【課題】電歪量が低く、ＩＲ寿命を向上できる誘電体磁器組成物と電子部品を提供すること。
【解決手段】ＢａＴｉＯ_３を含む主成分と、ＢａＺｒＯ_３を含む第１副成分と、Ｍｇ酸化物を含む第２副成分と、希土類元素（Ｒ）の酸化物を含む第３副成分と、Ｍｎ、Ｃｒ、ＣｏおよびＦｅから選ばれる１種以上の元素の酸化物を含む第４副成分と、Ｓｉ、Ａｌ、Ｇｅ、ＢおよびＬｉから選ばれる１種以上の元素の酸化物を含む第５副成分とを有する誘電体磁器組成物が誘電体粒子と結晶粒界とを有しており、誘電体粒子のうち、少なくとも一部の誘電体粒子が、中心層とその周囲に存在する拡散層とから構成される表面拡散構造を有しており、誘電体粒子の界面近傍のＭｇ濃度をＣｂとし、拡散層におけるＭｇ濃度の最大値をＣｍａｘとした場合に、Ｃｍａｘ／Ｃｂ＞１である。 （もっと読む）

【課題】誘電体層のリーク電流の増加や短絡不良の発生を防止できるようにしたキャパシタを、高い歩留まりで製造する。
【解決手段】キャパシタ１の製造方法は、下部電極２の上に、誘電体層３を形成する工程と、誘電体層３の形成後に、電気泳動法を用いて、誘電体層３のうち電流が流れる部分の上に選択的に樹脂絶縁体５を形成する工程と、樹脂絶縁体５の形成後に、上部電極４を形成する工程とを備え、下部電極２と上部電極４との間に２Ｖの電圧を印加したときの誘電体層３のリーク電流が１×１０^−６Ａ／ｃｍ^２以下となるキャパシタ１を製造する。樹脂絶縁体５を形成する工程では、電気泳動法を用いて樹脂絶縁体５を形成する際の印加電圧を２〜５０Ｖの範囲内とし、電圧印加時間を０．５〜５００ミリ秒の範囲内とする。 （もっと読む）

【課題】チタン酸バリウム結晶粒子とチタン酸ジルコン酸バリウムカルシウム結晶粒子とから構成される誘電体磁器を誘電体層とする積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験における時間変化に伴う絶縁抵抗の低下を抑制でき、還元処理を行っても絶縁性の高い積層セラミックコンデンサを提供する。
【解決手段】誘電体層５を構成するＢＴ結晶粒子９ｂおよび前記ＢＣＴＺ結晶粒子９ａがマグネシウム、希土類元素およびバナジウムを含有するとともに、前記ＢＴ結晶粒子９ｂの表面のＭｇおよび希土類元素のそれぞれの含有量に対する前記ＢＴ結晶粒子９ｂの中央部に含まれるＭｇおよび希土類元素のそれぞれの含有量の比が前記ＢＣＴＺ結晶粒子９ａの表面側のマグネシウムおよび希土類元素のそれぞれの含有量に対する前記ＢＣＴＺ結晶粒子９ａの中央部に含まれるマグネシウムおよび希土類元素のそれぞれの含有量の比よりも大きい。 （もっと読む）

【課題】チタン酸バリウム結晶粒子とチタン酸バリウムカルシウム結晶粒子とから構成される誘電体磁器を誘電体層とする積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験における時間変化に伴う絶縁抵抗の低下を抑制でき、還元処理を行っても高絶縁性の積層セラミックコンデンサを提供する。
【解決手段】誘電体層５を構成するＢＴ結晶粒子９ｂおよび前記ＢＳＴ結晶粒子９ａがマグネシウム、希土類元素およびバナジウムを含有するとともに、前記ＢＴ結晶粒子９ｂの表面のＭｇおよび希土類元素の含有量に対する前記ＢＴ結晶粒子９ｂの中央部に含まれるＭｇおよび希土類元素のそれぞれの含有量の比が前記ＢＳＴ結晶粒子９ａの表面のマグネシウムおよび希土類元素のそれぞれの含有量に対する前記ＢＳＴ結晶粒子９ａの中央部に含まれるマグネシウムおよび希土類元素のそれぞれの含有量の比よりも大きい。 （もっと読む）

