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Fターム[5F033RR27]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 絶縁膜の材料 (22,565) | 有機材料 (4,730) | 感光性を有するもの (362)

Fターム[5F033RR27]に分類される特許

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【課題】薄膜デバイスと外部配線等との間の電気的接続をより確実に確保すること。
【解決手段】(a)配線膜(14)及び薄膜素子を有する被転写体を第1基板(10)上に形成すること、(b)被転写体上にパッシベーション膜(21)を形成すること、(c)配線膜の表面に位置する部分の少なくとも一部と重畳するとともにパッシベーション膜の外縁部まで延びる開口部(21a)と、一端が当該開口部と連通するとともに他端がパッシベーション膜の外縁部に位置する溝(21b)と、をパッシベーション膜に形成すること、(d)被転写体及びパッシベーション膜と第2基板とを接合すること、(e)被転写体及びパッシベーション膜から第1基板を分離することによって被転写体及びパッシベーション膜を第2基板上へ転写すること、(f)開口部に流動体を導入して当該流動体を固化することにより、配線膜と接続された導電体を形成すること、を含む薄膜デバイスの製造方法である。 (もっと読む)


【課題】信号配線の電子ノイズをより低減させた電磁波検出素子を提供する。
【解決手段】走査配線101(2)、信号配線3、及び共通配線102(18)をセンサ部103よりも下層に各々絶縁膜を介して設けられた異なる金属層により形成されており、信号配線3を走査配線101及び共通配線102よりも厚く形成した。 (もっと読む)


【課題】 外部基板との熱膨張差により発生する応力を吸収し得る半導体チップを提供する。
【解決手段】 第2絶縁層236は、熱膨張率の相対的に低い絶縁膜236Aと、熱膨張率の相対的に高い絶縁膜236Bとの2層構造からなる。半導体チップ30と基板90との熱膨張率は異なり、半導体チップ30の動作時に発生する熱によって半導体チップ30と基板90との間に応力が発生するが、熱膨張率の異なる絶縁膜236A、236Bによりそれぞれ応力を吸収できる。 (もっと読む)


【課題】ダイシング後にパッドの表面に接続される金属物の密着性を改善することができ
る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置1の製造方法において、半導体基板10の上方の層間絶縁膜36
上に金属パッド40を形成する工程と、酸素含有雰囲気内において熱処理を行い、金属パ
ッド40の表面にアルミニウム又はアルミニウム合金を有する金属酸化膜41を形成する
工程と、半導体基板10を分割してチップを形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】ビア位置に形成されるパッドの平面寸法を小さくすることにより、上層の導電層における配線パターン形成の設計自由度を向上させることができる半導体基板の製造方法および半導体基板を提供する。
【解決手段】コア基板10に下層の配線パターン20を形成し、下層の配線パターン20を保護する第1の絶縁層30を形成し、第1の絶縁層30に第2の絶縁層であるレジスト40を積層し、レジスト40に上層の配線パターン80を形成するためのパターン溝42を形成した後、レジスト40に向けてレーザ光を照射し、レジスト40と第1の絶縁層30を厚さ方向に連通し下層の配線パターン20が底面に露出するビア穴60を形成し、ビア穴60内面、パターン溝42内面、レジスト40表面にシードメタル層70を形成した後、シードメタル層70上に電解めっきを行いめっき層72を形成する。 (もっと読む)


【課題】基板に与える損傷を抑制できる導電部材の形成方法を提供する。アンダーカットの発生を抑制できる導電部材の形成方法を提供する。
【解決手段】基板を準備する段階と、基板の少なくとも一部を覆うリフトオフ層を形成する段階と、リフトオフ層に、基板の表面の一部を露出させる第1開口部を形成する段階と、リフトオフ層と第1開口部に露出した基板の表面とを覆うシード層を形成する段階と、シード層の表面に、レジスト層を形成する段階と、レジスト層に、少なくとも一部が第1開口部と重なり、かつ、シード層の一部を露出させる第2開口部を形成する段階と、第2開口部の内部に、導電部材を形成する段階と、レジスト層の少なくとも一部を除去する段階と、リフトオフ層をリフトオフ法により除去して、レジスト層とリフトオフ層との間のシード層を除去する段階とを備える。 (もっと読む)


