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Fターム[5F033RR27]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 絶縁膜の材料 (22,565) | 有機材料 (4,730) | 感光性を有するもの (362)

Fターム[5F033RR27]に分類される特許

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【課題】本発明は、半導体基板の能動面に形成された金属層に傷が付かないようにすることを目的とする。
【解決手段】集積回路が形成された半導体基板10の集積回路に電気的に接続された電極12を有する第1の面16に応力緩和層20を形成し、応力緩和層20及び電極12を覆うように導電膜22を形成し、導電膜22上に導電膜22の一部が露出する開口24を有するようにメッキレジスト層26を形成し、導電膜22に電流を流して行う電解メッキによって導電膜22のメッキレジスト層26からの露出部上に金属層28を形成する。その後に、メッキレジスト層26を除去する。その後に、金属層28をマスクとして、導電膜22の金属層28からの露出部をエッチングして除去する。その後に、金属層28上にソルダレジスト層30を形成する。その後に、半導体基板10の第1の面16とは反対の第2の面32に保護層34を形成する。 (もっと読む)


【課題】巨大配線を有する半導体装置において下地の段差に応じて発生する絶縁膜の段差を軽減する。
【解決手段】平坦な基材上に形成された高さHの下部段差上に形成された貫通孔を有する半導体装置用絶縁膜において、基材上の膜厚D1が10μm以上20μm以下であり、下部段差上の膜厚に該下部段差の高さを加えた値をD2とし、表面粗さを(D2−D1)/D1×100で表したときに、表面粗さが10%以下であることを特徴とする半導体装置用絶縁膜。 (もっと読む)


【課題】絶縁層と絶縁層との密着性を高め、半田バンプシア強度、半田バンププル強度を高め、半導体装置の基板実装後の信頼性を向上し得る半導体装置とその製造方法及び半導体装置を使用した電子装置の提供。
【解決手段】本発明は、半導体基板21の表面に絶縁層23が設けられ、該絶縁層上に導電層24,25が設けられ、該導電層上に半田バンプ26が設けられた半導体装置において、前記導電層に、前記絶縁層側に突出する楔部28Aを少なくとも1箇所有することを特徴とする半導体装置20Aを提供する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の製造工程において、フォトレジストを用いたリソグラフィー工程を簡略化する半導体装置の製造技術を提供して、製造コストを低減し、スループットを向上させる。
【解決手段】基板上に第1材料層、第2材料層を順次積層して被照射体を形成する。当該被照射体に、第1材料層に吸収される第1のレーザビームと、第2材料層に吸収される第2のレーザビームを重畳するように照射し、該重畳するようにレーザビームが照射された領域の一部或いは全部をアブレーションさせ、開口を形成する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、微細化しても剥離が生じ難い配線を形成することを図ることを目的とする。
【解決手段】集積回路が形成された半導体基板10の、集積回路に電気的に接続された電極12を有する面に、凹部24を有するように樹脂層20を形成する。樹脂層20及び電極12を覆うように導電膜30を形成する。樹脂層20の凹部24の内側面及び底面上方で導電膜30の一部が露出する開口42を有するようにメッキレジスト層40を導電膜30上に形成する。導電膜30に電流を流して行う電解メッキによって導電膜30のメッキレジスト層40からの露出部上に金属層50を形成する。メッキレジスト層40を除去する。金属層50をマスクとして、導電膜30の金属層50からの露出部をエッチングして除去する。 (もっと読む)


