【課題】サージ防護素子の信頼性を適切に検査することができ、かつ、サージ防護素子の検査を効率化し、それによってサージ防護素子の生産性の向上に寄与する。
【解決手段】所定の波頭長及び波尾長の電流波形を有する第１衝撃電流の電流波形よりも波頭長及び波尾長が短く、かつ、波高値が高い電流波形を有する第２衝撃電流（第２サージ電流）をすべてのサージ防護素子に与え、前記第２衝撃電流によって当該サージ防護素子が破壊されたか否かを判定し、破壊されなかったサージ防護素子を適合品として選別する第１検査工程と、該第１検査工程によって適合品として選別されたサージ防護素子のうちの所定数のサージ防護素子に前記第１衝撃電流（第１サージ電流）を与え、該第１衝撃電流によって当該サージ防護素子が破壊されたか否かを判定し、破壊されなかったサージ防護素子を適合品として選別する第２検査工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】 ＣＯＧ実装の実装検査方法として、外観ではなく測定された抵抗値による定量的データに基づいた容易な合否判定手法を提供する。
【解決手段】 本発明に係る液晶表示装置は、ＴＦＴアレイ基板を有する画像表示パネルと、この画像表示パネルにＣＯＧ実装されたドライバＩＣと、前記画像表示パネルに実装されそのドライバＩＣに信号や電源を供給するＦＰＣとを有する画像表示装置において、ドライバＩＣは少なくとも２個を一組としてその組み内で互いに接続されている一組以上のダミー端子パッドを有しており、さらにＴＦＴアレイ基板は、そのダミー端子パッドにＡＣＦ接続されるように配設され、互いに絶縁された一組以上のＣＯＧ接続用端子パッドを有しており、そのＣＯＧ接続用端子パッドから前記ＦＰＣ上に配設された一組の検査端子パッドまでＦＰＣ実装端子領域を介して引出配線が引き出されている。 （もっと読む）

【課題】電源の立ち上がり／立ち下がり波形といった電源波形の調整、複数の電源の出力制御、電源供給とシーケンス観測のタイミング調節が可能な電源シーケンス測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象へ供給する電源用のシーケンス情報を保存する電源情報保存手段と、電源情報保存手段で保存された電源用シーケンス情報に基づいて測定対象に電源電圧を出力する電源電圧出力手段と、電源電圧を受けた測定対象が出力する電圧を測定する電圧測定手段と、電圧測定手段で測定された結果を測定情報として保存する測定情報保存手段と、判定用のシーケンス情報を保存する判定情報保存手段と、測定情報保存手段で保存された測定情報と判定情報保存手段で保存された判定用シーケンス情報とを比較し、測定情報のＯＫ／ＮＧ判定を行う判定手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】複数の欠陥種の検出を、検出性能を落とすことなく、短時間で行う。
【解決手段】ＴＦＴアレイの欠陥種に応じた駆動波形を有する駆動信号を複数用意しておき、一つの基板を検査する間に走査条件に応じて印加する駆動信号を切り替えることによって、一つの基板を検査する間に複数の欠陥種の検出を行う。ＴＦＴアレイ検査装置は、ＴＦＴアレイに電子線を走査して照射し、照射電子線によってアレイから放出される二次電子を検出することによりアレイ検査を行う。複数の駆動波形データを記憶する記憶手段と、記憶手段から読み出した駆動波形データを用いてＴＦＴアレイを駆動する駆動信号を生成するＴＦＴ駆動手段と、ＴＦＴ駆動手段が生成した複数の駆動信号からＴＦＴアレイに印加する駆動信号を選択する駆動信号選択手段と、電子線の走査およびＴＦＴアレイの駆動を制御する制御手段とを備える。駆動信号選択手段は、生成した駆動信号を選択する。 （もっと読む）

【課題】非接触式の検査方法において、検査対象となる導電性ラインの位置を正確に特定し得るようにする。
【解決手段】標準基板１０は、支持板１５と、支持板上に形成された少なくとも一群の導電性ライン３０ａと、を備える。各導電性ライン３０は、支持板上を線状に延びる電極ライン部３１と、電極ライン部の端部に接続された延長部３３と、を有する。一群の導電性ラインに含まれる複数の電極ライン部は、一定の間隔を空けて配列されている。一群の導電性ラインに含まれる延長部は、複数のグループに区分けされる。電極ライン部の配列方向と平行な方向に沿って延長部のグループ内で両最外方に位置する一対の延長部３３ｃのそれぞれにダミー欠陥４０が形成されている。 （もっと読む）

