【課題】被測定光を干渉計に与えた際の、干渉計の出力を光電変換することにより得られた電気信号の増幅率を適切に決定する。
【解決手段】干渉計１０と、干渉光を光電変換して干渉信号を出力する干渉信号出力部２０と、干渉信号の最大値を測定する最大値測定部３０と、干渉信号に基づき被測定光の特性を測定する測定処理回路５０と、干渉信号を増幅して測定処理回路５０に与える干渉信号増幅部４０と、干渉信号増幅部４０におけるＡＭＰ増幅器４６の増幅率を設定する増幅率設定部６０とを備え、増幅率設定部６０は、最大値測定部３０の測定結果に増幅率を乗じた値が、測定処理回路５０の処理できる信号値の上限の１／２以下になるように、増幅率を設定し、しかも、干渉計１０における可変長光路の長さが、干渉計１０における固定長光路の長さに等しくなる前に、増幅率の設定を終了する。 （もっと読む）

【課題】高圧容器の健全性を診断する方法として、多数点の変形を検知する場合でも１本の光ファイバで構成することができ、構造が単純で低コストの高圧容器の健全性診断方法を提供するものである。
【解決手段】同一のブラッグ波長を有する複数のブラッググレーティング２を離散的に形成した光ファイバ３を、複数のブラッグクレーティングが異なる位置になるように高圧容器１に密接して取り付け、高圧容器１へのガス充填後に、光ファイバ３の端部に接続した光の入出射機能を有する光計測器４からの出射光に対するブラッググレーティング２からの反射光の波長分布を光計測器４で計測し、波長分布の経時変化に基づいて、高圧容器１の健全性を診断するものである。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成でありながら、対向する平行平板の面同士の平行度を調整して組立てることができるエタロン装置、及びその製造方法を提供する。また、小型のエタロン装置、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】対向配置された一対の平行平板１，２と、一対の平行平板１，２をそれぞれ別々に保持する一対のホルダ部３，４と、一対のホルダ部３，４の外側に設けられたハウジング部７とを備え、一対のホルダ部３，４の少なくとも一方（ここではホルダ部３，４）が、その内周部に、対応する平行平板が当接する受け部（ここでは受け部３ａ，４ａ）を有するとともに、傾斜面（ここでは球面部１ｃ）を、受け部３ａ，４ａ及び平行平板１，２の少なくとも一方（ここでは平行平板１）に設けている。傾斜面１ｃは、平行平板１の外周部に形成されている。 （もっと読む）

本発明は干渉情報を試料の化学的および／または物理学的特性に相関する別のストラテジーを提供する。このストラテジーは、干渉分光学に基づく技術水準を超える実質的な技術的および商業的利点を提供する方法およびシステムで実行することができる。方法は、ａ．試料の少なくとも一部分から放出された、それに伝達されたかまたはそれを通過して伝達された、またはそれと相互作用した電磁シグナルの変調に対応するインターフェログラムおよび／または少なくとも１のインターフェログラム要素を得、ｂ．ｉ．少なくとも１の関数を用いて該インターフェログラムおよび／またはインターフェログラム要素のインターフェログラムおよび／またはセグメントの少なくとも１の変換、ｉｉ．所望により、インターフェログラムおよび／またはインターフェログラム要素のもう１のセグメントについてｉ）を繰り返すことを行い、ここに、ｉ）を一度だけ行う場合は、変換はフーリエ変換を含まず、ｃ．該少なくとも１のスコアを少なくとも１の化学的または物理的特性に相関する工程を含む。
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【課題】波長モニタにおける多重干渉ノイズを低減し、波長測定精度の向上を図ると共に、装置の小型化や低コスト化を実現することを目的とする。
【解決手段】第１の分岐光を伝送する第１の光路と、第２の分岐光を伝送する第２の光路と、第１の出射端と、第２の出射端とを有する光分岐手段と、第１の分岐光及び第２の分岐光を各々平行光に変換して出射する第１のレンズと、各平行光を直交方向に選択的に集光して出射する第２のレンズと、各平行光を受光すると共に、２つの平行光の干渉によって生じる干渉縞の一周期分を４等分して受光するように各々配置された少なくとも４つの受光素子を備える光電変換手段と、受光素子から出力される電気信号に所定の信号処理を行うことで被測定光の波長を算出する信号処理手段とを備え、前記光電変換手段は各受光素子の受光面が直交方向に対して所定の傾きを有するように配置される。 （もっと読む）

【課題】コンパクトでなお且つ移動鏡の傾きによる誤差や大きな摩擦力を生じることのない干渉計を提供する。
【解決手段】干渉計の移動鏡駆動機構として、長尺状のガイドレール４０と、ガイドレール４０に嵌着され、該ガイドレール４０上を摺動するスライダ３０と、前記スライダ３０に固定された移動鏡１６と、該スライダを駆動する複数のボイスコイルモータ５０とを備えた移動鏡駆動機構を用いる。ここで、駆動源である複数のボイスコイル５１を、前記スライダ３０の移動方向に垂直な面内においてスライダ３０の移動中心に対して対称な位置に配置する。これにより、左右のコイル５１に加わる電磁力を合成した力の作用点をスライダ３０の移動中心と一致させ、移動鏡の移動時における回転モーメントの発生を防止することができる。 （もっと読む）

