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Fターム[5F045EF08]の内容

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【課題】被加熱体の劣化を抑制することができる基板処理装置、半導体装置の製造方法、及び基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置40は、内部を真空状態に維持可能であってウエハ14を処理する処理容器42と、処理容器42内であって少なくともウエハ14の載置領域を囲むように設けられる被加熱体60と、処理容器42内壁と被加熱体60との間であって、被加熱体60を囲むように設けられる断熱体66と、被加熱体60内にガスを供給する第1のガス供給ノズル70及び第2のガス供給ノズル80と、処理容器42の外側に設けられ、被加熱体60を誘導加熱する磁気コイル62と、被加熱体60内に設けられ、第1のガス供給ノズル70及び第2のガス供給ノズル80から供給されたガスと被加熱体60との接触を抑制する保護壁94と、を有する。 (もっと読む)


【課題】蒸着重合によるポリイミドの成膜に適した基板処理装置を提供する。
【解決手段】真空ポンプにより排気可能なチャンバーとなる外部管と、前記外部管内に設けられており、内部に基板が設置される内部管と、前記内部管内にガスを導入するためのガス供給部と、前記基板、前記外部管、前記内部管を加熱するためのヒーターと、前記外部管と前記内部管との間に設けられたトラップ部と、を有し、前記基板を前記ヒーターにより第1の温度に加熱することにより、前記ガス供給部から供給されたガスが蒸着重合反応し、前記基板表面において前記蒸着重合反応によりに生成された膜が成膜され、前記内部管に設けられた開口部から流入した前記ガスにより、前記トラップ部においても、前記蒸着重合反応により生成された膜が成膜されることを特徴とする基板処理装置により上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】等方性酸化を複数枚の基板が積層して配置された装置にて実施する場合に、基板配置場所により水素濃度が異なり酸化膜厚が大きく変動するのを抑制し、高品質な半導体装置を製造する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内に搬入する工程と、処理室4内を加熱するとともに圧力を大気圧よりも低くした状態で、酸素含有ガスと水素含有ガスとを供給して半導体ウエハ1を酸化処理する工程と、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内より搬出する工程とを有し、酸化処理する工程では、水素含有ガスを、複数枚の半導体ウエハ1が垂直方向に積層されて配列される基板配列領域に対応する領域の半導体ウエハ1が配列される方向における複数箇所から供給することで、酸素含有ガスと水素含有ガスとを基板配列領域に対応する領域の複数箇所で反応させて反応種を生成し、酸化処理を行う。 (もっと読む)


【課題】大型基板上においても光による均一な処理を行うことの可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板32を載置する基板載置部33を備える処理室13と、処理室の外に設けられ処理室内に光を照射する発光部11と、処理室内外を隔てる隔壁に設けられ、光を透過させるための複数の透過窓15と、前記透過窓と透過窓の間の透過窓境界部に設けられ、透過窓を支持する透過窓支持部16と、処理用ガスを処理室内へ導入するための、複数のガス導入口23を有するガス配管21と、処理室内のガスを処理室外へ排気するガス排気部とを備え、前記複数のガス導入口が、前記透過窓境界部に設けられるように基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】太陽電池などの薄型の平板状半導体基板を公知の炉で処理するための改良された方法を提供する。
【解決手段】太陽電池の処理方法は、互いに離隔された集積回路処理用の円形半導体ウェーハ6の配列を受容するために縦型炉1を用意するステップと、太陽電池用基板用6のプロセスチャンバ装填構成14を構成するステップであって、互いに離隔された複数の太陽電池用基板6から成る配列16をプロセスチャンバ10内に収容できるように、処理対象の第1の表面に沿って延在する太陽電池用基板6のサイズが円形半導体ウェーハの対応サイズより小さい、ステップと、上記太陽電池用基板6を上記プロセスチャンバ10内に装填するステップと、上記太陽電池用基板6を上記プロセスチャンバ10内で処理にかけるステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】液体原料からの気化ガスを使用するALD装置への該気化ガスの流量を常に目標値になるようにする。
【解決手段】ウエハ1を処理する処理室32と、タンク81に充填された液体原料80に不活性ガスを供給することにより液体原料80を気化させ、該気化ガスを処理室32内に供給してウエハ1に成膜するALD装置において、前記不活性ガスをタンク81に供給する流量を制御するレギュレータ87と、タンク81内部の絶対圧力を監視する圧力センサ88と、を設け、コントローラ61により、圧力センサ88の監視圧力値に基づいて前記不活性ガスの流量をレギュレータ87によって調整し、タンク81内の絶対圧力が一定になるように制御する。 (もっと読む)