【課題】プローブ針と被検査対象の接続端子とのずれの発生を防止することができる検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】検査装置１０は、各々が複数のプローブ針１２１で形成されたプローブ群１２を有する複数のプローブブロック１３と、複数のプローブブロック１３が共通に接続されたプローブベース１４と、基準位置１５ａ、１５ｂと、プローブベース１４の温度を可変させる加熱冷却装置１７を有する。各々のプローブブロック１３の複数のプローブ針１２１が被検査対象の対応する接続端子２０１に接続できるように、被検査対象とプローブベース１４との基準位置が基準位置１５ａ、１５ｂによって設定される。加熱冷却装置１７は、被検査対象の温度が変化する際に、被検査対象の温度変化による形状の変化量に追従するように、プローブベース１４の温度を可変させる。 （もっと読む）

【課題】プローブユニットの交換作業を無くし、また異なるサイズ用のプローブユニットの保管を不要とする。
【解決手段】液晶パネル１ａの電極に接触する複数のプローブピン４８を有するプローブユニットを、液晶パネル１ａの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイド２２に搭載し、液晶パネル１ａの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイド２２に沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めする。同じ複数のプローブユニットを用いて、多種のサイズの液晶パネルの点灯検査が行われる。 （もっと読む）

【課題】目的とする接続部位の抵抗値を選択的にかつ精密に測定評価することができ、これにより、製品品質を適正に確認することが可能な電子部品搭載装置を提供する。
【解決手段】半導体内蔵基板１は、半導体装置１０が、複数の絶縁層の積層体である基板２０中に埋め込まれるように搭載されたものである。半導体装置１０は、抵抗測定評価用の電極Ｅ１ａ，Ｅ１ｂ，Ｅ２から構成される電極群Ｅを有しており、基板２０には、これらの電極に接続された検査端子Ｓ１ａ，Ｓ１ｂ，Ｓ２ａ，Ｓ２ｂから構成される検査端子群Ｓが形成されている。これらの電極群Ｅ及び検査端子群Ｓにより、ソース電流が送通される線路Ｋａ、及び、電圧測定用の線路Ｋｂが画定され、４端子法により電極Ｅ２部分の抵抗値が選択的かつ精密に測定評価される。 （もっと読む）

【課題】ＴＦＴアレイの検査時間を長くすることなく、ＴＦＴアレイの電位をチャージ保持することで検出される欠陥を検出する。
【解決手段】荷電粒子ビームをＴＦＴ基板上で二次元的に走査して走査画像を形成し、この走査画像によりＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置であり、試料を支持するとともに二次元方向に移動するステージと、このステージを駆動制御するステージ制御部と、荷電粒子ビームの走査を制御するとビーム走査制御部と、ＴＦＴ基板への検査信号の印加を制御する検査信号制御部と、走査画像を取得してアレイ検査を行う信号処理部とを備える。ステージ制御部およびビーム走査制御部は、荷電粒子ビームのＸ方向のビーム走査と、ステージのＸ方向と直交するＹ方向のステージ送りとによる二次元走査を一パスとして、ＴＦＴ基板をビーム走査方向に複数のパスで分割して二次元走査し、各パスにおいて、同一のパスを往路と復路とで往復して走査する。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの少なくとも経年劣化、又はこの経年劣化に加えてコンデンサの故障を検知可能な交流直流変換装置を得る。
【解決手段】入力端子３１，３２に交流電源１が接続される整流器３と、整流器３の出力端子３３，３４に直列に接続された第１のコンデンサ部４及び第２のコンデンサ部５と、第１のコンデンサ部４の電圧（以下、電圧Ｖ１という）を検出する第１の電圧検出手段６と、第２のコンデンサ部５の電圧（以下、電圧Ｖ２という）を検出する第２の電圧検出手段７と、電圧Ｖ１及び電圧Ｖ２に基づいて、第１のコンデンサ部４及び第２のコンデンサ部５の少なくとも一方の経年劣化、又はこの経年劣化に加えて第１のコンデンサ部４及び第２のコンデンサ部５の故障を検知する検知手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】温度による電子機器の寿命へ悪影響を与える状況を判別することができる。
【解決手段】温度偏差積算値算出部１２は、電子機器の温度偏差の積算値を、温度上昇分と温度下降分の２種類、算出する。状況判定・報知部１３は、この２種類の温度偏差の積算値に基づいて状況判定し、必要に応じて報知する。状況判定内容は、例えば、「冷却不足状態」、「ヒートショック状態」、「過冷却状態」等である。 （もっと読む）

