【課題】基材上にパターンを低温かつ低コストで形成することができると共に、リフトオフを容易にできるパターン構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係るパターン構造体の製造方法では、基材１０上に、インクジェット法によりリフトオフ材１２を形成する。次に、基材１０及びリフトオフ材１２上に、原子層堆積法により機能膜１４を形成する。次に、リフトオフ法によりリフトオフ材１２を除去することによって、基材１０上に、機能膜１４からパターン１４ａを形成する。リフトオフ材１２は、樹脂と溶媒とを含むインクを基材１０上に塗布した後、溶媒を除去することによって形成される。溶媒は、樹脂に対する第１溶解性を有する第１溶媒と、第１溶解性よりも低い第２溶解性を有する第２溶媒とを含む。第１溶媒は第２溶媒に相溶する。 （もっと読む）

【課題】半導体基板の表面のＡｌ層の表面が荒れることを抑制しつつ、リフトオフの後に溶解層が剥離せずに残ることを防止し得る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１２の表面にＡｌ層１４を形成し、Ａｌ層１４の表面にＴｉＮ層１６を形成し、ＴｉＮ層１６の表面の一部に絶縁層２０を形成し、ＴｉＮ層１６と絶縁層２０の表面に溶解層を形成し、溶解層の表面にレジスト層を形成し、溶解層とレジスト層の一部を除去して溶解層開口部を形成してＴｉＮ層１６の一部を露出させ、レジスト層の表面、及び、露出したＴｉＮ層１６の一部の表面にＴｉ層３０及びＮｉ層４０を形成し、アルカリ溶液によって溶解層を溶解させることにより、溶解層とともに、レジスト層とその表面に形成されたＴｉ層及びＮｉ層を除去する。 （もっと読む）

【課題】切削刃の磨耗を抑制して切削刃の寿命を延ばすことが可能なウエハレベルパッケージ製造方法を提供する。
【解決手段】ウエハレベルパッケージ製造方法は、例えば、基板４５０の表面に、配線が形成される溝４６２を含む絶縁性の第１の樹脂４６０を形成する樹脂形成工程４００と、第１の樹脂４６０の表面に、配線の一部となる第１の金属４７０を、物理気相成長によって成膜する第１の成膜工程４１０と、第１の金属４７０の表面に、配線の一部となる、第１の金属４７０より硬度が低い第２の金属４８０を、更に成膜する第２の成膜工程４２０と、溝４６２の側面において第１の金属４７０が成膜されていない場所または薄くなっている場所に該当する高さＨ０、Ｈ１に切削刃４９０を設置する設置工程４３０と、切削刃４９０を走査することにより、少なくとも第１の樹脂４６０を切削する切削工程４４０とを含む。 （もっと読む）

【課題】所望のパターンが形成でき、製造工程の迅速化を図ることが可能なパターン形成方法を提供する。
【解決手段】本実施形態のパターン形成方法は、下地１０の上に第１の膜１１を選択的に形成する工程と、前記第１の膜１１および前記第１の膜に覆われていない前記下地１０の上に、第２の膜１３を形成する工程と、前記第２の膜１３の平均結晶粒径を前記第２の膜１３の膜厚以上に調整する工程と、前記第１の膜１１のエッチャントを前記第２の膜１３の表面に晒し、前記第１の膜１１の上に形成された前記第２の膜１３を前記下地上から選択的に除去する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い半導体基板上の回路基板を低コストで供給する。
【解決手段】開口部１０１を介してチップ取り出し電極２を含む半導体基板１の一部表面が露出するようメタルマスク１００を半導体基板１に被せ、イオンプレーティング法により金属導体を形成した後、メタルマスク１００を剥離することによって、半導体基板１の一部表面に形成された金属導体からなる配線層２１を形成する。これにより、フォトリソグラフィー法を用いることなく、半導体基板上に配線層２１を直接形成することができるため、生産性が高く低コストな回路基板を提供することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い回路基板を低コストで供給する。
【解決手段】例えば、開口部１０１を介してチップ取り出し電極２を含む基板１の一部表面が露出するようメタルマスク１００を基板１に被せ、イオン化された被着金属に、０．０１ｅＶから２５０ｅＶの被着エネルギを与えるイオンプレーティング法により金属導体を形成した後、メタルマスク１００を剥離することによって、基板１の一部表面に形成された金属導体からなる配線層２１を形成する。これにより、フォトリソグラフィー法を用いることなく、基板上に配線層２１を直接形成することができるため、生産性が高く低コストな回路基板を提供することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】電極パタンを精度よく形成する。
【解決手段】半導体基板の一方面（コンタクト層１０）上に、ＳｉＯ_２膜１２−１、ＳｉＮ膜１４−１、ＳｉＯ_２膜１２−２、およびＳｉＮ膜１４−２を順に積層した４層の絶縁膜を形成する工程と、それら４層の絶縁膜にコンタクト層１０の表面まで貫通するコンタクトホールを形成する工程と、ＳｉＯ_２膜１２に対するエッチングレートがＳｉＮ膜１４に対するエッチングレートより高い薬液（たとえばフッ酸）を用いて、コンタクトホールに露出したＳｉＯ_２膜１２−２の側面をコンタクトホールに露出したＳｉＮ膜１４−２の側面より所定長だけ後退させる工程と、コンタクトホールに露出したコンタクト層１０上に、ＳｉＮ膜１４−２に当接しない厚さを有する電極層２０−１を蒸着により形成する工程と、上記薬液を用いて、ＳｉＮ膜１４−２をＳｉＯ_２膜１２−２とともに除去する工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】 選択性トップバリアを用いた配線におけるリークを抑制することができ、配線の信頼性の向上をはかる。
【解決手段】 埋め込み配線を有する半導体装置の製造方法であって、配線間絶縁膜１０２上に該絶縁膜１０２とは材料の異なる犠牲膜１０３を形成した後、犠牲膜１０３及び配線間絶縁膜１０２を選択的にエッチングして配線用溝１０５を形成し、次いで配線用溝１０５内にＣｕを主成分とする導電膜１０７を埋め込み形成し、次いで導電膜１０７の上面に選択的にトップバリア層１０８を形成し、次いで犠牲膜１０３を除去することによりメタル残渣１０８ａを除去する。 （もっと読む）

