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Fターム[4M119DD55]の内容

MRAM・スピンメモリ技術 (17,699) | セル構成 (5,615) | 選択素子と記憶素子の位置関係 (261) | FETのSDの直上に記憶素子 (256)

Fターム[4M119DD55]に分類される特許

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【課題】更なる高記録密度化が実現可能な磁気抵抗効果素子を得る。
【解決手段】CoFeAlSiに第5元素としてGe及び/又はCuを添加した膜でで形成され、内部の磁化の向きが固定されているリファレンス層143cと、リファレンス層143c上に非磁性材料で形成された非磁性層144と、この非磁性層144上に、CoFeAlSiに第5元素としてGe及び/又はCuを添加した膜で形成され、磁化の向きが、外部の磁界の向きに応じた向きに変化する自由磁化層145とを備えた。 (もっと読む)


【課題】記録層が磁化反転する際の反転電流を低減することを可能にする。
【解決手段】電圧を印加することによって格子が伸縮する圧電層11と、圧電層上に設けられ、かつ膜面に垂直方向の磁気異方性を有しスピン偏極した電子の作用により磁化の方向が変化する記録層12と、記録層上に設けられた第1の非磁性層13と、第1の非磁性層上に設けられ、かつ膜面に垂直方向の磁気異方性を有する参照層14と、を備え、記録層は、読み出し時の電圧印加時での熱擾乱耐性が書き込み時の電圧印加時での熱擾乱耐性よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】誤書き込みの発生が少ない、安定したスピン注入磁化反転によるデータ書き込みを実現する。
【解決手段】本発明の実施形態に係る磁気抵抗効果素子のデータ書き込み方法は、磁化方向が不変な第1の磁性層と、磁化方向が可変な第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層の間に設けられたトンネルバリア層とを有する磁気抵抗効果素子のデータの書き込み方法であって、電流の立ち下がり期間Tfが、電流の立ち上がり期間よりも長い書き込み電流Iwを、磁気抵抗効果素子に流して、第1の磁性層の磁化方向と第2の磁性層の磁化方向との関係を変化させる。 (もっと読む)


【課題】抵抗変化素子を微細化する。
【解決手段】抵抗変化メモリは、半導体基板上に形成され、段差部14aを有する層間絶縁膜11と、段差部を含む層間絶縁膜上に形成された下部電極層15と、下部電極層上に形成された固定層16と、固定層上に形成された第1の絶縁膜17と、第1の絶縁膜の一部上に形成された記録層18と、記録層を覆い、第1の絶縁膜に接する第2の絶縁膜19と、第2の絶縁膜上に形成された導電層20と、導電層に接続された配線23とを具備する。 (もっと読む)


【課題】実効的な書き込み電流の低減及び書き込み時間の短縮を実現する。
【解決手段】本発明の例に係る磁気抵抗効果素子のデータ書き込み方法は、磁化方向が不変な第1の磁性層と、磁化方向が可変な第2の磁性層と、第1の磁性層と第2の磁性層の間に設けられたトンネルバリア層とを有する磁気抵抗効果素子のデータの書き込み方法であって、パルス形状の書き込み電流Iwを磁気抵抗効果素子に流して、第1の磁性層の磁化方向と第2の磁性層の磁化方向との関係を変化させることを具備し、書き込み電流Iwのパルス幅Wは、その電流の立ち上がりの開始から第1の時間tosまでの第1の期間Wと、第1の期間Wに続く第2の期間Wとを含み、書き込み電流Iwは、第2の期間W内に出力される電流値i1と、第1の期間W内に出力され電流値i1より大きい電流値i2とを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】更なる高記録密度化が実現可能な磁気抵抗効果素子を得る。
【解決手段】CoFeAlにSi又はGeが添加された磁性材料で形成され、内部の磁化の向きが固定されているリファレンス層143cと、リファレンス層143c上に非磁性材料で形成された非磁性層144と、この非磁性層144上に、CoFeAlにSi又はGeが添加された磁性材料で形成され、磁化の向きが、外部の磁界の向きに応じた向きに変化する自由磁化層145とを備えた。 (もっと読む)


【課題】記憶データに基づいて駆動電圧を負荷に供給するとともに、動作速度の低下およびレイアウト面積の増大を防ぐことが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置101は、各々が、記憶データの論理値に対応する電気抵抗値を有する複数の抵抗体記憶素子Mと、複数の抵抗体記憶素子Mを通してそれぞれ読み出し電流を流す読み出し回路12と、各抵抗体記憶素子Mを通して流れる読み出し電流を加算し、加算した読み出し電流を駆動電圧に変換して負荷に供給する駆動電圧生成回路11とを備える。 (もっと読む)