【課題】凹凸形状部位にもリーク電流が小さく高誘電率のジルコニア系膜を確実に成膜することができる成膜方法および成膜装置を提供すること。
【解決手段】真空保持可能な処理容器内に被処理体を挿入し、処理容器内を真空に保持した状態とし、処理容器内にジルコニウム原料と酸化剤とをこの順に供給して被処理体上にZrO膜を形成する第1工程と、前記処理容器内にジルコニウム原料とシリコン原料と酸化剤とをこの順で供給して被処理体上にSiがドープされたZrO膜を形成する第2工程とを、それぞれの回数を調整して実施することにより、膜中のSi濃度を制御しつつ所定膜厚のジルコニア系膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】被処理体の膜厚の面内均一性を向上させることが可能な支持体構造を提供する。
【解決手段】複数の被処理体Wを収容した状態で処理ガスを一端から他端に向けて流して所定の処理を行うようにした処理容器構造42内で前記被処理体を支持する支持体構造において、天板部48と、底部50と、前記天板部と前記底部とを連結し、前記被処理体を支持する複数の支持部88がその長さ方向に沿って形成されると共に前記支持部のピッチは前記処理ガスの流れ方向の上流側よりも下流側が大きくなるように設定された複数の支持支柱60とを備える。これにより、被処理体の膜厚の面内均一性を向上させる。 (もっと読む)


【課題】 処理室内に供給したガスの処理室外の間隙への進入を抑制する。
【解決手段】 反応管の内部に設けられ基板を処理する処理室と、反応管の内部に設けられ処理室を囲い基板を加熱する被誘導体と、反応管の内部に設けられ被誘導体を囲う断熱体と、反応管の外部に設けられ少なくとも被誘導体を誘導加熱する誘導体と、処理室内に第1ガスを供給する第1ガス供給部と、被誘導体と断熱体との間に設けられる第1間隙に第2ガスを供給する第2ガス供給部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】アルミニウム系III族窒化物結晶成長装置において、加熱機構に起因して発生するベース基板のそりを低減し、かつ、速い結晶成長速度を達成できるような高温度を両立できるような装置を提供する。
【解決手段】少なくともハロゲン化アルミニウムガスを含むIII族原料ガスと窒素源ガスの原料ガスをベース基板16表面に沿った流れで供給し、アルミニウム系III族窒化物層を該ベース基板表面に成長させるアルミニウム系III族窒化物製造装置において、反応部へ供給するまでの原料ガスの温度を該ガスの反応温度未満とし、かつアルミニウム系III族窒化物層が成長するベース基板表面に対向する反応部内の面に加熱面を有する第二加熱手段19を設置したことを特徴とするアルミニウム系III族窒化物製造装置である。 (もっと読む)


【課題】ボート上にダミーウエハと隣接して製品ウエハを搭載するようにした基板処理装置において、製品ウエハの面間膜厚均一性を向上させる基板処理装置を提供する。
【解決手段】ボート上に、表面に凹凸が形成された複数の第1の基板(製品ウエハ)を積層保持するとともに第1の基板の上端若しくは下端に第1の基板よりも表面の凹凸が少ない第2の基板(ダミーウエハ)を保持し、処理室内にて第1の基板および第2の基板を処理する際に、第1の基板および第2の基板に向けて処理ガスを供給するとともに、第2の基板に向けて不活性ガスを供給する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構造で、ツリー状のガス流路から噴き出されるガスの流速ムラを抑制でき、装置のコンパクト化が可能なエピタキシャル成長装置を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも、エピタキシャル成長させる基板を載置するサセプタが内部に設置されるチャンバーと、該チャンバー内の前記サセプタ上に載置された基板にガス供給源からのガスを供給するガス供給手段と、前記供給されたガスを前記チャンバー外に排出するガス排出手段とを具備するエピタキシャル成長装置であって、前記ガス供給手段が、少なくとも、下流に向かって複数の流路に分岐していくツリー状のガス流路を具備し、該ツリー状のガス流路の少なくとも一つの外コーナーに、半円状の断面を有するガス溜り部が形成されたものであるエピタキシャル成長装置。 (もっと読む)


【課題】 窒化物半導体のエピタキシャル成長中における、種基板の裏主表面及び側面への窒化物半導体の成長を抑制し、スライス時の基準面を確保することができる窒化物半導体自立基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 種基板となる窒化物半導体自立基板を準備する工程と、前記種基板の裏主表面全体及び側面の少なくとも一部にSiO又はSiからなる被膜を形成する工程と、前記種基板の表主表面上に、前記種基板と同種の窒化物半導体をエピタキシャル成長する工程と、前記エピタキシャル成長を行ったエピタキシャル成長基板の前記被膜上に析出した堆積物及び前記被膜を除去する工程と、前記エピタキシャル成長基板を、前記被膜を除去した主表面を基準面として、平行にスライスして2分割する工程とを含み、1枚の種基板から2枚の窒化物半導体自立基板を製造する窒化物半導体自立基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】成膜室内の部材へのダメージを抑制しつつ、クリーニング速度の均一性を向上させることのできるプラズマCVD装置の提供。
【解決手段】不活性ガスを含む第1のクリーニングガスを成膜室6の外部でプラズマ励起させて第1供給口9から成膜室内に供給する第1供給手段1,2と、フッ素を含むガスが含まれる第2のクリーニングガスをプラズマ励起させずに第2供給口11から成膜室内に供給する第2供給手段3と、を備え、第1供給口と第2供給口とが成膜室6内の異なる位置に形成されているプラズマCVD装置とする。 (もっと読む)


