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Fターム[5F031HA48]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 処理時の固着、保持 (16,861) | ステージ、チャック、サセプタ (15,090) | ウェット処理用のもの (211)

Fターム[5F031HA48]に分類される特許

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【課題】カップの駆動機構や位置合わせ機構の駆動機構等に要するスペースの削減や省コストを図ることができる基板処理装置及び基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板Wを保持する保持機構61と,保持機構61に保持された基板Wを囲むカップ62,63と,保持機構61に対する基板Wの位置を合わせる位置合わせ機構65とを備えた装置45Aにおいて,カップ62,63及び位置合わせ機構65を保持機構61に保持された基板Wに対してそれぞれ相対的に昇降させる移動機構66を備えた。 (もっと読む)


【課題】ウェハの抗折強度の低下を抑制することの可能なウェハ搬送装置を提供する。
【解決手段】ウェハ搬送装置は,ウェハを吸着部により真空吸着して搬送する装置であり,吸着部は,アルミナを主成分とした材料から形成され,気孔率が34〜40%である。吸着部の表面における気孔以外の部分の表面粗さRyは,5μm以下であることを特徴とする。これにより,吸着部のウェハとの接触面における凹凸の高低差が小さくなるため,ウェハに与えるダメージを低減することができる。したがって,吸着部によりウェハを吸引保持する際に発生する,ウェハの抗折強度の低下を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】 基板の処理不良を十分に防止できる基板乾燥装置およびそれを備えた基板処理システムを提供することである。
【解決手段】 基板処理システム500は、基板処理装置300および洗浄/乾燥装置400を含む。基板処理装置300は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、現像処理ブロック12、レジストカバー膜用処理ブロック13、レジストカバー膜除去ブロック14および第1のインターフェースブロック15を備える。洗浄/乾燥装置400は、洗浄/乾燥処理ブロック16および第2のインターフェースブロック17を備える。第2のインターフェースブロック17に隣接するように露光装置18が配置される。洗浄/乾燥処理ブロック16において露光処理後の基板Wの乾燥処理が行われる。 (もっと読む)


【課題】ウェハ処理工程で使用されるウェハを保持する真空吸着冶具において、ウェハ裏面の中央部にゴミ等の異物が付着せず、ウェハがメンブレン部を持つ場合でも、メンブレン部が破壊しない、又はウェハ処理不良を起こさないウェハの吸着冶具を提供する。
【解決手段】表面の外周部に、円周状に所定の幅で連続した区域に吸着部分2と、該吸着部分2の内側に、円状の中央空間部6とを備え、裏面に備えた減圧管排気口40と、前記吸着部分2とを連結する吸着冶具内を貫通するウェハ吸着用減圧管4と、裏面に備えた大気開放口3と、前記中央空間部6とを連結する吸着冶具内を貫通する大気開放連通管30とを備えた真空吸着冶具5であって、ウェハ裏側の外周部のみを真空吸着し、前記中央空間部6の内圧を大気開放する大気開放口3によりウェハ1の歪みを排除し、ウェハ裏面の中央部に触れずに保持する。 (もっと読む)


【課題】 位置決め過程においてダスト等を発生させることなく、複数の半導体回路部材を高精度で位置決めできる位置決め方法とその装置、並びに当該位置決め方法と装置を用いた半導体装置の製造方法と製造装置を提供する。
【解決手段】 位置決め用基板2に設けられた複数の位置決めストッパー3それぞれに、気流発生装置4と傾斜手段5とセンサー7とが設けられた位置決め装置1を用いることにより、複数の半導体回路部材10の位置を各々のセンサー7によって検知でき、制御手段8がその検知結果に応じて各気流発生装置4を個々に制御でき、位置決めされた半導体回路部材10から位置決め用基板2に一時固定する。 (もっと読む)


【課題】 ウエハの回転駆動を工夫することにより、ウエハの全面にわたって均一に処理を行うことができ、しかも処理の短時間化を図ることができるウエハ処理装置を提供する。
【解決手段】 モータの作動により保持機構29が仮想の水平軸VPを中心として、ここから所定距離だけ離れて仮想の水平軸VP周りに回転するので、ウエハWの周辺部だけでなくその中心部も同様に仮想の水平軸VP周りに円を描く回転運動をすることになる。さらに、ギア40を中心とする自転運動を行うので、内槽1に生じうる処理液の流れのムラの悪影響を回避することができる。よって、ウエハWの全面にわたって処理液を均一に接触させることができる。 (もっと読む)