【課題】有機絶縁膜を被覆した無機絶縁膜のエッチング時にエッチング残渣が生成せず、金属配線や金属層などの銅及び銅合金の腐食を抑制する半導体装置及びその製造方法、感光性樹脂組成物並びに電子部品を提供する。
【解決手段】半導体装置は、パッド電極2が形成された半導体基板1と、少なくとも前記パッド電極2上に形成された無機絶縁膜3と、無機絶縁膜3上に形成された第1の有機絶縁膜4とを備える。第1の有機絶縁膜4は、樹脂構造にフッ素を含まないポリイミド系樹脂と、複素環状化合物、チオ尿素類及びメルカプト基を有する化合物から選択される少なくとも1種の化合物とを含有する樹脂組成物から形成される。 (もっと読む)


【課題】両面配線相互間の接続の信頼性の高い半導体装置を用い、3次元実装の小形/薄形化に好適な回路配線基板実装体を提供する。
【解決手段】回路配線基板実装体は、その半導体装置1が、個片化され一方の面に形成された素子領域に対する配線層・素子電極を有する半導体チップ2と、前記チップの一方の面に形成され素子電極用コンタクト孔を有する第1絶縁被膜4と、他方の面に形成された第2絶縁被膜6と、素子電極に接続され第1絶縁被膜の表面にパッド部を含んで形成された第1再配線層7と、第1再配線層のパッド部8に設けられた端子電極と、第2絶縁被膜の表面に形成された第2再配線層9と、チップのダイシングラインに沿つた側面に形成され第1及び第2再配線層相互を接続する層間配線層10とを備え、回路配線基板PCBのランド部に、端子電極を重ねて接続されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 半導体基板のストリートに合金層を形成すること無く、しかもバリア層の横方向エッチングであるサイドエッチング量が少ない半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体装置の入出力端子となる電極パッド2と、電極パッド2上に順次設けるバリア層および共通電極層6と、この共通電極層6上に設ける突起電極11を有する半導体装置において、バリア層は、2層からなるとともに、突起電極11材料または共通電極層6材料と電極パッド2材料とが相互に拡散することを抑制する材料からなり、共通電極層6側の第2のバリア層5は、電極パッド2側の第1のバリア層4より膜厚が薄い半導体装置およびその製造方法により、第2のバリア層5のサイドエッチング量を少なくすることが可能となり、さらに半導体基板のストリートに合金層が形成されることはない。 (もっと読む)


【課題】 耐湿(耐水分、耐水素)性の優れた強誘電体膜を有するキャパシタのパッド構造を備え、パッドに傷が生じても、水素、水分に対する耐性を回復することのできる半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体基板の上方に電極間に挟まれた強誘電体膜を備えたキャパシタを形成する工程と、半導体基板の上方にキャパシタの電極と電気的に接続されるパッド電極を形成する工程と、半導体基板の上方にパッド電極を保護する保護膜を形成する工程と、保護膜にパッド電極の少なくとも一部が露出する開口部を形成する工程と、パッド電極の表面に測定端子を当てる工程と、測定端子を当てたパッド電極の表面をエッチングする工程と、保護膜とパッド電極の開口部を覆う水素吸蔵膜を形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】電気・電子材料の製造に有用な塗膜として、銅又は銅合金上で高い解像度の硬化レリーフパターンを与えうる感光性樹脂組成物、並びにこれを用いたパターン形成方法並びに半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】(A)特定の構造を有するポリイミド前駆体又は特定の構造を有するポリベンゾオキサゾール前駆体100質量部と、(B)感光剤1〜40質量部と、(C)特定の構造のフェノール化合物0.1〜20質量部とを含む感光性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】二次配線と半導体チップの電子回路部とが重なり合う場合においても、当該二次配線と当該電子回路部との間の電磁界的干渉を抑制することができると共に、ウエハの彎曲を抑えることができ、かつ、ダイシング工程において、チッピングが発生する危険性を低減することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1aは、半導体チップ2において、第1の二次配線未形成領域の絶縁層が、第1の二次配線形成領域の絶縁層よりも薄く形成される。また、半導体チップ2における、電極パッド10が形成された回路形成面が伸びている方向に関し、半導体チップの縁31が、上層絶縁層12の縁である側壁部12sよりも突出している。 (もっと読む)


