表示装置の作製方法
【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】光吸収層を形成し、光吸収層上に絶縁層を形成し、光吸収層及び絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、絶縁層の照射領域を除去し絶縁層に第1の開口を形成し、第1の開口を有する絶縁層をマスクとして光吸収層を選択的に除去し、絶縁層及び光吸収層に第2の開口を形成し、第2の開口に光吸収層と接するように導電膜を形成する。露出した光吸収層と接するように第2の開口に導電膜を形成することによって、光吸収層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。
【解決手段】光吸収層を形成し、光吸収層上に絶縁層を形成し、光吸収層及び絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、絶縁層の照射領域を除去し絶縁層に第1の開口を形成し、第1の開口を有する絶縁層をマスクとして光吸収層を選択的に除去し、絶縁層及び光吸収層に第2の開口を形成し、第2の開口に光吸収層と接するように導電膜を形成する。露出した光吸収層と接するように第2の開口に導電膜を形成することによって、光吸収層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記絶縁層の照射領域を除去し前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項2】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記絶縁層の照射領域を除去し前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に前記導電層に達する第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項3】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記絶縁層の照射領域を除去し前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層及び前記導電層を選択的に除去し、前記絶縁層、前記光吸収層及び前記導電層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項4】
光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域の一部及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項5】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域の一部及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する前記絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に前記導電層に達する第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項6】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域の一部及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する前記絶縁層をマスクとして前記光吸収層及び前記導電層を選択的に除去し、前記絶縁層、前記光吸収層及び前記導電層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項7】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する前記光吸収層及び前記絶縁層をマスクとして前記導電層を選択的に除去し、前記絶縁層、前記光吸収層及び前記導電層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項8】
請求項7において、前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域及び前記絶縁層の照射領域を除去する際、前記導電層の一部も除去することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項9】
請求項1乃至8のいずれか一項において、前記光吸収層は導電性材料を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項10】
請求項9において、前記光吸収層はクロム、タンタル、銀、モリブデン、ニッケル、チタン、コバルト、銅、又はアルミニウムのうち一種又は複数を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項11】
請求項1乃至8のいずれか一項において、前記光吸収層は半導体材料を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項12】
請求項11において、前記光吸収層は珪素を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項13】
請求項1乃至12のいずれか一項において、前記絶縁層は前記レーザ光を透過することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項1】
光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記絶縁層の照射領域を除去し前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項2】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記絶縁層の照射領域を除去し前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に前記導電層に達する第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項3】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記絶縁層の照射領域を除去し前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層及び前記導電層を選択的に除去し、前記絶縁層、前記光吸収層及び前記導電層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項4】
光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域の一部及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項5】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域の一部及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する前記絶縁層をマスクとして前記光吸収層を選択的に除去し、前記絶縁層及び前記光吸収層に前記導電層に達する第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項6】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域の一部及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する前記絶縁層をマスクとして前記光吸収層及び前記導電層を選択的に除去し、前記絶縁層、前記光吸収層及び前記導電層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項7】
導電層を形成し、
前記導電層上に光吸収層を形成し、
前記光吸収層上に絶縁層を形成し、
前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域及び前記絶縁層の照射領域を除去し前記光吸収層及び前記絶縁層に第1の開口を形成し、
前記第1の開口を有する前記光吸収層及び前記絶縁層をマスクとして前記導電層を選択的に除去し、前記絶縁層、前記光吸収層及び前記導電層に第2の開口を形成し、
前記第2の開口に前記光吸収層と前記導電層と接するように導電膜を形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項8】
請求項7において、前記光吸収層及び前記絶縁層に選択的にレーザ光を照射し、前記光吸収層の照射領域及び前記絶縁層の照射領域を除去する際、前記導電層の一部も除去することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項9】
請求項1乃至8のいずれか一項において、前記光吸収層は導電性材料を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項10】
請求項9において、前記光吸収層はクロム、タンタル、銀、モリブデン、ニッケル、チタン、コバルト、銅、又はアルミニウムのうち一種又は複数を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項11】
請求項1乃至8のいずれか一項において、前記光吸収層は半導体材料を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項12】
請求項11において、前記光吸収層は珪素を用いて形成することを特徴とする表示装置の作製方法。
【請求項13】
請求項1乃至12のいずれか一項において、前記絶縁層は前記レーザ光を透過することを特徴とする表示装置の作製方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【公開番号】特開2008−53700(P2008−53700A)
【公開日】平成20年3月6日(2008.3.6)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−192870(P2007−192870)
【出願日】平成19年7月25日(2007.7.25)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成20年3月6日(2008.3.6)
【国際特許分類】
【出願日】平成19年7月25日(2007.7.25)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】
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