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Fターム[5F045AB03]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成長層の組成 (12,584) | 4族 (3,529) | Si (2,361) | ポリSi (557)

Fターム[5F045AB03]に分類される特許

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【課題】球切れの加熱ランプを容易に交換可能とする。
【解決手段】CVD装置10はウエハ処理室14を構成するプロセスチューブ11と、熱線を照射する複数本の加熱ランプ42と、加熱ランプ42の熱線を処理室14の方向に反射させるリフレクタ47とを備えており、加熱ランプ42群は上下に分配され、リフレクタ47の上下に設置された加熱ランプ保持装置70により保持されている。加熱ランプ保持装置70のサポートリング71に周方向に等間隔に開設された各ガイド穴72にはキャップ77に反力をとったスプリング78により付勢される押さえ具74が嵌入される。加熱ランプ42の被保持部42bは押さえ具74とガイド穴72との間で保持され、雄コネクタ42aが雌コネクタ80に接続される。押さえ具74を移動させて被保持部42bの保持を解除し、球切れの加熱ランプ42を径方向に引き抜くことで交換できる。
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【課題】大面積化した被処理基板に対するプラズマ処理の成膜品質を向上させること。
【解決手段】内部圧力を調整可能に設けられたチャンバー10と、チャンバー10内に被処理基板11を保持するように設けられ、接地されている基板電極3と、チャンバー10内に基板電極11に対向して間隔を空けて設けられ、高周波電源26の給電を受けて放電する対向電極21と、を備えたプラズマ処理装置において、対向電極21の長尺方向に複4カ所の給電点24を設け、各給電点24に給電するケーブル25の長さLを、高周波電源26の周波数とケーブル25の構造で決まるケーブル25の高周波電力の波長をλとしたとき、L=nλ/2(nは正の整数、n≠0)で表される略同一長さに設定するとともに、4カ所の給電点24を位相の異なる二つの給電系統E1,E2に分割し、互いに隣接する各給電点24の位相が異なるように配置した。 (もっと読む)


【課題】 生産性の向上及び生産コストの大幅な低減並びに品質の向上を効果的に図ることができるプラズマ処理装置及びプラズマ処理方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 真空処理可能なチャンバ内でプラズマを発生させるプラズマ発生源1と、被処理基板100をプラズマ発生源1と対向配置させた状態で搬送するローラ2とを備え、プラズマ発生源1から発生したプラズマを用いて、被処理基板100に処理を行うプラズマ処理装置であって、プラズマ発生源1は、マイクロ波を発生させるマイクロ波発生器と、マイクロ波発生器から発せられたマイクロ波が伝播する導波管と、導波管の長手方向に延在して設けられ、プラズマを発生させ、チャンバ内へ導くギャップとを備える。 (もっと読む)


【課題】 ガス供給ノズル内の反応生成物の堆積レートを遅くして、ガス供給ノズルのメンテナンスサイクルを、処理室内の他の構成部材と同程度に延ばすことができるようにする。
【解決手段】 反応管(処理室)を構成するインナチューブ204の内側に沿ってロングノズル(ガス供給ノズル)232が延在される。L字型のロングノズル232は、立上り部分内に圧力差が生じない程度に、立上り部分に十分大きな口径を持ち、それにより立上り部分内の圧力が処理室内の圧力と略同等となるように構成される。例えば、立上り部分の口径(φ)が4mmと小さいと、その部分のノズル232内の圧力差が大きく、その部分のノズル内の圧力は処理室内の圧力と略同等とならないが、立上り部分の口径がφ12ないしφ16mmと大きくなると、その部分のノズル内の圧力差が小さく、ノズル内の圧力は処理室内の圧力と略同等となる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、ポリシリコン膜の界面特性を改善させることが可能な半導体素子のポリシリコン膜形成方法を提供することを目的としている。
【解決手段】 半導体基板を蒸着チャンバーの内部にロードさせた後、前記蒸着チャンバーの内部にSiHまたはSiガスを150sccm以上、且つ250sccm以下程度の流量でフローさせ、前記半導体基板上にアンドープトポリシリコン膜を蒸着する段階を含む構成としたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ウエハ面内およびウエハ相互間の膜厚分布の均一性を向上させる。
【解決手段】CVD装置10は、有天筒形状のインナチューブ33およびインナチューブ33を取り囲むアウタチューブ32から成るプロセスチューブ31と、複数枚のウエハ1を保持してインナチューブ33の処理室34に搬入するボート23と、処理室34にガスを供給するガス供給管41と、プロセスチューブ31内を排気する排気口38とを備えており、インナチューブ33の天井壁であってガス供給管41と180度反対側の位置には、排気孔36が開設されている。処理室のガス供給管が配置された側の圧力が高く、排気口が配置された反対側の圧力が低いことにより、ボートに保持されたウエハ間にガスの流れが強制的に形成されるために、ウエハ面内およびウエハ相互間の膜厚分布の均一性を向上させることができる。 (もっと読む)


