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Fターム[5F092BB42]の内容

ホール/MR素子 (37,442) | MR素子の材料 (13,747) | 自由層(感磁層を含む) (2,425) | Fe、Co、Niのみの合金又は単体 (1,217)

Fターム[5F092BB42]に分類される特許

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【課題】書込み電流の範囲を広くすることができるとともに書込み電流を低減することができる磁気抵抗素子および磁気メモリを提供する。
【解決手段】本実施形態の磁気抵抗素子は、膜面に垂直方向に磁化容易軸を有し、磁化が可変の第1強磁性層と、膜面に垂直方向に磁化容易軸を有し、磁化が不変の第2強磁性層と、第1強磁性層と第2強磁性層との間に設けられた第1非磁性層と、第2強磁性層に対して第1非磁性層と反対側に設けられ、それぞれが異なる発振周波数の回転磁界を発振する強磁性体の複数の発振体を有し、各発振体が膜面に平行な磁化を有する、第3強磁性層と、を備え、第3強磁性層と、第1強磁性層との間に電流を流すことにより、スピン偏極した電子を第1強磁性層に作用させるとともに、第3強磁性層の複数の発振体に作用させて前記発振体の磁化に歳差運動を誘起し、歳差運動によって生じた複数の回転周波数を有し第1強磁性層の磁化反転をアシストする回転磁界が第1強磁性層に印加される。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路装置におけるマイクロコンピュータ周辺装置の高速起動。
【解決手段】マイクロコンピュータ周辺装置は、マイクロコンピュータから受信した初期設定コマンドに基づく設定信号をレジスタを介して機能回路部に出力し、初期設定を行う。ここで、レジスタにおける設定信号のデータをMTJ素子等の不揮発性記憶素子を用いた保持回路で記憶しておく。電源再投入時には、保持回路に記憶された設定信号のデータで初期設定を行う。 (もっと読む)


【課題】多層膜内の特定層だけに格子振動を与えてその多層膜の特性を向上させる。
【解決手段】実施形態に係わる多層膜の製造方法は、第1の層(CoFeB)を形成する工程と、第1の層(CoFeB)上に第2の層(MgO)を形成する工程と、第2の層(MgO)の表面に対してGCIB照射を行うことにより、第2の層(MgO)の結晶情報を第1の層(CoFeB)に転写する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】書き込み時における磁化反転がより高速に起こる磁気記録素子及び不揮発性記憶装置を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、積層体を備えた磁気記録素子が提供される。積層体は第1積層部と第2積層部とを含む。第1積層部は、膜面に対して垂直成分を有する第1の方向に磁化が固定された第1の強磁性層と、磁化の方向が膜面垂直な方向に可変である第2の強磁性層と、第1の強磁性層と第2の強磁性層との間の第1の非磁性層と、を含む。第2積層部は、積層軸に沿って第1積層部と積層される。第2積層部は、磁化の方向が膜面平行な方向に可変である第3の強磁性層と、膜面に対して垂直成分を有する第2の方向に磁化が固定された第4の強磁性層と、第3の強磁性層と第4の強磁性層との間の2の非磁性層と、を含む。積層軸を法線とする平面において、第4の強磁性層の外縁は第1積層部の外縁よりも外側の部分を有する。 (もっと読む)


【課題】スペーサ層に隣接する磁性層の酸化を防止し、かつ大きなMR変化率を実現する。
【解決手段】磁気抵抗効果素子は、外部磁界に応答して磁化方向のなす相対角度が変化する第1及び第2の磁性層L1,L2と、第1の磁性層L1と第2の磁性層L2との間に位置するスペーサ層16と、を有している。第1の磁性層L1は、磁気抵抗効果素子が形成される基板に対し、第2の磁性層L2よりも近い側に位置している。スペーサ層16は、酸化ガリウムを主成分とする主スペーサ層16bと、主スペーサ層16bと第1の磁性層L1との間に位置し、一部が酸化された銅を主成分とするボトム層16aと、を有している。 (もっと読む)


