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Fターム[5B015KA10]の内容

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Fターム[5B015KA10]に分類される特許

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【課題】1つの実施形態は、例えば、電源オフ時における消費電力を低減することを目的とする。
【解決手段】1つの実施形態によれば、メモリセルは、第1の駆動トランジスタと第1の負荷トランジスタと第1の読み出し転送トランジスタと第1の書き込み転送トランジスタと第2の駆動トランジスタと第2の負荷トランジスタと第2の読み出し転送トランジスタと第2の書き込み転送トランジスタと1以上の抵抗変化素子とを有する。1以上の抵抗変化素子は、両端に印加されるバイアスの方向に依存して抵抗が変化する。1以上の抵抗変化素子は、第1の記憶ノード及び第1の書き込み転送トランジスタの間と第2の記憶ノード及び第2の書き込み転送トランジスタの間との少なくとも一方に配される。 (もっと読む)


【課題】不揮発性メモリ部内蔵のSRAMの特性の向上を図る。
【解決手段】SRAMを構成するアクセストランジスタAcc1とビット線BLとの間に抵抗変化層Rを有するReRAM部RM1を設け、アクセストランジスタAcc2とビット線/BLとの間に抵抗変化層Rを有するReRAM部RM2を設ける。SRAM通常動作期間の終了時において、例えば、蓄積ノードAに低電位(L=0V)、蓄積ノードBに高電位(H=1.5V)が保持されている場合、ReRAM部RM1をオン状態(ON)とし、ReRAM部RM2をオフ状態(OFF)とすることで、SRAMの保持データをReRAM部へ書き込み、再び、SRAM通常動作となった場合には、蓄積ノードAおよびBに対応するデータ書き戻すとともに、ReRAM部RM1、RM2の双方をオン状態に(リセット)する。 (もっと読む)


【課題】消費電力を抑えることができる記憶素子、当該記憶素子を用いた信号処理回路を提供する。
【解決手段】一対のインバータ(クロックドインバータを含む)を用いた記憶素子内に、データを保持するための容量素子と、当該容量素子における電荷の蓄積および放出を制御するスイッチング素子とを設ける。例えば、容量素子の一方の電極を一対のインバータのいずれかの入力あるいは出力である第1のノードに接続し、他方の電極をスイッチング素子の一方の電極に接続する。スイッチング素子の他方の電極は前記インバータの出力あるいは入力である第2のノードに接続する。ここで、第1のノードの電位と第2のノードの電位は互いに逆の位相である。このような接続により、データ回復時における第1のノードと第2のノードの電位差の絶対値を十分に大きくすることができ、データ回復時のエラーを減らせる。 (もっと読む)


【課題】CMOS製造プロセスに用いることのできる材料を用いかつノイズマージンの広い不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】本実施形態の不揮発性メモリによれば、第1および第2のPチャネルトランジスタはそれぞれ第1の半導体領域上に設けられ、第1の半導体領域上に、第1の絶縁膜と、第1のフローティングゲート、第2の絶縁膜、第2のフローティングゲート、第3の絶縁膜、および第1の制御ゲートが、この順序で積層された構造を有し、前記第1および第2のNチャネルトランジスタはそれぞれ第2の半導体領域上に設けられ、前記第2の半導体領域上に、第4の絶縁膜、第3のフローティングゲート、第5の絶縁膜、第4のフローティングゲート、第6の絶縁膜、および第2の制御ゲートがこの順序で積層された積層構造を有している。 (もっと読む)


【課題】SRAMの読み書き機能と不揮発性メモリの不揮発記憶特性をあわせ持つ不発揮性SRAMセルを提供する。
【解決手段】二つの出力ノードを設けるラッチと、前記二つの出力ノードのうちの一つとビットラインペアのうちの一つとの間に接続されるアクセストランジスタからなるSRAMセルにおいて、前記二つの出力ノードのうちの一つと電圧ラインとの間に不揮発性メモリ素子を接続することにより、不揮発性SRAMセルを構成する。 (もっと読む)


【課題】低消費電力動作が可能で、且つキャッシュヒット率が向上したキャッシュメモリと、その駆動方法を提供する。
【解決手段】キャッシュメモリが有するメモリセット内の1つのメモリセルに2つのデータ格納部(第1格納部、第2格納部)と、1つのデータ転送部を設ける構成とし、2つのデータ格納部間でデータ転送部を介してそれぞれのデータを移行できる構成とする。さらに、2つのデータ格納部のうち、いずれか1つのデータ格納部は、外部から入力されるデータを格納可能で、且つメモリセットに対に設けられる比較回路にデータを出力可能な構成とすればよい。 (もっと読む)