【課題】ウエハレベルCSPにおいて、傾斜面を有する樹脂ポストが存在する場合であっても、樹脂ポスト近辺に微細な再配線を設計どおりに高密度に形成することができ、チップの小型化及び端子数の増加に対応することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、少なくとも一面に電極3を備えた基板2上の所定位置に、面状をなす第一頂部4aを備えた突起状の第一樹脂ポスト4を形成する工程αと、前記第一樹脂ポストの第一頂部上に、該第一頂部の一部を少なくとも露出させるように、該第一頂部よりも小さい面状をなす第二頂部5aを備えた突起状の第二樹脂ポスト5を形成する工程βと、を少なくとも備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】メッキによって厚く形成された端子を有する電子部品において、ダイサーによる切削領域が切削予定領域からズレても、給電ラインの切残しによって、端子同士が電気的に接続されることのない電子部品及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板の切削が予定されている第1の切削予定領域34の両側に沿って配列された、電子部品となる複数の領域36に設けられる複数の第1の端子電極30と、1つの前記第1の端子電極30から始まり、その後、第1の切削予定領域34及び第1の切削領域34に交差する第2の切削予定領域34’の何れか一方を孤立した線分で横切り、更に横切って到達した領域に設けられる1つの第1の端子電極30に達することを繰り返しながら、切削予定領域34,34’の一端から他端に達する給電ライン29を形成する。 (もっと読む)


【課題】製造工程を増大させることなく、酸化銅の成長を抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体装置10は、電極12が設けられた主面に、絶縁層13、銅薄膜14、銅再配線(配線)15、酸化銅16、塩基性炭酸銅(保護膜)17、及び、樹脂絶縁層18が順次形成されており、酸化銅16の界面を、二酸化炭素の濃度制御によりpH値が6≦pH<7に制御された炭酸水に浸漬させることで、炭酸銅CuCO及び水酸化銅Cu(OH)の復塩である塩基性炭酸銅17を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】電磁波検出素子の製造に際し、フォトダイオードなどの半導体層の下層に配置される層間絶縁膜の材料制約を緩和する。例えば、有機系材料からなる層間絶縁膜の配置を可能にする。
【解決手段】TFTアレイが形成された基板1の上に、TFTアレイを覆うように層間絶縁膜12を形成した後、PIN型のフォトダイオード層6の形成前に、フォトダイオード層6よりエッチング速度の遅いIZO膜14を形成し、フォトダイオード層6の一部を、IZO膜14が露出するまでドライエッチング処理により除去してパターニングした後、露出したIZO膜14をフォトリソグラフィー技術により除去してパターン化することにより下部電極14aを形成する。 (もっと読む)


【課題】有機絶縁膜を被覆した無機絶縁膜のエッチング時にエッチング残渣が生成しない半導体装置、その製造方法及び当該製造方法に使用する感光性樹脂組成物を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体素子1上に形成された少なくともパッド電極2及び金属配線上に無機絶縁膜3を形成する工程と、前記無機絶縁膜3上に有機絶縁膜4であるフッ素非含有有機絶縁膜を形成する工程と、前記フッ素非含有有機絶縁膜をパターン加工する工程と、前記パターン加工により露出された前記無機絶縁膜3をフッ素含有ガスによりドライエッチングして前記パッド電極2を露出させる工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】Cu膜からなる配線層と封止樹脂層との密着性を向上させ、両層間での剥離を防止し信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置1A(1)は、一面に電極3を配してなる半導体基板2と、前記半導体基板の一面を覆うように配され、前記電極と整合する位置に電極用の開口部αを有する絶縁樹脂層4と、前記絶縁樹脂層の一部を覆うように配され、前記開口部αを通して前記電極と電気的に接続される配線層5と、を少なくとも備える半導体装置であって、前記配線層は、Cu膜からなり、該配線層の表面が10nm〜300nmの凹凸形状を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】上部パッドの損傷に関係なく、下部パッドの大気露出を防止するボンディングパッド構造物を提供する。
【解決手段】ボンディングパッド構造物は、パシベーション膜140、上部パッド120、下部パッド110、及びコンタクト部材130を含む。上部パッドは、前記パシベーション膜で覆われる第1領域、及び前記パシベーション膜から露出された第2領域を有する。下部パッドは、前記第2領域を通じて露出されないように前記上部パッドの第1領域下部に位置する。コンタクト部材は、前記上部パッドと前記下部パッドとの間に介在され、前記上部パッドと前記下部パッドを電気的に連結させる。従って、下部パッドが大気中に露出されない。 (もっと読む)


【課題】製造工程を減らして生産性を向上させることができると共に開口度が大きくて明るい表示が可能なFFSモード等の横方向電界方式の液晶表示装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の液晶表示装置の製造方法は、パッシベーション膜17の表面にコンタクトホール21aの形成予定位置に開口が形成された平坦化膜18を形成すると共に表示領域の周縁部の平坦化膜は除去し、次いで、フッ素系のエッチングガスを用いて露出しているパッシベーション膜17を除去する工程を備える。この方法を採用することによって、従来例よりもコンタクトホール21aの開口サイズが小さくなると共に製造工程数を減らすことができる。 (もっと読む)


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