【課題】電気研磨および/または電気めっきプロセスにおいて、ウェーハを移動させるロボットアセンブリにおいて、エンドエフェクタ真空カップ内の粒子を取除き、真空通路に酸などが入るのを防止する装置および方法を提供する。
【解決手段】エンドエフェクタ306は、真空弁322を介して真空源と、窒素弁320を介して加圧窒素源と連結されている。真空弁322がオンされると、ウェーハをエンドエフェクタ306に押し付けて保持するように、真空カップ302内の圧力を低下させる。真空弁322がオフされ、かつ、窒素弁320がオンされると、エンドエフェクタ306は、真空カップ302内の圧力が増大されウェーハを開放する。ウェーハが保持されていない時、または移動されていない時は窒素弁320をオン状態のままにして、真空カップ302内において周囲環境圧力に近いか、またはこの周囲環境圧力よりも高い圧力を維持する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、表裏両面に所定の機能集積デバイスが形成される半導体、ガラス、金属、プラスチック等のウエハの加工工程で薄膜を形成する薄膜形成装置に関し、表裏両面に所定処理がなされるウエハ上への薄膜形成の均一化を図り、品質向上、歩留り向上を図ることを目的とする。
【解決手段】吸引固定回転部12の回転ステージ12A上に設けられる載置部13の周縁部分に所定数の突部載置部材15,16が形成され、当該突部載置部材15,16上に、搬送されるウエハをその周縁で載置させ、吸引固定した後に回転させて当該ウエハ上に供給ノズル17より薄膜形成材を供給させる構成とする。 (もっと読む)


【課題】 液体による装置の損傷を防止する。
【解決手段】 保持面34Aで基板Pを保持するホルダPHと、保持面34Aに開口する開口部71を介して基板Pを保持面34Aとほぼ直交する方向に駆動する駆動機構81とを有する。駆動機構81の駆動により、開口部71を介して保持面34Aとほぼ直交する方向に移動する移動部70を有する。開口部71と移動部70との少なくとも一部がそれぞれ撥液性を有する。 (もっと読む)


【課題】
本発明の目的は、高い平坦度と表裏のウェハ主面の平行度を要求される水晶ウェハのウェットエッチングに用いられる水晶ウェハの保持ジグを提供すること。
【解決手段】
上記目的を達成する為に本発明は、水晶ウェハをエッチャントに浸漬してウェットエッチングする際に用いられる水晶ウェハの保持ジグにおいて、水晶ウェハの側面方向から水晶ウェハが、複数の略コの字形をした水晶ウェハ押えによって囲まれた領域内でエッチャント中では押えに触れずにとどめられることを特徴とし、また、水晶ウェハ押えの略先端部分に、エッチャントが通過する孔を有することを特徴とし、また、水晶ウェハ押え外形よりも大きな凹みをもつ板状の構造体の該凹みに入れられ、水晶ウェハがエッチャントのなかで揺動しながら保持されることを特徴として課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】 基板上の感光性材料の成分が露光装置における液体中に溶出することを防止できる基板処理装置を提供することである。
【解決手段】 基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、現像処理ブロック12、洗浄処理ブロック13およびインターフェースブロック14を備える。インターフェースブロック14に隣接するように露光装置15が配置される。洗浄処理ブロック13は洗浄処理部80を備える。レジスト膜用処理ブロック11において基板W上にレジスト膜が形成される。露光装置において基板Wに露光処理が行なわれる前に、洗浄処理部80において基板Wの洗浄および乾燥処理が行われる。 (もっと読む)


【課題】 露光装置において基板に付着した液体による動作不良が防止された基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】 基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、現像処理ブロック12およびインターフェースブロック13を備える。インターフェースブロック13に隣接するように露光装置14が配置される。インターフェースブロック13は2つの乾燥処理ユニットを含む乾燥処理部95およびインターフェース用搬送機構IFRを備える。露光装置14において基板Wに露光処理が施された後、基板Wはインターフェース用搬送機構IFRにより乾燥処理部95の乾燥処理ユニットに搬送される。乾燥処理部95の乾燥処理ユニットにおいて基板Wの洗浄および乾燥処理が行われる。 (もっと読む)


【課題】
回転中のウェハを傷つけること無く確実に保持することができる半導体ウェハ保持装置を提供する。
【解決手段】
ロータ12の同一円周上に配置された支持部16に取り付けられ、ロータ12の半径方向に揺動可能な保持爪18に形成された切欠き部20によってウェハ50を保持する半導体ウェハ保持装置10において、前記切欠き部20は保持爪18の一方の端部に形成し、他方の端部に備えた錘22との中間部に支持ピン19を備えて揺動する構成とし、保持爪18は、ロータ12の回転によって生じる遠心力を受けることによりロータの中心方向に切欠き部20を傾倒させ、切欠き部20の上辺20aと下辺20bとによりウェハ50外縁の上下に位置するエッジ部を支持する状態を成すように、前記一方の端部と他方の端部との重量バランスを設定した。 (もっと読む)