【課題】基板に与える損傷を抑制できる導電部材の形成方法を提供する。アンダーカットの発生を抑制できる導電部材の形成方法を提供する。
【解決手段】基板を準備する段階と、基板の少なくとも一部を覆うリフトオフ層を形成する段階と、リフトオフ層に、基板の表面の一部を露出させる第１開口部を形成する段階と、リフトオフ層と第１開口部に露出した基板の表面とを覆うシード層を形成する段階と、シード層の表面に、レジスト層を形成する段階と、レジスト層に、少なくとも一部が第１開口部と重なり、かつ、シード層の一部を露出させる第２開口部を形成する段階と、第２開口部の内部に、導電部材を形成する段階と、レジスト層の少なくとも一部を除去する段階と、リフトオフ層をリフトオフ法により除去して、レジスト層とリフトオフ層との間のシード層を除去する段階とを備える。 （もっと読む）

【課題】基板上にマイクロパターンを高精度にかつ容易に形成することを可能とするマイクロパターンの製造方法を得る。
【解決手段】 マイクロパターンが上面６ａに形成される基板６と、前記マイクロパターンに対して反転されたパターン形状を有するフィルム状パターニング材１Ａとを用意する工程と、前記フィルム状パターニング材１Ａを前記基板６の上面に積層する工程と、前記フィルム状パターニング材１Ａが積層された基板６の上面に被パターニング材料７を塗布する工程と、前記基板６の上面６ａから前記フィルム状パターニング材１Ａを除去して、前記フィルム状パターニング材１Ａと反転されたマイクロパターンとなるように前記被パターニング材料７をパターニングし、それによって、被パターニング材料７からなるマイクロパターン７Ａを形成する工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、膜応力の発生により、リフトオフ層としてのレジスト層が下地絶縁膜から剥離し、その露呈部分に不要な金属膜が付着してもショート不良になることを防止できるパターン形成方法を提供する。
【解決手段】本発明のパターン形成方法は、ソース電極２０上にＰＳＧからなる下地絶縁膜２３を形成し、その上に、金属膜パターン（ＴｉＮｉＡｇ）と異なるエッチング選択比を有する金属としてのＡｌからなる第２の金属層１０２を形成し、その上にリフトオフ層となるレジスト層２４を形成し、レジスト層２４に所定パターンの開口２４ａを形成し、これをマスクとして、第２の金属層１０２および下地絶縁膜２３を順次、ウェットエッチングして開口１０２ａおよび開口２３ａを形成し、その上から金属膜２５を被着後、レジスト層を溶解させ、その上の不要な金属膜を除去した後、第２の金属層１０２をエッチング除去する。 （もっと読む）

【課題】電気光学装置の端子部において界面抵抗の増加を抑制することである。
【解決手段】電気光学装置である液晶表示装置の下基板の画素部１４において、画素用接続配線２４、画素用透明導電膜２８の導電積層膜が形成され、端子部２０において、端子用接続配線１２４、端子用透明導電膜１２８の導電積層膜が形成される。ここで、画素用接続配線２４と端子用接続配線１２４とは同一工程で形成され、下層側から上層側に向かって、チタン／アルミニウム／チタンがこの順に積層されて構成される。その後に平坦化膜６４と保護絶縁膜６２の開口部処理が行われ、表面エッチング液によって最上層のチタンの表面生成物が除去される。そして、画素用透明導電膜２８と端子用透明導電膜１２８とが同一工程で形成される。 （もっと読む）

【課題】カーボンナノチューブと層間配線される導体との間に良好な電気的接触を付与するカーボンナノチューブに基づく層間配線要素を提供する。
【解決手段】マイクロエレクトロニクス回路の少なくとも２つの導体を層間配線するために設計された要素であって、下側導体と称する初期導体２１０と、前記初期導体に配置された誘電層２３０と、前記誘電層上の上側導体と称する第２の導体２２０と、一方で下側導体上に、そして他方で上側導体上に現れる誘電層における空洞２４０とを含む、要素に関連する。上側導体２２０は下側導体２１０の上方にブリッジを形成しており、空洞２４０はそれが上側導体上に現れる水平面で後者の両側に２つのベント２４３を形成している。 （もっと読む）