【課題】簡便な構成で電気配線に流れる電流を広い電流レンジで検知する電流センサを提供する。
【解決手段】測定対象Aに接続される電気配線wa,wb1,wc1と、抵抗値が一定比率で増加する直線部分と抵抗値が飽和する飽和部分とからなる磁気抵抗特性を有し、それぞれが前記電気配線から異なる距離d1,d2,d3で離間して配置される磁気抵抗素子11a,11b,11cと、磁気抵抗素子11a,11b,11cそれぞれにセンス電流を流すセンス電流部12と、磁気抵抗素子11a,11b,11cにおけるセンス電流値の変化から磁気抵抗特性の前記直線部分から飽和部分へ移行する抵抗値の飽和点に到達したことを検知し、前記電流配線に流れる電流がある規定値に到達したとして出力する検知手段13と、を備え、検知手段13は、前記電流配線に流れる電流について磁気抵抗素子11a,11b,11cごとに異なる規定値への到達を検知する。 (もっと読む)


【課題】 本発明の実施形態によれば、低電流で書き込み動作を行うことができる大容量の磁気メモリ及び磁気メモリ装置を提供することができる。
【解決手段】 第1の磁性層と、第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層とを結ぶ第1の方向において前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に設けられた第3の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第3の磁性層との間に設けられた第1の中間層と、前記第2の磁性層と前記第3の磁性層との間に設けられた第2の中間層と、前記第1の方向に直交する第2の方向において前記第3の磁性層に設けられた絶縁膜と、前記絶縁膜の前記第3の磁性層が設けられた側とは反対側に設けられた電極と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 特に、同一チップ上に感度軸方向が異なり、ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗効果素子を形成でき、測定精度に優れた磁気センサを提供することを目的とする。
【解決手段】 同一チップ29上に磁気抵抗効果素子13a〜13dが複数個、備えられてブリッジ回路を構成している。各磁気抵抗効果素子の固定磁性層21はセルフピン止め型であり、直列回路を構成する磁気抵抗効果素子13a,13d(13b,13c)同士は、感度軸方向P1〜P4が反平行となっている。各磁気抵抗効果素子のフリー磁性層23の上面には、フリー磁性層23との間で磁場中でのアニール処理を行うことなく交換結合バイアスを生じさせ各フリー磁性層23の磁化方向を磁化変動可能な状態で感度軸方向に対して直交方向に揃えることができる反強磁性層24が設けられている。 (もっと読む)


【課題】ロジック混載MRAMにおいて、LSIの多層配線形成プロセスがMRAMの特性変動を引き起こす不都合、また、MRAMの形成プロセスが多層配線の特性変動を引き起こす不都合を軽減すること。
【解決手段】多層配線層に含まれる配線層Aの中に、配線層Bに形成された第1の配線104bに接し、互いに絶縁している少なくとも2つの第1の磁化固定層50a及び50bと、2つの第1の磁化固定層50a及び50bと平面視で重なり、かつ、第1の磁化固定層50a及び50bと接続している磁化自由層10と、磁化自由層10の上に位置する非磁性層40と、非磁性層40の上に位置する第2の磁化固定層104aと、を有するMRAMが形成されている半導体装置。 (もっと読む)


【課題】読み出し時の誤書き込みのリスクをより抑制し、かつ、より正確な読み出しを可能とする。
【解決手段】磁気ランダムアクセスメモリは、スピン注入により変更される自由強磁性層の磁化の向きでデータを書き込み可能な第1磁気抵抗素子を含むメモリセルと、スピン注入により変更される自由強磁性層の磁化の向きでリファレンス用データを記憶する複数の第2磁気抵抗素子を含み、メモリセルの読み出し動作時に用いられるリファレンスセルとを具備する。複数の第2磁気抵抗素子は、互いに直列に接続され、自由強磁性層の磁化の向きが互いに逆の向きで、固定強磁性層の磁界の向きが互いに同じ向きで、固定強磁性層同士又は自由強磁性層同士が電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】 熱負荷によるTMR比の減少を抑制できる磁気抵抗効果を利用した半導体記憶装置を提供すること。
【解決手段】 実施形態の磁気抵抗素子は、非磁性元素を含む第1の垂直磁化磁性膜116と、第1の垂直磁化磁性膜上に設けられた絶縁膜119と、第1の垂直磁化磁性膜と絶縁膜との間に設けられた第1の中間磁性膜118と、絶縁膜上に設けられ、非磁性元素を含む第2の垂直磁化磁性膜123と、絶縁膜と第2の垂直磁化磁性膜との間に設けられた第2の中間磁性膜120と、第1の垂直磁化磁性膜と第1の中間磁性膜との間、および、第2の中間磁性膜と第2の垂直磁化磁性膜との間の少なくとも一方に設けられ、非磁性元素の拡散に対してバリア性を有する金属窒化物または金属炭化物で形成された拡散防止膜117,121を含む。 (もっと読む)


