【課題】被検査物の隅部であっても欠陥を検出でき、かつ、欠陥を容易に検出することができる欠陥検出方法及び装置を提供する。
【解決手段】欠陥検出方法は、同一繰り返しパターンを有する被検査物を撮像して画像を取得する画像取得工程と、取得した画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程とを有する。欠陥強調処理工程ＳＴ３は、撮像画像において検査対象点を順次選定する検査対象点選定工程ＳＴ３１と、選定された検査対象点の輝度値と、その周囲に複数配置された比較対象点の輝度値との差をそれぞれ求め、各輝度差データのうち、その値が最小となるものを選択して前記検査対象点の欠陥強調値とする欠陥強調値算出工程ＳＴ３２とを有する。 （もっと読む）

【課題】配線パターンの不良を確実に抽出し、配線パターンの変形の程度が実用上で問題を生じない程度であるときには良品と判断できるようにして歩留まりを高める。
【解決手段】撮像手段１１は絶縁材料からなる基台の表面に配線パターンを形成した実装基板１の画像を撮像する。撮像手段１１により得られた濃淡画像は分離手段２１により二値化される。二値化された画像内の着目領域について、領域調節手段２２では配線パターンの画素値を持つ画素の縮小処理と膨張処理とを択一的に行う。ラベリング手段２３は、縮小処理または膨張処理の後に画像内の連結領域にラベルを付与し、比較手段２４において設計した配線パターンの個数とラベル数とを比較する。両者が一致した場合には、検査手段２５において連結領域についての良否を検査する。 （もっと読む）

【課題】周期未定の周期性ノイズか又は繰返しパターンのある画像でこれら以外の部分のコントラストが低い場合における欠陥抽出を、従来の欠点を排除し、高速に実行することが可能な欠陥検査方法を提供すること
【解決手段】Ｘ方向およびＹ方向各々に対して得られた、検査対象画素ラインと近傍にある画素ラインまたは繰返しパターンの周期分離れた位置にある画素ラインとの濃度差分画素ラインから、Ｘ方向濃度差分画像とＹ方向濃度差分画像を得て、各画素に対する濃度差分値によって定義される欠陥強度と欠陥方向を使用して欠陥候補を抽出し、その結果に対して領域分割と分割領域に対する濃度統計量によって欠陥候補存在領域を絞り込み、欠陥の連続性判定により欠陥を抽出する。 （もっと読む）

【課題】 教示過程において自己発展的に目標となる処理を習得するアルゴリズムに高速に処理させることが可能な教示用画像を生成することが可能な教示用画像生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体と、優良な画像処理アルゴリズムを高速に生成することが可能な画像処理アルゴリズム生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体と、適切に検査対象画像の良否を判定可能な画像検査方法および装置、プログラムならびに記録媒体とを提供する。
【解決手段】 検査領域を有する教示用画像において、指定された検査領域内の検査領域画像の特徴量を算出し、算出された画像を配置する位置に、検査領域画像の特徴量を変化させた変化検査領域画像を配置した新規欠陥追加教示用画像を生成する。 （もっと読む）

【課題】
農産物における種々色の傷害を検出することができ、傷害のある農産物をより正確に選別させることができる農産物の外観検査装置を提供する。
【解決手段】
農産物Ｎを撮像手段３にて撮像し、得られた画像から外観上の傷害を検出する農産物の外観検査装置において、傷害部の特徴色を指定する複数の色指定部１０〜１２を具備し、それぞれの色指定部には、撮像手段３で得られた画像に対して指定された特徴色を抽出するための複数の画像処理を施す画像処理部１０ａ〜１２ａと、該画像処理部にて画像処理された複数の画像を論理積演算する論理積演算部１０ｂ〜１２ｂとが形成されるとともに、各色指定部の論理積演算部にて論理積演算された画像を論理和演算する論理和演算部１５と、該論理和演算部１５にて論理和演算された画像に基づき農産物Ｎの傷害を検出する傷害検出部１６とを備えたものである。 （もっと読む）