【課題】レジストを使用することなく、薄膜加工を簡単な工程で精度良く行う方法を提案する。また、低コストで半導体装置を作製する方法を提案する。
【解決手段】基板上に第１の層を形成し、第１の層上に剥離層を形成し、剥離層側から剥離層に選択的にレーザビームを照射して一部の剥離層の付着力を低減させる。次に、付着力が低減された剥離層を除去し、残存した剥離層をマスクとして第１の層を選択的にエッチングする。また、基板上に剥離層を形成し、少なくとも剥離層に選択的に第１のレーザビームを照射して一部の剥離層の付着力を低減させる。次に、付着力が低減された剥離層を除去する。次に、残存した剥離層上に第１の層を形成し、残存した剥離層に第２のレーザビームを照射して残存した剥離層の付着力を低減させ、残存した剥離層及び当該剥離層に接する第１の層を除去する。 （もっと読む）

【課題】キャパシタンス値が所定値以上に高く、ＶＣＣが所定値以下に維持されるＭＩＭキャパシタを含む半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】活性領域を含む半導体基板、基板の上面の一部に形成され、絶縁領域を定義する絶縁物、共通のコンダクタ層からパターニングされ基板上に形成され、絶縁物上に形成された第１パターン部と、活性領域上に形成され活性領域内に形成されたトランジスタのゲートを含む第２パターン部を含むコンダクタ層パターン、前記第２パターン部は前記活性領域内に形成されたトランジスタのゲートを含み、コンダクタ層パターンの前記第１パターン部上に形成された下部電極、下部電極上に形成された誘電層パターン、および誘電層パターン上に形成された上部電極を含む絶縁領域内のキャパシタを含む半導体集積回路素子とその製造方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】金属膜をウェハ表面に成膜する際に周辺エッジ部および裏面に回り込み、次工程の装置の搬送アームが金属膜に接触することにより装置が二次汚染されることを防止する。
【解決手段】半導体基板１１の表裏面に犠牲膜１３を成膜し、裏面と周辺エッジ部のみ犠牲膜を残す。半導体基板の表面に金属膜１５を成膜した後、半導体基板の裏面から薬液を吐出し、犠牲膜を全てエッチングする。このときリフトオフ効果により、金属膜における半導体基板のエッジ部上と裏面側にまで回りこんで形成された部分を除去する。これにより、不要な金属膜がエッジ部に残存して装置間の金属汚染が拡大することを抑制する。 （もっと読む）

【課題】配線構造をパターン形成した際に発生した不要な残存物を容易且つ確実に除去し、信頼性の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】配線膜１上に、Ａｌ₂Ｏ₃（アルミナ）、ＳｉＯＮ、Ａｌ窒素酸化物、Ｔａ酸化物、及びＴｉ酸化物よりなる群から選ばれた少なくとも一種の材料からなる犠牲剥離膜４０を形成し、第１の配線４５をパターン形成した後、フッ化アンモニウム、アミド、有機酸、有機酸塩類、及び水を含有する薬液を用いて、ウェットエッチングにより残存物５０を除去する。 （もっと読む）

【課題】 真空成膜法を用いた方法であって、厚みが大きくパターン化された材料層を、容易にその側面が基板となす角度を垂直等の任意の角度とすることのできる方法を提供すること。
【解決手段】 基板１上に、中間樹脂層２２を有するレジスト層２を形成するレジスト層形成工程と、レジスト層２に所定のパターンを露光する露光工程と、基板１が露出するトレンチを形成するとともに当該トレンチ側面に溝２３が形成されるように中間樹脂層２２を除去して、レジストフレームを形成する現像工程と、材料パターン部分３１及び被リフトオフ部分３２を有する真空成膜層３を真空成膜法により形成する真空成膜工程と、被リフトオフ部分３２をレジストフレームとともに除去して、材料パターン部分３１を有する材料パターンを得るリフトオフ工程とを備える、パターン化された材料層の形成方法。 （もっと読む）

【課題】 プラグと配線との接続抵抗および絶縁膜の誘電率を効果的に低下させる。
【解決手段】 半導体装置１００は、半導体基板（不図示）と、半導体基板の上部に設けられ、銅含有金属により構成される第一配線１０８と、第一配線１０８の上部に設けられ、第一配線１０８に接続する導電性の第一プラグ１１４と、第一配線１０８の上部において、第一プラグ１１４が設けられた領域以外の領域に設けられたＣｕシリサイド層１１１と、第一プラグ１１４の上部に設けられたＣｕシリサイド層１１７と、第一配線１０８の側面から第一プラグ１１４の側面にわたって形成されるとともに、第一配線１０８の側面と、第一配線１０８の上部と、第一プラグ１１４の側面とを被覆する第一ポーラスＭＳＱ膜１０５と、を含む配線構造を有する。 （もっと読む）