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Fターム[4M112DA04]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | エッチング (1,709) | ウェットエッチング (616)

Fターム[4M112DA04]に分類される特許

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本発明は、一方向(Y1)に沿った向きの変位を測定するための面内MEMS又はNEMS検出デバイスであって、基板に対して懸架された振動質量(202)であって、前記基板の面に垂直な軸(Z)周りに旋回可能な振動質量(202)と、振動質量(202)及び基板に機械的に接続された少なくとも一つのピエゾ抵抗歪みゲージとを備え、ピエゾ歪みゲージ(8)が振動質量の厚さよりも小さな厚さを有し、ピエゾ抵抗歪みゲージ(8)の軸(Y)が、振動質量(202)の旋回軸(Z)及び重心(G)を含む面に直交していて、該面が、測定される方向(Y1)に直交している、面内MEMS又はNEMS検出デバイスに関する。
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【課題】抵抗値の調整が容易な半導体装置及びその製造方法を得る。
【解決手段】シリコン基板上に所定間隔で形成された配線層と、前記シリコン基板上及び前記両配線層上に形成されたパッシベーション膜と、前記両配線間の前記パッシベーション膜上に形成された抵抗体層と、前記抵抗体層上に形成された、各配線層と抵抗体層とを導通する電極層とを備え、前記抵抗体層上に、前記両電極層間における該抵抗体層の平面的な大きさを決める絶縁バリア層を形成した。 (もっと読む)


【課題】圧力センサにおいて2枚の単結晶シリコン基板を張り合わせたものやSOI基板を適用せずに、圧力センサにおいて十分な性能(感度等)を確保すると共に、そのコストをより抑制する。
【解決手段】シリコン基板1の一端面側に形成された酸化膜(またはシリコン窒化膜)2表面に対し膜成長によってポリシリコン膜3が形成される。また、ポリシリコン膜3中には、拡散領域5と、その拡散領域5と接触するようにピエゾ抵抗素子7が形成される。そして、前記シリコン基板1他端面側からエッチングされて形成され前記酸化膜におけるピエゾ抵抗素子7の位置に対して、ダイアフラム101が形成される。 (もっと読む)


【課題】微小デバイス形成時において陽極接合が行われるときにガラス基板にアルカリ金属イオンが析出することを防止できる微小デバイスを提供すること。
【解決手段】フレーム部21とフレーム部21に対して変位自在に支持される錘部22とフレーム部21と錘部22とを接続するビーム部23とを有するセンサ基板11と、ガラス基板とを備える微小デバイスであって、センサ基板11とガラス基板とは陽極接合されており、ガラス基板の両主面には、アルカリ金属イオンの析出を防止する保護膜31が形成されている構成とする。 (もっと読む)


【課題】センサ内部の配線パターンの設計や製造工程を変更せずに、配線パターンを容易に変更可能にするセンサデバイス及びその製造方法を提供する。
【解決手段】センサデバイスは、複数のピエゾ素子231,232と、複数の接続パッド261〜265と、ピエゾ素子231,232と電気的に接続された上層配線240、241と、上層配線240及び241に接続された下層配線251及び252と、下層配線251及び252に対して垂直方向に交差する上層配線242〜244と、上層配線242〜244の下層の下層配線253〜257があり、下層配線253〜257の他端部の上層には、絶縁層を介して接続パッド261〜265が形成される。 (もっと読む)


【課題】微小電気機械装置の特性向上および製造工程の簡略化を図る。
【解決手段】微小電気機械装置を、半導体層(1)と、前記半導体層中のチャネル領域の両側に形成されたソース、ドレイン領域(13)と、前記半導体層上に形成されたゲート絶縁膜(19)と、前記ゲート絶縁膜上に形成された空洞(15a)と、前記空洞上に形成されたゲート電極(17)と、を有し、前記ゲート電極は、前記ゲート絶縁膜と接触するよう可動に構成され、前記ゲート電極上に加わる力を、前記ゲート電極と前記ゲート絶縁膜との接触面積により検出するように構成する。このように、上記接触面積によりゲート電極上に加わる力を検出することができる。また、一時的なFET構造を利用することにより、装置および製造工程の簡略化を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】 可動錘部の質量の増大による検出感度の向上を、Q値をほぼ一定に維持しつつ達成すること。
【解決手段】 基板上に形成された多層構造を加工して形成されるMEMSセンサーは、弾性変形部130によって固定枠部110に連結され、周囲に空洞部111,113が形成されている可動錘部120と、固定枠部に固定された固定電極部150(150a,150b)と、可動錘部に接続され、固定電極部に対向して配置される可動電極部140(140a,140b)と、を有する容量部145(145a,145b)と、固定枠部に固定されたダミー固定電極部153(153a,153b)と、可動錘部に接続され、ダミー固定電極部に対向して配置されるダミー可動電極部(143a,143b)と、を有し、検出信号を出力しないダミー容量部147(147a,147b)と、を含む。 (もっと読む)


