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Fターム[2G036CA12]の内容

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Fターム[2G036CA12]に分類される特許

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【課題】部分的に構成材料を入れ替えて再利用しようとした消耗部品であっても、通常の正規品として判断されることのない部品識別システムを実現する。
【解決手段】消耗部品10には、PTC素子100およびアンチヒューズ103を有する特性検出部101が備えられてる。消耗部品10を識別する場合には、電源部200から識別用電圧信号を特性検出部101へ印加することで、PTC素子100の変動特性に応じた検出電圧信号が出力される。ここで、特性切替用電圧信号の印加前にはアンチヒューズ103が開放となり、特性切替用電圧信号の印加後にはアンチヒューズ103が短絡するので、特性切替用電圧信号の印加前後では検出電圧信号が変化する。これを利用し、主制御部111は、消耗部品10の十分な消耗を検出すると、特性検出部101のアンチヒューズ103へ特性切替用電圧信号を印加する。 (もっと読む)


【課題】 試験装置において動作する測定プログラムを不正に利用されるのを適正に防止できる測定プログラム起動方法を提供する。
【解決手段】 試験装置に接続される保護デバイス10の書き換え不可領域には、試験装置における測定を行う測定プログラム20の起動制御を行う起動制御プログラムと固定情報が記憶され、書き換え可能領域には以前の測定に関する情報が記憶され、通信処理手段案12が保護デバイス10から固定情報及び以前の測定に関する情報を取得し、保護デバイス一致判定手段13が保護デバイス10を適正と判定すると、起動判定手段14及び起動許可手段15が、測定プログラム20の起動を許可する測定プログラム起動方法である。 (もっと読む)


【課題】自己診断機能を備えたマルチチャンネル変換器。
【解決手段】装置は、複数のチャンネルと、変換器と、制御ブロックと、カウンタとを含む。チャンネルは、第1の複数の信号を測定するために使用されることができる。変換器は、第1の複数の信号と第2の複数の信号とを比較するために使用されることができる。制御ブロックは、チャンネルおよび変換器を制御し、任意のチャンネルおよび変換器が異常状態を経験するかを判断するために使用されることができる。カウンタは、チャンネルおよび変換器が異常状態を経験する数を計数するために使用されることができる。 (もっと読む)


【課題】処理装置の検査を適切なタイミングで行うことが可能な劣化診断装置を提供する。
【解決手段】劣化診断装置100は、検査対象となる処理装置30を検査する検査手段(例えば、検査装置20及び制御装置10により構成される)と、処理装置30の劣化と相関的に劣化する被検体の劣化である相関劣化を検出する劣化検出手段(劣化検出装置40)とを備える。検査手段(検査装置20及び制御装置10)は、劣化検出手段(劣化検出装置40)により相関劣化が検出された場合に処理装置30を検査する。 (もっと読む)


【課題】 スリットとアーム領域との間の加工誤差に起因する針先領域及びアーム領域の捩れ変形を低減することにある。
【解決手段】 プローブ組立体においては、各プローブは、そ針先領域がスリットバーのスリットから下方に延びる状態に、少なくともアーム領域においてスリットに受け入れられている。また各プローブは、アーム領域の後端部から上方に突出する荷重伝達部であって、対応するスリットに受け入れられた荷重伝達部を備えている。各プローブのアーム領域は、少なくとも荷重伝達部より先端側の部位の上面を前記奥底面から下方に離間されている。 (もっと読む)


【課題】コンデンサの状態を推定すること。
【解決手段】第1のコンデンサと、第1のコンデンサの一部に配置される第2のコンデンサと、第2のコンデンサを測定して得られる測定情報を処理することにより第1のコンデンサの推定された状態を示す推定状態情報を出力する制御部と、を有するコンデンサの状態推定システムとしている。 (もっと読む)


【課題】診断対象となる電気設備の正常状態のみの診断データのみを用意しておくことで、効率的にその設備の良否判断が可能な電気設備の良否診断システムを提供することを課題とする。
【解決手段】上記課題を解決するための電気設備の良否診断システム1は、診断対象となる電動機Mが正常状態のときに演算部3の平均・標準偏差演算部4は、特徴量検出部2で得られた特徴量の平均と標準偏差とを導出して記憶する。演算部3の確率演算部5は、実際に設備を診断する場合に、特徴量検出部2で得られた特徴量と、平均・標準偏差演算部4に記憶されている前記平均と標準偏差とに基づいて決定された楕円体の内側に存在する確率を計算すると、診断部6は、その計算された確率値に基づいて当該設備が正常か異常かを診断して表示部7に表示させる。 (もっと読む)