【課題】 簡易な手段により、電力用コンデンサから発生する異音の原因となっている高調波発生源の方向性を正しく特定する。
【解決手段】 電力系統の配電線１における電圧および電流を測定する計器用変圧器５および計器用変流器６と、計器用変圧器５および計器用変流器６の出力に基づいて電圧の高調波次数成分と電流の高調波次数成分を抽出する高調波測定器７とを備え、電圧の高調波次数成分と電流の高調波次数成分との位相差から、その高調波次数成分の潮流方向を判定することにより、配電線１に設けられた受電設備２内の電力用コンデンサ４で発生する異音の高調波発生源の方向性を特定する高調波探査装置であって、電力用コンデンサ４で発生する異音を検出するマイクロフォン８を備え、そのマイクロフォン８により得られた異音の高調波次数成分を高調波測定器７で抽出し、異音の高調波次数成分に対応する電圧の高調波次数成分と電流の高調波次数成分を特定する。 （もっと読む）

【課題】車載機器と車載通信ユニットとを検査する場合、それらの接続を含めて、一連の検査処理工程で簡単に確実に行い、検査時間を短縮して、検査設備の簡単化及び低コスト化を図ることができる技術を提供する。
【解決手段】車外検査装置５が、車載機器２に第１の検査情報を無線送信し、車載機器２が、車外検査装置５から第１の検査情報を受けて、車載通信ユニット３に第１の検査情報に対応する第２の検査情報を送信し、車載通信ユニット３が、車載機器２から第２の検査情報を受けて、車外検査装置５に第２の検査情報に対応する第３の検査情報を無線送信し、車外検査装置５が、車載通信ユニット３から第３の検査情報を受信して、その第３の検査情報の受信状態が正常か否か判定し、その判定に基づく検査結果を報知する。 （もっと読む）

【課題】配線パターンの腐食による切断およびマイグレーションによるショートを適時に検知できるようにする。
【解決手段】基板１の一部に配線され、その基板１の異常を検出するためのサブパターン４を被覆するサブレジスト８を、他の部位を被覆するソルダレジスト７の厚さより薄くなるように形成し、そのサブパターン４を、所定の間隔を保持して並行させるように配置した。 （もっと読む）

