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Fターム[5C024CY44]の内容

光信号から電気信号への変換 (72,976) | 目的及び機能(その2) (6,333) | 試験、検査 (205)

Fターム[5C024CY44]に分類される特許

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【課題】被写体の撮像と並行して、A/D変換器に供給されるカウント信号の検査を行うことができる光電変換システムを提供することを課題とする。
【解決手段】マトリクス状に配置された複数の画素と、ランプ信号を生成する参照信号生成部と、列毎に配置され、画素からの信号をA/D変換するA/D変換器と、ランプ信号の出力に合わせてカウント動作を行い、カウント信号をカウント信号線を介してA/D変換器に供給するカウンタと、A/D変換器とは独立して設けられ、カウント信号の期待値とカウント信号線を介して供給されるカウンタからのカウント信号とを照合することによりカウンタの検査を行うカウンタ検査回路を備え、被写体の撮像と並行に、カウント信号の検査を行えるようにする。 (もっと読む)


【課題】撮像部の駆動タイミングを変更することなく、光学系と撮像部の位置のずれを容易に補正することができるようにする。
【解決手段】イメージセンサは、被写体からの光を、光学系を介して取得することにより撮像を行う。抽出部は、イメージセンサによる撮像の結果得られる画像データのうちの、光学系とイメージセンサの位置のずれに基づいて決定される所定の範囲の画像データを撮像画像の画像データとして出力する。本技術は、例えば、撮像装置に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】X線を電荷キャリアに直接変換する少なくとも一つのX線センサーを有する、X線検出器を提供する。
【解決手段】本発明のX線検出器は、X線放射線を電荷キャリアに直接変換するX線センサー(第一のX線センサー)を有し、X線センサーに電気的に接続され好ましくは集積回路として形成される信号評価電子回路を有し、信号評価電子回路を防護するために形成されるX線吸収体を有し、及びX線吸収体に対してX線センサーを位置調整するために形成され配置されるセンサーキャリア(第一のセンサーキャリア)を有し、X線放射線の入射方向で見た場合に、信号評価電子回路がX線吸収体の後方でそのX線放射線の影の中に配置され、X線センサーが、X線吸収体と信号評価電子回路との間に好ましくは配置されるセンサーキャリアにより、少なくとも部分的にX線吸収体の後方で、そのX線放射線の影の外側に配置される。 (もっと読む)


【課題】複数のメモリ間でのショート故障の有無を検査できる構成を有するADCおよびその検査方法、ADCを有する撮像装置、撮像装置を有する撮像システムを提供する。
【解決手段】複数のメモリと複数の比較器とを含んで構成される回路部を複数有し、アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路であって、複数の回路部の一部に含まれるメモリと複数の回路部の別の一部に含まれるメモリとで異なるデジタル信号を保持するようにテスト信号を供給するテスト信号供給部と、出力比較部と、転送部を有することを特徴とするアナログデジタル変換回路である。 (もっと読む)


【課題】一画素から出力される電荷量が少ない場合でも、特定信号配線の断線を検出することができる、放射線検出器、放射線画像撮影システム、断線検出プログラム、及び断線検出方法を提供する。
【解決手段】画素20にバイアス電圧を印加して画素20のセンサ部(フォトダイオード)103のリーク電流によるオフセット電荷を蓄積させ、順次、画素20のTFTスイッチ4のゲートをオンさせて蓄積されているオフセット電荷に応じた電気信号を出力させる。当該電気信号に基づいて、オフセット電荷量の累積値を検出し、制御部106は、検出した累積値と断線検出用に予め定められた閾値とを比較し、累積値が閾値未満の場合は信号配線3が断線していることを検出する。 (もっと読む)


【課題】感光画素に光を入射させることなく、ブルーミングを評価できるようにする。
【解決手段】画素アレイ部1は、光電変換した電荷を蓄積する画素PCがマトリックス状に配置され、行走査回路2は、画素PCをロウごとに駆動し、電流源G´は、画素アレイ部1の一部の画素PC´に電荷を注入し、タイミング制御回路7は、画素PCの駆動タイミングおよび画素PC´の電荷注入タイミングを制御する。 (もっと読む)


【課題】撮像装置が撮像した画像のノイズを好適に低減する方法を提供する。
【解決手段】撮像装置から画像を取得する第1の工程と、該画像から固定パターンノイズを低減する第2の工程と、固定パターンノイズが低減された該画像をランダムノイズフィルタを用いて処理する第3の工程とを包含しており、上記ランダムノイズフィルタは、同じ画素を中心とする、第1のウィンドウ、および第1のウィンドウよりも小さい第2のウィンドウを使用して、当該中心となる画素の画素値を改変するものであり、第2のウィンドウ内の画素の画素値に基づく統計量を算出する第1のサブフィルタと、第1のウィンドウ内であって、第2のフィルタ内ではない画素の画素値に基づく統計量を算出する第2のサブフィルタとを備えている。 (もっと読む)