【課題】断線の無い良好な配線パターンを形成することにより安価で信頼性の高い半導体容量式加速度センサ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明による半導体容量式加速度センサの製造方法は、ガラス板2の接続孔3の加工をサンドブラスト法で行った上でガラス板2を半導体基板1に接合し、その後、ガラス板2の表面上に金属膜33を形成して配線する半導体容量式加速度センサの製造方法であって、接続孔3のオーバハング部28があるガラス板2の第2面27とは反対側の第1面26を半導体基板1に接合することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】錘部がその周囲にスティッキングするのを抑制することのできる静電容量式センサおよびその製造方法を得る。
【解決手段】シリコン基板4を、スリット17内に形成された連結部18によって錘部5、ばね部6および支持部16を連結させた状態で絶縁基板2に陽極接合し、絶縁基板2にシリコン基板4を陽極接合した後に連結部を除去することで静電容量式センサ1を形成した。 (もっと読む)


【課題】錘部の損傷を抑制することのできる静電容量式センサを得るとともに、突起の形成工程の簡素化を図ることのできる静電容量式センサの製造方法を得る。
【解決手段】絶縁基板2と、この絶縁基板2に接合されたシリコン基板4と、を備え、当該シリコン基板4に錘部5および当該錘部5をばね部6を介して支持する支持部16が形成されるとともに、錘部5と絶縁基板2との間にギャップ7が形成された静電容量式センサ1において、錘部5の絶縁基板2との対向面5aの少なくとも周辺部に、絶縁基板2に対向する先端部が先細りとなるピラミッド状の突起12を設けた。 (もっと読む)


【課題】衝接した際の接触面の欠損をより効果的に抑制して、スティックを安定的に防止することができる静電容量式センサを得る。
【解決手段】錘部6および当該錘部6を揺動自在に支持するばね部7が形成された半導体基板4と、前記半導体基板4に接合される絶縁基板2と、前記錘部6と前記絶縁基板2との間に形成されるギャップG1とを備えた静電容量式センサ1であって、前記錘部6が前記絶縁基板2に対向する表面6aに、円形状の複数の凹部20を形成する。 (もっと読む)


【課題】 MEMSセンサーを小型化すること。
【解決手段】 MEMSセンサーは、固定枠部110と、弾性変形部130を介して固定枠部110に連結され、周囲に空洞部が形成された可動錘部120と、固定枠部110に固定され、容量素子(C1,C2)の一方の電極を構成する少なくとも一つの固定電極部150と、可動錘部120と一体的に移動し、かつ固定電極部150と対向して設けられる、容量素子の他方の電極を構成する少なくとも一つの可動電極部140と、可動錘部120に設けられ、容量素子(C1,C2)からの信号を増幅する増幅回路を有する検出回路24と、を含む。 (もっと読む)


【課題】 特に、絶縁層の幅寸法T1と金属層の幅寸法T2を制御してアンカ部に応力が加わったときのセンサ部の変位量を小さくし、検出精度を向上させることが可能なMEMSセンサを提供することを目的としている。
【解決手段】 第1部材11と、第2部材12と、第1部材11と第2部材12との間に位置する中間部材13と、中間部材13に形成されたアンカ部14及びアンカ部に接続されたセンサ部15と、第1部材11とアンカ部14間に介在する絶縁層16と、第2部材12とアンカ部14間に介在する金属層17と、を有する。金属層17の外周側面はアンカ部14の外周側面よりも内側に後退している。絶縁層16の幅寸法をT1、金属層17の幅寸法をT2としたとき、T1/T2は、1.5以上で3.3以下の範囲内である。 (もっと読む)


