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Fターム[5F088KA10]の内容

受光素子−共通事項、放射線検出 (20,668) | 周辺回路 (670) | その他、周辺回路に関する事項 (154)

Fターム[5F088KA10]に分類される特許

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【課題】筐体の組み立てが容易な構造を有しており、筐体が外れたりがたついたりしない光モジュールを提供する。
【解決手段】下筐体5と、下筐体5を覆い下筐体5に組み付けられる上筐体4とを備え、下筐体5に底壁53と二枚の側壁とを設け、下筐体5の前側の側壁間に梁部55を架け、梁部55の下面に切り欠き部51を設け、側壁の後側に突起部を設け、突起部の上側を曲面形状とし、上筐体4には第1、第2の辺44を設け、上筐体4の前側に爪部41を設け、第1、第2の辺の後側の端部に凹部を設け、下筐体5の側壁の上側端面54aを上筐体4に、切り欠き部51を爪部41にそれぞれ当接させ、突起部を凹部に嵌め合わせることにより、筐体の組み立てが容易な構成を有しており、かつ、筐体が外れたりがたついたりしない光モジュール1が得られる。 (もっと読む)


【課題】 補正に用いる白画像の撮影の際に、検出器に照射する複数の線量を検出器の入出力特性に合わせて決定する。
【解決手段】 X線検出器12および放射線発生部13により放射線撮影が実行される。入出力特性取得部106は、所定の部分領域の単位、例えば画素毎や画像の部分領域毎に入出力特性の情報を得ることができる。補正線量決定部107は、検出器の入出力特性に応じて、X線発生部13からX線検出器12に照射するX線の複数の線量値を決定する。補正情報取得部108は決定された複数の線量の放射線を順次照射してX線検出器12から得られる複数の補正画像に基づきゲイン補正情報を取得する画像補正部109は、補正情報取得部108で取得されたゲイン補正情報に基づいてX線検出器12により得られたX線画像を補正する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば、薄膜状電極、正孔注入阻止層などにキズや、ムラが発生した場合でも、それによる陰の出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方面側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面の上方側に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記電子注入阻止層21から前記X線透過性基板17の上方面に到達する凹部32を形成し、この凹部32内の前記X線透過性基板17の上方面には電子注入阻止層21を形成した。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば、薄膜状電極、正孔注入阻止層などにキズや、ムラが発生した場合でも、それによる陰の出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面側の上方に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記正孔注入阻止層19および薄膜状電極18を貫通し、前記X線透過性基板の上面に達する凹部32を形成。 (もっと読む)


【課題】回路層に対するIa族元素の拡散を防止しながら光電変換効率を向上する。
【解決手段】回路層20は、基板10の面上に形成されてトランジスター12を含む。光電変換素子14は、第1電極41および第2電極42との間に介在するカルコパイライト型半導体の光電変換層43を含む。供給層34は、回路層20と光電変換層43との間に形成されてIa族元素を含む。光電変換層43に対するIa族元素の拡散で光電変換効率が向上する。保護層32は、供給層34と回路層20との間に形成されて回路層20に対するIa族元素の拡散を防止する。 (もっと読む)


【課題】放射線を短時間で精度よく検出することができる放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線検出素子10は、予め定めた放射線検出領域に均一に配置され、被写体に照射された放射線を検出し、検出した放射線に応じた画像用電気信号をスイッチング素子を介して信号配線に出力する複数のフォトダイオード12Aと、前記画像用放射線検出素子の一部を分割した放射線検出素子であると共に予め定めた繰り返しパターンで配置され、前記被写体に照射された放射線を検出し、検出した放射線に応じたモニタ用電気信号を配線に直接出力する複数のフォトダイオード12Bと、を備える。 (もっと読む)


【課題】
単板式の積層型の撮像素子に含まれる有機光電変換膜の劣化を抑制することにより、量子効率の改善を図った撮像素子の製造方法、及び、撮像素子を提供することを課題とする。
【解決手段】
撮像素子の製造方法は、基板の上に第1波長の光に感度を有する第1受光部を形成する工程と、前記第1受光部の上に紫外線を吸収する第1紫外線吸収部を形成する工程と、前記第1紫外線吸収部の上に第2波長の光に感度を有する第2受光部を形成する工程と、前記第2受光部の上に紫外線を吸収する第2紫外線吸収部を形成する工程と、前記第2紫外線吸収部の上に第3波長の光に感度を有する第3受光部を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】欠陥画素が選択された場合であっても、正しい受光信号を得ることが可能な受光装置を提供する。
【解決手段】複数のマイクロレンズが配列されたマイクロレンズアレイ4と、各マイクロレンズを通過した被写体光をそれぞれ複数の受光素子で受光するように受光素子が配列された受光素子アレイ5と、複数のマイクロレンズの各々に対応する受光素子アレイ5上の有効領域のうち、欠陥画素を含む有効領域について、当該欠陥画素の位置に応じて第1の補間演算と第2の補間演算とのうちいずれか一方の補間演算を行う補間部18とを備える受光装置8。 (もっと読む)


