 （もっと読む）

一態様において、本発明は方法に特徴があり、その方法は、干渉分光法システムにおける干渉計を用いて、第１ビーム経路と第２ビーム経路との間の光路差に関係づけられる位相を含む出力ビームを生成することであって、第１ビームは第１の箇所における測定物体に接触し、第１ビームまたは第２ビームは第２の箇所における測定物体に接触し、第１の箇所および第２の箇所は異なる、出力ビームを生成すること、第１の箇所における測定物体の不完全性に起因し、かつ第２の箇所における測定物体の不完全性に起因するずれであって、第１ビーム経路または第２ビーム経路の公称ビーム経路からのずれによって生じる光路差への影響に対処する事前校正済み情報を提供すること、出力ビームから得られる情報および事前校正済み情報に基づいて、少なくとも１つの自由度について測定物体の位置を決定すること、を含む。
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遠視野測定装置（１０、５０、１５０）は、五角形状に加工され測地線球形状に配置した複数の結像レンズ（１４、４０）を備える。これらレンズは、測定される散乱光（２６）の光源（Ｓ）に焦点を合わせた共通の視野を備えている。非球面レンズ（４０）を用いて入射角が大きい散乱光を容易にコリメートする。例えばカメラのような測定モジュール（１２、７８）を各レンズの裏側に用いる。測定モジュールは干渉計又はシャック−ハートマン型波面センサ（７４）とすることができ、散乱光（２６）の強度及び位相を測定できる。
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