【課題】処理室内の雰囲気を排気する真空ポンプが動作する際に、排気管内に存在する大気が、処理室内に拡散や逆流することを抑制し、処理室内を汚染することを抑制することのできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板を収容し処理する処理室と、処理室内に処理ガスを供給する処理ガス供給管と、処理室内から処理ガスを排気する排気管と、基板処理を制御する制御部とを備えた基板処理装置であって、前記排気管には、処理ガスの排気される方向において、上流側より順に、開閉弁と、排気管内の圧力を検出する圧力計と、処理室内の雰囲気を排気する排気装置とが設けられ、前記制御部は、前記圧力計の検出値が所定の閾値以下であり、かつ、排気装置が動作中である場合に、前記開閉弁を開放可能とするよう制御する。 (もっと読む)


【課題】基板処理面と基板周縁部との流速差の増大を抑制し、成膜処理の均一性を向上させ、処理品質の向上、歩留りの向上を図る。
【解決手段】基板200を保持する基板保持具18と、前記基板及び基板保持具を収納する反応管205と、前記基板の被処理面に対して平行方向に処理ガスを供給するガス供給系233a,233b,240a,240bと、前記反応管内の雰囲気を排気する排気系231とを有し、前記基板保持具は複数の支柱113と、該支柱に設けられ、前記基板を載置する円環状の部材であって、円環の一部に欠切部が形成された整流部材とを備え、該整流部材の外周と前記反応管の内壁面との間の距離が、前記支柱と前記反応管の内壁面との距離より短い。 (もっと読む)


【課題】成膜対象のシリコン基板の表面上に自然酸化膜が形成されている場合であっても、基板上にホウ素含有アモルファスシリコン膜を形成する際の成長遅れ時間を短縮させ、基板処理の生産性を向上させる。
【解決手段】反応室201内に基板200を搬入する搬入工程と、前記反応室内にシリコン含有ガスのみを供給し前記基板上にシード層を形成する第1の成膜工程と、引き続き、前記反応室内にシリコン含有ガスとホウ素含有ガスとを供給し前記シード層上にホウ素含有アモルファスシリコン膜を形成する第2の成膜工程と、前記反応室内から前記基板を搬出する搬出工程と、を有する基板処理方法とする。 (もっと読む)


【課題】サセプタとテーパ状の管フローブロックとを含むテーパ状の水平成長チャンバを有する、堆積を実行するためのシステム及び技術である。
【解決手段】テーパ状のチャンバは、サセプタとテーパ状の管フローブロックの間に形成される。導入されたガス種は、テーパ状の管ブロックによってサセプタに向かって流れることを強いられ、ガス種とサセプタ上のウエハとの間の反応効率を高める。 (もっと読む)


【課題】形成される膜の膜質および膜厚が均一となるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】本発明のプラズマ処理装置1は、処理室2内に配設された第1の電極4と、第1の電極4に対向し、基板10を保持できる第2の電極3と、処理室2内から排気を行なう排気手段6と、処理室2内にガスを供給するガス供給手段7と、を備え、第1の電極4は、第2の電極3に対向する複数の凸部41a〜41eを有し、凸部41a〜41eの先端部にガス供給口42が形成されたものであって、複数の凸部41a〜41eの先端部となる面が面一に形成され、凸部間に形成される凹部42a〜42dの深さが、第1の電極4の中央部に比べ、外周部の方が深い。 (もっと読む)


【課題】厚みと組成の均一な膜を形成しやすい成膜装置を提供する。
【解決手段】大気圧下においてプラズマPを生成する。このプラズマPを用いて被処理物Wの表面に膜原料を付着させて成膜するための成膜装置Aに関する。膜原料を含有する成膜ガスCGを流通させるための第1流路5。プラズマ生成ガスPGを流通させるための第2流路9。前記プラズマ生成ガスCGに電界Eを印加してプラズマPを生成するための電極3。前記第1流路5と前記第2流路9とを合流させる合流部14とを備える。前記第1流路5から前記合流部14への前記成膜ガスCGの流入方向と、前記合流部14での前記プラズマPの流通方向とが略平行となるように前記第1流路5が前記第2流路9内に形成される。 (もっと読む)


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