【課題】逆方向耐圧を向上させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】一導電型の半導体層100と、絶縁体層130と、絶縁体層中に設けられた半導体層210と、半導体層210に設けられた能動素子20と、半導体層100の前記一主面201に設けられた他の導電型の半導体領域112と、半導体領域112内に設けられた他の導電型であって半導体領域112よりも高不純物濃度の半導体領域114と、絶縁体層130に設けられたスルーホール144内に半導体領域144に接続して設けられた導電体154と、絶縁体層130上または中に設けられた導電体214であって、導電体154の周囲に設けられ、外側端部が半導体領域114よりも外側にある導電体214と、導電体154と導電体214とを接続して設けられた導電体192と、半導体層100に接続して設けられた導電体152,120と、を備える。 (もっと読む)


【課題】光信号の伝送状態が単発的な光信号で示される場合であっても、その伝送状態を目視で容易に確認できる光モニタデバイス、および、光信号検出方法を提供する。
【解決手段】伝送情報保持手段81は、予め定められた閾値を超えるパワーの光信号が光伝送路内を伝送した場合に、その光信号が伝送したことを示す情報である伝送情報を保持する。表示手段82は、伝送情報が保持されていることを条件に、光信号が伝送したことを表示する。 (もっと読む)


【課題】光素子部分を簡便、かつ、短時間で評価できる光モジュール用評価装置。
【解決手段】評価用光モジュール100と、それに対し電気信号を外部から入力又は外部へ出力する複数の端子112を有し、評価用光モジュール100が装着されるソケット110と、を備える光モジュール用評価装置。評価用光モジュール100は、ベース基板101と、ベース基板101上に実装された光素子102と、ベース基板101の端部近傍から互いに略平行に光素子102まで延設され、光素子102に電気的に接続された複数の電気信号配線103、104と、を備え、各複数の電気信号配線と、ソケットの各複数の端子112とが、当接するように、複数の電気信号配線104の形成領域が、ベース基板101の端部において広がっている。 (もっと読む)


【課題】小型化可能な光学センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】光学センサーは、半導体基板10上に形成された、フォトダイオード用の不純物領域31、32と、フォトダイオードの受光領域に対する入射光の入射角度を制限するための角度制限フィルター41、42と、を含む。角度制限フィルター41、42は、フォトダイオード用の不純物領域31、32の上に半導体プロセスによって形成された遮光物質(光吸収物質または光反射物質)によって形成される。 (もっと読む)


【課題】高温熱処理後における性能劣化を防止し、かつ、高い性能を得ることのできる光電変換素子を提供する。
【解決手段】一対の電極(画素電極6、対向電極10)と、画素電極6及び対向電極10の間に設けられた有機化合物を含む光電変換層9と、光電変換層9と画素電極6との間に設けられた電荷ブロッキング層7とを有する有機光電変換素子Pであって、光電変換層9と電荷ブロッキング層7との間に設けられ、ガラス転移温度が200℃以上の有機化合物で構成された中間層8を備える。 (もっと読む)


【課題】放射線撮像のための撮像素子が画像セルの配列を具備する撮像素子を提供する。
【解決手段】画像セル配列は、瞬間的な放射線(14)に応答して電荷を発生させる検出器セル(18)の配列と画像セル回路の配列とを含んでいる。各画像セル回路はそれぞれの検出器セルと関連している。画像セル回路は、関連する検出器セルに入射する複数の放射線ヒットを計数するための計数回路を具備している。好ましくは、画像セル回路は、関連する検出器セルで発生し入射放射線エネルギーに依存した値を有している信号を受容するように接続されたしきい値回路を具備している。所定のエネルギー範囲内の放射線ヒットのみを計数するため計数回路はしきい値回路に接続されている。 (もっと読む)


