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Fターム[3B201CB11]の内容

液体又は蒸気による洗浄 (28,239) | 本処理 (910) | 多工程 (518)

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【課題】タンクの内部の洗浄において、すすぎに要する水の量を削減する。
【解決手段】洗浄方法は、タンクTの内部を薬液によって浄化する浄化工程と、タンクTの内部を水によってすすぐすすぎ工程とを含む。すすぎ工程は、タンクTの内部の上方に配置された噴射部Sから水を噴射させるとともにタンクTの底部TBから水を排出させ、排出された水を再び噴射部Sに供給する循環系において水を循環させながらタンクTの内部をすすぐ循環すすぎ工程を含む。循環すすぎ工程は、噴射部Sから噴射された水がタンクTの側壁の内部面TIに吹き付けられる状態で実施される。 (もっと読む)


【課題】装置の清浄化を容易に、かつ短時間で行うことができる。
【解決手段】処理液配管による処理液の供給を遮断し、供給部5を注入部に連通接続した状態で、開閉弁39を開放すると、洗浄液タンク3内の洗浄液が供給部5から処理液配管に供給されるので、注入部よりも下流にある接液部材を洗浄液で洗浄できる。したがって、基板処理装置を分解することなく洗浄装置1により接液部材の汚染を解消することができるので、洗浄を容易にかつ短時間で行うことができる。しかも、通常の処理では純水しか流通させられない箇所であっても注入部より下流には洗浄液を流通させることができるので、清浄度高く洗浄が可能となる。 (もっと読む)


【課題】簡易的な構成によって洗浄液の蒸発ロスを抑制し、小型化・低コスト化を実現することができる洗浄装置を提供すること。
【解決手段】洗浄装置1は、第1洗浄液61を蓄える前洗浄槽21と第1洗浄液61よりも沸点が低い第2洗浄液62を蓄える本洗浄槽41とを内蔵した洗浄ケース10と、洗浄ケース10に設けた搬入口101、前洗浄槽21に設けた前洗浄槽入口211、前洗浄槽出口212、本洗浄槽41に設けた本洗浄槽入口411、本洗浄槽出口412、及び洗浄ケース10に設けた搬出口102を貫通するように配設された搬送コンベア19と、前洗浄槽21と本洗浄槽41との間に配設され、搬送コンベア19を貫通させるスペース131を設けた中間仕切壁13とを有している。中間仕切壁13よりも上流側に存在する開口部分は、前洗浄槽21から溢れ出る第1洗浄液61により封止するよう構成してある。 (もっと読む)


【課題】 水冷壁管、過熱器管・主蒸気管等の被洗浄配管を、切断することなく、単一の化学洗浄液を使用して一貫洗浄可能にするための技術を提供すること。
【解決手段】 主蒸気止め弁取り合い座を洗浄液入り口、水冷壁管取り合い座およびボイラ降水管取り合い座を洗浄液出口として取り合い、仮設洗浄装置によりドラム型ボイラの被洗浄配管に、加熱したキレート系化学洗浄液を循環させるドラム型ボイラの一貫洗浄方法並びに被洗浄配管から除去されたスラッジ分を除去・回収するスラッジ捕集装置、循環ポンプ、洗浄剤溶解タンク、洗浄剤溶解注入ポンプおよび洗浄液の温度を調整する熱交換器を含む仮設洗浄装置から構成されることを特徴とする洗浄システム。 (もっと読む)


【課題】半導体製造装置中で使用するためのセラミック部材を洗浄する方法であって、セラミック部材から半導体への金属移行量を大きく低減できるようなセラミック部材の洗浄方法を提供する。
【解決手段】半導体製造装置中で使用するためのセラミック部材を洗浄する方法を提供する。セラミック部材をブラスト処理する工程と、この後にセラミック部材を洗浄する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】洗浄作業中に一たん停止した時に、洗浄水が外へ無駄に排水されるのを防ぐ。
【解決手段】上下に長いフロート管31の上部に設けられたフロート室33内にフロート37を設け、そのフロート37を、オーバーフロー口45から流入する適正オーバーフロー位置Hの時、浮力によって浮上させ、そのフロート37の上昇で前記フロート室33とフロート管31とをつなぐ排水通路口35を開とする一方、液面がオーバーフロー口45を越えてフロート室33内のフロート全体が液面下に沈む過剰オーバーフロー位置H1の時、フロート上方と下方との圧力差V1>V2により下降させ、そのフロート37の下降で前記排水通路口35を閉とする開閉弁とする。 (もっと読む)


【課題】一方の主面がウェット洗浄に向かない基板の両側の主面を同時に洗浄する。
【解決手段】基板洗浄装置1は、基板9の外縁部を保持する円環状の基板保持部2、基板9の下面にドライ物理洗浄を行う第1洗浄機構3、および、基板9の上面に液体を用いるウェット洗浄を行う第2洗浄機構4を備える。第1洗浄機構3は、基板9の下面に向けて固形の二酸化炭素の微粒子を噴出する外部混合型の2流体ノズルである噴射ノズル31を備える。第2洗浄機構4は、基板9の上面に洗浄液を供給する洗浄液供給部42、洗浄液が供給された基板9の上面を洗浄する洗浄ブラシ41を備える。基板洗浄装置1では、基板保持部2に保持された基板9の下面に対して第1洗浄機構3によりドライ物理洗浄が行われ、上面に対して第2洗浄機構4によりウェット洗浄が行われることにより、一方の主面がウェット洗浄に向かない基板の両側の主面を同時に洗浄することができる。 (もっと読む)


【課題】 平流し方式において被処理基板の搬送中に基板上の不要な液を速やかに流し落として処理効率や処理品質を向上させる。
【解決手段】 この洗浄プロセス部24は、一定角度に傾斜したコロ112を一定ピッチで並べて傾斜搬送路114を構成し、この傾斜搬送路114上を移動する傾斜姿勢の基板Gに対して紫外線ランプ122、ロールブラシ130、リンスノズル134、エアナイフ136等により紫外線オゾン洗浄、スクラビング洗浄、リンス処理、乾燥処理を順次施すようにしている。スクラビング洗浄やリンス処理では、傾斜姿勢の基板G上から異物や液が重力によって速やかに流し落とされる。 (もっと読む)


【課題】安定した状態で基板の受け渡しを行う。
【解決手段】基板を処理する第1処理部と、第2処理部と、第1処理部から第2処理部に基板を受け渡す基板受渡し部40とを備え、基板受渡し部40は、第1処理部の下流端と第2処理部の上流端との間に設定される仮想の公転軸と、この公転軸周りの公転軌道上に配置されて基板を支持する複数の基板支持架台43と、基板支持架台43を公転軌道上で公転させる駆動手段42とを有し、駆動手段42により公転軸回りに公転する複数の基板支持架台43の1つが第1処理部の下流端に対向する位置にあるとき第1処理部の下流端から基板支持架台43へ基板を受け渡す一方、駆動手段42により公転軸回りに公転する基板を支持した複数の基板支持架台43の1つが第2処理部の上流端に対向する位置にあるとき基板支持架台43から第1処理部の下流端へ基板を受け渡すべく構成されている。 (もっと読む)


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