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Fターム[5F049SS08]の内容

受光素子−フォトダイオード・Tr (21,418) | 基板 (1,382) | 構造 (66) | 表面処理 (26)

Fターム[5F049SS08]に分類される特許

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【課題】高い安定性を有し、プロセスに対する適応性が高い有機半導体材料に適する新規化合物、及び該化合物からなる半導体層を備えた電子デバイスの提供。
【解決手段】ジオキサアンタントレン系化合物であり、は、代表的なものとして、下記で示される化合物、及び
該化合物からなる半導体層を備えた電子デバイス。
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【課題】シリコンフォトダイオード及びシリコンフォトダイオードアレイであって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有しているフォトダイオード及びフォトダイオードアレイを提供すること。
【解決手段】フォトダイオードPD5は、P型半導体基板20を備え、裏面入射型である。P型半導体基板20は、互いに対向する第1及び第2主面0a,20bを有し、光感応領域21を含む。光感応領域21は、N型不純物領域23と、P型不純物領域25と、P型半導体基板20においてバイアス電圧を印加した際に空乏化する領域とからなる。P型半導体基板20の第2主面20bには、不規則な凹凸10が形成されている。P型半導体基板20の第2主面20b側には、アキュムレーション層37が形成されており、アキュムレーション層37における、光感応領域21に対向している領域は光学的に露出している。 (もっと読む)


【課題】入射光の反射防止のための微細凹凸構造を画素毎に作り分けるに際し、半導体基板にダメージを与えることなく、低コストで高い信頼性と再現性を得る。
【解決手段】単結晶からなる半導体基板の表面に、半導体基板に対してエッチング選択比を有する保護膜を形成する第1の工程と、保護膜上に、所定のピッチで配置されるドット形状のレジストパターンを形成する第2の工程と、第2の工程により形成されたレジストパターンをマスクとするウェットエッチングにより、保護膜を選択的に除去する第3の工程と、第3の工程により選択的に除去された後に残存する保護膜をマスクとするウェットエッチングにより、半導体基板をエッチング加工することで、半導体基板の表面に所定のピッチで配列される凹凸構造を形成する第4の工程と、第4の工程により凹凸構造を形成した後、半導体基板上に残存する保護膜を除去する第5の工程とを含む固体撮像素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】高品質なIII族窒化物を結晶成長させ、高品質な半導体装置を得ることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化サファイア基板をアルカリエッチングし、窒化サファイア基板を清浄化する。その後、III族窒化物を結晶成長させることにより、極めて高品質なN極性結晶を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】SiCMOS技術と共存可能な高速高効率光検出器を作る問題に対処すること。
【解決手段】本構造は、薄いSOI基板の上のGe吸収層から成り、分離領域、交互になるn型およびp型コンタクト、および低抵抗表面電極を利用する。本デバイスは、下の基板で生成されたキャリアを分離するために埋込み絶縁物を利用して高帯域幅を、Ge吸収層を利用して広いスペクトルにわたった高量子効率を、薄い吸収層および狭い電極間隔を利用して低電圧動作を、さらに平面構造およびIV族吸収材料の使用によってCMOSデバイスとの共存性を、達成する。本光検出器を製作する方法は、薄いSOIまたはエピタキシャル酸化物へのGeの直接成長および高品質吸収層を達成するための後の熱アニールを使用する。この方法は、相互拡散に利用可能なSiの量を制限し、それによって、下のSiによるGe層の実質的な希釈を起こすことなく、Ge層をアニールすることができるようになる。 (もっと読む)


【課題】赤外線撮像装置の分解能を向上することができる赤外線イメージセンサ及び赤外線撮像装置を提供する。
【解決手段】赤外線イメージセンサ11には、複数個の第1の画素1aが配列した第1の赤外線検知層1と、第1の赤外線検知層1上方に形成され、複数個の第2の画素2aが配列した第2の赤外線検知層2と、複数個の第1の画素1aの各々から信号を出力する第1の出力部3と、複数個の第2の画素2aの各々から信号を出力する第2の出力部4と、が設けられている。平面視で、複数個の第2の画素2aの配列が、複数個の第1の画素1aの配列からずれている。 (もっと読む)


【課題】GaN等の窒化物半導体薄膜を作製する基板として、非単結晶基板であるグラファイトを基板として使用するとGaN薄膜が多結晶となり結晶中の欠陥が多くなる為、フォトダイオードに使用することが出来なかった。
【解決手段】グラファイト基板上にアモルファスカーボン層を設け、アモルファスカーボン層上にMOCVD法によってAlNのc軸配向膜を成長させた後、AlN層上にGaNの低温成長バッファ層を形成し、低温成長バッファ層上にn型GaN層を形成し、n型GaN層上にInxGa1-xNあるいはAlyGa1-yNからなる光吸収層を形成し、光吸収層上にp型GaN層を形成し、p型GaN層上にp型GaNコンタクト層を形成することが可能となり、グラファイト基板上に直接フォトダイオードを作製することで低コストで優れた特性を有するフォトダイオードを実現できる。 (もっと読む)


