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Fターム[4M118GA10]の内容

固体撮像素子 (108,909) | 光照射 (2,492) | その他 (1,017)

Fターム[4M118GA10]に分類される特許

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【課題】低温アニールによる低抵抗化が起こらず、再現性が高く、大面積デバイス、特にフレキシブルデバイス作製に適したIGZO系酸化物薄膜を製造する。
【解決手段】In,Ga,Zn,Oを主たる構成元素とし、組成比が11/20≦Ga/(In+Ga+Zn)≦9/10、且つ3/4≦Ga/(In+Ga)≦1、且つZn/(In+Ga+Zn)≦1/3を満たす酸化物半導体薄膜を成膜する成膜工程と、成膜された酸化物半導体薄膜に対して、酸化性雰囲気中で100℃以上、300℃以下の熱処理を施す熱処理工程とを含み、熱処理工程後の酸化物半導体薄膜の抵抗率が1Ωcm以上、1×106Ωcm以下となるように、成膜工程における成膜条件および熱処理工程における熱処理条件を設定する。 (もっと読む)


【課題】画素部の温度補正をより正確に行うことのできる非冷却赤外線イメージセンサを提供する。
【解決手段】半導体基板2上の表面部分に配列された第1空洞部3aが形成された第1領域に第1空洞部に対応して第1空洞部の上方に設けられた複数の画素セル11と半導体基板上の第2領域に複数の画素セルの各行または各列に対応して設けられた参照画素セル21とを有し、各参照画素セルは入射された赤外線を吸収する第2赤外線吸収膜の熱を検出して電気信号を生成し、第1感熱素子21と同特性の第2感熱素子22を含み、第1感熱素子接続する第1および第2配線を有する支持部15と、第2感熱素子に接続する第3および第4配線を有する配線部25とを更に備え、配線部の第3および第4配線は、第1および第2配線と同じ電気抵抗を有し、参照画素セルは半導体基板に接するように設けられ、配線部の下方の半導体基板の表面部分に第2空洞部3bが設けられている。 (もっと読む)


【課題】 更なる小画素ピッチ化及び多画素化が求められる検出装置、特に、積層型の検出装置において、信号線容量の更なる低減による低ノイズ化及び駆動線の時定数の更なる低減による高速駆動化が可能な検出装置を提供する。
【解決手段】 放射線又は光を電荷に変換する変換素子104と、スイッチ素子105と、を含み、行方向及び列方向に配列された複数の画素102と、行方向の複数のスイッチ素子に接続された駆動線107と、列方向の複数のスイッチ素子に接続された信号線108と、を有し、変換素子104がスイッチ素子105の上方に配置された検出装置であって、信号線108は、変換素子104の下方に配置された駆動線107の最上位表面よりも下層の絶縁部材に埋め込んで配置された導電層208又は509からなる。 (もっと読む)


【課題】 装置構成が単純で、アスペクト比を維持したまま解像度の切り替えが可能で、低解像度画像の取込み時間が短い2次元撮像装置を得る。
【解決手段】 光電変換手段(105)を有する画素(14)が行列状に配置し、その画素内に配置されたTFT(104、114)を走査配線(103、113)により供給される走査信号(G、Gy+1)によってデータ配線(102)と光電変換手段とを導通制御するようにしたマトリクス基板と、走査配線にゲート選択信号を供給する垂直走査回路部(11)と、データ配線を介して光電変換手段に初期化電圧を供給し、その後にデータ配線を介して光電変換手段の放電電位を読み込む水平走査回路部(12)とを具備しており、さらに走査配線は行列状に配置された画素一行あたり2本配置され、データ配線は、一行あたり2つの画素がそれぞれTFTを介して接続される。 (もっと読む)


【課題】製造工程において製品の歩留りを向上させることのできる放射線検出器、及び放射線検出器の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る放射線検出器は、配線パターン200と、配線パターン200の表面に設けられる接続部材とを有する基板20と、基板20の一部に貼り付けられる粘着部材と、粘着部材を介して基板20上に配置され、放射線を検出可能な半導体素子10とを備え、接続部材が、配線パターン200と半導体素子10とを電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】ゲートICに走査線が未接続の端子が存在する場合であってもフレームごとに間隔を空けずに放射線画像撮影前の各放射線検出素子のリセット処理や画像データの読み出し処理を行うことが可能な放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置1の走査駆動手段15は、少なくとも放射線画像撮影前の各放射線検出素子7のリセット処理または各放射線検出素子7からの画像データDの読み出し処理において、ゲートドライバ15bから各走査線5にオン電圧を順次印加する際に、ゲートドライバ15bの走査線5が接続されていない端子pにオン電圧を印加するタイミングで、同時に走査線5が接続されている端子にオン電圧を印加して、各タイミングでいずれかの走査線5にオン電圧が印加される状態でゲートドライバ15bから各走査線5にオン電圧を順次印加する。 (もっと読む)