【課題】異物による影響を低減し、しかも、吸着状態における被吸着物の平坦度を更に高める。
【解決手段】吸着装置1は、ウエハWを真空吸着することによりウエハWを保持する。吸着装置1は、吸着基材2を備える。吸着基材2は、先端面(上面)が同じ高さとなるように形成された複数のピン状の凸部2aを有し、剛性を持つ。凸部2aの先端面上には、下地層4を介して、弾性を持つコーティング層がコーティングされている。ウエハWが吸着された際に、ウエハWと吸着面との間に異物が介在しても、異物がコーティング層3内に埋没するので、ウエハWの平坦度が高まる。また、コーティング層3を比較薄くすることができるため、ウエハWのうねりを低減することができ、この点からも、吸着状態におけるウエハWの平坦度が高まる。 (もっと読む)


【課題】 露光装置における露光処理時の基板の処理不良を低コストで防止できる基板処理装置を提供することである。
【解決手段】 基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、現像処理ブロック12、液浸露光用処理ブロック13およびインターフェースブロック14を備える。インターフェースブロック14に隣接するように露光装置15が配置される。液浸露光用処理ブロック13は、レジストカバー膜用塗布処理部200およびレジストカバー膜除去処理部250を備える。露光処理前に、液浸露光用処理ブロック13においてレジストカバー膜が形成される。露光処理後に、液浸露光用処理ブロック13においてレジストカバー膜が除去される。 (もっと読む)


【課題】 露光装置において基板に付着した液体による動作不良が防止された基板処理装置を提供することである。
【解決手段】 基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、現像処理ブロック12、乾燥処理ブロック13およびインターフェースブロック14を備える。インターフェースブロック14に隣接するように露光装置15が配置される。乾燥処理ブロック13は乾燥処理部80を備える。インターフェースブロック14はインターフェース用搬送機構IFRを備える。露光装置15において基板Wに露光処理が行われた後、基板Wはインターフェース用搬送機構IFRにより乾燥処理部80に搬送される。乾燥処理部80において基板Wの洗浄および乾燥処理が行われる。 (もっと読む)


半導体ワークピース用チャックは、熱ペデスタル上に集積された抵抗性加熱部品及び静電バイポーラチャック部品を特徴とする。これらの集積加熱部品及びチャック部品は、ウェーハの平坦性、及び、ワークピースとチャックの間に熱ガスを収容する下地ギャップの均一性を維持する。本発明の一実施形態では、ラミネートされたKaptonウェーハヒータがウェーハの下方の熱表面の上部に取り付けられる。ウェーハを導電体に接触させる必要なく、チャックとウェーハの間にチャック力を生成するために、少なくとも二つの電圧ゾーンがヒータ内で分離される。これらの電圧ゾーンは、個別の導電部品を使用することによって、また、抵抗性加熱部品を含むゾーンにDCバイアスを印可することによって作成可能である。 (もっと読む)


【課題】トップリング(ウエハ保持機構)に保持されたウエハが離脱してプッシャー機構(ウエハ受渡機構)に着座するまでのウエハ受渡工程の所要時間を短縮できるウエハ受渡装置を提供する。
【解決手段】ウエハWを保持するトップリング60と、トップリング60との間でウエハWの受け渡しを行うプッシャー機構10とを備えたウエハ受渡装置において、プッシャー機構10は、ウエハWを載置するウエハトレイ40を備え、トップリング10の下端面から離脱したウエハWがウエハトレイ40に着座するように構成し、プッシャー機構10に、ウエハWがウエハトレイ40に適正に着座したことを検知するセンサ機構50を備えた。センサ機構50は、投光装置51から投光されたセンサ光が、ウエハトレイ40に着座したウエハWによって遮断されるようになっている。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面側に液体が浸入することを抑制できる基板保持装置を提供する。
【解決手段】基板ホルダPHは、基板Pを保持する第1保持部PH1と、第1保持部PH1に保持された基板Pの側面Pcに対して所定のギャップAを介して対向し、撥液性を有するプレート部材Tの内側面Tcと、内側面Tcの上部に設けられた面取り部Cとを備えている。基板Pの側面Pcには撥液性を有する撥液領域が設けられており、面取り部Cは、第1保持部PH1に保持された基板Pの撥液領域と対向するように設けられている。 (もっと読む)


【課題】 マスキングテープを基板から剥離する際に生じる基板の帯電を防止することができるマスキングテープの剥離装置を提供する。
【解決手段】 剥離装置は、基板に貼り付けられたマスキングテープを剥離する。剥離手段は、マスキングテープを基板から剥離する。除電手段は、マスキングテープが基板から離れる部分に向けて、イオン化されたガスを放出する。これによって、剥離帯電が生じた基板およびマスキングテープに対して除電を行うことができる。 (もっと読む)


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