【課題】 複数列設けられた信号線に電気的に接続された信号受信部をテストする時、信号線に信号受信部テスト回路を電気的に接続して行うことがある。信号受信部テスト回路から各列の信号線までのインピーダンスが異なる場合に、テスト信号が伝送される信号線の列毎に信号受信部に供給されるテスト信号の信号レベルが異なってしまうという問題があった。
【解決手段】 複数列設けられた信号受信部に信号線を介してテスト信号を供給するテスト信号供給部を有する信号受信部テスト回路であって、テスト信号供給部は電圧バッファもしくは電流バッファであって複数設けられており、テスト信号供給部の一つと電気的に接続される前記信号線とは異なる前記信号線に電気的に接続される別の前記テスト信号供給部を少なくとも一つ有することを特徴とする信号受信部テスト回路である。 (もっと読む)


【課題】ホール素子などの特別な位置検知デバイスを用いずに、高い精度でイメージセンサの位置検知を行えるようにする。
【解決手段】 まず、イメージセンサの撮像面において結像により光が照射される部分と光が照射されない暗部との境界を画素配列の行方向又は列方向に対して斜めにずれて投影させる。次に、位置検知部により、境界が投影された複数の画素から画素値を得、該複数の画素における輝度分布を算出する。次に、位置検知部により、該輝度分布において画素の光が照射する面積が半分以上の明と画素の光が照射する面積が半分未満である暗との変化点を検出する。そして、位置検知部により、明と暗との変化点の位置によりイメージセンサの位置を算出する。 (もっと読む)


【課題】暗電流及びオフセットノイズに起因するノイズだけでなく、ゲート線印加電圧の時間変動に起因する横引きノイズを、効率的にリダクションすること。
【解決手段】放射線検出部は、マトリクス状にアレイされた複数の画素を有し、入射した放射線を検出する。読み出し部は、選択的に仕様可能な複数の読み出し方式を有しており、放射線検出部から検出信号を読み出す。記憶部は、読み出し方式各々に対応する補正値を、読み出し方式毎に記憶する。補正部は、記憶部から読み出し方式に応じて選択的に読み出された補正値に基づいて、出力された検出信号を補正する。 (もっと読む)


【課題】コストを増加させずに処理の高速化と解像度の変更が可能な光電変換素子と、それを用いた欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】複数のセンサ画素を有する光電変換素子1において、マルチプレクサ5と、複数の水平転送レジスタ3a〜3dとを有する。センサ画素は、水平転送レジスタ3a〜3dのそれぞれに対応するように、複数のブロック2a〜2dに分割される。複数のブロック2a〜2dの電荷が、対応するそれぞれの水平転送レジスタ3a〜3dを介してマルチプレクサ5に読み出され、マルチプレクサ5を介して出力されるように構成する。 (もっと読む)


【課題】静電気等に対する耐久性を向上するとともに、検査精度を向上し、かつ、検査時間を短縮した積分アンプを提供する。
【解決手段】演算増幅器OP、および、演算増幅器OPの反転入力端子と出力端子との間に接続したサンプリングキャパシタCfを備えた積分回路41を有する。入力端子部INと演算増幅器OPの反転入力端子との電気的接続の開閉を切り換え可能なモードスイッチSWtestを有する。移送キャパシタCT、および、移送キャパシタCTを充放電させるスイッチSW1〜SW4を備えた検査用回路42を有する。検査用回路42は、移送キャパシタCTの放電により、充電した電荷の一部をサンプリングキャパシタCfに送り込む。スイッチSW1〜SW4により移送キャパシタCTを充電させている状態でサンプリングキャパシタCfを放電させる放電スイッチSWinitを有する。 (もっと読む)


【課題】、レンズが形成された2枚のウエハの光軸を合わせること。
【解決手段】制御部は、光源から波面センサ6に至る光軸の垂直方向及び/又は光軸方向に第1のウエハ2及び/又は第2のウエハ3を動かす指示を行う。そして、第1のウエハ2と第2のウエハ3の相対的な位置及び角度を調整し、第1のウエハ2と第2のウエハ3に付加されたレンズの光軸を合わせる。この調整は、光のチルト収差及びデフォーカス収差が所定の値となるように行われる。 (もっと読む)