【課題】放射線検出器を稠密に配置した場合でも不感領域を低減することができる放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線検出装置は、基板20を挟む半導体素子10間の距離をXG1、一の放射線検出器1の半導体素子10から、当該半導体素子10に対向し、一の放射線検出器1に隣接する他の放射線検出器1の半導体素子10までの距離をXG2、Y方向に配列している半導体素子10間の距離をYG1、半導体素子ピッチ110の横ピッチをa、縦ピッチをb、半導体素子10の放射線が入射する面の幅をc、長さをd、半導体素子10の両端部に位置する素子内ピクセル領域10aの長さをe、複数の半導体素子10の両端部に位置する素子内ピクセル領域10aに挟まれる複数の素子内ピクセル領域10aの長さをfとした場合に、
c=a−(XG1+XG2)/2
d=b−YG1=2e+(n−2)f
e=b/n−YG1/2
f=b/nの関係を満たす。 (もっと読む)


【課題】電荷の収集速度をさらに向上する技術を提供することを目的とする。
【解決手段】光電変換素子と光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を信号線へ出力するための画素内読出回路とを有する固体撮像装置が提供される。光電変換素子は、第1導電型の第1半導体領域と、第1半導体領域の上に配されており、第1導電型とは異なる第2導電型の第2半導体領域と、第2半導体領域の内側に配されており、第2半導体領域よりも不純物濃度が高い第2導電型の第3半導体領域と、第3半導体領域の内側に配されて画素内読出回路に接続されており、第3半導体領域よりも不純物濃度が高い第2導電型の第4半導体領域とを含む。第3半導体領域は、第1部分と、第1部分から延びている複数の第2部分とを含む。第3半導体領域の第1部分の内側に第4半導体領域が配されており、第3半導体領域の平面視における形状は、第3半導体領域を3つ以上の部分に分割する1本の直線を定義可能な形状である。 (もっと読む)


【課題】高画質化に有利な技術を提供する。
【解決手段】複数の行および複数の列を構成するように複数の画素が配列されるとともに複数の列信号線が配置された画素アレイを有する固体撮像装置において、前記複数の画素の各々は、半導体基板に形成された第1導電型の第1ウェルと前記第1ウェルの中に配置された前記第1導電型とは異なる第2導電型の不純物領域とを含む光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を前記列信号線に出力する画素内読出回路とを含み、前記画素内読出回路は、前記第1導電型の第2ウェルに配置された回路素子を含み、前記第1ウェルと前記第2ウェルとが前記第2導電型の半導体領域によって分離されている。 (もっと読む)


【課題】光電変換素子の面積が異なる画素を含む固体撮像装置において、画素間の感度のばらつきを低減する技術を提供することを目的とする。
【解決手段】光電変換素子をそれぞれ有する複数の画素と、光電変換素子を覆う遮光層とを備える固体撮像装置が提供される。遮光層は、複数の画素のそれぞれの光電変換素子に対して、当該光電変換素子への入射光の一部分を遮るための遮光部と、入射光の残り部分を通すための開口部とを有し、複数の画素は、光電変換素子の平面視における面積が異なる少なくとも2種類の画素を含み、光電変換素子の平面視における面積の大きい画素ほど遮光部の面積が大きい。 (もっと読む)


【課題】S/N比の向上を図れる赤外線センサ装置を提供する。
【解決手段】第1のパッドVout1〜Vout8の電位をVout、第2のパッドVsel1〜Vsel8の電位をVs、第3のパッドVchの電位をVwell、第4のパッドの電位VrefinをVref、感温部(熱電変換部)30の出力電圧をVo、ウェル領域(チャネル形成用領域)41とソース領域44とで構成される第1の寄生ダイオードおよびウェル領域41とドレイン領域43とで構成される第2の寄生ダイオードのしきい値電圧をVthとするとき、制御手段が、nMOSトランジスタからなるMOSトランジスタ4をオン状態とする際の第2のパッドVsel1〜Vsel8の電位VsをVonとしたときに、−Vth<{Vwell−(Vref+Vo)}<Vthの関係を満たすように設定されたVref、Vwellの条件で赤外線アレイセンサ100を制御する。 (もっと読む)


【課題】放射線の照射領域を狭く設定された場合でも、放射線を確実に検出できる放射線検出素子及び放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線を検出する検出領域に、放射線画像撮影用の画素20A及び放射線検出用の画素20Bを含む複数の画素20をマトリクス状に設け、画素20Bに備えられたスイッチング素子に接続する信号配線3によって画素20Bに発生した電荷を検出することで、放射線検出が可能となり、放射線の照射開始を検知することができる。 (もっと読む)


【課題】製造工程において製品の歩留りを向上させることのできる放射線検出器の製造方法、及び放射線検出器を提供する。
【解決手段】本発明に係る放射線検出器1の製造方法は、配線パターン200と、配線パターン200の表面に設けられる第1接続部材とを有する基板20を準備する基板準備工程と、第2接続部材を基板20上に部分的に塗布する塗布工程と、第2接続部材を介して放射線を検出可能な半導体素子10を基板20上に配置し、第2接続部材を硬化させることにより半導体素子10を基板20に一時的に固定する仮固定工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】基板の入出力端子とフレキシブルプリント基板との接続部が腐食することを的確に防止し、入出力端子とフレキシブルプリント基板との接続を良好に維持することが可能な放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置1は、複数の走査線10と複数の信号線11により区画された各領域Rに二次元状に配列された複数の放射線検出素子14とが一面3a側に設けられた基板3と、基板3の面3a上の端縁部分に設けられ各走査線10および各信号線11の端部にそれぞれ設けられた入出力端子17と、各入出力端子17に導電性を保った状態で接着されるフレキシブルプリント基板23とを備え、各入出力端子17とフレキシブルプリント基板23との接続部Qに、防湿性を有する絶縁塗料24が塗布されており、絶縁塗料24により、各入出力端子17およびフレキシブルプリント基板23末端の各端子と外気との接触が遮断されている。 (もっと読む)