【課題】単結晶シリコン基板を用いた半導体装置を製造する際に、エッチング速度を向上させることができる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】単結晶シリコン基板110に対してレーザー光Lを照射して、そのレーザー光Lの焦点を移動させることによって、少なくとも一部が単結晶シリコン基板110の表面に露出するように単結晶シリコン基板110の内部を部分的に多結晶化して改質部150を形成する改質工程と、改質工程にて単結晶シリコン基板110を多結晶化した部位をエッチャントにて連続的にエッチングするエッチング工程とを備える半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】構造を複雑にすることなく、基板の電位を安定にすることが可能な半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】上面に凹部100が形成された、単一の結晶構造体の半導体基板10と、凹部100内に配置され、下面に下面絶縁膜50が配置された可動電極21を有し、可動電極21より離間した位置において半導体基板10に固定された梁型の可動部20と、可動電極21に対向して凹部100内に配置され、半導体基板10に固定された梁型の固定電極30と、可動部20及び固定電極30と半導体基板10との間に配置され、可動電極21及び固定電極30と半導体基板10とを電気的に分離する分離絶縁膜40と、半導体基板10に接続するコンタクト電極63とを備える。 (もっと読む)


【課題】種々の物理量を検出する半導体センサにおいて、良好な温度特性を確保できる技術を提供する。
【解決手段】半導体センサ100は、素子側基板2と封止側基板8を備えている。素子側基板2の表面の一部にはセンシング機能を有するMEMS構造体22が形成されている。封止側基板8の裏面には、MEMS構造体22を収容する凹所13が形成されている。素子側基板2の表面には封止側基板8の裏面が接合されており、素子側基板2と封止側基板8の間に凹所13に対応する封止空間11が形成されている。封止空間191内にはMEMS構造体22が封止されている。封止側基板8には、凹所13の開口面8bと凹所13の底面8aとの間に応力吸収部14が形成されている。封止側基板8と素子側基板2との間に熱応力が発生すると、応力吸収部14に熱応力が吸収され、素子側基板2に加わる応力が低減される。 (もっと読む)


【課題】初期の製造工程において、電気的な接触なくとも機械的励起の試験を行う。
【解決手段】微細構造の共鳴エレメント(14)を励起する方法に関し、このエレメントは1つの自由度に従って可動する。その方法は、当該微細構造に荷電粒子ビーム(51)を作用する工程を備えており、そのビームは、エレメントの自由度に依存して交互運動に当該エレメントを動かすように構成されている。
1つの変形では、粒子ビームは前記自由度と平行な成分を持つ入射角で前記エレメントに作用される。 (もっと読む)


【課題】中空のドーム構造内に可動素子が形成されたMEMSデバイスに、外部からの横揺れや衝撃が加えられた場合でも内部に配置された可動素子の破損を防止することができるMEMSデバイスを提供する。
【解決手段】基板10上にアンカー22を介して形成され、第1の方向に伸長した振動子21を有するMEMS可動素子20と、MEMS可動素子20を覆うように基板10上に設けられる、中空の薄膜ドーム構造の第2の絶縁膜40と、基板10上に設けられ、第2の絶縁膜40の内側であって、MEMS可動素子20の外側に設けられ、一部が振動子21のON時の基板10からの高さ位置とOFF時の基板10からの高さ位置との間の高さ位置にある絶縁膜からなる立脚部31と、備える。 (もっと読む)


【課題】重り部の強度を維持しつつ梁部を長くすることが可能な加速度センサ素子を提供する。
【解決手段】加速度センサ素子1は、開口部13が形成された固定部3と、開口部13内に配置される重り部7と、一方端が重り部7に連結され、他方端が固定部3に連結される梁部5と、梁部5に設けられ、梁部5の変形に伴って抵抗値が変化する抵抗素子9とを有する。重り部7は、梁部5の一方端が連結される主部15と、主部15に連結され、梁部5の重り部7側の端部よりも固定部3側に突出する付属部17とを有する。付属部17(非重なり部19)は、開口部13の開口方向に見て梁部5と重ならない位置において主部15に連結されている。さらに、付属部17(重なり部21)は、梁部5よりも第2主面Sb側、且つ、開口方向に見て梁部5と重なる位置において主部15に連結されている。 (もっと読む)


【課題】基板のダイシングされる部分にアンダーカットを発生させることなくセンサチップを製造するセンサチップの製造方法を提供する。
【解決手段】センサチップ100の製造方法は、以下の工程を備えている。第1主表面1aを有する基板1が準備される。第1主表面1a上に第1の膜2aが形成される。第1の膜2a上に第1の膜2aとは異なる材質からなる絶縁膜3(第1絶縁膜)が形成される。絶縁膜3(第1絶縁膜)上に導電性の抵抗部4が形成される。抵抗部4が形成されていない絶縁膜3(第1絶縁膜)の部分がエッチングされて開口部6が形成され第1の膜2aが露出される。開口部6から露出された第1の膜2aがエッチングされて基板1の第1主表面1aが露出される。開口部6から露出された基板1の部分が切断される。 (もっと読む)


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