【課題】 フーリエ変換赤外分光光度計（ＦＴＩＲ）を用いて、材料の赤外スペクトルを測定し、その構造や物性の評価を行う際に問題になるのが、光路中に存在する空気中の水蒸気や炭酸ガスによるスペクトル・ノイズである。このノイズを軽減又は除去するため、従来種々の方法がとられてきたが、それぞれ一長一短があり、決め手になる方法に欠ける。
【解決手段】バックグラウンド測定と試料測定の際の水蒸気や炭酸ガス濃度が同じになるよう、除湿または加湿制御することにより、スペクトル・ノイズを除去する簡便かつ経済的な方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】波長走査型ＯＣＴやフーリエドメインＯＣＴ等の光断層画像化装置の波長走査型光源、モノクロメーター、分光器等の較正を、オシロスコープや干渉フィルター等の特殊機材を使用するすることなく行えるようにする。
【解決手段】時間的に波長を走査する波長走査型光源２を有する光コヒーレンストモグラフィーの波長走査型光源２を較正する場合に、光コヒーレンストモグラフィーにより波長走査型光源２をモニタリングしてスペクトル干渉信号を時間信号として検出し、このスペクトル干渉信号から走査波長の時間依存性を求め、波長走査型光源２の走査波長の時間依存特性を較正する。 （もっと読む）

【課題】光通信システムにおける様々な被測定光信号の光強度の時間波形及びそのパルス光の位相の時間波形を得ることを可能とする。
【解決手段】光波形観測装置１００のサンプリング型光波形観測手段３は、波長可変光バンドパスフィルタ２の中心周波数毎に、被測定光信号の疑似ランダム符号の繰り返し周期に同期したフレーム信号に基づいて、波長可変光バンドパスフィルタ２から出力された光信号をサンプリングした時間が、フレーム周期内で何時間後であるかを計測し、そのサンプリングした光信号を前記計測した時間毎に並べ替えて信号波形を得る処理を行い、中心周波数毎に得られた信号波形に基づいて、前記パルス光の光強度の時間波形と位相の時間波形を算出し、表示する。 （もっと読む）

【課題】本開示は概略的に、多重波長作像分光器に対する方法および装置に関する。より詳細には、一実施例において本開示は、光子を貫通通過させる光学フィルタに関する。
【解決手段】前記フィルタは、第１フィルタ・ステージおよび第２フィルタ・ステージを含む。前記第１フィルタ・ステージは、第１リターダ要素と第１液晶セルとを含み得る。前記第１要素は、入力面および出力面を含み得る。前記第１要素の各面のひとつは、当該フィルタを貫通通過する光子の軌跡に対して実質的に直交しては配向されない。

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【課題】
光学基板の高い平行度を保ちながら、基板間隔の変動幅の拡大と変動単位の微小化を両立させつつ高速に基板間隔を変化できるようにし、任意所望の波長の赤外線を選択して透過させるファブリペローフィルタを提供する。
【解決手段】
相対する片面に透光性を有する反射層を形成した対向する２枚の基板を有し、アクチュエータの作動により一方の基板を移動させて基板間のギャップを変化させることにより透過若しくは反射スペクトル特性を変化させるフィルタにおいて、可動基板を固定基板に対し平行を保持したまま斜め横方向にスライド移動させることにより、両基板間の間隔を制御する。この斜め横方向への移動量と上下方向への移動量の比率を拡大することで、従来不可能であった高精度な波長選択が可能となる。 （もっと読む）

調整可能Ｆａｂｒｙ−Ｐｅｒｏｔフィルタ（ＴＦＰＦ）が、ＭＥＭＳと超小型光学の混成統合を用いる。ＴＦＰＦを構成するミラーは、動作中に一列に整列して高いＴＦＰＦ精細性を提供する。反射ミラーの１つが可撓部材、例えば、ビーム部材が両端に固定されている。反射ミラーの間の間隙を調整するためにＴＦＰＦの軸に平行な方向に可撓部材を曲げ可能であり、これによりＴＦＰＦを調整できる。ミラーの１つまたは両方を光ファイバーの端部に配置できる。
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【課題】レーザ光の半波長よりも短い間隔（分解能）のサンプリングタイミングを簡易な構成で検出することが可能なフーリエ分光装置及びこれに用いる測定タイミング検出方法を提供すること。
【解決手段】ビームスプリッタ３と移動鏡４との間に多重反射ミラー７を設けて，上記移動鏡４と上記多重反射ミラー７との間で入射したレーザ光を多重反射させる。
これにより，多重反射回数がｎ回の場合は，上記移動鏡４の移動量がｎ倍の光路長変化に変換されるため，多重反射しない場合と較べて光路長変化（即ち干渉縞）が１／ｎ倍の間隔で生じることになる。したがって，得られるサンプリング間隔も１／ｎ倍となるため，分解能の高いサンプリングタイミングを検出することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 干渉光を入光して電気信号に変換する検出器を干渉計の外部におき、干渉光を光ファイバで検出器に導く構成にした近赤外分光分析計を提供する。
【解決手段】 近赤外分光分析計は、被測定対象物に投光する光源手段と、前記被測定対象物からの拡散反射光を検出する受光手段と、前記受光手段で検出された拡散反射光を分光し干渉光を生成する分光手段と、前記分光手段で分離し配置された干渉光を検出し、光信号を電気信号に変換する検出手段と、を備え、前記分光手段と前記検出手段の間を光伝達手段によって接続する構成にしたことである。 （もっと読む）

