【課題】遠心加速中にも発振周波数を測定できる水晶振動子を用いた発振ユニットの遠心加速試験システムを提供する。
【解決手段】第１受信アンテナＲＡ1を有する切替用受信回路を中央領域に有して、前記切替用受信回路とそれぞれが接続して少なくとも水晶振動子を有する複数の発振ユニットＯＵが外周に搭載される遠心加速用の回転テーブル１１と、前記切替用受信回路に選択信号Ｓを送信する第１送信アンテナＴＡ1を有する切替用送信装置Ｔxとを備え、前記切替用送信装置Ｔx及び前記切替用受信回路からの選択信号Ｓによって、前記複数の発振ユニットＯＵのうちのいずれかが選択されて、前記発振ユニットＯＵに設けられた第２送信アンテナＴＡ２から前記発振ユニットＯＵの発振周波数で電磁波を送出し、前記電磁波は第２受信アンテナＲＡ２によって受信され、前記第２受信アンテナＲＡ２に電気的に接続した周波数カウンタによって前記発振周波数を測定する。 （もっと読む）

【課題】高精度に異常判断ができる簡単な制御の蓄電装置を提供することを目的とする。
【解決手段】電圧検出回路を内蔵し、蓄電部２３に接続された充電回路１９と、充電回路１９に接続された制御回路４１とを有し、制御回路４１は、蓄電部２３が電力を蓄えた積算時間ｔを計測するとともに、蓄電部２３を定電流Ｉで充電する際に、蓄電部２３の電圧Ｖｃが充電を開始してから既定電圧幅ΔＶだけ変化するまでの実測時間幅ｄｔｍを計測し、蓄電部２３の電圧Ｖｃが既定電圧幅ΔＶだけ変化した時点の積算時間ｔに応じた内部抵抗値Ｒと容量値Ｃを求め、計算時間幅ｄｔｃを、ｄｔｃ＝（ΔＶ−Ｉ・Ｒ）・Ｃ／Ｉより計算し、実測時間幅ｄｔｍと計算時間幅ｄｔｃの差の絶対値が既定値を超えるか、または実測時間幅ｄｔｍが既定下限値以下になれば、蓄電装置１１に異常が起こっていると判断するようにした。 （もっと読む）

【課題】時間をなるべく短くし、工程を増やさず、かつ、正常デバイスに対する負担を少なくしてエージング欠点を検出するアレイ基板の検査方法を提供する。
【解決手段】本発明のアレイ検査は、ゲート線２、ソース線１、トランジスタ３、補助容量線５、および画素４を備えたアレイ基板の各画素４に配設されているＣｃｓ容量部に対して電荷の蓄積後、蓄積した電荷の読み出しを行ない、読み出した電荷の容量値を定量的に計測して各画素４の検査を行なう、アレイ基板の検査方法であって、各画素４に対して実駆動を行ない、この実駆動の条件を短時間所定量変化させてこの変化に基づく上記読み出した電荷の容量値の変化量を算出し、この算出結果を、予め用意した容量値の変化量と実駆動の条件とパネル化した後エージング工程を行った時に目視して欠点となるか否かの情報とを対応付けた対応表を用いて対比し、各画素４が将来欠点となるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】リチウム電池セルの端子電圧の計測回路における異常を診断する診断機能を有する車両用直流電源装置。
【解決手段】直列接続された複数のリチウム電池セルと、前記各電池セルの端子電圧を測定する測定回路と、前記測定回路と前記各電池セルの端子とを接続する複数個の検出用ハーネスと、前記電池セルの放電電流を流すための抵抗およびバランシングスイッチを有する複数の直列回路と、前記バランシングスイッチを制御する制御回路と、 比較回路を有する診断回路と、を備え、
前記各直列回路を前記各電池セルに前記検出用ハーネスを介してそれぞれ並列に接続し、 前記制御回路により前記バランシングスイッチを導通させ、次に前記測定回路で前記検出用ハーネスを介して供給される電池セルの端子電圧を測定し、前記比較回路で予め定められた閾値と測定された端子電圧とを比較して異常状態を前記診断回路で判断する （もっと読む）