【課題】共鳴トンネル磁気抵抗効果素子を用いた高速・低消費電力不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性磁気メモリに、共鳴トンネル磁気抵抗効果素子を装備し、共鳴準位に相当する電圧によりスピントランスファートルクによる書込み方式を適用する。共鳴トンネル磁気抵抗効果素子における障壁層は少なくとも2層3021,3022,3023で構成される。また、強磁性層に量子井戸形成層を隣接した構成を有する。 (もっと読む)


【課題】下部導電層と、MTJ素子を保護する保護膜との密着性を高めた半導体装置を提供する。
【解決手段】この半導体装置90は、半導体基板100の上方に形成された下部電極EB1と、下部電極EB1上の一部に形成され、下部磁性膜6、絶縁膜7、上部磁性膜8および上部電極ET1の順に積層されてなるMTJ素子部と、前記MTJ素子部を被覆する様に下部電極EB1上に形成された保護膜33とを備え、下部電極EB1は、アモルファス化された窒化金属により形成され、保護膜33は、窒素を含有する絶縁膜により形成される。 (もっと読む)


【課題】磁性層としてフルホイスラー合金を用いても、可及的に高くかつ温度変化の影響を可及的に受けない磁気抵抗変化率を得ることを可能にする。
【解決手段】半導体基板上に離間して設けられたソース部およびドレイン部であって、前記ソース部およびドレイン部はそれぞれ、CoおよびFeを含む合金からなる第1強磁性層15a、15bと、前記第1強磁性層上に形成されたCoおよびMnを含むフルホイスラー合金からなる第2強磁性層15a、15bとを有する強磁性積層膜を含む、ソース部およびドレイン部15a、15bと、前記ソース部と前記ドレイン部との間の前記半導体基板上に設けられるゲート絶縁膜9と、ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極10と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】情報の記録を少ない電流量で安定して行うことができる記憶素子を提供する。
【解決手段】記憶層16とトンネル絶縁層15と磁化固定層2とを有し、積層方向に電流Izを流すことにより、記憶層3の磁化M1の向きが変化して、記憶層16に対して情報の記録が行われ、磁化固定層2が非磁性層13を介して積層された複数層の強磁性層12,14から成り、この磁化固定層2のうち少なくとも最も記憶層16側に配置された強磁性層14において、強磁性層14の両端部に、それぞれ積層方向の磁化成分を有し、かつ向きが互いに異なる磁化M12a,M12bを有する、磁化領域が形成され、この強磁性層12の磁化M12に対して記憶層16の磁化M1の向きを平行にする磁界を印加した場合、磁化固定層2の飽和磁界の大きさが8kOe以下である記憶素子1を構成する。 (もっと読む)


【課題】隣接した磁気トンネル接合装置間の干渉現象および電気的な短絡を防止することのできる磁気トンネル接合装置およびその製造方法を提供することである。
【解決手段】所定の間隔を有する複数の開口部を備える絶縁膜を形成するステップと、前記開口部の底面および側壁に第1電極を形成するステップと、前記第1電極上に磁気トンネル接合層を形成するステップと、前記磁気トンネル接合層上に残りの前記開口部を埋め込む第2電極を形成するステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】セル面積の増加を抑制しつつ、書き込み電流を増大する。
【解決手段】抵抗変化型メモリは、第1の素子領域10と、第1の素子領域の上方に配置され、第1の方向Xにそれぞれ延在された第1及び第2のビット線BL1,BL2と、第1及び第2のビット線にそれぞれ接続された第1及び第2の抵抗変化素子MTJ1,MTJ2と、第1及び第2の抵抗変化素子の両方に直列接続され、第1の素子領域内に形成され、第1の方向と交差する第2の方向Yに延在された第1のゲート電極G1を有し、第1のゲート電極のゲート幅は第1の素子領域の第2の方向の幅と等しい第1のトランジスタTr1とを具備する。 (もっと読む)


【課題】磁壁移動型のMRAMにおいて、磁壁移動に要する臨界電流密度を低減すること。
【解決手段】本発明に係る磁壁移動型のMRAM1は、磁壁が移動する強磁性体層である磁壁移動層20と、磁壁移動層20に供給される電流が流れる配線60と、磁壁移動層20と配線60との間に介在するスピン吸収層70とを備える。スピン吸収層70のスピン拡散長は、配線60のスピン拡散長よりも短い。 (もっと読む)