【課題】干渉効率或るいはビジビリティの低下の原因となる干渉光を特定し，特定した干渉光を除去することにより干渉効率或るいはビジビリティの低下を軽減することが可能な干渉計及び該干渉計を用いたフーリエ分光装置を提供すること。
【解決手段】ビームスプリッタ３により生成された干渉光の波面画像を検出器１４で連続的に撮像し，撮像された連続波面画像に基づいて該連続波面画像における複数の分割領域（領域α，β，γ）ごとの干渉光波の位相差を算出し，算出された位相差に基づいて複数の分割領域ごとの干渉光波の同期性を判定し，同位相であると判定された干渉光のみを透過させるように，生成された所定位相の干渉光のみを透過させる透過制限装置６を制御する。 （もっと読む）

【課題】干渉計を構成するビームスプリッタや移動鏡，固定鏡等の反射面の傾き調整や平面精度の誤差により生じる光路差が及ぼす干渉効率の低下，ビジビリティの低下を軽減すること。
【解決手段】
解析光源１から出射された光（解析光）を少なくとも二つの光路に分割するビームスプリッタ３と，上記ビームスプリッタ３により分割された一方の光をその入射方向へ反射させる固定鏡５と，他方の光をその入射方向へ反射させる移動鏡４とを有する干渉計Ａ１に，上記解析光源１から出射された光を上記固定鏡５の反射面５ａ及び／又は上記移動鏡４の反射面４ａの面上又はその近傍で焦点を結ぶように集光する集光レンズ６を設ける。これにより，上記固定鏡５や移動鏡４の調整精度等に起因して生じる光路長差を軽減することができ，その結果，生成される干渉光の干渉効率の低下が軽減する。 （もっと読む）

静的マルチモードマルチプレックス分光法のための方法及びシステムを開示する。静的マルチモードマルチプレックス分光法のための方法によれば、拡散ソースの異なる点から放射したスペクトルエネルギーを同時に受け取る。異なるマルチピークフィルタ関数を異なる点から放射したスペクトルエネルギーに適用して、各点に対する多チャンネルスペクトル測定値を生成する。この多チャンネルスペクトル測定値を合成して拡散ソースの特性を推定する。
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【課題】 生体組織が水分を多く含む物質に覆われている場合であっても、生体組織の所望の深度までの光断層画像を高精度に取得する。
【解決手段】 低コヒーレンス光Ｌを射出する光源２を用いて光トモグラフィー計測を行うときに、中心波長λｃが０.９０μｍ以上かつ１.１５μｍ以下の範囲にある低コヒーレンス光Ｌを用いる。
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【課題】
特性の異なる複数の検出器素子を使用した複数の測定が必要な場合に行われていた、デュワー全体の交換または光路切り替え手段の追加を含む複数デュワーの同時使用などで生ずる測定の煩雑化、装置の複雑化、装置の大型化を改善し測定効率を向上する。
【解決手段】
１個のデュワー１２Ａに、それぞれ光学特性の異なるＰ検出器素子１３ＰおよびＳ検出器素子１３Ｓの２個の検出器素子を装着するとともに、連動して往復動する機構を備えたアパーチャ９および３次元ステージ６を設け、アパーチャ９および３次元ステージ６を往復動させてＰ検出器素子１３ＰおよびＳ検出器素子１３Ｓのいずれかの検出器素子を選択使用する。 （もっと読む）

改良されたアポダイゼーション関数を用いた信号分光測定のための方法及び装置が開示されている。この方法及び装置は、（ｉ）サンプル及び基準時間領域波形を取得するステップと、（ｉｉ）サンプル及び基準アポダイゼーション波形を、サンプル及び基準時間領域波形に適用し、実質的に同じウェイトがサンプル及び基準時間領域波形の実質的に同じ延長を有する範囲に適用されるようにするステップと、（ｉｉｉ）時間領域からのサンプル及び基準アポダイゼーションのなされた波形を周波数領域に変換するステップと、（ｉｖ）変換されたサンプル・スペクトルと基準周波数スペクトルとの比率から信号分析のための基準となるスペクトル分析波形を発生するステップと、を含んでおり、スペクトル分析波形は、アポダイゼーションのなされたサンプル及び基準時間領域波形の対応する実質的に同じ延長を有する範囲と関連する周波数を実質的に除外している。
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