【課題】電源の供給を停止しても、記憶している論理状態が消えない記憶装置を提供する。また、該記憶装置を用いることで、電源供給停止により消費電力を抑えることができる信号処理回路を提供する。
【解決手段】第1及び第2のノードを有する論理回路と、第1のノードに接続された第1の記憶回路と、第2のノードに接続された第2の記憶回路と、第1のノード、第2のノード、第1の記憶回路、及び第2の記憶回路に接続されたプリチャージ回路と、を有し、読み出しの際に、プリチャージ回路は、プリチャージ電位を第1のノード及び第2のノードに出力し、第1の記憶回路及び第2の記憶回路は、チャネルが酸化物半導体膜に形成されるトランジスタを含む記憶装置である。 (もっと読む)


【課題】電源の供給を停止しても、記憶している論理状態が消えない記憶装置を提供する。また、該記憶装置を用いることで、電源供給停止により消費電力を抑えることができる信号処理回路を提供する。
【解決手段】第1乃至第4のノードを有する論理回路と、第1のノード、第2のノード、及び第3のノードと接続された第1の制御回路と、第1のノード、第2のノード、及び第4のノードと接続された第2の制御回路と、第1のノード、第1の制御回路、及び第2の制御回路に接続された第1の記憶回路と、第2のノード、第1の制御回路、及び第2の制御回路に接続された第2の記憶回路と、を有する記憶装置である。 (もっと読む)


【課題】電力の供給が停止した後もデータを保持することができる、新たな構成の記憶素子を提供することを目的の一とする。
【解決手段】記憶素子は、ラッチ回路と、第1の選択回路と、第2の選択回路と、第1の不揮発性記憶回路と、第2の不揮発性記憶回路と、を有する。また、第1の不揮発性記憶回路及び第2の不揮発性記憶回路は、それぞれトランジスタ及び容量素子を有する。第1及び第2の不揮発性記憶回路のそれぞれが有するトランジスタは、チャネルが酸化物半導体膜に形成されるトランジスタである。当該トランジスタは、オフ電流が極めて低いため、トランジスタと容量素子の接続点であるノードにデータが入力された後、トランジスタがオフ状態となり、電源電圧の供給が停止しても、長期間にわたりデータを保持することができる。 (もっと読む)


【課題】低消費電力及び小面積の不揮発性コンフィギュレーションメモリを提案する。
【解決手段】実施形態の不揮発性コンフィギュレーションメモリは、ゲートに出力ノードD12が接続され、ソースに第1の電圧が印加され、ドレインに出力ノードD11が接続されるトランジスタM11と、ゲートに出力ノードD11が接続され、ソースに第1の電圧が印加され、ドレインに出力ノードD12が接続されるトランジスタM12と、制御ゲートにワード線WL11が接続され、ソースに第1の電圧よりも低い第2の電圧が印加され、ドレインに出力ノードD11が接続され、記憶層に不揮発的に記憶されるデータにより閾値が変化するトランジスタF11と、制御ゲートにワード線WL12が接続され、ソースに第2の電圧が印加され、ドレインに出力ノードがD12接続され、記憶層に不揮発的に記憶されるデータにより閾値が変化するトランジスタF12とを備える。 (もっと読む)


【課題】複雑な作製工程を必要とせず、消費電力を抑えることができる信号処理回路。特に、短時間の電源停止により消費電力を抑えることができる信号処理回路。
【解決手段】制御装置と、演算装置と、緩衝記憶装置とを有し、緩衝記憶装置は、主記憶装置から、或いは演算装置から送られてきたデータを、制御装置からの命令に従って記憶し、緩衝記憶装置は複数のメモリセルを有し、メモリセルは、チャネル形成領域に酸化物半導体を含むトランジスタと、トランジスタを介してデータの値に従った量の電荷が供給される記憶素子とを有する信号処理回路。 (もっと読む)


【課題】故障率及び消費電力を充分に小さくすることができる不揮発性記憶素子を提供する。
【解決手段】複数のメモリセルが配列された不揮発性記憶素子100であって、複数のメモリセルのそれぞれは、端子Aと端子Bとを有するインバータ部と、端子Aとビット線140との導通及び非導通を切り替える選択トランジスタ120と、端子Bとビット線141との導通及び非導通を切り替える選択トランジスタ121と、一端が端子Aに接続された固定抵抗130と、固定抵抗130の他端と信号線144との導通及び非導通を切り替える制御トランジスタ122と、一端が端子Bに接続され、固定抵抗130より高抵抗又は低抵抗となることが可能な可変抵抗131と、可変抵抗131の他端と信号線144との導通及び非導通を切り替える制御トランジスタ123とを備える。 (もっと読む)


