説明

Fターム[2G088LL30]の内容

放射線の測定 (34,480) | 補正、補償、校正 (2,903) | その他 (33)

Fターム[2G088LL30]に分類される特許

21 - 33 / 33


【課題】 頭部血流診断画像を、虚血部位を把握可能な画像に変換する画像処理方法を提供する。
【解決手段】 一実施形態に係る画像処理方法は、(a)頭部血流診断画像を構成するピクセルのうち、虚血組織に対する信号強度の分布範囲とは異なる一定の範囲の信号強度を有するピクセルを抽出し、抽出したピクセルにおける信号強度の平均値を求める平均値算出工程と、(b)頭部血流診断画像における全ピクセルの信号強度を、平均値算出工程にて求めた平均値で除すことによって正規化画像を生成する信号強度正規化工程と、(c)正規化画像における信号強度であって値が1の該信号強度が、一定の表示値となるように、正規化画像を表示する画像表示工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】放射性廃棄物を収納した袋を所定の容器に入れることにより、放射線量率、重量等が自動測定され、金属の混入の有無も自動に検査される放射性廃棄物自動測定装置を提供する。
【解決手段】放射性廃棄物を収納した袋11を収容し得る容器と、容器に収容される袋の放射線量を測定する放射線量測定部3と、測定したデータを表示用データとして処理するデータ処理部4と、処理後のデータに基づいて放射線測定値を表示する表示部2とを備える。 (もっと読む)


【課題】 放射線検出信号を処理する電子部品からなる回路中の湿度の影響により電流の漏洩が生じ、微小電流を正確に測定することが難しくなるという問題があった。
【解決手段】 検出信号を処理する電子部品が装着された信号処理手段と、前記電離箱から導出され前記信号処理手段に接続される信号線と、前記信号処理手段を収納するケースと、前記電離箱を絶縁材を介して支持すると共に前記信号線を内部に収納する支持体と、前記ケース内に設けられ前記電子部品の温度を所定範囲内に維持する冷却手段とを備えたものである。 (もっと読む)


【課題】
拭き取り部材の押し付け力を均一に保ちつつ、拭き取り対象物の表面の様々な状態に対応できる汚染拭き取り装置を得る。
【解決手段】
6軸力センサ13によって測定された力から、拭き取り部材を取り付けるスミヤヘッド11に作用する押し付け方向の力と押し付け位置の移動方向の力を算出し、それらの力が所定の範囲になるように拭き取り部移動機構12を制御し、拭き取り対象物15の表面にスミヤヘッド11を押し付けながら、拭き取り対象物15の表面に沿う押し付け位置を変えて拭き取り対象物15の表面を拭き取る。 (もっと読む)


【目的】水分量測定手段の頻繁な校正やそれに伴う水分量測定手段の検出素子の交換を必要としない長期安定性の優れた焼却炉トリチウムサンプラを提供する。
【構成】監視対象排気の吸入側に、排気中の水分を結露させて捕集するための冷却装置14および試料水捕集計量容器15aが配され、その後方に、湿度計または露点を内蔵する水分量測定部12および流量計18が配置されている。試料水捕集計量容器15aに捕集された水分量データと流量計18の流量データから、所定体積の排気中の捕集水分量が算出され、水分量測定部12で得られる冷却装置14を通過した排気中の残存水分量データから、所定体積の排気中の残存水分量が算出され、両者を合算することで所定体積の排気中の全水分量が算出される。 (もっと読む)


【課題】エネルギー線の種類を弁別するためのエネルギー線検出素子において、空乏層の厚みを精度良く調整できるようにすると共に暗電流の増加を抑制できるようにすること。
【解決手段】第1の表面S1及び第2の表面S2を有している第1導電型の第1半導体基板2と、第1の表面S1に貼着されており第1半導体基板2と異なる面方位を有すると共に第1半導体基板2よりも厚い第1導電型の第2半導体基板3と、表面S2に貼着されており第2半導体基板3よりも厚い第1導電型の第3半導体基板4と、第1半導体基板2に電気的に接続されたカソード電極10と、素子の二つの表面に設けられたアノード電極9,14及びカソード電極15とを備える。 (もっと読む)


【課題】 欠損画素が連続して分布する場合であっても、欠損画素を補間して自然な光または放射線画像を取得することができる放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】 FPD4の撮像センサは、被検体Mを透過するX線を検出し、A/D変換器9を介してX線検出信号を得る。画素乱数関連部15は、補間の対象である補間画素の近傍に位置する、欠損画素以外の画素であって、出現し得る乱数と対応付けられた関連情報を作成し、選択部17はこの関連情報を参照して、乱数発生器19で発生した乱数に応じた画素を選択する。補間部21は、選択部17により選択された画素を用いて、補間画素を補間する。このように選択された画素によって、各欠損画素を補間画素として補間するので、欠損画素が連続して分布する場合も、補間するのに用いられる画素を散らすことができる。よって、自然な光または放射線画像を取得することができる。 (もっと読む)