【課題】データ記憶層が強い垂直磁気異方性を有し、かつ、データ記憶層とその下方に設けられた磁化固定層との間の磁気的結合が強い磁気メモリを提供する。
【解決手段】磁気メモリが、垂直磁気異方性を有し、磁化方向が固定された磁化固定層50a、50bと、層間絶縁層60と、磁化固定層50a、50bと層間絶縁層60の上面に形成された下地層40と、下地層40の上面に形成された、垂直磁気異方性を有するデータ記憶層10とを備えている。下地層40は、磁性材料で形成された第1磁性下地層41と、第1磁性下地層41の上に形成された非磁性下地層42とを備えている。第1磁性下地層41の膜厚は、層間絶縁層60の上において第1磁性下地層41が面内磁気異方性を発現しないように調節されている。 (もっと読む)


【課題】磁界プローブ、磁界測定装置、及び磁界測定方法において、磁界プローブの小型化を図ること。
【解決手段】測定対象Sに近接する先端部2aを備えたベース2と、先端部2aに設けられた磁気抵抗素子8と、磁気抵抗素子8の横の前記ベース2に設けられ、磁気抵抗素子8に印加する第1のバイアス磁界H1を発生させる第1の磁界発生部3と、ベース2に設けられ、第1のバイアス磁界H1とは異なる向きの第2のバイアス磁界H2を発生させて、磁気抵抗素子8に前記第2のバイアス磁界H2を印加する第2の磁界発生部4とを有し、第1のバイアス磁界H1の向きを切り替えることにより、第1のバイアス磁界H1と第2のバイアス磁界H2とを合成した合成バイアス磁界Hsの向きが、ベース2の先端方向Dtから90°変化する磁界プローブによる。 (もっと読む)


【課題】 本発明の実施形態によれば、劣化しにくく、MR変化率の大きい磁気抵抗効果素子、それを用いた磁気ヘッドアセンブリ、磁気記録再生装置、メモリセルアレイ、及び磁気抵抗効果素子の製造方法を提供することができる。
【解決手段】 磁気抵抗効果素子は、第1の電極と、第1の磁性層と、第2の磁性層と、スペーサ層と、Zn、In、Sn、及びCdから選択される少なくとも一つの元素とFe、Co、及びNiから選択される少なくとも一つの元素とを含む酸化物層と、酸化物層に接して設けられ、Zn、In、Sn、及びCdから選択される少なくとも一つの元素を0.5at%以上80at%以下の濃度で含み、かつFe、Co、及びNiから選択される少なくとも一つの元素を含む金属層とを備える。 (もっと読む)


【課題】 書込み電流の低減のみならず、大きなMR比を有するMTJ素子の開発が望まれている。
【解決手段】 磁気トンネル接合素子が、磁化自由層と、磁化固定層と、磁化自由層と磁化固定層との間に配置されたトンネルバリア層とを有する。磁化自由層は、垂直磁化自由層、垂直磁化自由層とトンネルバリア層との間に配置された面内磁化自由層、及び垂直磁化自由層と面内磁化自由層との間に配置された非磁性中間層とを含む。垂直磁化自由層の磁化容易方向は膜面に対して垂直であり、面内磁化自由層の磁化容易方向は膜面に平行であり、垂直磁化自由層の磁化は、非磁性中間層を介して面内磁化自由層と交換結合することによって、面内方向を向いている。 (もっと読む)