【課題】ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、スミア現象を防止しつつ、検査に際しての処理の複雑化を抑制し、検査精度の向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。
【解決手段】不良検査装置２１は、搬送される容器フィルム３に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム４が取着される前段階において用いられる。不良検査装置２１は、第１光源及び第２光源を具備する照明装置２２と、錠剤を透過してくる光を撮像可能なカメラ２３と、カメラ２３から出力される画像信号を処理する画像処理装置２４とを備える。照明装置２２は、容器フィルム３のポケット部側に設けられ、カメラ２３は、照明装置２２とは容器フィルム３を介して反対側に設けられる。そして、第１光源からの光のうち錠剤を透過した光と、第２光源からカメラ２３に直接入射する光とによって錠剤の欠け等に関する透過光検査が実施される。 （もっと読む）

【課題】 擬似欠陥の誤認識率を下げながらも欠陥分類の精度を高くする。
【解決手段】 検査対象物１を撮像した披検査画像と欠陥のない参照画像を比較することにより欠陥の抽出及び分類を行なう際に、まず撮像装置１０により撮像された検査対象物１の被検査画像と参照画像を比較して、第１の検出感度で差画像を抽出し、そして第１の検出感度で抽出される差画像の有無により、擬似欠陥又は真の欠陥かを示す分類コード１０１を付与する。次に、撮像装置１０により撮像された検査対象物１の被検査画像と参照画像を比較し、上記第１の検出感度より高感度の第２の検出感度で差画像を抽出し、そして種々の欠陥の特徴情報が保存されたデータベース９０を参照し、第２の検出感度で抽出された差画像から得られる特徴情報を基に、当該差画像に対して該当する欠陥の分類コード１０２を付与することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
コード情報としてすかし画像が形成された用紙のすかし画像の品質の検査を抄紙機上で全数検査を行う際、外乱の影響により、用紙の透過光量や照明の照度が変化しても安定した測定及び良否判定が行える検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】
本発明は、すかし画像を含む領域の透過光画像の輝度に合わせてしきい値を自動的に変更して透過光画像データを入力し、すかし部と背景部に切り分け、濃度分布からすかし画像の鮮明度の測定と、二値化した透過光画像からすかし画像のパターン形状の測定とを行い、基準となるすかし画像品質とで比較検査する検査方法及び検査装置である。 （もっと読む）

【課題】 シミ欠陥を高精度に検出できるシミ欠陥検出方法及び装置を提供する。
【課題手段】 シミ欠陥検出方法は、撮像した画像の各画素に対してシミ欠陥強調フィルタをかけてシミ欠陥を強調するシミ欠陥強調処理工程S5と、前記シミ欠陥強調処理工程で得られた各画素のシミ欠陥強調値に基づいてシミ欠陥を検出するシミ欠陥検出工程とを有する。シミ欠陥強調処理工程S5は、撮像画像において選択された対象画素から所定距離離れてかつ対象画素の周囲に配置された各輝度比較画素を、対象画素を挟んで対称位置に配置された２つの輝度比較画素毎のセットに分け、対象画素の輝度値と各セットの２つの輝度比較画素の平均輝度値との差の値を求め、各セットの差の値のうち、絶対値が最小となる値を対象画素のシミ欠陥強調値とする。そして、各画素のシミ欠陥強調値を所定の閾値と比較してシミ欠陥候補の画素を抽出してシミ欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】認識エラーの少ないパターン認識装置およびパターン認識方法を提供することを目的とする。
【解決手段】透明基板に形成された透明電極のパターンを画像認識により検出するパターン認識において、読取画像の輝度分布をヒストグラム２４ａに表示させ、透明電極のパターン画像に対応する度数集積部２５ａと透明基板の背景画像に対応する度数集積部２５ｂとを切り分けるための第１の設定値Ｔ１，第２の設定値Ｔ２を設定する。パターン検出に際しては、第１の設定値Ｔ１以上の輝度値を有する画素の輝度値を最大階調値２５５に変換し第２の設定値Ｔ２以下の輝度値を有する画素の輝度値を最小階調値０に変換した明るさ補正画像を対象として、パターンマッチングを行う。これにより、認識対象の読取画像中の画像ノイズや異物による影響を排除して、安定した認識を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 複数枚同時にセットされるウエハのうちの１枚が外観検査を行っている間の他のウエハの待ち時間を有効に活用して、効率の良いウエハ検査を行うことが可能な外観検査装置を提供する。
【解決手段】 外観検査装置１は、試料２３の表面を撮像して得た撮像画像からその外観を検査する外観検査手段２に加えて、この外観検査手段２が試料２３の外観検査を行う前に試料２３について所定の前検査を行う前検査手段３を備えて構成される。そして、外観検査手段１は、当該試料について行われた前検査の結果に基づき外観検査の検査条件を変更する一方で、前検査手段３は、当該試料２３の前検査を、外観検査手段２が当該試料２３以外の他の試料２３の外観検査と平行して行う。 （もっと読む）