【課題】 半導体のグランド端子から高周波ノイズを注入した場合の半導体装置のイミュニティ評価を行うことができる半導体評価装置を実現する。
【解決手段】 ＬＳＩ１０のグランド端子１２はインダクタＬを介して接地されているため、高周波ノイズ発生器２から発生した高周波ノイズの交流成分をグランド端子１２に注入することができる。従って、グランド端子１２から高周波ノイズを注入した場合のＬＳＩ１０のイミュニティ評価を行うことができる。また、電路１４には、インダクタＬの一端が電気的に接続されており、インダクタＬの他端が接地されてなるため、グランド端子１２に注入された高周波ノイズがグランド端子１２から流出するおそれがない。従って、ＬＳＩ１０のグランド端子１２に高周波ノイズを定量かつ安定に注入することができるため、ＬＳＩ１０のイミュニティ評価を高精度に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】画素内に発生する画素欠陥を容易に検出可能な表示装置、および欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】表示装置１は、ソース線２３に直交する複数のゲート線２２および検査用ゲート線２２Ａを備えた表示パネル２と、ソース駆動制御部３と、ゲート駆動制御部４と、検出手段が接続可能な検出端子に、検査用ゲート線２２Ａの各検査用画素にて保持された電荷を出力する検査回路５と、を具備する。そして、この表示装置１は、ソース線２３への電流の導通状態を制御するソース導通制御手段１１０と、ソース線２３への電流の導通が許可された状態で、検査対象となる画素に電荷を保持させる充電制御手段１２０と、ソース線２３への電流の導通が遮断された状態で、検査対象となる画素から検査用画素に電荷を移動させる電荷移動制御手段１３０と、検査用画素に保持された電荷を順次検出端子に出力する検査電荷出力制御手段１４０と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】ターゲット基板の残留電圧や残留電荷があるレベル以下になるまでターゲット基板を取り出せないようにして、基板部品の破損や、試験者等の感電等の問題をなくした基板検査装置を提供する。
【解決手段】レバー４を回動させてピンボードをターゲット基板ごと上昇させ、プローブピンをテストポイントに当接させて通電し、ターゲット基板の動作試験を行う。試験終了後、ターゲット基板が有する電解コンデンサの蓄積電荷が減るまでソレノイドロック１８のピン１９で回転ブロック１４の下降回転、すなわちレバー４の回転を機械的に阻止する。ある程度時間が経過すると電解コンデンサの蓄積電荷量が少なくなるので、ソレノイドロック１８をオフとし、ピン１９を没入状態に戻し、レバー４を上向きに回転させればピンボードが下降して待機位置に戻り、天板を開けてターゲット基板を取り去れるようにする。 （もっと読む）

【課題】導電性パターン部を小さくすることなく、近年のドライバーＬＳＩのバンプ間の狭ピッチ化に対応可能な液晶表示装置およびその検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る液晶表示装置は、複数の液晶表示素子が形成された表示部２１と、表示部２１の電極基板１に形成され、複数の液晶表示素子に信号を供給する複数の配線３ａ−１，３ａ−２とを備える。そして、電極基板１の周縁部に設けられ、複数の配線３ａ−１，３ａ−２の電極端子と接続するドライバーＬＳＩ６と、表示部２１とドライバーＬＳＩ６との間に位置する各複数の配線３ａ−１，３ａ−２を分岐してなる測定配線４−１，４−２とを備える。そして、分岐点を除く測定配線４−１，４−２上に第１の絶縁層を介して形成され、各複数の配線３ａ−１，３ａ−２から分岐した測定配線４−１，４−２同士にまたがって形成される導電性パターン部７とを備える。 （もっと読む）

【課題】電気光学装置の検査時において電気光学装置の基板に接合されたフレキシブル基板に不良を生じさせることのない電気光学装置の検査装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板上に一端が接合され他端が前記基板から所定の方向へ延出するフレキシブル基板を具備してなる電気光学装置の検査装置において、前記電気光学装置を保持する保持部と、前記電気光学装置を駆動する制御装置と、前記フレキシブル基板の他端が挿抜される開口部を有し前記フレキシブル基板と前記制御装置とを電気的に接続するクリップコネクタと、前記クリップコネクタを保持するコネクタ保持部と、を配設し、前記クリップコネクタを、前記開口部が、前記保持部に保持された状態の前記電気光学装置から延出する前記フレキシブル基板の延出方向に対向するように前記コネクタ保持部により位置決めする。 （もっと読む）

【解決手段】プラズマ処理チャンバ内で非閉じ込めプラズマ事象を検出するためのシステムが開示されている。システムは、プラズマ処理チャンバ内に配置され、非閉じ込めプラズマがプラズマ処理チャンバ内に存在する時に電流を供給するセンサを備えてよい。システムは、さらに、電流を電圧に変換するための変換器と、電圧からノイズを除去して第１の信号を供給するためのフィルタと、を備えてよい。システムは、さらに、第１の信号の増幅レベルおよび／または第１の信号を用いて、非閉じ込めプラズマの存在を決定するための検出器を備えてよい。システムは、さらに、センサおよび変換器を接続して、電流をセンサから変換器に伝導するための導体を備えてよい。システムは、さらに、導体の少なくとも一部を囲んで、導体が受ける電磁ノイズを少なくとも低減するためのシールドを備えてよい。 （もっと読む）