【解決手段】 一実施形態において、集束イオンビーム（ＦＩＢ）で基板を切断することにより、前記基板から少なくとも部分的に試料を切断する工程と、把持要素を作動させることにより前記基板試料を捕持する工程と、前記捕持済み試料を前記基板から分離させる工程とを含む方法。前記捕持済み試料は、前記基板から分離して検査用に電子顕微鏡へ移送することもできる。 （もっと読む）

本発明は、（Ｉ）化学的硬化性インプリント材料を使用して
（１.１）物品の損傷されない表面
（１.２）機械的作用および／または化学的作用によりおよび／または放射線および／または熱の作用により損傷された物品の表面および／または
（１.３）機械的作用および／または化学的作用によりおよび／または放射線および／または熱の作用により損傷された、物品の表面に取り付けられた試験体の表面
の少なくとも１つの位置のインプリントを取り、
（ＩＩ）インプリント材料を硬化し、損傷の画像のネガを形成し、
（ＩＩＩ）表面構造の％での面積割合および／または損傷の画像中の表面の損傷の％での面積割合をネガの光学顕微鏡写真により画像分析により決定する
ことにより表面構造を特性決定する方法に関する。本発明は更に材料を変性、開発および／または製造するための前記方法の使用に関する。 （もっと読む）

【課題】
コンクリート供試体製造用型枠の収納スペースの省スペース化、準備作業及び成形後の処理作業の簡易化、レイタンス除去処理とキャッピング処理の簡易化
【解決手段】
コンクリート供試体製造用型枠１は、コンクリート供試体の下面を成形する下枠２と、下枠２の取り付けられコンクリート供試体の側周面を成形する円筒枠３と、円筒枠３の上端に装着されるキャップ４と、下枠２を支持する受け台５と、受け台５にコンクリートが付着するのを防止する中間支持部材６（カバー）を備えている。下枠２、円筒枠３、キャップ４、中間支持部材６（カバー）は一度使って廃棄する使い捨ての部材として用いる。また、円筒枠３の上端にキャップ４を被せており、コンクリート供試体の上端部で水分が乾燥するのを防いでいる。従って、キャッピング処理で水打ちを省略することができる。 （もっと読む）

本発明は、例えば集積回路（ＩＣ）といったような、モールド組成物内に封入されたデバイスの繊細な構造を露出させるための方法およびシステムに関するものである。レーザーを使用することにより、モールド組成物を蒸発させて除去することができ、これにより、直下の構造を露出させることができる。レーザービームを、デバイスの表面上にわたって所望ラスターパターンでもって走査することができる。あるいは、デバイスを、レーザービームに対して相対的に、所望パターンに沿って駆動することができる。蒸発除去プロセスによって放射されたレーザープルームに関してスペクトル解析を行うことにより、蒸発除去された材料の組成を決定することができる。 （もっと読む）

本発明は、組織微細配列のスライド上の目的位置に任意の組織を配列するレシピエントブロックにおいて、前記レシピエントブロックが（ａ）添加剤と（ｂ）ワックスとからなることを特徴とするレシピエントブロック、及び、（１）添加剤水溶液を調製する段階と、（２）前記添加剤水溶液を鋳型に注いだ後、冷却させてゲル化する段階と、（３）添加剤ゲルをアルコールで脱水する段階と、（４）脱水された添加剤ゲルを有機溶媒に浸漬して透明化する段階と、（５）透明になった添加剤ゲルにワックスを浸透させる段階と、（６）このようにして得られたブロックに円筒孔を形成する段階とを含むレシピエントブロックの製造方法に関する。
また、本発明は、レシピエントブロックの円筒孔に任意の組織を配列する段階と、（２）組織が配列されたレシピエントブロックを５０〜７０℃の温度で２０〜４０分間加熱した後、冷却する包埋段階とを含む組織微細配列ブロックの製造方法に関する。
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