【課題】検査対象の粒状物体が重なったり接触している場合でも粒状物体の個数を正確に計数できる粒状物体の検査方法及びそれを用いる検査装置を提供する。
【解決手段】画像処理部３は、画像記憶部２に記憶された二値画像から粒状物体１０ａ，１０ｂに対応する塊領域を抽出し、塊領域の内側に輪郭線に沿って複数の参照点を分散配置し、各参照点について塊領域内を通して見通せる他の参照点の数を計数した後、対象領域内にある参照点から計数値が最小の参照点を基準点として抽出する処理と、当該基準点から対象領域の領域内を通して見通せる参照点を全て選択し、選択された全ての参照点及び基準点の間を互いに結んでできる領域を物体領域として抽出する処理と、対象領域から物体領域を除いた領域を新たな対象領域とする処理とを繰り返し行い、検査処理部５が抽出された基準点の数をもとに粒状物体の個数を求めている。 （もっと読む）

【課題】適正な領域設定を迅速かつ容易に行うことのできる検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。
【解決手段】外観検査装置２１は、撮像装置２３、画像処理装置２４等を備えている。画像処理装置２４は、画像メモリ４１、ＰＴＰフィルムに対する撮像装置２３の各カメラ位置を取得するカメラ位置取得手段４２、ＰＴＰシートの寸法等の各種データを座標データに変換するデータ変換手段４３、ＰＴＰシートの寸法等の各種データを記憶するデータ記憶手段４４等を備えている。そして、外観検査装置２１は、ＰＴＰフィルム及び撮像装置２３の位置関係と、ＰＴＰシート及びポケット部の形状及び寸法とを基に、各種領域を少なくともフィルム幅方向に対し位置決めして設定する。 （もっと読む）

【課題】検査状況を把握可能な検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供し、もって、検査状況が適切でない場合に、迅速な対応を可能とする。
【解決手段】検査を実行し（Ｓ１００）、不良判定された場合（Ｓ１１０：ＹＥＳ）、不良発生日時及び不良項目からなる不良履歴に関連付けて、画像データ、シート位置追従量、及び、判定値を記憶する（Ｓ１３０〜Ｓ１５０）。そして、不良発生情報中の不良項目が作業者によって選択されると、通常時は検査対象の画像が表示される画面左側に、不良判定されたときのＰＴＰフィルムの画像を表示する。さらに、不良発生情報の表示欄の下方に、不良判定されたときのシート位置追従量を表示すると共に、判定に用いられれた判定値を表示する。 （もっと読む）

【課題】不規則な切削加工痕が存在する表面でも、鋳巣や圧痕などの表面欠陥の安定的な検出を可能にすること。
【解決手段】 ワークの加工面である検査平面５に対して垂直に配設される面照明１としての同軸的に配設された中心面照明１１と環状面照明１２と、前記ワークの検査平面５によって反射した反射光を受光するレンズ２および該レンズ２が受光した反射光により撮像される前記ワークの検査平面５の画像の位置にＣＣＤ素子３０が配設されるカメラ３を配置した検査ヘッド４と、ロボット６と、画像処理装置７と、ロボットコントローラ８と、制御装置９と、面照明の明るさを調節可能な電源１０とから成り、前記ワークの検査平面５における加工痕を消すために前記ワークの検査平面の欠陥以外の部分を撮像する前記ＣＣＤ素子３０が飽和気味になるように、レンズの絞りとカメラの露光時間と面照明の明るさが調整される欠陥検査装置および欠陥検査方法。 （もっと読む）