【課題】カラム処理部外に回路を追加することなく、AD変換部により変換されたデジタルデータを増幅できるとともに、データ保持部の不良箇所を容易かつ短時間で特定する。
【解決手段】本発明に係る固体撮像装置100は、列毎に一つ設けられ、対応する列に配置された複数の単位画素111により変換された画素信号151をNビットのデジタルデータ154に変換する複数のAD変換部140と、列毎に一つ設けられた複数のデータ保持部141とを備える。複数のデータ保持部141の各々はN個のフリップフロップ145を含む。固体撮像装置100は、さらに、AD変換部140により変換されたデジタルデータ154を、対応する列のデータ保持部141に保持させる第1状態と、複数のデータ保持部141の各々に含まれるN個のフリップフロップ145を直列に接続する第2状態とを切り替えるデータ切替部142a及び142bを備える。 (もっと読む)


【課題】画素出力のばらつき補正のための初期調整に時間を要することがなく、製造コストを低減した撮像装置を提供する。
【解決手段】通常動作を行っている中で、通常の蓄積時間よりも短い蓄積時間での測定時蓄積動作を行い、測定時蓄積動作と、その直後の通常動作によって得られた画像の2枚1セットのデータに基づいて光電変換特性を推定し、推定された光電変換特性を用いて画素出力の補正を行う。 (もっと読む)


【課題】カラムADC回路の直線性を安定して評価することが可能な固体撮像装置を提供する。
【解決手段】光電変換された画素信号VSIGを出力する画素PCと、画素PCから出力された画素信号VSIGをデジタル値に変換するカラムADC回路12と、カラムADC回路12を検査する検査信号DACを発生する検査信号発生部6と、画素PCから出力された画素信号VSIGと、検査信号発生部6にて発生された検査信号DACとを切り替えてカラムADC回路12に入力する切替回路11とを備える。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置における各撮像画素単位毎の回路の電位をモニターする。
【解決手段】撮像部に、前記撮像画素単位毎に、回路の電位を読み出しモニター用パッドに伝達するモニター用スイッチと前記モニター用スイッチのゲートを開閉するスイッチ選択回路を有し、タイミングジェネレータで駆動される垂直走査回路と水平走査回路を含むスイッチ選択信号発生回路を有し、前記垂直走査回路の垂直制御線を前記撮像部の行方向に配列する前記スイッチ選択回路に接続し、前記水平走査回路の水平制御線を前記撮像部の列方向に配列する前記スイッチ選択回路に接続し、前記垂直走査回路と前記水平走査回路が前記垂直制御線と前記水平制御線へ読出しパルスを送信して前記スイッチ選択回路を選択することで前記モニター用スイッチのゲートを開く。 (もっと読む)


【課題】検査対象物のうちライン画像を取得する箇所を、検査対象物の変更に伴って容易に変更することができる画像処理装置を提供する。
【解決手段】画像処理装置1は、エリア画像内での抽出ラインの位置を示す設定データが記憶される設定記憶部18を備えている。画像取込部11は、設定記憶部18内の設定データが示す取込条件に従って、抽出ラインとして指定されたライン上のライン画像をカメラ2から取り込む。パラメータ取得部19は、第1通信部21および第2通信部22を用いて外部装置5と通信を行うことにより、エリア画像内における抽出ラインの位置を表すパラメータとして、検査中の検査対象物に対応する第1のパラメータを外部装置5から取得する。パラメータ取得部19は、取得した第1のパラメータにて表される抽出ラインの位置を、設定データとして設定記憶部18に設定する。 (もっと読む)


【課題】 電子増倍率をリアルタイムに測定可能な電子増倍率の測定方法及び撮像装置を提供する。
【解決手段】 イメージ部101aとOPB部101bとを有する固体撮像素子10を備える電子増倍型撮像装置1において、画像取得部24aが予め設定された所定の電子増倍率で増倍画像を取得し、輝度算出部24bが取得した増倍画像において、イメージ部101aに対応する画素の輝度平均値及び輝度分散平均値を算出し、増倍画像において、OPB部101bに対応する画素の輝度平均値及び輝度分散平均値を算出する。そして、算出した輝度平均値及び輝度分散平均値を用いて変換係数算出部24cが増倍画像の変換係数を算出し、この変換係数と基準電子増倍率における変換係数とを用いて増倍率算出部24dが増倍画像の電子増倍率を求める。 (もっと読む)


【課題】 電子増倍率を正確に測定可能な電子増倍率の測定方法を提供する。
【解決手段】 固体撮像素子10を備える電子増倍型撮像装置1において、予め設定された所定の電子増倍率で、第1光量の入射光による第1増倍画像と、第2の光量の入射光による第2増倍画像と、を取得し、第1増倍画像に含まれる画素の輝度平均値及び輝度分散平均値と、第2増倍画像に含まれる画素の輝度平均値及び輝度分散平均値と、を算出する。そして、算出した輝度平均値及び輝度分散平均値を用いて、第1及び第2増倍画像の変換係数を算出し、算出した変換係数と、予め保持する基準電子増倍率における変換係数と、を用いて固体撮像素子10の実際の電子増倍率を算出する。 (もっと読む)


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