【課題】センサ寸法の拡大が抑制され小型化に有利で、高いセンサ特性が安定して得られ、作製工程が複雑化しない、磁気センサを提供する。
【解決手段】抵抗素子を直列に接続した通電経路単位41,42,43,44のそれぞれに関し、一方端部は電源端子Vccに電気的に接続され、他方端部は接地端子GNDに電気的に接続され、抵抗素子同士の接続部は出力端子Vo1〜Vo4に電気的に接続される。通電経路単位のそれぞれを構成する複数の抵抗素子の少なくとも1つは、磁気抵抗効果膜からなる磁気抵抗効果素子であり、電源端子は全ての通電経路単位につき共通化され、接地端子は全ての通電経路単位につき共通化される。全ての通電経路単位は絶縁膜の一方の面に接して形成され、絶縁膜の他方の面に接して配置された導電膜を用いて、電源端子共通化のための電源接続配線及び接地端子共通化のための接地接続配線が形成される。 (もっと読む)


【課題】面積抵抗のばらつきを抑えつつ、大きなMR変化率を実現する。
【解決手段】磁気抵抗効果素子4は、外部磁界に対して磁化方向のなす相対角度が変化する第1及び第2の磁性層L1,L2と、第1の磁性層L1と第2の磁性層L2との間に位置するスペーサ層16と、を有している。スペーサ層16は、酸化ガリウムを主成分とし、マグネシウム、亜鉛、インジウム、及びアルミニウムからなる群から選択された少なくとも1つの金属元素を含む主スペーサ層16bを有している。 (もっと読む)


【課題】MR変化率を高くすることができる磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る磁気抵抗効果素子は、積層体と、前記積層体の積層方向に電流を流すための一対の電極と、を備える。前記積層体は、第1の磁性層と、第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に配置されたスペーサ層と、を有する。そして、前記第1の磁性層、前記第2の磁性層及び前記スペーサ層の少なくとも1つの層が金属酸化物からなる酸化物層を含み、前記金属酸化物の結晶構造は、NaCl構造である。 (もっと読む)


【課題】 GMR素子では、十分大きなMR比を得ることが困難である。大きなMR比を実現することが可能なMTJ素子において、反転電流を低減させることが望まれている。
【解決手段】 下部電極の上に、磁化容易方向が厚さ方向を向く垂直磁気異方性膜が形成されている。垂直磁気異方性膜の上に、非磁性材料で形成されたスペーサ層が配置されている。スペーサ層の上に、アモルファスの導電材料からなる下地層が配置されている。下地層の上に、磁化容易方向が面内方向を向く磁化自由層が配置されている。磁化自由層の上にトンネルバリア層が配置されている。トンネルバリア層の上に、磁化方向が面内方向に固定された磁化固定層が配置されている。スペーサ層は、垂直磁気異方性膜と磁化自由層との間に交換相互作用が働かない厚さであり、かつスピン緩和長よりも薄い。 (もっと読む)


【課題】スペーサ層に隣接する磁性層の酸化を防止し、かつ大きなMR変化率を実現する。
【解決手段】磁気抵抗効果素子4は、外部磁界に応答して磁化方向のなす相対角度が変化する第1及び第2の磁性層L1,L2と、その間に位置するスペーサ層16と、を有している。第1の磁性層は、磁気抵抗効果素子4が形成される基板に対し、第2の磁性層よりも近い側に位置している。スペーサ層16は、銅層16aと、金属中間層16bと、酸化ガリウムを主成分とする主スペーサ層16cと、を有し、銅層及び金属中間層が主スペーサ層と第1の磁性層との間に位置し、金属中間層は銅層と主スペーサ層との間に位置している。金属中間層は、マグネシウムまたは少なくとも一部が酸化されたマグネシウム、アルミニウムまたは少なくとも一部が酸化されたアルミニウム、及び亜鉛または少なくとも一部が酸化された亜鉛からなる群から選択された少なくとも一つを主成分としている。 (もっと読む)


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