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Fターム[5F092BB42]の内容

ホール/MR素子 (37,442) | MR素子の材料 (13,747) | 自由層(感磁層を含む) (2,425) | Fe、Co、Niのみの合金又は単体 (1,217)

Fターム[5F092BB42]に分類される特許

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【課題】 特に、軟磁性体と磁気抵抗効果素子間でオフセットが生じても、外乱感度を小さくすることができる磁気センサを提供することを目的とする。
【解決手段】 軟磁性体3のY1側部側に位置し、感度軸方向P1がY2、Y1からの水平磁界成分を受ける第1磁気抵抗効果素子S1と、軟磁性体のY2側部側に位置し、感度軸方向P2はY1、Y2からの水平磁界成分を受ける第2の磁気抵抗効果素子S2と、軟磁性体のY2側部側に位置し、感度軸方向がY2、Y2からの水平磁界成分を受ける第3磁気抵抗効果素子S3、軟磁性体のY1側部側に位置し、感度軸方向がY1、Y1からの水平磁界成分を受ける第4磁気抵抗効果素子S4と備える。S1とS2とが直列接続されたA素子群と、S3とS4とが直列接続されたB素子群が構成される。A素子群とB素子群とが直列接続されるとともに、A素子群とB素子群の間に出力端子が設けられる。 (もっと読む)


【課題】選択されない磁気抵抗素子の磁化状態が誤って書き換えられる現象の発生が確実に抑制される半導体装置の制御方法を提供する。
【解決手段】当該制御方法は、半導体基板と、半導体基板の主表面上に位置する、固定層MPLと、トンネル絶縁層と、磁化容易軸を有する自由層MFLとを含む磁気抵抗素子と、磁気抵抗素子に隣接する第1の配線とを備える半導体装置における磁化状態を書き換える制御方法である。上記制御方法は以下の工程を備えている。まず上記自由層MFLの磁化状態を変更する前の初期磁化状態が判定される。上記判定する工程において、自由層MFLの磁化状態を変更する必要があると判定された場合に、第1の配線にパルス電流が流される。上記パルス電流により、自由層MFLの磁化容易軸と交差する方向に発生するパルス磁場を磁気抵抗素子に印加することにより自由層MFLの磁化状態が変更される。 (もっと読む)


【課題】CCP−CPP素子のMR変化率を向上させる。
【解決手段】磁化が実質的に一方向に固着された磁化固着層と、前記磁化固着層と対向するようにして形成され、磁化が外部磁界に対して変化する磁化自由層と、前記磁化固着層と前記磁化自由層との間に位置し、絶縁層、及びこの絶縁層を層方向に電流を通過させる導電体とを有する電流狭窄層を含むスペーサ層と具える磁気抵抗効果素子において、前記磁化固着層の層中、前記磁化自由層の層中、前記磁化固着層及び前記スペーサ層の界面、並びに前記磁化自由層及び前記スペーサ層の界面の少なくとも一か所に、Si、Mg、B、Alを含む機能層を設ける。 (もっと読む)


【課題】MgOを障壁層として磁化反転電流を低減したTMR素子構造を備える光変調素子を提供する。
【解決手段】光変調素子5は、磁化固定層11、MgOからなる障壁層12、磁化自由層13を積層してなるTMR素子構造1と、その上下に接続した上部電極3、下部電極2を備える。下部電極2は、組成がCu1-xCrx(0.07<x<0.42)である非晶質のCu−Cr合金からなり、磁化固定層11は非晶質の磁性体からなり、このような非晶質の層の上に、障壁層12としてMgO膜が形成されるため、MgO膜が強い(001)面配向を示して、TMR素子構造1の磁化反転電流を低減できる。 (もっと読む)


【課題】方法及びシステムは磁気デバイスにおいて使用可能な磁気接合を提供する。
【解決手段】磁気接合は、ピンド層と、非磁性スペーサ層と、自由層とを含む。非磁性スペーサ層はピンド層と自由層との間に存在する。磁気接合は、書き込み電流がその磁気接合に流された際に自由層が複数の安定磁気状態の間でスイッチング可能であるように構成される。自由層及びピンド層のうち少なくとも一方は少なくとも一つの半金属を含む。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗素子の微細化に伴って増大する漏洩磁界をキャンセルする。
【解決手段】実施形態に係わる磁気抵抗素子は、垂直及び可変の磁化を持つ記憶層2と、垂直及び不変の磁化を持つ参照層4と、垂直、不変及び参照層3の磁化に対して逆向きの磁化を持つシフト調整層6と、記憶層2及び参照層4間の第1の非磁性層3と、参照層4及びシフト調整層6間の第2の非磁性層5とを備える。参照層4の反転磁界は、記憶層2の反転磁界と同じ又はそれよりも小さく、参照層4の磁気緩和定数は、記憶層2の磁気緩和定数よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】高熱安定性を有する高速超低消費電力不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性磁気メモリに、高い熱安定性をもつ自由層を適用した高出力なトンネル磁気抵抗効果素子を装備し、スピントランスファートルクによる書込み方式を適用する。トンネル磁気抵抗効果素子1は、CoとFeとBを含有する体心立方構造の第一の強磁性膜306と第二の強磁性膜308と第一の非磁性膜307で構成される自由層を持ち、自由層に(100)配向した岩塩構造のMgO絶縁膜305を介して固定層3021を積層した構造を有する。 (もっと読む)