ウェハを支持するための領域を有する表面および本体を備えるステージと、ステージに結合されたシャフトと、第1および第2の加熱素子とを含む加熱装置。第1の加熱素子は、ステージの本体の第1の平面内に配置される。第2の加熱素子は、第1の加熱素子よりステージの表面から離れた距離にあるステージの本体の第2の平面内に配置され、第2の加熱素子は、第1の平面および第2の平面の少なくとも1つに対して実質的に平行な平面に第1の加熱素子からずらされる。
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【課題】石英部品を起因とする汚染を防止する。
【解決手段】CVD装置10に使用される石英部品としてのボート21、アウタチューブ13、インナチューブ12、シールキャップ20上のベース20aおよび断熱キャップ部26等の表層部分を1μm以上、濃度が1〜50%のHF水溶液で予め除去する。石英部品の表面から1μm以上の部分をエッチングする。石英部品の不純物の濃い部分を除去することができるので、石英部品を起因とする汚染を防止することができ、CVD装置ひいてはICの製造方法の製造歩留りを向上させることができる。
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複数の半導体ウェーハを保持する装置においてサポートとして使用するレールが提供される。レールは垂直列に配置された複数の歯を有し、1つの歯の頂面と次に高い隣接歯の底面間のスペースが半導体ウェーハを受け入れるためのスロットを形成するようにされている。ウェーハを支持する支持構造がスロットの底を形成する実質的に全ての歯の頂面上に配置されており、支持構造は側壁および頂面から間隔のとられた上面を有する。各支持構造上で、側壁と上面の各交点に半径が形成される。支持構造は各歯の長さの少なくともおよそ50%に対して延びている。
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本発明は、電子デバイスを製造する際に使用される堆積チャンバの内部などの表面から表面堆積物を除去するための改良されたリモートプラズマクリーニング方法に関する。改良は、酸素とフルオロカーボンとを含む供給ガス混合物への窒素源の追加を伴う。改良は、窒素源を含む前処理ガス混合物を活性化し、活性化前処理ガスを、遠隔チャンバから表面堆積物までの経路に通過させることによる、経路の内面の前処理も伴う。
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選択的エピタキシャル成長モードと傾斜エピタキシャル成長モードとの組み合わせを用いた単結晶エミッタの形成。対向するシリコン酸化物の側壁(12)を有するシリコン基板(16)上にトレンチ(14)を設ける工程と、トレンチ内部のシリコン基板上に高濃度にドープされた単結晶層(18)を選択的に成長させる工程と、シリコン酸化物側壁上方にアモルファス又はポリシリコンの層を形成するために、トレンチ上方にシリコン層(20)を非選択的に成長させる工程とを含む。
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マイクロ波を用いて線状プラズマを形成し、被処理物表面を前記線状プラズマに水平に保ちつつ被処理物の移動中に大気圧下またはその近傍の圧力下で処理を被処理物に施すマイクロ波プラズマ処理方法、マイクロ波プラズマ処理装置及びそのプラズマヘッドにおいて、プラズマヘッドにH面スロットアンテナを備え、該スロットアンテナのスロットをλg/2のピッチで導波管の中心線を挟んで交互に形成し、かつ、前記スロットから前記プラズマヘッドの放出端までの距離n・λg/2を有するようにする(ここで、λg:マイクロ波の管内波長)。また、プラズマヘッドにE面スロットアンテナを備え、該スロットアンテナのスロットをλgのピッチで導波管の中心線上に形成し、かつ、前記スロットから前記プラズマヘッドの放出端までの距離n・λg/2を有する均一化線路を配置する。 (もっと読む)