【課題】 電子部品を破壊することなく内部クラックを簡便に検出することができ、製造歩留まりを向上させることができる電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】 本発明の電子部品の製造方法は、誘電体層と電極層とが積層されてなる略直方体の積層体に端子電極が形成されて得られる被検査体７のクラックを検査するクラック検査工程を有し、クラック検査工程は、被検査体７に電圧を印加しながら被検査体７の上面の所定位置における積層方向の変位量を測定する工程と、基準電子部品を準備して、当該基準電子部品に被検査体７と同一条件で電圧を印加しながら基準電子部品の被検査体７の測定位置に対応する位置における積層方向の変位量を測定する工程と、被検査体７の変位量と基準電子部品の変位量とを比べることによりクラックの有無を判断しスクリーニングする工程とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ＢＴ結晶粒子とＢＣＴ結晶粒子とから構成される誘電体磁器を誘電体層とする積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験における時間変化に伴う低下を抑制できる積層セラミックコンデンサ、ならびに、製造工程において再酸化処理の工程を設けなくても高絶縁性の積層セラミックコンデンサを提供する。
【解決手段】Ｃａ濃度が０．２原子%以下のチタン酸バリウム結晶粒子（ＢＴ結晶粒子９ｂ）とＣａ濃度が０．４原子%以上のチタン酸バリウムカルシウム結晶粒子（ＢＣＴ結晶粒子９ａ）により構成される誘電体層５と、内部電極層７とが交互に積層されている積層セラミックコンデンサにおいて、前記ＢＴ結晶粒子９ｂおよび前記ＢＣＴ結晶粒子９ａがＭｇ、希土類元素およびバナジウムを含有するとともに、前記ＢＴ結晶粒子９ｂの中央部に含まれるＭｇおよび希土類元素の含有量が前記ＢＣＴ結晶粒子９ａの中央部に含まれるＭｇおよび希土類元素の含有量よりも多い。 （もっと読む）

【課題】内部電極の厚みや内部電極間の絶縁層の厚みが微小化された場合でも、内部電極間短絡を確実に高精度で検出しえる電子部品の不良検出方法を提供すること。
【解決手段】絶縁体１１の内部に、絶縁体層を介して対向する内部電極１１、１３を埋設した電子部品の欠陥を検出するにあたり、内部電極１３の一端を、絶縁体１１の端面１１１に露出させた電子部品１を準備する。上述した電子部品１の端面１１１を電解質溶液２２に接触させ、電解質溶液２２を介して、内部電極１２、１３に電圧を印加する。これにより、内部電極１３（又は１２）、短絡部Ｄ１を、電気分解反応によって、電解質溶液２２中に溶出させる。 （もっと読む）

【課題】耐電圧特性に優れたセラミック多層部品及びその製造方法を提供する
【解決手段】未焼成セラミック層及び未焼成導体層を積層する工程を有するセラミック多層部品の製造方法において、未焼成セラミック層はＤ９０が８μｍ以下であるガラス粉末（ＳｉＯ_２−Ｂ_２Ｏ_３−Ａｌ_２Ｏ_３−ＣａＯ系ガラスなど）、及びＤ９０が４．５μｍ以下である無機フィラー粉末（アルミナ、チタン酸カルシウムなど）を含有する。セラミック多層部品１は、ガラスと無機フィラーとを含有し、ポア２が形成されているセラミック層１１１〜１１６を備え、セラミック層の厚さｔは１０μｍ以上１２０μｍ以下であって、セラミック層内においてポアの最大直径が７．５μｍ以下であり、且つ最大直径が４μｍ以上であるポアの数は積層方向におけるｔ×ｔ四方の断面にｔ／５．５以下である。 （もっと読む）

【課題】 高電圧下でも絶縁性が高く、寿命特性が良好な、信頼性の高い積層セラミックコンデンサ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】
略直方体形状のセラミック積層体２と、該セラミック積層体２中に誘電体セラミックス３を介して対向しかつ交互に異なる端面へ引出されるように形成された内部電極４と、前記セラミック積層体２の両端面に形成され、該端面に引き出された前記内部電極４のそれぞれに電気的に接続された外部電極５と、を有する積層セラミックコンデンサ１において、前記誘電体セラミックス３を構成するグレインの径の平均値が４０〜１５０ｎｍになるように、前記グレインの径の平均値Ｄとペロブスカイト系誘電体の原料粉末の粒子径の平均値ｄとの比を１．２≦Ｄ／ｄ≦１．５になるようにした。 （もっと読む）