【課題】複雑な作製工程を必要とせず、消費電力を抑えることができる記憶装置、当該記憶装置を用いた信号処理回路の提供を目的の一つとする。
【解決手段】インバータまたはクロックドインバータなどの、入力された信号の位相を反転させて出力する位相反転素子を用いた記憶素子内に、データを保持するための容量素子と、当該容量素子における電荷の蓄積及び放出を制御するスイッチング素子とを設ける。上記スイッチング素子には、酸化物半導体をチャネル形成領域に含むトランジスタを用いる。そして、上記記憶素子を、信号処理回路が有する、レジスタやキャッシュメモリなどの記憶装置に用いる。 (もっと読む)


【課題】書き込み回数に制限がなく、回路規模の増加に対して消費電力を抑制することができる半導体集積回路を提供する。
【解決手段】ルックアップテーブル101とフリップフロップ102Aのラッチ回路以外の回路構成部との電源供給経路を分離し、ルックアップテーブル101とラッチ回路以外の回路構成部とを別個に電源制御する電源コントローラ109及び電源制御回路111を備える。 (もっと読む)


【課題】不揮発性SRAMセルを提供する。
【解決手段】CMOS技術により形成された2つのクロスカップル型インバータを有するSRAMセルと、記憶セルに不揮発性特性を追加するためにSRAMセルと一体化された第1及び第2のカルコゲン素子とを提供する。PCM抵抗は、SET状態及びRESET状態にプログラムされ、電源投入時には、SRAMセルがPCMセルに含まれるデータを有する。 (もっと読む)


【課題】電界効果トランジスタの電流駆動能力を不揮発的に設定すること。
【解決手段】本発明は、電界効果トランジスタ40と、一端が前記電界効果トランジスタ40のソースSに接続され、抵抗値を不揮発的に設定可能な抵抗変化素子Reと、を具備する電子回路である。本発明によれば、例えば抵抗変化素子Reが、抵抗値に応じ双安定回路に記憶されたデータを不揮発的にストアし、ストアされたデータを双安定回路にリストアする電子回路において、双安定回路と抵抗変化素子とが互いに影響することを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】不揮発であってデータ読み出し動作の信頼性の向上が図れるラッチ回路を提供する。
【解決手段】ラッチ回路は、インバーター回路110,120と、インバーター回路110の出力とインバーター回路120の入力とを接続するスイッチ162と、インバーター回路120の出力とインバーター回路110の入力とを接続するスイッチ164と、インバーター回路110の入力に一端が接続されかつインバーター回路110の出力に他端が接続された強誘電体キャパシター132と、インバーター回路120の入力に一端が接続されかつインバーター回路120の出力に他端が接続された強誘電体キャパシター134と、インバーター回路110の入力と強誘電体キャパシターの一端との間のノードに一端が接続されたキャパシター142と、インバーター回路120の入力と強誘電体キャパシター134の一端との間のノードに一端が接続されたキャパシター144とを含む。 (もっと読む)


メモリデバイスと、メモリデバイス内に漏洩電流を低減する方法とが開示される。メモリデバイスは、複数のビットラインを含むメモリコアアレイと、このメモリコアアレイとインターフェースするように構成された周辺論理回路とを含む。メモリデバイスはさらに、周辺論理回路をグランド電圧から分離するように構成されたフットスイッチと、プリチャージ電流経路をメモリコアアレイの複数のビットラインから分離するように構成されたヘッドスイッチとを含む。メモリデバイス内の漏洩電流は、フットスイッチおよびヘッドスイッチで行われる分離によって低減することができる。
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【課題】 不揮発性メモリーと揮発性メモリーの構成において、瞬断、α線等によって不揮発性メモリーの記憶情報が変化し誤動作した場合に、誤動作検知の有無に関わらず、正常動作に復帰する。
【解決手段】 不揮発性メモリーに入力するリセットを1ビット毎、1ワード毎、任意の所定のビット数毎にまとめて送り、それを一単位として周期的に送り、瞬断、α線等によって不揮発性メモリーの記憶情報が変化しても、外部からの入力信号なしに正常動作に復帰する。 (もっと読む)


【課題】複数あるメモリセル全ての閾値電圧のばらつきを一括してトリミングする。
【解決手段】この半導体記憶装置は、第1インバータINV1と第2インバータINV2とをクロスカップル接続させて形成されるメモリセル20と、第1電圧が供給される電源端子21と、第2電圧を制御する第2電圧制御部28とを備える。メモリセル20のオフセット情報を読み出す場合には、電源端子21に印加される電圧と第2電源端子22に印加される電圧とを等しくした後、第1電源端子21に印加される電圧を第1電位に、第2電源端子22に印加される電圧を前記第2電位に復帰させる。インバータを構成するトランジスタにストレスを発生させる場合、第1電源端子21と第2電源端子22との間の電位差を、第1電位と第2電位との間の差よりも大きくする。 (もっと読む)


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