【課題】所望する傾斜状態で電子デバイスの電気的特性の検査を行なうことができる電子デバイス検査装置を提供する。
【解決手段】加速度センサー等の電子デバイスを検査する電子デバイス検査装置に、電子デバイスを温度調整する温度調整手段30、鉛直方向と直交する第1の水平方向を軸心として第1のモータ35により回転される第1の軸部36、第1の水平方向を軸心として回転される挟持手段28、挟持手段28の固定された第1の軸部36を第2のモータ38により任意の角度に回転させる第2の軸部39を備える。これにより、挟持手段28に挟持された電子デバイスを保持した治具7を、第1の軸部36と第2の軸部39からなる2軸により任意の方向に自由に傾斜させることができるので、温度調整手段30で所定の温度になされた電子デバイスを所望する任意の方向に傾斜させた状態で電気的特性の検査を行なうことができる。 (もっと読む)


【課題】電子デバイスの生産効率の向上を図った電子デバイス検査装置及び電子デバイスの検査方法を提供する。
【解決手段】ターンテーブル5に保持された治具7に加速度センサーや傾斜角度センサーとして採用される電子デバイス6を供給し、電子デバイス6の供給された治具7を一定方向に回転されるターンテーブル5によって、常温検査ユニット10、低温検査ユニット11、高温検査ユニット12の順に搬送する。これらの検査ユニットまで搬送されてきた電子デバイス6は、常温、低温、高温状態で傾斜されて電気的特性の検査が行なわれた後、電子デバイス6の供給位置近くに配置された回収位置から順次回収される。こうした一連の動作を繰り返し行なうことにより、電子デバイス6の検査や回収を継続的に効率良く行なうことができる (もっと読む)


【課題】本発明は、製品テストの信頼性向上とテストケーブルの紛失防止とを同時に実現でき、利便性を著しく向上できるテスト装置を提供することを目的とするものである。
【解決手段】本発明によるテスト装置は、装置本体10に設けられた本体側コネクタ部10aが装置本体10内の自己診断部12に接続され、本体側コネクタ部10aにケーブル側コネクタ部20aが接続された場合に、製品テスト部11及び前記テストケーブル20が正常か否かを自己診断部12が診断する構成である。 (もっと読む)


【課題】不検出や誤検出を回避でき、診断の信頼性が向上したエンジンコントロールユニットを提供することにある。
【解決手段】エンジンコントロールユニット2は、マイコン7と、ドライバIC9を備える。エンジンコントロールユニット2は、車両に搭載され、外部センサからの信号を処理し、かつ、外部の車両機器に各々の機器に応じたパルス信号を出力し、車両を制御する。マイコン7の判断部24は、ドライバIC9の出力端子Toの異常状態の診断に対して、その診断の信頼性を判断する。判断部24は、ドライバ電源電圧、ドライバ駆動周波数、オンデューティー比を検出することにより、診断の信頼性が低い領域で駆動している場合にフラグを立てる。 (もっと読む)


【課題】 キャパシタの劣化判断を、より高精度に行う方法を提供する。
【解決手段】 内部抵抗と静電容量との測定結果から、キャパシタの内部抵抗に依存し、内部抵抗の増加に関して単調に変化する内部抵抗劣化指数、及び静電容量に依存し、静電容量の低下に関して単調に変化する静電容量劣化指数を算出する。一方の指数を一方の軸とし、他方の指数を他方の軸とする直交座標系内に、内部抵抗の増加量及び静電容量の低下量が共に0となる開始点、及び内部抵抗の増加量及び静電容量の低下量が共に許容限界値となる許容限界点を対角の2つの頂点とする長方形を定義する。この長方形の開始点に連続する一対の辺のうち一方の辺上の点と、他方の辺上の点と結ぶ第1の境界線を定義する。算出された2つの指数で示される現在の状態を示す点が、開始点から見て、第1の境界線を越えているか否かを判定する。判定結果に基づいて、キャパシタの劣化状態を判断する。 (もっと読む)