【課題】積層セラミックコンデンサの絶縁破壊の信頼性を向上させることのできる内部電極形成用のニッケル粒子の提供を目的とする。
【解決手段】上記課題を達成するため、ニッケルを母相として誘電体粒子を含有させた誘電体粒子含有ニッケル粒子を採用する。また、前記誘電体粒子含有ニッケル粒子は、平均一次粒子径が５０ｎｍ〜２００ｎｍになるよう調製し、前記誘電体粒子には、誘電体粒子含有ニッケル粒子径に対して１／４以下の粒子径で、平均一次粒子径が５ｎｍ〜５０ｎｍのものを用い、ニッケル母相から含有された誘電体粒子の一部が突出している形態とする。そして、前記誘電体粒子含有ニッケル粒子は、ポリオール法を用いて、誘電体粒子を分散させた反応溶液から誘電体粒子を含有するようにニッケル母相を析出させて形成する。 （もっと読む）

【課題】バンプを十分強力に接合できる積層電子部品を提供する。
【解決手段】誘電体層及び導体層が交互に積層され、少なくとも一方の最外層が誘電体層である積層体と、この積層体の内部において複数の異なる導体層同士を接続し、最外層の表面に露出するように設けられ、導電材料から主として構成されるビアとを備え、最外層の表面におけるビアを含む導体の露出面積Ｓ１が、積層体の内部におけるビアの積層方向に直交した断面積Ｓ２よりも大きい積層電子部品。 （もっと読む）

【課題】誘電体磁器組成物の製造工程において、原料中に不純物元素を含有している場合であっても、比誘電率の最大値、ＩＲ、ＩＲ寿命、破壊電圧等の特性を向上させることができる誘電体磁器組成物を提供すること。
【解決手段】主成分が組成式｛Ｂａ_{（１−ｘ）}Ｃａ_ｘ｝_Ａ｛Ｔｉ_{（１−ｙ）}Ｚｒ_ｙ｝_ＢＯ_３（ただし、Ａ，Ｂ，ｘ，ｙが、０．９９５≦Ａ／Ｂ≦１．０２０、０≦ｘ≦０．２５、０≦ｙ≦０．３）で表され、副成分として、ＮａおよびＨｆを含有する誘電体磁器組成物であって、前記誘電体磁器組成物中に含まれるＮａおよびＨｆの比率が、モル比で、０．６＜Ｎａ／Ｈｆ＜３．３であることを特徴とする誘電体磁器組成物。 （もっと読む）

【課題】 誘電体層が薄くてもリーク電流を十分に抑えられる誘電体素子を提供する。
【解決手段】 誘電体素子１０は、誘電体層１４と、この誘電体層に接する複数の金属層１２、１６を備えている。これらの金属層の少なくとも一つは、卑金属を含んでいる。これらの金属層の各々と誘電体層との間には、界面１８、２０が存在する。これらの界面の算術平均粗さの平均値をＲａｍと表すと、このＲａｍと誘電体層の厚みＴとは、Ｔ／Ｒａｍ≧１．３を満たしている。 （もっと読む）

【課題】従来のコンデンサはコロナ放電開始電圧が低く、またコロナ放電量も多い。すなわちこの高電位傾度下で使用されると発生したコロナ放電により誘電体フィルムに放電劣化が発生しコンデンサの寿命特性に著しい悪影響をおよぼす。
【解決手段】フィルムに金属を蒸着してなる金属化フィルムを複数、巻回してなるコンデンサ素子に電極取り出し用メタリコンを施し、コンデンサ素子に外部引き出し用接続線を設け、コンデンサケースに入れ、充填樹脂を充填硬化してなるコンデンサにおいて、熱によって複数の金属化フィルムが接着していないことを特徴とするコンデンサであり、またコンデンサ素子をモールドする充填に常温硬化型のポリウレタン樹脂を使用することを特徴とし、コンデンサの全ての製造工程内で印加される温度の最大を６０℃以下とすることを特徴とするコンデンサである。 （もっと読む）