【課題】単一または多層のグラフェンが光伝導層である光検出デバイスを提供する。
【解決手段】光検出層として単一または多層グラフェンを用いる光検出器を開示する。異なる電極構成を有する多数の実施形態を開示する。更に、撮像および監視等の用途のために、多数の光検出要素を含む光検出器アレイを開示する。 (もっと読む)


【課題】低コストで、かつ、高効率の光学デバイスを製造する。
【解決手段】多結晶ウルツ鉱型半導体素子200の製造方法であって、層状物質であり、かつ、六回対称結晶構造を有するグラファイト基板201の主面に、表面処理を行うことにより表面を荒らす表面処理ステップと、表面処理ステップで表面処理された主面に、複数の結晶粒104を有する多結晶ウルツ鉱型半導体103を主面の垂直方向に成長させる成膜ステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】シリコンフォトダイオード及びシリコンフォトダイオードアレイであって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有しているフォトダイオード及びフォトダイオードアレイを提供すること。
【解決手段】P型半導体基板20は、互いに対向する第1主面20a及び第2主面20bを有し、光感応領域21を含んでいる。光感応領域21は、N型不純物領域23と、P型不純物領域25と、P型半導体基板20においてバイアス電圧を印加した際に空乏化する領域と、からなる。P型半導体基板20の第2主面20bには、不規則な凹凸10が形成されている。P型半導体基板20の第2主面20b側には、アキュムレーション層37が形成されており、アキュムレーション層37における、光感応領域21に対向している領域は光学的に露出している。 (もっと読む)


【課題】シリコンフォトダイオードアレイであって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有しているフォトダイオードアレイを提供すること。
【解決手段】フォトダイオードアレイPDA1は、複数の光検出チャンネルCHがn型半導体層32を有する基板Sを備える。フォトダイオードアレイPDA1は、n型半導体層32上に形成されたp型半導体層33と、光検出チャンネルCH毎に設けられると共に信号導線23に一端部が接続される抵抗24と、複数の光検出チャンネルCHの間に形成されるn型の分離部40とを備える。p型半導体層33は、n型半導体層32との界面でpn接合を構成し、被検出光の入射によって生じたキャリアをアバランシェ増倍させる増倍領域AMを光検出チャンネルに対応して複数有する。n型半導体層32の表面には不規則な凹凸10が形成されており、当該表面は光学的に露出している。 (もっと読む)


【課題】珪素系PIN−PDの暗電流を減らすため、PIN−PDのI層を挟むP層、またはN層に炭素を加えバンドギャップを大きくし、I層からの暗電流を抑える方法では、炭化珪素と珪素とでは25%程度格子定数が異なっており、珪素中に炭素を添加することで大きな応力が生じ、この応力により欠陥が発生し暗電流が増える。また、側面からのリークを下げるのみでは、暗電流を抑制は限定的なものとなる。
【解決手段】AlNdを用いたPIN−PD10の第1導電層20をエッチング液で処理しテクスチャー構造を作り、さらにこの工程で生成されたAlNd酸化物を下バリア層21として用いる。この際、第1半導体層22と第1導電層20との間はFN電流により電荷が伝達される。FN電流が少ない黒状態では下バリア層21の微分抵抗は高く、暗電流の通過を阻止する。白状態では微分抵抗は低くなり、光電流は通過するので、画像のSN比が上がる。 (もっと読む)


【課題】SOI構造の半導体基板に形成された1チップ化された照度センサの感度のバラツキを抑制する手段を提供する。
【解決手段】シリコン基板と、シリコン基板上に形成された埋込み酸化膜と、埋込み酸化膜上に形成されたシリコン半導体層とを有する半導体基板に形成された照度センサであって、シリコン半導体層に形成された信号処理回路と、シリコン基板に形成された可視光感光素子とを備え、可視光感光素子の受光部上の採光部の周囲のシリコン半導体層に、遮光膜を設ける。 (もっと読む)


