【課題】 複数の箇所に固定された磁性粒子を１回の測定で検出する場合にも、各検出信号の干渉によって信号の検出精度の低下が少ない磁気センサを用いた測定装置を提供する。
【解決手段】 複数の固定部１０２ａ、１０２ｂに磁性粒子を固定した高分子基材１０１、高分子基材１０１を磁場中で移動させるモータ１０７、移動されている高分子基材１０１に固定された磁性粒子による磁気的な変化を検出し、この変化をアナログ信号として出力する磁気センサ１０６、出力されたアナログ信号を増幅すると共にフィルタ処理する微分型アナログフィルタを含むアナログ信号処理部１０８、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換素子１０９、デジタル信号に含まれるノイズを除去するデジタルフィルタ１１０、ノイズ除去されたデジタル信号のプラス出力またはマイナス出力のいずれか一方を出力する信号出力手段１１１を設ける。 （もっと読む）

【課題】溶接部近傍材料ノイズとヘゲ欠陥とを分離することができる金属帯の渦流探傷方法および装置を提供することにある。
【解決手段】区間データと、欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えたデータのチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、当該長手位置を起点とした、前記所定長さ内の、所定の前後材料ノイズ判定長さ内の全チャンネル部位を前記欠陥判定部位から除く。 （もっと読む）

【課題】圧延材の端部が探傷装置へ到着する到着時間を正確に算出して、探傷を正確に開始又は終了させることができる圧延材の探傷方法を提供する。
【解決手段】圧延機６での圧延材３の入側断面積Sinと出側断面積Soutと出側通材速度Voutとから、圧延機６内を通過する圧延材３の平均通材速度Vaveを算出し、この平均通材速度Vaveと圧延機６の入側から出側までの距離Dioとから圧延材３が圧延機６内を通過する通過時間Tioを算出し、この通過時間Tioに基づいて圧延機６の上流側で圧延材３の端部が検出されてから探傷装置１２に到達するまでの到達時間Tieを算出しておき、到達時間Tie後に探傷装置１２の探傷を開始又は終了する。 （もっと読む）

【課題】
ハムノイズの影響を受け難いために高い精度で磁性体量を測定することが可能であって、かつ測定の汎用性が高い磁性体分析装置を提供する。
【解決手段】
互いに電気的に接続され、かつ所定の間隔を隔てて設置される磁場の強度検出可能な第１センサユニット１ａ、第２センサユニット１ｂ、センサユニット１ａ、第２センサユニット１ｂのうち少なくとも一つが磁場変化を検出可能な範囲を通ってサンプル４を移動させる基材３、固定台１６、駆動用モータ１７と、サンプル４が移動されたとき、第１センサユニット１ａから得られる信号と第２センサユニット１ｂから得られる信号とを使ってサンプル４の磁性体量にかかる情報を検出する信号処理回路とを備えるよう構成する。 （もっと読む）

【課題】疵の長短を確実に判定し検出する。
【解決手段】 被検査材ＬＭを通過させる内空間を形成して当該被検査材ＬＭの長手方向へ間隔を置いて配設され、互いに逆方向へ励磁されるとともに検出信号を発する一対の第１検出コイル２，３と、これら第１検出コイル２，３の間の中間位置で被検査材ＬＭの周面に対して間隔をおいて周方向へ複数配設されて検出信号を発する第２検出コイル５と、両第１検出コイルの検出信号の差をとって第１判定信号を得るとともに複数の上記第２検出コイルの検出信号を走査して第２判定信号を得て、これら第１判定信号と第２判定信号の大きさより疵の長短を判定する判定手段８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 被検査体中の金属の有無を従来より適切な感度で信頼性高く検出することができる金属検出機を提供する。
【解決手段】 金属検出機１０は、正常であることが確かである基準テストピースの通過によって生じる磁界の変化に応じて生成されるべき信号の基準レベルを予め記憶する記憶装置３７と、通常の運転モードとは異なるテストピース確認モードを有し、正常であるか否かの判定の対象であるテストピースに対してテストピース確認モードにおいて判定を行うコンピュータ３６と、コンピュータ３６による判定の結果を出力する表示部１５とを備え、コンピュータ３６は、テストピースの実際の通過によって生じる磁界の変化に応じて生成される信号の測定レベルが記憶装置３７によって記憶された基準レベルに対して所定の範囲内であるときにテストピースが正常であるとテストピース確認モードにおいて判定する。 （もっと読む）

【課題】
位置出し用の目印の場所が電流経路に限定されるという制約をなくし、位置出しの精度を向上する。
【解決手段】
試料とレーザ光とを相対的に移動させて前記試料を走査し前記試料からの磁気をSQUID磁気検出器で検出し、走査位置に対応し且つ検出結果に応じた値の集りからなる像を取得し、取得された像のうち少なくとも一つの領域について、前記試料における位置の目印として、前記像の値に関する前記領域内でのピーク位置又は重心位置を求める。 （もっと読む）