【課題】低電流で記憶層の磁化を反転させることができるスピン注入書き込み方式の磁気抵抗素子を提供する。
【解決手段】膜面に垂直方向の磁化容易軸を有し、磁化方向が可変の記憶層3と、膜面に垂直方向の磁化容易軸を有し、磁化方向が不変の固定層2と、記憶層3と固定層2との間に設けられた非磁性層4と、記憶層3の、非磁性層4が配置された面と反対の面側に配置された配線層10を有する。記憶層3は、磁性材料31、33と非磁性材料32、34とが交互に積層された構造を有する。非磁性材料32、34がTa、W、Nb、Mo、Zr、Hfの少なくとも1つの元素を含む。磁性材料31、33はCoとFeを含む。磁性材料のうちの1つは非磁性層4と接し、非磁性材料のうちの1つは配線層と接している。 (もっと読む)


【課題】 特に固定磁性層をセルフピン止め型とした構成において、Ta保護層の膜厚を適正化し、従来に比べて安定して優れた軟磁気特性を得ることが可能な磁気検出素子及びそれを用いた磁気センサ、並びに磁気検出素子の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本実施形態の磁気検出素子1は、固定磁性層3とフリー磁性層5とが非磁性材料層4を介して積層された積層膜を備え、前記固定磁性層3は、第1磁性層3aと第2磁性層3cとが非磁性中間層3bを介して積層され、前記第1磁性層3aと前記第2磁性層3cとが反平行に磁化固定されたセルフピン止め型であり、前記積層膜の最上層は、Taからなる保護層6であり、前記保護層6の成膜時における成膜時膜厚は55Å以上であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】記憶層にかかる参照層からの漏れ磁場をキャンセルするシフト調整層の膜厚を低減することできる磁気抵抗素子を提供する。
【解決手段】磁化の向きが一方向に固定された参照層3と、磁化の向きが可変である記憶層2と、参照層3と記憶層2との間に設けられた非磁性層4と、参照層3の、非磁性層4が配置された面と反対の面側に配置され、参照層3が有する磁化の向きと反平行な磁化の向きを有する上部シフト層6と、記憶層2の、非磁性層4が配置された面と反対の面側に配置され、参照層3が有する磁化の向きと反平行な磁化の向きを有する下部シフト層8と、参照層3と上部シフト層6との間に配置された非磁性層5と、記憶層2と下部シフト層8との間に配置された非磁性層7とを備える。下部シフト層8の膜厚は、上部シフト層6の膜厚より薄い。 (もっと読む)


【課題】本発明は、磁気減衰自由層を備えたスピントルク発振器(STO)を提供する。
【解決手段】スピントルク発振器(STO)は、発振自由強磁性層の磁気減衰を増加させる。ギルバート磁気減衰パラメータ(α)は、少なくとも0.05、好ましくは0.05より大きい。自由層は、任意のタイプの従来の強磁性材料であってもよいが、ドーパントとして1つまたは複数の減衰元素を含む。減衰元素は、Pt、Pdおよび15のランタニド元素からなる群から選択される。自由層減衰は、自由層に隣接する減衰層によって増加させてもよい。減衰層の一タイプは、Mn合金のような反強磁性材料であってもよい。反強磁性減衰層に対する変更例として、二重層減衰層を、反強磁性減衰層と、自由層および反強磁性層間の非磁性金属導電分離層とで形成してもよい。別のタイプの減衰層は、Pt、Pdおよびランタニドから選択された元素の1つまたは複数で形成された層であってもよい。 (もっと読む)


【課題】微細化に伴って増大する固定層からの漏れ磁場を低減でき、記憶層における磁化の平行と反平行の2つの状態を安定に存在できるようにした磁気抵抗素子を提供する。
【解決手段】磁気抵抗素子1は、固定層2、記憶層3、及び非磁性層4を備える。固定層2は、非磁性層4に接する第1強磁性材料31、第2強磁性材料32、第1強磁性材料31と第2強磁性材料32との間に設けられた第1非磁性材料33を有する。第1強磁性材料31は、Zr、Nb、Mo、Hf、Ta、Wのうちの少なくとも1つの元素と、Coとを含む。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子のスピン注入磁化反転特性の劣化が抑制され、製造歩留まりが高い不揮発性記憶装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、複数のメモリセルを有する不揮発性記憶装置の製造方法であって、前記メモリセルのそれぞれは、第1電極を含む下地層と、前記下地層の上に設けられた磁気抵抗効果素子と、前記磁気抵抗効果素子の上に設けられた第2電極と、を有する。前記磁気抵抗効果素子は、記憶層である第1磁性層と、前記第1磁性層の上に設けられたトンネルバリア層と、前記トンネルバリア層の上に設けられ、参照層である第2磁性層と、を含む。前記第2磁性層の表面の一部もしくは前記第1磁性層の表面の一部にイオン化されたガスクラスタを照射して、前記第2磁性層の一部および前記第1磁性層の一部をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】高速かつ消費電力が極めて小さい不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性磁気メモリに、高出力なトンネル磁気抵抗効果素子を装備し、スピントランスファートルクによる書込み方式を適用する。トンネル磁気抵抗効果素子1は、CoとFeとBを含有する体心立方構造の強磁性膜304と、(100)配向した岩塩構造のMgO絶縁膜305と、強磁性膜306とを積層した構造を有する。 (もっと読む)


