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Fターム[2G088JJ16]の内容

放射線の測定 (34,480) | 測定装置の形状、細部構造等 (10,145) | コリメータ(機械的) (497) | 形状、配列 (370) | ピンホール (34)

Fターム[2G088JJ16]に分類される特許

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【課題】SPECTシステムに用いられる検出器について、システム分解能及び感度を調節する等のためにコリメータのピンホール開口から検出器アセンブリまでの焦点距離を調節自在にする。
【解決手段】1又は複数のピンホール開口(40)を内部に有するコリメータ・アセンブリ(12)を含むイメージング・システム(10)に関する。イメージング・システム(10)はさらに、1又は複数のピンホール開口(40)を通過したガンマ線(30)に応答して1又は複数の信号を発生するように構成されている検出器アセンブリ(14)を含んでいる。イメージング・システム(10)は、1又は複数のピンホール開口(40)の1個が調節自在の焦点距離を有するように構成されている。また、コリメータ性能を変化させる方法、及び容積を撮像する方法に関する。 (もっと読む)


【課題】小角X線散乱と広角X線散乱とを同時に測定できると共に、広角X線散乱の測定精度を向上できる小角広角X線測定装置を提供する。
【解決手段】X線源Fから出たX線を試料Sに照射し試料Sから発生する散乱線を小角度領域内で検出器26によって検出する小角X線光学系と、試料Sと検出器26との間に設けられており試料Sから発生する散乱線を広角度領域内で検出する広角X線光学系7とを有する小角広角X線測定装置である。広角X線光学系7は、試料Sと検出器7との間のX線光路上に設けられており、X線像を可視光像に変換する蛍光体38と、蛍光板38上に形成された可視光像を反射する光反射体42と、光反射体42で反射した可視光像を検出する光検出器47とを有する。X線光路と交わる部分の蛍光体38及び光反射体42のそれぞれにX線用開口39,42が設けられ、その開口39,42は小角度領域の最大角度値を見込む開口径を有する。 (もっと読む)


本発明は、診断核医学イメージングにおいて使用するためのコード化されたアパーチャマスクに関する。コード化されたアパーチャマスクは、診断核医学イメージングにおいて使用される放射線の型に対して高い減衰係数を有する材料におけるアパーチャまたはピンホールのパターンからなる。該マスク材料の厚さは75%未満の減衰パーセンテージ、好ましい形態において、約29%に等しい減衰パーセンテージを有する。コード化されたアパーチャマスクは、好ましい形態において、鉛減衰管も有し、検出器の単一画素と同じ領域を占める最小ホールの照射を有する。本発明は、放射線検出器として16ビットガンマカメラを使用する診断核医学イメージングシステムまで拡がる。
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【課題】透過像撮影において被検体の内部、断層、表面近傍の情報が得られる放射線検査
装置を提供することを目的とする。
【解決手段】この放射線検査装置は、被検体にγ線を照射するγ線源と、γ線源から放出
され被検体を透過したγ線を透過させ散乱γ線および蛍光X線を透過させない材質および
厚みのコリメータと、コリメータを透過するγ線およびコリメータを通過した散乱γ線お
よび蛍光X線を検出する放射線2次元検出装置とを備えたものである。 (もっと読む)


【課題】核医学撮像において小さい視野域を有する複数の撮像検出器を用いて関心対象構造を効率的に撮像する方法及び装置を提供する。
【解決手段】関心対象構造166を撮像するための装置は、ガントリ110上に装着させた複数の撮像検出器102〜108を備える。複数の撮像検出器102〜108の各々は、視野域(FOV)140、176を有しており、互いに対して独立に移動可能であり、かつ患者142内部の関心対象構造166を撮像するように位置決めされる。データ収集システム126は、複数の撮像検出器102〜108の各々のFOV140、176の範囲内で検出された画像データを受け取る。 (もっと読む)


【課題】 複雑な演算処理を要することなく、多孔電極を有するイオン源のイオン引出し孔から出射される際のイオンビームが持つ特性を測定することができる装置および方法を提供する。
【解決手段】 このイオンビーム測定装置40aは、イオン源2の多孔電極6から引き出されたイオンビーム10の一部を通過させる開口14を有する遮蔽板12と、開口14を通過したイオンビーム10のビーム電流を検出する検出器18と、それをx方向に移動させる検出器駆動装置24とを備えている。かつ、多孔電極6と検出器18間の距離をL、遮蔽板12と検出器18間の距離をd、x方向に関して、多孔電極6の各イオン引出し孔8の寸法をa、その間隔をp、開口14の寸法をb、検出器18の寸法をwとすると、次式の関係を満たしている。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) (もっと読む)