【課題】磁気ランダムアクセスメモリに集積化された磁気抵抗素子への外乱磁界を低減する。
【解決手段】磁気ランダムアクセスメモリは、磁気抵抗素子が集積化された複数のMRAMアレイ32と、MRAMアレイ32のそれぞれに対して設けられ、外乱磁界がMRAMアレイ32に鎖交することを防ぐための複数の磁気シールド33とを具備している。磁気シールド33のそれぞれの平面形状は、円形であるか、n角形(n≧6)である。 (もっと読む)


【課題】少なくとも第一の磁気レイヤ、第二の磁気レイヤ及び第一の磁気レイヤと第二の磁気レイヤの間に配置された絶縁レイヤを有する磁気トンネル接合部を備え、更に、選択トランジスタと、接合部と電気的に接続された電流ラインとを備えた熱アシストスイッチング式書き込み手順にもとづく磁気ランダムアクセスメモリ(MRAM)セルを提供する。
【解決手段】電流ライン8が、接合部を加熱するための第一の電流成分31を流す第一の機能と、第一の磁気レイヤ21の磁化を切り換えるための第二の電流成分41を流す第二の機能とを有する。 (もっと読む)


1本のフィールド線5と、少なくとも2つの熱支援型スイッチング磁気トンネル接合ベースの磁気ランダムアクセスメモリセル100とを備えるメモリユニットであって、各セル100が、磁気記憶層と磁気基準層の間に配設された絶縁層を備える磁気トンネル接合部2を有し、選択トランジスタ3が、磁気トンネル接合部2に接続され、1本のフィールド線5が、セル100の磁気トンネル接合部2の記憶層の磁化を切り替えるためのフィールド電流を通すために使用されるメモリユニット。メモリユニットのアレイを組み立てることによって磁気メモリデバイスを形成することができ、フィールド線5によって、セル100の少なくとも2つの隣接する磁気トンネル接合部2に同時にアドレスすることができる。このメモリユニットおよび磁気メモリデバイスは表面積がより小さい。より高密度のメモリユニットを備える磁気メモリデバイスを製造することができ、したがってダイ製造コストが低減され、電力消費も低減される。
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【課題】フリー層の磁化方向を反転させるのに必要な反転電流を低減しつつ、磁化方向を反転させた場合の抵抗の変化率を大きくした磁気記憶素子および磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】スピン偏極した電子により磁化方向を反転させる磁気記憶素子であって、第1ピン層と、第1トンネル絶縁層と、第1フリー層との積層構造を含む第1単位磁気記憶素子と、第2ピン層と、第2トンネル絶縁層と、第2フリー層との積層構造を含む第2単位磁気記憶素子と、第1ピン層と第2ピン層を電気的に接続して、第1単位磁気記憶素子と第2単位磁気記憶素子とを直列に接続する接続電極とを含み、電子の移動方向に垂直な方向の第2単位磁気記憶素子の断面積が、第1単位磁気記憶素子の断面積より大きい。 (もっと読む)


【課題】製造プロセス中に磁性体膜の材料の拡散を防止し得る半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、基板20と、基板20の主面上に形成され、かつ配線層を含む半導体素子12と、半導体素子12を被覆する磁性体からなる磁気シールド膜15と、半導体素子12と磁気シールド膜15との間に介在し、かつ磁気シールド膜15の磁性体材料の拡散を防止するバッファ膜14と、を有する。バッファ膜14は、磁性体材料の拡散防止効果をもたらすとともに、磁気シールド膜の結晶化を促進する効果も有する。 (もっと読む)


【課題】動作特性の良いMTJ素子を有する半導体装置及びその製造方法を得る。
【解決手段】MTJ素子MD1は、下部磁性膜6、トンネル絶縁膜7及び上部磁性膜8の順に積層される積層構造により形成される。下部磁性膜6及び上部磁性膜8は構成材料として非晶質あるいは微結晶状態のコバルト鉄ボロン(CoFeB)を含んでいる。トンネル絶縁膜7は構成材料として酸化アルミニウム(AlOx)を含んでいる。MTJ素子MD1の上部磁性膜8上にCAP層CP1が形成され、CAP層CP1上にハードマスクHM1が形成される。CAP層CP1は結晶質のルテニウム(Ru)単体構造を構成材料としており、ハードマスクHM1は結晶質のタンタル(Ta)単体構造を構成材料としている。ハードマスクHM1の膜厚はCAP層CP1の膜厚より厚く形成される。 (もっと読む)


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