真珠核の交差２軸での異方性を検出することにより材質に異方性のある真珠核と異方性の無い真珠核とを判別する。異方性の検出は、真珠核の液中での浮力による回転、又は真珠核の磁化率、又は真珠核の光透過率、又は真珠核の光反射率を用いた。従って、球形状の核の交差２軸での異方性を確実且つ迅速に検出し、核の材質を検査することを特徴とする。
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【課題】磁粉探傷装置において、磁化状態を解除した鋼片の表面に付着した磁粉の洗い流しを防止する。
【解決手段】磁粉探傷装置２０は、鋼片１０を磁化すると共に、鋼片１０の上方に配設した散布ノズル３４から磁粉液を散布するよう構成される。散布ノズル３４は、磁粉液の散布に際して、鋼片１０に臨み、該散布ノズル３４から散布した磁粉液が鋼片１０に当たる位置に配置される。また散布ノズル３４は、磁粉液の散布が終了すると、鋼片１０の上方領域Ｒから外れて、該散布ノズル３４より垂れた磁粉液が鋼片１０から逸れる位置に移動機構４２により移動される。 （もっと読む）

【課題】被検査物に含まれる金属異物をその向きによらないで検知できる異物検知装置を提供する。
【解決手段】センサーユニット１１は、直列に接続された複数のセンサセル１７から構成される。センサーユニット１１に電圧を印加又は電流を供給することによりセンサセルから微少磁界を発生させて、微少磁界に応答した金属異物からの検知磁界をセンサーユニット１１の検知電圧又は検知電流として検知して検知信号を出力する。この検知信号を解析して金属異物を検知する。微少磁界は、センサーユニット１１に印加される電圧又は供給される電流が微少で、かつセンサセル１７を構成するコアの磁界特性の非線形部分を利用したものである。センサセル１７は、被検査物の搬送方向に対して４５度傾くように配置され、細長い金属異物の検知感度を平坦化している。
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【課題】鋼片の端面に付与したラベルに電極部を接触させることなく、端面と電極部とを当接させる。
【解決手段】鋼片１０の表面欠陥を検査する磁粉探傷装置は、鋼片１０を挟んだ一対の電極部４０,４０間に通電して鋼片１０を磁化すると共に、磁粉液を鋼片１０に散布するよう構成される。電極部４０は、鋼片１０の端面１０ａに予め付与されたラベル１４を対応的に避けて切欠部４４を形成してある。また、鋼片１０の端面１０ａに相対する電極面４２は、該端面１０ａと平行に形成され、端面１０ａにおけるラベル１４から露出した部分に電極面４２を面接触して通電される。 （もっと読む）

【課題】従来技術の制限、欠点を排除し、構成部品を迅速、簡便、かつ安定して高品質の検査を行える検査装置を提供する。
【解決手段】検査すべき部品を送るコンベヤと、部品を回転させる機構と、プローブとを含む。コンベヤは部品を位置決めする固定具を含み、部品を直線方向に移動させる。回転機構は固定具内の部品をプローブに対して回転させ、プローブは部品が品質基準に適合するか否か指示する。コンベヤが部品を移動させている間に検査を行うために、プローブは検査領域に亘り部品と同期的に運動させるステージに取り付けられて、検査を促進する。 （もっと読む）

【課題】外乱に対しゼロ点を自己補償することができ、メンテナンスフリーで連続的に磁性体濃度の検出でき、コイル付近に堆積した磁性体等の固形物を容易且つ確実に排出することができるようにする。
【解決手段】一方の発振回路１１，１２により流体２の影響を受けないよう回転体７により覆って周波数を検出した場合には、他方の発振回路１２，１１では流体の影響を受けるよう回転体７により覆わずに発振周波数を検出するようにした、コイル９，１０を備えた発振回路１１，１２と、両発振回路１１，１２で検出した周波数の周波数の差を求める重ね合わせ回路１３と、重ね合わせ回路１３からの前回の周波数の差と今回の周波数の差から周波数の差のピークの差を求めるＦ／Ｖコンバータ１４と、Ｆ／Ｖコンバータ１４で求めたピークの差から磁性体濃度を求める信号処理回路１５を設ける。 （もっと読む）

【課題】 被検出体の形状に関わらずゴム製品の内部に混入した金属異物を安定して検出できる金属検出システムを提供する。
【解決手段】 ゴム製品生産工程において生産されたゴム製品６の搬送ベルトコンベア４上に該ゴム製品６内部に混入した金属異物７を検出する金属検出装置２を配置して、搬送されたゴム製品６を連続的に金属異物７の検出を行う金属検出システム１であって、金属検出装置２のゴム製品搬送方向上流側の搬送ベルトコンベア５に、ゴム製品６内部に混入した金属異物７に磁気を帯びさせる着磁装置３を設け、金属検出装置２による金属異物７の検出する前に、該着磁装置３により金属異物７に帯磁させることを特徴とするものとする。 （もっと読む）