【課題】電子機器の妨害排除能力を測定するためのＥＭＣ試験用電波放射装置において、送信信号を増幅する増幅器を、反射波から保護する。
【解決手段】放射アンテナ１０と、放射アンテナ１０から試験用電波を放射させるための送信信号を発生する発振器２０と、発振器２０からの送信信号を増幅して放射アンテナ１０に出力する増幅器２２と、を備えたＥＭＣ試験用電波放射装置において、放射アンテナ１０を構成するホーンアンテナの同軸導波管変換器１６に、導波管型の方向性結合器４０を設け、保護回路３０が、方向性結合器４０から反射波の検出信号を取り込み、その検出信号を検波した検波電圧が基準電圧に達すると、レベル調整器２４を駆動して、発振器２０から増幅器２２に入力される送信信号を減衰させるように構成する。 （もっと読む）

【課題】接触式スイッチの劣化を検知する。
【解決手段】接触式スイッチの劣化を検知する劣化検知システム１０であって、前記スイッチのオン時およびオフ時に該スイッチから入力される電圧検出手段３３と、前記検出された電圧を予め設定した閾値を比較し、該閾値よりも電圧値が高いとオン電圧と判定すると共に該閾値よりも電圧値が低いとオフ電圧と判定するオンオフ判定手段３１と、前記記憶したオン電圧とオフ電圧の平均値を求め、該平均値と前記閾値との差が所定値以下となった場合に劣化と判定する劣化判定手段３１と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】蓄電部の充電、または放電の中断前後の電圧差を正確に求めることができる低コストな蓄電装置を提供することを目的とする。
【解決手段】蓄電部２５に直列接続された電流検出回路２３と、蓄電部２５に接続された第１サンプルホールド回路２７、および第２サンプルホールド回路２９と、両者の出力が接続された差動増幅回路４３を有し、蓄電部２５を定電流値Ｉｃで充電、または放電させた状態で、充電、または放電の中断時における電圧ホールドタイミングを、中断後既定時間経過した時点とするとともに、充電、または放電の再開時における電圧ホールドタイミングを、電流検出回路２３からの電流値が定電流値Ｉｃに対し検出誤差範囲内で等しくなった時点とするようにしたので、タイミングがずれることがなくなり、低コスト回路構成で高精度に充電、または放電の中断前後の電圧差を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】 従来は、モジュールを修理又は交換した場合には、動作の確認のために全ての試験項目について試験を行わなければならず、時間がかかるという問題点があり、モジュールの修理又は交換後に行う再試験を短時間で行うことができる測定試験装置を提供する。
【解決手段】 モジュールを修理又は交換した際に再試験が必要な試験項目を、予め被試験器及びモジュールに対応して被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに記憶しておき、制御部１１が、再試験時に被試験器及び交換したモジュールが選択されると、対応する被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａを特定し、当該被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに登録されている試験項目を抽出して、自動試験実施項目に登録して、当該自動試験実施項目に基づいて試験を実行する測定試験装置としている。 （もっと読む）

【課題】半導体試験回路を構成するリレー１個毎の個別の交換時期を高い信憑性をもって推定することができ、保守費用を低減化できるリレー診断装置及半導体試験装置を提供する。
【解決手段】使用回数を重ねるリレーの動作時間を順次計測する動作時間計測手段（８，１０，２０，６２）と、その動作時間計測手段（８，１０，２０，６２）が計測した動作時間Ｔの変化が所定値を超えるか否かを判定し、その動作時間Ｔの変化が所定値を超えるとリレー２３の交換時期が到来したことを外部に報知する寿命判定手段６２とを具備する。 （もっと読む）