【課題】散乱光による画像のぼやけを抑制するイメージセンサ及び撮像装置を提供する。
【解決手段】結像面42に垂直な光電界成分より前記結像面に並行な光電界成分に弱く応答する第1光検出器38と、前記第1光検出器の一面に設けられ且つ応答の偏波依存性が前記第1光検出器より小さい第2光検出器40とを有する画素と、前記第1光検出器の出力信号に基づく第1画素信号と、前記第2光検出器の出力信号に基づく第2画素信号とを前記画素から読み出す周辺回路部を備える。 (もっと読む)


【課題】光電変換素子とシンチレータとの間に設けられる保護層による光電変換素子の量子効率の低下の度合を低減し、かつ、光電変換素子等が腐食することを的確に防止することが可能な放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置1は、入射した放射線を光に変換するシンチレータ4が一方の面5aに形成された第一の基板5と、シンチレータ4により変換された光を受けて電気信号に変換する光電変換素子14が一方の面3aに形成された第二の基板3とを備え、第二の基板3の、光電変換素子14が設けられた側の面3a上には、第一の基板5の面5a上に形成されたシンチレータ14と接触する保護層20が形成されており、保護層20は、光電変換素子14のシンチレータ4に対向する受光面14a上の部分では、シンチレータ4から離間する状態で凹部20aが形成されている。 (もっと読む)


【課題】層間絶縁膜上に屈折率の高い高屈折率膜を備えた固体撮像装置において、色むらや感度ムラの原因となるリップルを低減すること。
【解決手段】それぞれが画素を形成する複数の受光素子12が表面部に形成された半導体基板11と、前記半導体基板11上に、複数の層間絶縁膜20、21,22を介して積層された複数の配線14,16,18と、前記複数の層間絶縁膜20,21,22のうちの最上層に位置する層間絶縁膜22上に形成された、前記層間絶縁膜よりも屈折率の高い高屈折率膜23と、前記高屈折率膜23上に平坦化膜24を介して配置された、前記受光素子12で受光する波長を選択するためのカラーフィルタ25とを有し、前記カラーフィルタ25の透過光の波長に対応して前記高屈折率膜23の膜厚が異なることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定することが可能な欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器及び欠陥画素判定システムを提供する。
【解決手段】2次元状に配置された複数の放射線検出素子(x,y)を備える放射線画像検出器1における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取及び/又は放射線画像撮影に際して1回以上行われたダーク読取において得られた一の放射線検出素子(x,y)から出力されたダーク読取値d(x,y)と、予め定められた閾値dthとを比較し、当該放射線検出素子(x,y)から出力された少なくとも1つのダーク読取値d(x,y)が閾値dthよりも大きい場合に、当該放射線検出素子(x,y)を欠陥画素と判定する。 (もっと読む)


【課題】間引きデータを画面上に迅速に表示させることが可能な放射線画像生成システムを提供する。
【解決手段】放射線画像生成システム30は、放射線画像検出器1と、コンソール31と、オフセット補正値生成手段31と、放射線発生装置34とを備え、コンソール31は、間引きデータf(x,y)又は実写画像データF(x,y)に基づいて作成した間引きデータに基づく画像、或いは、間引きデータ又は実写画像データに基づいて作成した間引きデータに対してゲイン補正処理及びオフセット補正値に基づくオフセット補正処理を行って間引きデータ又は実写画像データに基づいて作成した間引きデータに対する画像処理後の画像、或いは、実写画像データに対してゲイン補正処理及びオフセット補正値に基づくオフセット補正処理を行った画像処理後の画像、のうちの少なくとも1つとを、前記表示部に表示させる。 (もっと読む)


【課題】信号線方向に対して2分割構造を有する平面検出器において、分割面の双方でオフセット値がずれにくく、画像劣化を生じにくくする。
【解決手段】放射線平面検出器10は、信号線がそれぞれ、行方向に沿って仮想的に形成された信号線分割線により分割された構造の放射線センサ31と、ゲート線毎に順次駆動電圧を印加するゲート駆動回路3と、駆動電圧が印加されゲートをONにされた任意の1本のゲート線と接続された画素群に接続される信号線を介して画像信号情報を読み取るとともに、全てのゲート線に駆動電圧を印加せずにゲートをOFFにされた状態で信号線毎に当該信号線に接続された全ての画素からリーク信号情報を読み取る信号読取回路4と、画像信号情報をリーク信号情報に基づいて補正処理する画像処理回路8と、を備える。 (もっと読む)


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