【課題】構成部品の検査用スキャン計画を生成する方法を提供する。
【解決手段】本方法は、構成部品の幾何学モデル（４６）をロードするステップと、幾何学モデル（４６）及び少なくとも１つのスキャンパラメータに基づいて構成部品のスキャン計画を生成するステップとを含む。構成部品を検査する方法もまた提供し、本方法は、構成部品の幾何学モデル（４６）をロードするステップと、幾何学モデル（４６）及び少なくとも１つのスキャンパラメータに基づいて構成部品のスキャン計画を生成するステップと、構成部品を検査システムマニピュレータ上に取付けるステップと、スキャン計画を用いて構成部品に対して検査プローブを移動させるステップを含む構成部品を検査するステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】磁気センサにより紙幣などの紙葉類の識別を行う装置において、耐環境性に優れ、鉄粉や砂鉄などの付着を防止でき、安定して且つ正確に紙葉類の真贋を識別できるようにする。
【解決手段】 磁気インクが印刷された印刷媒体１の搬送路上で、印刷媒体１に磁界を印加して着磁し、搬送路の後段で着磁された磁気インクの残留磁気による磁界を検出する磁気センサ４と、挿入口２から挿入された印刷媒体１の進入を進入センサ３からの信号により検知する媒体進入検知手段５とを備える。そして、磁気センサ４は、媒体進入検知手段５が印刷媒体１の進入を検知したときに、印刷媒体１に印加する磁界を印刷媒体１の搬送方向と直交する方向に発生する電磁石を備える。 （もっと読む）

【課題】 厚板等の被検材の先尾端付近に存在する不感帯を最小にして、そこで発生しやすいヘゲを正確に検出し、特定すること。
【解決手段】 渦流式センサの2つの検出コイルを被検材の搬送方向に直角な方向に並置した状態で、励磁コイルによって被検材に渦電流を発生させ、この渦電流によって生じる誘起電圧を2つの検出コイルに検出させ、それらの検出信号の差分信号に基づいてヘゲの検出、確定を行う。 （もっと読む）

【課題】 段付き形状の部品の検査を能率よく正確におこなうことができる部品検査装置を提供する。
【解決手段】 軸部２を上側にし前傾状態にした部品１を、自重により斜め下方に滑降させ搬送するシュート１０と、このシュートの前端部の下側に配設され互いに平行な軸線のまわりに同方向に回転駆動される２個の保持ローラ２０と、シュート１０の前端部から前方へ離間した位置にある係止面３１と、２個の保持ローラ２０の中間位置で係止面３１より前方に延び上向きに開口するＶ字状のガイド溝３２とをそなえたストッパ３０と、を具備し、シュート１０上を滑降し保持ローラ２０上への落下により転倒した部品１の大径部３の裏面３ｂ側を係止面３１に当接させ、軸部２をガイド溝３２により、大径部３を保持ローラ２０により、それぞれ保持した部品１に対して、検査をおこなうようにした。 （もっと読む）

【課題】比較的容易に短時間で高精度な感度校正ができる渦流探傷装置の感度校正方法および装置を提供することにある。
【解決手段】Ｅ型形状コアの中央の脚に１次コイル、両側の脚には差動接続された２次コイルを巻回するようにして構成された渦流センサを金属帯の幅方向に複数個（Ｎ個）配置し、走行する金属帯における欠陥を検出する渦流探傷装置において、幅方向に複数個配置された前記渦流センサの全長より長いテープ状導体を、前記渦流センサの中央の脚と、外側の一方の脚との間隙の下方に配置し、このときの各渦流センサの出力Ｖ_１ｋ（ｋ=１〜Ｎ，Ｖ_１ｋ＞０）を読み取り、次に前記テープ状導体を前記中央の脚と、外側の他方の脚との間隙の下方に移設し、このときの各渦流センサの出力−Ｖ_２ｋ（ｋ=１〜Ｎ，Ｖ_２ｋ＞０）を読み取り、両者の出力の差分Ｖ_１ｋ−（−Ｖ_２ｋ）が所定の値となるように感度校正する。 （もっと読む）

【課題】金属帯上の表面欠陥の高精度な検査方法を用いることで、表面欠陥品質を高めることができる金属帯の製造方法および欠陥情報を有するマーキング付き金属帯を提供することを目的とする。
【解決手段】表面欠陥検査を行う工程よりも前の工程にて、単に表面だけではなく表層部の性状を測定し、それにより検出された異常部が表面欠陥検査段階で表面欠陥として顕在化するかどうかを予測することにしたので、表面欠陥計指示部と表層部性状測定による欠陥顕在化予測部を比較することで、金属帯の製造工程の中で、表層部性状測定以前に表面欠陥の原因が生じたのか、あるいは表層部性状測定以降に表面欠陥の原因が生じたのかを、仮にその段階で表面欠陥として顕在化していなくとも、認識することができるようになり、表面欠陥発生原因の特定が容易になり、その結果製造プロセスの改善が迅速にできるようになる。 （もっと読む）