【課題】自動車用バスのための試験装置におけるバスコントローラの送信容量を増加させる。
【解決手段】試験装置１１は、バスメッセージ用の送信データ６５を供給するメッセージメモリ３７を有するバスコントローラ２０、メッセージメモリ３７より大きな記憶容量５０を有するバスメッセージ用の送信データ６５を記憶する中間メモリ３８を備える。メッセージメモリ３７はバスメッセージシーケンス用のメモリ容量４８を有する。試験装置１１は更に、中間メモリ３８から送信データ６５を読み出し、バスコントローラ２０の読出しに先立ってバスコントローラ２０のメッセージメモリ３７に書き込む送信準備手段４０を備え、自動車用バス１２上で送信サイクル３１及び３２あるいは送信サイクルシーケンス３３中にバスコントローラ２０により送信される追加的なバスメッセージによって、バスメッセージシーケンスが拡張される。 （もっと読む）

【課題】被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えでき、かつ小型化できるインバータ試験装置を得る。
【解決手段】機能試験回路１１０が接続されたコンタクトプローブ部４０及び耐圧試験回路１２０が接続されたコンタクトプローブ部５０が載置された直角方向移動台２１を駆動して、コンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０の各プローブを試験対象のインバータ１００の高電圧の主回路端子１０１、低圧の制御回路端子１０２等と接続されたコンタクトパッド部６０の対応するパッドに選択的に正対させ、左右方向移動台２３を駆動してコンタクトパッド部６０に正対するコンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０の各プローブをコンタクトパッド部６０の正対するパッドに接離させ、インバータと耐圧または機能試験回路との接続を切り換える。 （もっと読む）

【課題】 デバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明はデバイスの動特性を検査する方法として具現化される。その検査方法は、デバイスに入力信号を与える工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えている。その検査方法では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。 （もっと読む）

【課題】アレイ検査装置において、複数の二次電子検出器から検出される検出波形を処理する際に、デジタル処理装置の処理負担を低減する。
【解決手段】検出波形のデータ処理において、Ａ／Ｄ変換からバッファ処理およびデータ加算処理までの処理についてはリアルタイム処理を行うとともに、バッファ処理およびデータ加算処理についてはＡ／Ｄ変換に続いて割り込み処理を行うことによって、リアルタイム処理で処理するデータ量を低減させ、これによってデジタル処理装置の処理負担を低減する。 （もっと読む）

【課題】簡単な工程及び構成で、複数の検査を連続して正確に行うことができる検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】テーブル２０は、回路基板２４を保持する。第２のプローブ４０の先端は、第１のプローブ３０の先端よりも、回路基板２４から離れている。第１の検査回路１４は、第１のプローブ３０を介して回路基板２４の電気的特性を検査する。第２の検査回路１６は、第２のプローブ４０を介して回路基板２４の電気的特性を検査する。昇降装置２２は、テーブル２０を上下方向に移動させる。第２のプローブ４０は、昇降装置２２が第１のプローブ３０を回路基板２４の電極Ｅに押し付けることにより、第１のプローブ３０が接触している電極Ｅに接触する。 （もっと読む）

【課題】スターリング冷凍機を使用した試験装置を改良し、高温状態から低温状態に変化させる際に異音や振動が生じることのない試験装置の開発を課題とする。
【解決手段】試験槽２の内部に載置台６、冷却チューブ（補助冷却装置）７及び加熱板８が設置されている。載置台６は、背面側にシリンダー装入筒部１１が設けられている。載置台６が高温状態であって、載置台の温度を低下すべくスターリング冷凍機３の運転を開始する際に、冷却チューブ（補助冷却装置）７を起動し、スターリング冷凍機３の冷却能力を補助する。載置台６の温度が室温に近い状況まで下がったことを条件として補助冷却装置７を停止する。 （もっと読む）