【課題】安定して動作可能な磁気抵抗効果素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態の磁気抵抗効果素子は、下部電極と、第1の磁性層と、第1の界面磁性層と、第2の界面磁性層と、第2の磁性層と、上部電極とを持つ。前記第1の磁性層は前記下部電極上に設けられる。前記第1の界面磁性層は、前記第1の磁性層上に設けられる。前記非磁性層は、前記第1の界面磁性層上に設けられる。前記第2の磁性層は前記第2の界面磁性層上に設けられる。前記上部電極は、前記第2の磁性層上に設けられる。前記第1および第2の磁性層は、それぞれ磁化記憶層および磁化参照層の一方および他方である。前記上部電極は、貴金属と遷移元素もしくは希土類元素の合金層もしくは混合物層、または導電性酸化物層を含む。 (もっと読む)


【課題】基板の反射率に依存せず、アライメントマークの識別性を確保することができる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、シリコン基板24と、シリコン基板24上に少なくともNiCoパターン31とアルミ電極30とを含んで形成される回路部3と、シリコン基板24上に回路部3のNiCoパターン31と同工程において形成される低反射パターンとしてのNiCoパターン22と、NiCoパターン22上に形成され、回路部3のアルミ電極30と同工程において形成される高反射パターンとしてのアルミパターン20とを有する。 (もっと読む)


【課題】磁気スタックおよびこのようなスタックを備えたメモリセルを提供すること。
【解決手段】本発明は、平面外磁化を有する磁気スタック(4)に関し、前記スタックは、
−コバルト、鉄およびニッケル、ならびにこれらの材料をベースとする磁気合金の群から選択される1つまたは複数の材料で構成された第1の磁気層(1)と、
−第1の層の材料と共有界面を形成すると界面起源の垂直異方性を与えることができる金属材料で構成された第2の層(2)と
を備え、スタック(4)は、第1の層(1)の上に堆積した第3の層(3)をさらに備え、第2の層(2)が第3の層(3)の上に堆積し、第3の層(3)が、第1の層の材料との10%未満の混和性を有する金属材料で構成されていることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】安定して動作可能な磁気抵抗効果素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態の磁気抵抗効果は、下部電極と、第1の磁性層と、第1の金属層と、第1の界面磁性層と、非磁性層と、第2の界面磁性層と、第2の金属層と、第2の磁性層と、上部電極層と、を持つ。前記第1の磁性層は、前記下部電極上に設けられて第1の金属原子を含む。前記第1の金属層は、前記第1の磁性層上に設けられて前記第1の金属原子を含む。前記第1の界面磁性層は、前記第1の金属層上に設けられる。前記非磁性層は、前記第1の界面磁性層上に設けられる。前記第2の界面磁性層は、前記非磁性層上に設けられる。前記第2の金属層は、前記第2の界面磁性層上に設けられ、第2の金属原子を含む。前記第2の磁性層は、前記第2の金属層上に設けられ、前記第2の金属原子を含む。前記上部電極層は、前記第2の磁性層上に設けられる。前記第1の界面磁性層は、前記非磁性層側と反対側の界面にアモルファス金属層を含む。 (もっと読む)


【課題】安定した特性の磁気抵抗効果素子を有する半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態にかかる半導体記憶装置は、複数の磁気抵抗効果素子を有し、この各磁気抵抗効果素子は、半導体基板上に形成され、且つ、その膜面に対して垂直な磁化容易軸を有する第1の磁性層と、第1の磁性層上に形成された非磁性層と、非磁性層上に形成され、且つ、その膜面に対して垂直な磁化容易軸を有する第2の磁性層と、からなる積層構造を有し、保護膜を介して各磁気抵抗効果素子の側壁を覆うように設けられ、且つ、磁気抵抗効果素子に対して、磁化容易軸に沿った方向に引張応力を与える側壁膜を備え、側壁膜のうちの第1の磁性層を覆う部分は、側壁膜のうちの第2の磁性層を覆う部分と比べて厚い。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子間の磁気的な干渉作用を遮断し、安定した動作を可能にし、且つ、容易に製造することができる半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態にかかる半導体記憶装置は、半導体基板上にマトリックス状に配列した複数の磁気抵抗効果素子を有し、各磁気抵抗効果素子は、半導体基板上に形成された第1の磁性層と、第1の磁性層上に形成された非磁性層と、非磁性層上に形成された第2の磁性層とからなる積層構造を有し、隣り合う各磁気抵抗効果素子の間には、金属、又は、磁性体材料が分散された絶縁膜が埋め込まれている。 (もっと読む)


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