【課題】インバータの運転中でも主回路コンデンサの容量を演算してその劣化を検出可能とした主回路コンデンサの容量演算装置及び劣化検出装置を提供する。
【解決手段】インバータ回路4の直流側に接続された主回路コンデンサ3の容量を演算する容量演算装置において、主回路コンデンサ3の電圧を検出する電圧検出器3aと、この検出電圧から主回路コンデンサ3の電圧変化率を演算する電圧変化率演算器5と、前記電圧変化率が負であり、かつ一定値である期間に演算指令を出力する演算タイミング発生器6と、前記演算指令により、主回路コンデンサ3の電圧、前記電圧変化率及びインバータ回路4の発生電力を用いて主回路コンデンサ3の容量を演算する容量演算器7と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 スリットのピッチを小さくすることなく、プローブを狭ピッチで配置することができるようにすることにある。
【解決手段】 プローブ組立体は、帯状の取付領域及び該取付領域の先端からさらに前方へ延びる先端側針先領域を備える複数のプローブを、取付領域の幅方向が上下方向となる状態に支持体の下側に並列的に配置している。複数のプローブは、それぞれが針先領域の一部が支持体の先端側に配置されて前記プローブの配列方向へ延びるスリットバーに該スリットバーの長手方向に間隔をおいたスリットに受け入れられた複数の第1のプローブと、隣り合う第1のプローブの間のそれぞれに配置された第2のプローブとを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体や電池などの物理デバイスの容量特性や過渡特性を含む非線形特性を有する電圧電流特性も精度よく模擬できる電圧電流特性模擬装置を実現する。
【解決手段】電圧電流特性模擬装置は、演算部4によりソースメジャーユニットを制御し、演算部4は、演算アルゴリズムが記述されたプログラムファイルとデバイスの非線形特性を表すテーブル記述ファイルが格納されている格納部41と、プログラムファイルを解釈して中間コードを生成するプログラム解釈部43と、テーブル定義ファイルを解釈してその内容が格納された配列を生成出力するテーブル解釈部45と、テーブル解釈部45から生成出力される配列を補間する補間演算部46と、測定値とプログラム解釈部43で生成される中間コードと補間演算部46の補間結果が入力され、補間演算に必要な引数とソースメジャーユニットの設定値を変更するための発生値を出力するプログラム実行部44、を有する。 (もっと読む)


【課題】複数の電極が設けられた基板において、基板の熱膨張の程度によらず、電極に接続された配線の導電性及び絶縁性を検査可能である電極基板を提供する。
【解決手段】基材と、前記基材の端部に向かい放射状に広がるように配置した複数の第1電極と、前記複数の第1電極が放射状に広がる端部に対向した端部から前記複数の第1電極に向かって放射状に広がる複数の第2電極とを備え、前記複数の第1電極は、前記基材が熱変形した後の第1の位置における第1電極の間隔と同じ間隔である第2の位置を有し、前記複数の第2電極は、前記基材が熱変形した後の第3の位置における第2電極の間隔と同じ間隔である第4の位置を有することを特徴とする電極基板。 (もっと読む)


【課題】酸化亜鉛形避雷器を送変電系統に使用しているときと模擬した状態の放圧試験が行え、装置全体も経済的に製作できる酸化亜鉛形避雷器の放圧試験方法及び放圧試験装置を提供する。
【解決手段】第1の電源回路10で発生させた雷電流を印加して酸化亜鉛形避雷器1を構成する酸化亜鉛形素子を破壊し、その破壊された酸化亜鉛形素子に対して第2の電源回路20から放圧電流を印加して酸化亜鉛形避雷器の放圧試験を実施する。第1の電源回路10は、雷電流発生させる共振回路11と、これに直列接続して酸化亜鉛形素子を破壊する雷電流を流す投入手段12を備えており、第2の電源回路20は、短絡発電機を用いた交流電源AC2と、これに直列接続する限流リアクトルL2と遮断器CB2を備えている。 (もっと読む)


フロントエンドモジュールをより簡単にかつより速く検査するために、さらなるリンクされた動作状態が、スイッチおよび/またはそのデコーダに設けられ、複数の経路を、検査機器、特にネットワークアナライザで、より少数の検査ルーチンで検査するために、並列して有効化できるようにする。
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【課題】 設置位置を容易に変更することができる電磁計測供試体台を提供する。
【解決手段】 供試体台11は、脚部12、天板14、接続腕部材17、接地板21等によって構成する。また、天板14の表面14AにはX軸方向に延びる収容溝部15を形成し、この収容溝部15内に接続腕部材17を進退可能な状態で取付ける。そして、接続腕部材17の腕部17Aはボルト24を用いて接地板21に接続すると共に、接続部17Bはボルト19を用いて電波無響室1の壁面金属板2に接続する。 (もっと読む)


【課題】外気温の変化に伴う影響を受け難く、良好に課通電試験を行うことができる電力ケーブルの課通電試験方法、及びこの試験方法の実施に利用される電力ケーブルの課通電試験システムを提供する。
【解決手段】課通電試験システム1は、閉ループ状に配置された供試ケーブル2の導体20に電流を流す導体用CT3と、導体20の温度の測定に利用される導体通電用ダミーケーブル4とを具える。更に、システム1は、温度調整用金属層61を有する金属層通電用ダミーケーブル6を具え、この温度調整用金属層61と、ダミーケーブル4に具える通電用金属層41と、供試ケーブル2の導体20の外周に設けられた金属層21とをリード部62a,62b,62cで接続して閉ループ60Rを形成し、金属層21にも電流を流す構成である。金属層21への通電に伴う発熱により、導体20の温度を上昇することができる。 (もっと読む)


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