【課題】光電変換層が劣化することを防止して、素子性能の低下を防止することができる光電変換装置、光電変換装置の製造方法及び撮像装置を提供する。
【解決手段】基板と、該基板の上方に形成された下部電極12と、下部電極12の上方に形成された光電変換層13r,13g,13bと、光電変換層13r,13g,13bの上方に形成された上部電14極とを含む光電変換素子1を有する画素が複数配列され、各画素の光電変換層13r,13g,13bが上部電極14で封止され、隣り合う画素の上部電極14が電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】所望の形状を有するモノリシック半導体レンズを簡易に形成できる半導体光デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】この半導体光デバイスの製造方法では、ナノスタンパ43によってインプリント樹脂層42に形成したマスクパターン46を半導体基板21の他面側に転写してモノリシック半導体レンズ23を形成する。この方法では、ナノスタンパ43の押印によってインプリント樹脂層42に精度の高いマスクパターン46を形成できるので、従来のようにウエットエッチングを用いる場合や、ベーキングによってレジストパターンを形成する場合と比較して、所望の形状を有するモノリシック半導体レンズ23を簡易に形成できる。また、モノリシック半導体レンズ23の形状の再現性も良好なものとなる。 (もっと読む)


【課題】光電変換素子を配線基板等に実装するときに、その固着強度を向上させ、接触不良や剥離等の問題を解決することを課題とする。
【解決手段】第1の基板上に、光電変換層と、光電変換層の出力電流を増幅する、少なくとも2つの薄膜トランジスタからなる増幅回路と、前記光電変換層及び前記増幅回路に電気的に接続され、高電位電源を与える第1の電極及び低電位電源を与える第2の電極と、前記第1の基板の最上層に、導電材料と合金を形成する固着層とを有し、第2の基板上に、第3の電極と第4の電極と、前記第1の電極と前記第3の電極、並びに、前記第2の電極と前記第4の電極を固着する前記導電材料とを有する半導体装置に関する。 (もっと読む)


絶縁された電極を作成し、それらの電極間にナノワイヤを組み込む(600)方法(100)はそれぞれ、半導体層(210)上の半導体材料の横方向エピタキシャル過成長を使用して、同一結晶方位を有する絶縁電極(260、270)を形成する。この方法(100、600)は、半導体層上の絶縁膜(240)内の窓(242)を介した半導体機構要素(250)の選択的エピタキシャル成長(140)を含む。垂直ステム(252)は、窓を介して半導体層と接触し、レッジ(254)は、絶縁膜上の垂直ステムの横方向エピタキシャル過成長である。この方法は更に、半導体機構要素と半導体層から1対の絶縁電極(260、270)を作成(160)することを含む。ナノワイヤベースのデバイス(800)は、1対の絶縁電極と、1対の絶縁電極のそれぞれの表面間を架橋するナノワイヤ(280)とを含む。 (もっと読む)


【課題】特に青色光を中心とした短波長光に対し、受光面における反射率を低減して、高受光感度特性を有する受光素子を実現する。
【解決手段】光半導体装置は、半導体基板101に形成された受光素子と、受光素子上に形成され、少なくとも一層のシリコン窒化膜104を含む単層又は積層構造の反射防止膜とを備え、シリコン窒化膜104の屈折率が不純物の導入によって変化されていることにより、反射防止膜の反射率が低減されており、シリコン窒化膜104の厚さ方向について、不純物の分布のピーク位置が反射防止膜全体の中心よりも表面に近い側に設定されている。 (もっと読む)


【課題】光電流の出力を大きくするとともに出力のばらつきを小さくすることを可能にする。
【解決手段】p型半導体領域と、n型半導体領域と、前記p型半導体領域と前記n型半導体領域との間に形成され、前記p型半導体領域および前記n型半導体領域よりも不純物の濃度が低いi型半導体領域と、前記p型半導体領域に接続されるアノード電極と、前記n型半導体領域に接続されるカソード電極と、を備えている横型pin構造の光センサ素子において、前記アノード電極と前記カソード電極との間の逆バイアス電圧をV、とし、前記逆バイアス電圧Vが飽和電圧よりも小さい第1領域におけるI−V特性のV=0での接線と、前記逆バイアス電圧Vが飽和電圧Vsat以上の第2領域におけるI−V特性の直線との交点における逆バイアス電圧VをVとすると、前記光電流の検出時に印加する逆バイアス電圧V
<V<Vsat
を満たす。 (もっと読む)


【課題】ゲルマニウムは、半導体プロセスを用いて光電気混載LSIに搭載される長波長帯光デバイスに用いる場合、吸収の長波長化又は長波長帯での吸収が実用化されていない。
【解決手段】ゲルマニウム原子を主成分とする四面体結合される半導体であり、基板格子定数がゲルマニウムよりも小さく、基板面方位が{111}面であり、基板面と垂直な<111>軸方向に半導体格子を伸長される光電変換層を用いる光デバイスである。 (もっと読む)


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