飛行時間陽電子放出断層(TOF−PET)撮像撮像方法において、三次元飛行時間応答線(TOF−LOR)データが取得される。各々のTOF−LORは飛行時間空間局在化を伴う応答線に対応している。TOF−LORデータは、飛行時間空間局在化に基づいて複数の二次元TOF−LORデータ集合にスライスビニングされる。スライスビニングされたTOF−LORデータの少なくとも一部は、二次元データ集合に対して傾いている応答線に対応する。TOF−LORデータは、少なくとも10°の角度スパンを各々有する複数の粗い角度ビンに粗く角度リビニングされる。粗く角度ビニングされたTOF−LORデータは画像スライスを生成するように再構成される。
(もっと読む)


【課題】 任意形状の測定対象物について、簡便に精度よく放射能を測定する。
【解決手段】 測定チャンバ3は、測定対象物1に向かう開口部4と外気吸引口6とを有する。放射線測定装置は、測定チャンバ3と、外気吸引口6から測定チャンバ3に流入するイオンを除去する吸引口浄化手段7と、測定チャンバ3と測定対象物1の隙間から測定チャンバ3内にイオンが流入するのを防止する隙間遮断手段9と、測定チャンバ3から導かれたイオンを検出するイオン検出器10と、測定チャンバ3からの気体をイオン検出器10に導く輸送配管11と、輸送配管11を通して測定チャンバ3の気体をイオン検出器10に向けて吸引する吸引手段12と、イオン検出器10に収集されるイオンを測定する電流測定手段15と、測定された電流に基づいて放射能を算出するデータ処理手段16と、測定チャンバ3やイオン検出器10などを載置して移動可能な積載輸送手段18、8と、を有する。 (もっと読む)


【課題】放射性薬剤の管理が容易で、放射性薬剤に含まれる放射性核種の種類や核種量を迅速かつ容易に確認でき、システムの設置自由度を向上させた核医学画像診断システムおよびこのシステムに用いられる放射性薬剤の製造管理方法を提供する。
【解決手段】核医学画像診断システム10は、陽電子を放出する放射性核種12を製造する加速器13と、この放射性核種12を用いて放射性薬剤14を製造する薬剤合成装置15と、陽電子放出型断層撮像を利用した診断検査装置16とから構成され、薬剤合成装置15で製造される放射性薬剤14に含有される放射性核種の種類、核種量、製造年月日等の必要情報を記録する記録開示手段24が用いられる。 (もっと読む)


TOF−PET核医学画像装置(A)は、複数の放射線検出器(20,22,24)と、複数の放射線検出器(20,22,24)からの出力信号を処理する複数の電子回路(26,28,30,32)と、一致検出器(34)と、TOF計算器(38)と、画像処理回路(40)と、を有している。調整システム(48)は、電気的又は光学的な調整パルスを生成するエネルギー源(50,150)を有している。電気的調整パルスは、検出器の出力部において、電子回路への入力部に印加される。光学的調整パルスは、検出器の各光センサ(20)の面に隣接する所定点に印加される。調整プロセッサ(52)は、調整パルスの生成から、一致検出器(34)が複数の電子回路の各々から受け取ったトリガ信号の受取りまで、の間の時間差を測定し、調整可能な遅延回路(44,46)を調整して時間差を最小にする。
(もっと読む)


核カメラシステムは、ガントリに取り付けられた検出器ヘッドを有する検査領域の周りに配置されるガントリを含む。検出器ヘッドは、体積を画成するエンクロージャを含む。複数の固体検出器は、エンクロージャ体積内に配列に配置される。第1の冷却板は、複数の固体検出器と熱伝導接触する。第1のペルティエ冷却装置は、第1の冷却板と熱伝導接触し、第1のペルティエ冷却装置は配列中の複数の検出器を冷却する。第2の冷却板は、エンクロージャ内に配置され、第1の冷却板から断熱されている。第2のペルティエ冷却装置は、第2の冷却板と熱伝導接触し、第2のペルティエ冷却装置は体積から水分を除去する。ヒートシンクは、第1及び第2のペルティエ冷却装置と熱伝導接触する。
(もっと読む)


本発明は、表面放射線束をもつ面を走査する際に用いるため、位置・任意接触検知装置とリンクされた固有の非画像化検出プローブを用いる画像システムを提供する。このシステムは、検出プローブおよび検知装置からの信号を取り込み、表面および表面放射線束形状の画像を生成するための処理手段をもつ。このシステムは、表面下の放射線源深さを求めるための手段をさらに提供する。このシステムはまた、この画像をユーザに提示するための手段をもつ。

(もっと読む)


21 - 33 / 33