【課題】不規則な切削加工痕が存在する表面でも、鋳巣や圧痕などの表面欠陥の安定的な検出を可能にすること。
【解決手段】 ワークの加工面である検査平面５に垂直な線Ｎに対して等角度で傾斜させて対向させた面照明１と、前記ワークの検査平面５によって反射した反射光を受光するレンズ２および該レンズ２が受光した反射光により撮像される前記ワークの検査平面５の画像の位置にＣＣＤ素子３０が配設されるカメラ３を配置した検査ヘッド４と、ロボット６と、画像処理装置７と、ロボットコントローラ８と、制御装置９と、面照明の明るさを調節可能な電源１０とから成り、前記ワークの検査平面５における加工痕を消すために撮像された前記ワークの検査平面のうち欠陥以外の部分を撮像する前記ＣＣＤ素子３０が飽和気味になるように、レンズの絞りとカメラの露光時間と面照明の明るさが調整される欠陥検査装置および欠陥検査方法。 （もっと読む）

【課題】 コンクリート等の構造物表面に染みや汚れが付着していても、構造物表面に生じているひび割れを明瞭に把握する。
【解決手段】本発明に係る構造物表面のひび割れ検出方法は、コンクリート構造物の表面を撮像した原画像データに対し、ウェーブレット変換を用いて低周波成分を除去する処理を行うことにより、空間変化率が小さい構造物表面の染みや汚れを除去した二値化画像データを作成するとともに、かかる二値化画像データを用いて原画像データを広義の意味で線形補間する、すなわち、ひび割れに該当する画素を隣接する画素の平均輝度値で置換することによって背景画像データを作成し、かかる背景画像データで原画像を除算することにより、染みや汚れあるいは光ムラを確実に除去しながら、ひび割れだけを明瞭に抽出することができる。 （もっと読む）

【課題】 疵候補の未検出や過剰検出あるいは単発疵によるノイズが多い場合であっても、高精度で周期疵の有無を判定することができる帯状体や柱状体の周期疵検出方法およびその装置を提供すること。
【解決手段】 移動する帯状体や柱状体の表面を撮像し、撮像画像を画像処理して周期疵を検出する帯状体や柱状体の周期疵検出方法において、撮像画像から帯状体や柱状体の長手方向に間隔をおいて現れる複数の疵候補を抽出し、長手方向位置ｘにおける疵候補画像Ｆ（ｘ）と長手方向位置をτずらしたときの疵候補画像Ｆ（ｘ＋τ）との相関を画像の類似度で演算し、さらに長手方向に関して前記類似度の総和を求め、τを変化させて前記類似度の総和を比較して、周期疵を検出することを特徴とする帯状体や柱状体の周期疵検出方法。 （もっと読む）

【課題】 大部分が平面で、一部に凹凸などの非平面部を有する物品表面を、非平面部は欠陥として検出せず、非平面部内の欠陥は検出可能な表面検査方法及び装置の実現。
【解決手段】 ほぼ平面に近い連続した表面11と仕様上設けられた凹凸などの非平面部12,13とを有する物品表面10の欠陥を検査する表面検査方法であって、物品表面の画像を撮影し103、非平面部の画像と平面の画像との差から、非平面部の画像を平面の画像と同等の画像にする非平面部補正データを演算し108、非平面部補正データに基づいて非平面部の画像を補正し109、非平面部の画像を補正した後の物品表面の画像を処理して物品表面の欠陥を検出する110-114。 （もっと読む）

【課題】 ムラ欠陥を高精度に検出できるムラ欠陥検出方法及び装置を提供する。
【課題手段】 ムラ欠陥検出方法は、撮像した画像の各画素に対してムラ成分強調フィルタをかけてムラ成分を強調するムラ成分強調処理工程と、前記ムラ成分強調処理工程で得られた各画素のムラ成分強調値に基づいてムラ欠陥を検出するムラ欠陥検出工程とを有する。ムラ成分強調処理工程は、対象画素から所定距離離れてかつ対象画素の周囲に配置された輝度比較画素を、各輝度比較画素の輝度値の大きさの順に並び替えた際に中央部分に位置する所定数の画素の輝度平均値を求め、この輝度平均値と対象画素の輝度値との差分を計算して対象画素のムラ成分強調値とするムラ成分強調フィルタを用いてムラ成分を強調する。ムラ欠陥検出工程は、前記各画素のムラ成分強調値を所定の閾値と比較してムラ欠陥候補の画素を抽出してムラ欠陥を検出する。 （もっと読む）