【課題】積層コンデンサの検査における絶縁抵抗の測定の時間の短縮のために、充電時間を短縮する必要が生じた。
【解決手段】多段にて電圧を印加するために測定時の設定電圧より高い電圧を一定時間に加えることを特徴とする積層コンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法及びその方法及びその測定器。
また、充電において一定時間印加する高い電圧は、コンデンサに掛かる実効電圧を超えないことを特徴としている。
多段にて電圧を印加するために測定時の設定電圧より高い電圧を一定時間に加えた後に、設定電圧にて測定及び検査を行なうことも特徴としている。 （もっと読む）

【課題】金属化フィルムコンデンサ用の金属化フィルムに形成された電極パターンの検査が困難という課題を解決し、電極パターンを高精度に検査できる金属化フィルムの製造装置を提供することを目的とする。
【解決手段】誘電体フィルム１ａを供給する巻き出し部２と、誘電体フィルム１ａの表面に金属蒸着電極を形成する蒸着部と、作製された金属化フィルム１を巻き取る巻き取り部７を有し、直流電源で点灯する蛍光灯９により金属化フィルム１の裏面側から照射する発光部と、この透過光により金属化フィルム１の表面側から金属蒸着電極を撮影するカメラ１１と、この画像を取り込んで認識する判定部を設けた構成により、金属化フィルム１に均一な光を照射し、この透過光により高速で連続搬送される金属化フィルム１に形成された電極パターンを常時高精度に撮影して判定できる。 （もっと読む）

【課題】セラミックグリーンシートの積層ずれなどによる電気的特性のばらつきが生じ難く、内部電極先端における電界集中による破損等が生じ難い、積層セラミック電子部品を提供する。
【解決手段】第１，第３の内部電極３，５が同じ高さ位置においてギャップを隔てて形成されており、異なる高さ位置において、ギャップＧ２を隔てて第２，第４の内部電極４，６が形成されており、第１〜第４の幅広部３ｂ〜６ｂの各先端のコーナー部が、内角が鈍角である角部を有する形状あるいは丸みを帯びた形状とされており、第１，第３の幅広部３ｂ，５ｂ先端のコーナー部が第２の内部電極２にセラミック層を介して重なり合っておらず、第２，第４の幅広部４ｂ，６ｂの先端のコーナー部が第１の内部電極３にセラミック層を介して重なり合っていない、積層セラミック電子部品１。 （もっと読む）

本発明は、溶液の全質量における誘電体の部分として１０質量%未満の濃度を持つ誘電体の前駆化合物の溶液を用いることにより、多孔質導電性基板材料の被膜を誘電体で製造する方法に関する。 （もっと読む）

【課題】誘電体薄膜の組成変化を防ぐことで耐電圧特性の信頼性を向上させるとともに、ＥＳＤ耐量が向上でき、小型薄膜化可能な高周波特性に優れた薄膜コンデンサを提供することを目的とする。
【解決手段】有機物からなる基板１の上に第一の金属薄膜２と、スパッタにより形成された誘電体薄膜３と、第二の金属薄膜４とを順次形成し、この誘電体薄膜３にタンタルなどの金属酸化物とマンガンを用いるとともに、この第一の金属薄膜２にアルミニウムなどの弁金属を用いて、その表面に酸化皮膜６を形成する構成とするので、誘電体薄膜３の組成変化による耐電圧特性劣化を抑えるとともに、酸化皮膜６の絶縁性によりＥＳＤ耐量を向上させる高信頼性の薄膜コンデンサを提供することができる。 （もっと読む）

【課題】内部電極の表面性に起因する絶縁破壊電圧の低下、電極間短絡の発生、及び、取得容量の低下を回避し得る構造を持つ積層セラミックコンデンサ及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】第１の内部電極２１に隣接する上下２層の第１及び第２の誘電体層１０１、１０２のうち、第１の誘電体層１０１と第１の内部電極２１との間の第１の接触面Ｓ１は、第１の誘電体層１０１の表面性を反映した実質的に平坦な表面性を持つ。第２の誘電体層１０２と第１の内部電極２１との間の第２の接触面Ｓ２は、第１の内部電極２１の凹凸の表面性を反映した表面性を持つ。そして、第１の接触面Ｓ１を基準にして、第１の誘電体層１０１の厚みをｔ１とし、第２の誘電体層１０２の厚みをｔ２としたとき、 １．０１５＊ｔ１≦ｔ２≦１．１７＊ｔ１を満たす。 （もっと読む）