【課題】半導体素子を搭載する高速信号ラインを含んだ半導体パッケージ等の配線回路基板の特性インピーダンスを保証するための電気特性検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】電気特性検査装置は、高周波プローブ１０と、接触式センサ２０と、高周波プローブ固定部品３１とから構成されており、接触式センサ２０にて、高周波プローブ１０と被測定線路（ＳＩＧＮＡＬ）５１の測定パッド５１ａとの接触位置を検出し、高周波プローブ１０と被測定線路（ＳＩＧＮＡＬ）５１の電極パッド５１ａとの接触圧が一定になるようにして、特性インピーダンスを測定し、高速信号ラインを含んだ半導体パッケージ等の配線回路基板の特性インピーダンスを保証する。 （もっと読む）

【構成】ＰＣ２０は、ＳＧ１２を制御してデジタル信号受信機１４ａ,１４ｂ,１４ｃに同一のテスト信号ＲＦを入力する。ＰＣ２０は続いて、デジタル信号受信機１４ａにクロック信号ＣＬＫ１とデータ信号ＤＡＴＡ１と同調信号ＳＹＮＣ１とを出力させてビットエラー検出回路１８からビットエラー結果を得る。ＰＣ２０はさらに続いて、デジタル信号受信機１４ａ,１４ｂ,１４ｃから、クロック信号ＣＬＫ１とデータ信号ＤＡＴＡ１,ＤＡＴＡ２,ＤＡＴＡ３とを出力させて比較回路１６から判定結果ａ,判定結果ｂを得る。ＰＣ２０はさらに続いて、判定結果ａ,判定結果ｂとビットエラー結果とから、複数のデジタル信号受信機のビットエラー検査結果を得る。
【効果】複数の受信機の検査精度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】車両に搭載される電子装置の状態を診断する状態診断装置において、使用者が電子装置の状態をより正確に把握できるようにする。
【解決手段】状態検知器２４が診断対象の電子装置３の状態を検出すると共に、カウンタ発生器２２は、電子装置３に給電する電源ライン５から動作電圧の供給を受けて動作する。記憶書込部２６は、状態検知器２４の検知結果及びカウンタ発生器２２のカウント値を不揮発性メモリ３２に書き込む。診断用操作装置４０の記憶読取部４２は、記憶読出部３４を介して不揮発性メモリ３２の情報を読み出すと共に、その読み出した情報に基づき、電子装置３の状態と電源ライン５の状態とを個別に診断する。このため、電子装置３の状態が正常でない場合、それが、電子装置３自体の異常に起因するものか電源ライン５の異常に起因するものかが分かる可能性が高くなり、使用者は電子装置３の状態をより正確に把握し得る。 （もっと読む）

【課題】電子式変成器を正確かつ迅速に測定することができる変成器試験装置を提供すること。
【解決手段】電子式変成器として構成された被試験変成器の２次出力を標準変成器の２次出力と比較し、前記被試験変成器の２次出力が前記標準変成器の２次出力に対する比誤差εと位相角θを測定する変成器試験装置であって、前記標準変成器の２次出力を所定範囲の値を持った標準電圧に変換する変換回路ＣＴ，ＯＰ１と、前記被試験変成器の出力電圧と前記標準電圧との偏差電圧を取り出す偏差検出回路ＶＴ，ＯＰ２と、前記標準電圧と前記偏差電圧とが与えられてディジタル変換し、前記標準電圧に対する前記偏差電圧の位相角を算出するディジタル演算回路ＡＵとをそなえたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】制御装置の異なる動作状態で、制御装置に所属するメモリのメモリ内容の影響または移行を可能にする装置を構成し、相応の方法を提供することである。
【解決手段】制御装置（２）と該制御装置（２）に影響するための少なくとも１つの影響装置（４）との間のデータ接続部における選択的な構成を行うための適合ユニット（６）において、メモリ（３２）を有し、該メモリ（３２）には、影響装置（４）と制御装置（２）との間のデータ伝送のデータの少なくとも一部が記憶され、スイッチオンされた該制御装置（２）のマイクロコントローラによって読み出され、かつ／または書き込まれるように構成されていることを特徴とする、適合ユニット。 （もっと読む）