【課題】光信号を電気信号に変換する光モジュールに関し、所定範囲内の受信光信号レベルに制御して入力する。
【解決手段】受信光信号を電気信号に変換する光モジュール1であって、光信号を電気信号に変換する光電変換素子を含むO/E変換部6と、その前段に設けた入力光スイッチ4と、光信号のレベルを検出する光入力レベル検出部3と、光信号のレベルを制御する可変減衰器2等の光減衰手段と、光入力レベル検出部3により光信号のレベルを検出して、この光信号のレベルが所定範囲内となるように光減衰手段を制御し、且つ光信号のレベルが所定範囲内となった時に、入力光スイッチ4をオンに制御して、受信光信号をO/E変換部に入力する制御処理部5とを備えている。 (もっと読む)


放射線検出器アセンブリ(20)は、放射粒子を電気検出パルスへ変換するよう構成される検出器アレイモジュール(40)と、検出器アレイモジュールと動作上接続されるASIC(42)とを有する。ASICは、検出器アレイから受け取った電気検出パルスをデジタル化するよう構成される信号処理回路(60)と、試験用電気パルスを信号処理回路に投入するよう構成されるテスト回路(80)とを有する。テスト回路は、信号処理回路に投入される試験用電気パルスを測定するよう構成される電流メータ(84)と、信号処理回路に投入される試験用電気パルスを生成するよう構成される電荷パルス発生器(82)とを有する。放射線検出器アセンブリは、ASIC(42)を検出器アレイモジュール(40)と動作上接続することによって組み立てられ、組み立てられた放射線検出器アセンブリのASICの信号処理回路(60)は、放射線を使わずに試験される。
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本発明の例示の実施形態によれば、電磁放射線を検出する検出器ユニット301が提供されることができる。検出器ユニット301は、衝突する電磁放射線を電荷キャリアに変換するように適応される変換材料332を有しうる。更に、検出器ユニット301は、変換された電荷キャリアを収集するように適応される電荷収集電極331と、収集された電荷キャリアに基づいて電磁放射線を評価するように適応される評価回路312、313、314と、を有する。更に、検出器ユニット301は、電荷収集電極331と評価回路312、313、314との間に電気的に結合されることができる半導体371を有しうる。
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【課題】周囲温度が変化して半導体光センサの暗電流が変化した場合や、微量な光がケースを透過した場合でも、ケースが開封されたことを正確に検知できる開封検知装置を提供することにある。
【解決手段】開封検知装置10の判定回路16は、比較回路13の比較結果に基づき、第2の電圧信号Vbが第1の電圧信号Vaの電圧レベルを上回った場合にケース30が開封されたと判定する。電圧信号Vbは、遅延回路12の遅延時間td分だけ電圧信号Vaよりも遅れて変動する。そのため、ケース30が開封されていない場合には、電圧信号Vbが電圧信号Vaの電圧レベルを絶対に上回らないように、遅延時間tdを最適値に設定しておくことで、周囲温度の変化やケース30を透過した光量の変化に起因する電圧信号Vaの変動の影響を回避してケース30の開封を検知できる。 (もっと読む)


【課題】多チャンネル化に対応し、送信側回路基板と受信側回路基板からなり、放熱性のよい光電気変換モジュールを提供する。
【解決手段】光電気変換モジュール1は、電気信号を光信号に変換する送信側光電変換部2と、送信側光電変換部2が実装される第1のベース部材6と、送信側光電変換部2が表面側に配置されるように、第1のベース部材6の表面の一部が裏面に固定される送信側回路基板4と、光信号を電気信号に変換する受信側光電変換部3と、受信側光電変換部3が実装される第2のベース部材7と、受信側光電変換部3が表面側に配置されるように、第2のベース部材7の表面の一部が裏面に固定される受信側回路基板5と、筐体17とを備え、送信側回路基板4に固定された第1のベース部材6の裏面が筐体17と向き合い、受信側回路基板5に固定された第2のベース部材7の裏面が筐体と向き合うように、送信側回路基板4と受信側回路基板5を配置して構成される。 (もっと読む)


【課題】 従来のレーザー受光器は、レーザーが光路を通過する際に生じる反射、回折、散乱などによる光ノイズや周囲光によるノイズによる影響を効果的に排除できなかった。各ノイズの強度が異なるために一定の閾値では対処出来なかった為である。
【解決手段】 信号を有効とするための閾値を回路上やソフトウェア上での記憶手段により主信号の最大値の近傍に自動的に設定することにより、光雑音による外乱を削減し目的とする信号を精度良く測定することができる。 (もっと読む)


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