【課題】 ワイヤ接合部及びはんだ接合部を形成する方法を提供すること。
【解決手段】 一実施形態において、この方法は、ワイヤ接合部のためのワイヤ接合金属領域及びはんだ接合部のためのはんだ接合金属領域を含む構造体を準備するステップであって、両領域がシリコン酸化物層の上のシリコン窒化物層で覆われたステップと、ワイヤ接合金属領域の上のシリコン酸化物層に至る第1の開口部と、はんだ接合金属領域を露出する第2の開口部とを材料内に形成するステップと、ワイヤ接合金属領域が覆われた状態を保ちながら、はんだ接合金属領域に対するはんだ接合部を形成するステップと、シリコン酸化物層をワイヤ接合金属領域に至るまで除去するステップを含む、ワイヤ接合金属領域を露出させるステップと、ワイヤ接合金属領域に対するワイヤ接合部を形成するステップとを含む。ワイヤ接合部及びはんだ接合部は、必要に応じて、単一のマルチパート・ウェハ(MPW)上又は単一チップ上でアクセス可能にすることができ、実質的に同時に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】 配線溝とビアホールの深さ方向の長さを制御し易い半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 基板上に第1の絶縁膜1001を有する部材1999を用意し、前記第1の絶縁膜上に層1002を設け、配線溝と第1の接続孔とに対応したパターンを有するモールドを前記層にインプリントする。そして、配線溝1003と該第1の接続孔1004とを有する第2の絶縁膜1002を形成する。その後、前記第2の絶縁膜をマスクとして、前記第1の絶縁膜をエッチングすることによって、前記第1の接続孔に連結する第2の接続孔を該第1の絶縁膜に形成する。 (もっと読む)


最終メタライゼーション層のコンタクト領域(202A)上にアンダーバンプメタライゼーション層(211)を直接形成することによって、アルミニウムおよび対応する密着/バリア層などのほかの終端金属の形成を省略することができる。この結果、得られるバンプ構造(212)の熱的挙動および電気的挙動を向上させることができ、プロセスを大幅に簡略化することができる。
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【課題】実装信頼性を向上することができる半導体装置、半導体装置の製造方法、回路基板および電子機器を提供する。
【解決手段】基板10の能動面10a側に設けられた第一絶縁膜22と、第一絶縁膜22上に設けられた電極パッド12と、電極パッド12の表面から延設された配線層35と、電極パッド12の形成位置に対応し、基板10および第一絶縁膜22に形成された貫通孔H3と、貫通孔H3の少なくとも側面に設けられた第二絶縁膜23と、第二絶縁膜23の内側で、貫通孔H3に埋め込まれた導電材料からなる貫通電極30と、を備えた半導体装置1の製造方法において、基板10の能動面10a側に配線層35を形成した後に、基板10の裏面10b側から貫通孔H3が形成される。 (もっと読む)


【課題】積層パッケージの製作時絶縁膜形成費用を節減し、かつ、絶縁膜の絶縁特性を確保し、さらに、絶縁膜の均一度及び低い荒さを確保し、そして、絶縁膜自体の欠陥による素子不良発生を防止する構造を提供する。
【解決手段】多数の半導体チップで構成されたウェハ110の各チップに溝を形成するステップと、前記溝を埋め込むようにウェハ110上に液状のポリマーを形成するステップと、前記ポリマーをパタニングして溝の側壁にポリマーからなる絶縁膜140aを形成するステップと、前記側壁に絶縁膜140aが形成された溝を埋め込むように金属膜170を形成するステップと、前記溝内に埋め込まれている金属膜170が露出されるようにウェハ110の後面をバックグラインディングするステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】電子デバイスなどに用いられる誘電率、機械強度、耐熱性等の膜特性が良好な絶縁膜の製造方法等を提供する。
【解決手段】(1)基材上に、カゴ型構造を有する化合物を含む膜形成用組成物を塗布、乾燥する工程、および(2)電子線もしくは波長が200nmよりも大きい電磁波を照射する工程、を有する絶縁膜の製造方法、該製造方法により形成される絶縁膜、並びに該絶縁膜を有する電子デバイスであり、該膜形成用組成物が電子線もしくは波長が200nmよりも大きい電磁波に感光性を示す化合物を含有することが好ましく、該カゴ型構造を有する化合物が電子線もしくは波長が200nmよりも大きい電磁波に対して感光性を示す官能基を有することが好ましい。 (もっと読む)


【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】導電層上にマスクを設け、マスクを設けた導電層上に絶縁膜を成膜し、マスクを除去することで開口を有する絶縁層を形成する。露出した導電層と接するように開口に導電膜を形成することによって、導電層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。開口の形状はマスク形状を反映し、柱状(角柱、円柱、三角柱など)、針状などを用いることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、接着力が改善されて、良好な側面プロファイルを有する銅配線構造を提供する。本発明はまた、前記構造を有する配線形成方法を提供する。本発明はさらに、前記配線構造を含む薄膜トランジスタ基板を提供する。本発明はさらに、前記したような薄膜トランジスタ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】配線構造と配線形成方法及び薄膜トランジスタ基板とその製造方法が提供される。配線構造は下部構造物上に形成された銅窒化物を含むバリヤ膜及びバリヤ膜上に形成された銅または銅合金を含む銅導電膜を含む。 (もっと読む)