処理中にコンポーネント(200,300)の状態をモニタリングする方法およびシステム。本方法は、処理中にコンポーネントを反応ガス(エロージョン生成物発生のためコンポーネント材をエッチングできる)に曝露することと、コンポーネントの状態を判定するため処理中にエロージョン生成物の放出をモニタリングすることを含む。モニターできる処理はチャンバークリーニング、同コンディショニング、基板エッチングおよび薄膜形成処理を含む。コンポーネントは、チューブ(25)、シールド、リング、バッフル、インジェクター、基板ホルダー(35,12)、ライナー、ペデスタル、キャップカバー、電極およびヒーター(15,20,65,70,122)等消耗部品でもよく、それらは保護コーティングを有していてもよい。処理システム(1,100)は、処理チャンバー(10,102)内のコンポーネント、ガス噴射システム(94,102)、チャンバー保護システム(92,108)およびコントローラ(90,124)を含む。
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【課題】空間的に均一な密度のプラズマを生成することができるプラズマ生成装置を提供する。
【解決手段】真空容器11内に複数個の高周波アンテナ16を配置し、各高周波アンテナ16にインピーダンス素子17を接続する。高周波電源20に、銅板18を介して複数の高周波アンテナ16を並列に接続する。各インピーダンス素子17をそれぞれ適切な値に調節することにより、高周波電源20から各高周波アンテナ16に供給される高周波電力を制御する。これにより、真空容器11内のプラズマ密度の均一性を高くすることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば1m×1m乃至2m×2m級の大面積基板に対しても高速且つ均一性に優れることを課題とする。
【解決手段】内部に基板75がセットされる、排気系59を備えた真空容器41と、この真空容器41内に放電用ガスを導入する放電用ガス導入系と、前記真空容器41内に前記基板75と対向して配置された電極46と、この電極46に高周波電力を供給して放電用ガスを放電させてプラズマを生成する電力供給系とを具備し、生成したプラズマを利用して真空容器41に配置される基板75の表面を処理する表面処理装置において、前記電極46は金属製の薄膜構造であることを特徴とする表面処理装置。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、基板上に高品質な半導体膜を形成するための半導体膜形成方法を提供することにある。
【解決手段】 本発明は、バイアス触媒CVD,高密度バイアス触媒CVD,バイアス減圧CVD,バイアス常圧CVDを利用して、基板に半導体膜を形成する半導体膜形成方法である。真空容器1に原料ガスを供給し、真空容器1中に配置された基板10と電極3aとの間にグロー放電開始電圧以下の電界を印加して、基板10上に、少なくとも錫、ゲルマニウム、鉛のいずれか一つ以上を含有する半導体膜と、絶縁膜と、を形成することを含む工程と、この半導体膜および絶縁膜にレーザーを照射してアニールする工程と、このアニールする工程の後工程であって、水蒸気でアニールを行う工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 加水分解性の液体材料が大気と接触するのを確実に防止できる液体自動供給システムを提供する。
【解決手段】 このCVD装置50は、処理室51にペンタエトキシタンタル(PET)を供給するための容器53に予備容器73を接続し、容器53内のペンタエトキシタンタル(PET)の残量が少なくなったときは、配管54と容器53とを切り離して新しい容器53と交換するのではなく、予備容器73からペンタエトキシタンタル(PET)を補充する。これにより、配管54と容器53とを切り離すためのジョイント61jを通じて配管54内に大気が侵入し、配管54内の残留ペンタエトキシタンタル(PET)が加水分解されて酸化タンタルが生成することはない。 (もっと読む)


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