【課題】 人体等の大きな被写体であっても高解像度でトランケーションの無い再構成画像を得ることができる断層撮影装置を提供する。
【解決手段】 断層撮影装置10は、各々が有するピンホールコリメータの視野中心が略一致するように配設された複数の放射線検出器によって構成され、第1の軌道C1に沿って被写体12の周囲を移動可能な第1検出部18と、各々の視野中心が略一致するように配設された複数の放射線検出器によって構成され、第1の軌道C1よりも被写体12からの距離が遠い第2の軌道C2に沿って被写体12の周囲を移動可能な第2検出部22と、を有して構成され、第1検出部18により得られた撮像データと第2検出部22により得られた撮像データとを用いて再構成画像を得る。 (もっと読む)


空間を伝播する波動をさえぎる面に開放孔をつくり、この開放孔を通過する波動によって、中間面に対象物を結像させ、波動変換、つまり波動の実体を2次元撮像できる波動に変換した後、2次元撮像装置でその像を撮像する。また、2次元撮像装置の歪は、中間面に設けた較正用格子パターンで補正する。中間面は、波動変換機能、歪較正機能、歪のない広視野の確保および波動の実体の変換の機能を提供する。
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【課題】より多くの検出器(カメラ)を同時に実装して検出感度を上げることができ、高い分解能の画像を得ることができ、かつ、小形化が可能である放射線検出装置及び放射線診断装置を提供する。
【解決手段】 放射線検出装置は、複数の半導体カメラ(21)を有する。各カメラ(21)は、放射線(例えばガンマ線)を電気信号に変換する半導体の層で形成された画素を2次元状に配列した画素部、及び、当該各画素により検出された電気信号を処理し且つ各画素からはみ出さない状態で当該画素部と一体に形成された信号処理回路を有する検出ブロックを複数個、平面状に且つ相互に隣接して並べて配置した放射線検出器(31)と、放射線入射側に当該検出器に装着したピンホール型コリメータ(33)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 任意の測定対象核種に対してクリアな放射線分布画像を得る。
【解決手段】 放射線分布撮影装置は、並列に配列された複数個の放射線検出器と、測定対象核種に応じて複数の応答関数から特定の応答関数を選別する選別手段19と、複数個の放射線検出器の出力信号それぞれを、選別された特定の応答関数を用いてアンフォールディングするアンフォールディング手段18と、を有する。選別手段は、複数の放射線検出器の出力信号のパルス波高分布を用いて応答関数を選別してもよい。 (もっと読む)


本発明はガンマ線撮像装置に関し、本ガンマ線撮像装置は、観察視野(5)を持つガンマカメラ(1)、軸(x2)の周りに広がり、ガンマカメラ(1)の観察視野(5)の、ガンマカメラから所定距離(d)を超える部分に含まれる観察視野(8)を持つコリメータ(6)によってコリメートされたガンマ線分光検出器(7)、照準軸(x3)を有するレーザポインタ(9)であって、ガンマ線分光器コリメータ(6)に近接して位置することにより、照準軸(x3)がコリメータ(6)の観察視野(8)の軸(x2)にほぼ平行で、且つコリメータ(6)の観察視野(8)と交差する、レーザポインタ(9)、及びレーザポインタ(9)が指すゾーン(12)の位置を特定する手段(1、10)を備える。
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【課題】高エネルギー放射線の飛来方向を広い範囲で検出することを目的とする。
【解決手段】センサーA(1)とセンサーB(2)とがD2の間隔で置かれている。さらに、コリメータS(3)がセンサーA(1)の上面にD1の間隔を保って、またコリメータT(4)がセンサーB(2)の下面にD1の間隔を保って置かれている。センサーの感光面とコリメータの開口は同じ寸法となっている。線源がE2の遠方向にあり、E2のベクトルにより放射線が来る場合、コリメータの影がセンサーA,B上に生ずる。コリメータの影の長さを測定することにより、線源の方向を求めることができる。
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【課題】 超伝導X線検出器と、低温初段増幅器と、コリメータとからなる超伝導X線検出装置の先端部分において、該検出器と該コリメータとの位置の粗調整が容易な構造とし、かつ、ボンディング配線を保護できる超伝導X線検出装置およびそれを用いた超伝導X線分析装置を提供する。
【解決手段】 超伝導X線検出器の検出部とコリメータの貫通穴との位置を、該検出器と該コリメータの少なくとも外周の一部を位置の基準として製作し、基準とした外周の一部が一致するように該検出器と該コリメータを装着固定する、あるいはセンサーホルダに設けた溝の壁に基準とした外周の一部が接するように装着固定する構造としたものである。 (もっと読む)


従来のCT又はX線手法を利用して関心領域が特定される。次いで、複数のペンシルビーム28を利用して関心領域がスキャンされ、複数の異なる散乱X線スペクトルが得られる。次いで、スペクトルが関心領域の特徴のみによるものであるかの如く、各スペクトルに対して幾何補正が適用される。前記ビームを利用して記録された種々のスペクトルは組み合わせられ関連付けられ、関心領域32の特徴を決定し、一方でサンプル30中の他の部分における特徴の影響を最小限にする。
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