【課題】TFT及びそれを用いる電子回路並びにTFTによって形成される表示装置の製造工程において、フォトリソグラフィ工程を使用せず、さらに工程を簡略化し、生産能力を向上させる技術を提供する。
【解決手段】レーザビームを射出するレーザ発振器と、前記レーザビームを被照射体の表面において線状ビームに形成する光学系と、前記光学系と前記被照射体との間に設けられたマスクと、を有し、前記線状ビームは前記マスクを介して複数のレーザビームに分割され、前記複数のレーザビームは前記被照射体に照射される。 (もっと読む)


【課題】微細化された層パターンを、精度よく安定して形成できる製造方法を提供するこ
と。
【解決手段】層パターン製造方法は、基板上に位置する第1の層と前記第1の層上に位置
する第2の層とを形成することで、前記第1の層と前記第2の層とによって区画された領
域を前記基板上に形成するステップ(a)と、吐出装置の吐出部から前記領域に液状の材
料を吐出するステップ(b)と、を含む。そして、前記液状の材料に対する前記第1の層
の撥液性は、前記材料に対する前記第2の層の撥液性よりも低い。 (もっと読む)


【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】光吸収層を形成し、光吸収層上に絶縁層を形成し、光吸収層及び絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、光吸収層の照射領域及び絶縁層の照射領域を除去し光吸収層及び絶縁層に開口を形成し、開口に光吸収層と接するように導電膜を形成する。露出した光吸収層と接するように開口に導電膜を形成することによって、光吸収層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。 (もっと読む)


【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】光吸収層を形成し、光吸収層上に絶縁層を形成し、光吸収層及び絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、絶縁層の照射領域を除去し絶縁層に第1の開口を形成し、第1の開口を有する絶縁層をマスクとして光吸収層を選択的に除去し、絶縁層及び光吸収層に第2の開口を形成し、第2の開口に光吸収層と接するように導電膜を形成する。露出した光吸収層と接するように第2の開口に導電膜を形成することによって、光吸収層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。 (もっと読む)


【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】光吸収層を形成し、光吸収層上に絶縁層を形成し、光吸収層及び絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、絶縁層の照射領域を除去し絶縁層に開口を形成し、開口に光吸収層と接するように導電膜を形成する。露出した光吸収層と接するように開口に導電膜を形成することによって、光吸収層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。 (もっと読む)


【課題】複数の半導体チップを有する半導体装置においてグランドメッシュを使用することなくシールド化が図れる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1aに素子が形成されている素子領域の下層に、半導体基板1a中全面に第1分離領域2が形成されており、第1分離領域と接続され、半導体基板1aの側面に埋め込まれるように第2分離領域3が形成されており、第2分離領域と接続され、半導体基板1a上の周縁部全周に導電性壁11bが形成されており、導電性壁11bの上面部全面にバンプ13bが形成されている構造とする。 (もっと読む)


【課題】平坦化を考慮することなく絶縁層の形成が行われる半導体装置においても、絶縁層に形成された凹凸状の段差の影響を受けることなく絶縁層に確実に開口を形成して導通不良の発生を抑制可能なワイヤーレスCSPタイプの半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の電極11が設けられた半導体チップ上に絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜の上面に前記の各電極11とそれぞれ電気的に接続した再配線17cを形成する工程と、再配線17cと電気的に接続した外部接続端子を形成する工程とを有する半導体装置の製造方法及びこの方法で製造された半導体装置であって、外部接続端子が接続される再配線17cは、絶縁膜上にポリイミド膜を製膜する工程と、製膜されたポリイミド膜を所定パターンにパターンニングする工程と、パターニングされたポリイミド膜の上面を炭化させて導電層を形成して再配線17cとする工程とにより形成する。 (もっと読む)


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